饋電單元和饋電系統技術方案

本發明專利技術涉及饋電單元和饋電系統。一種饋電單元，包括：送電線圈，被配置為使用磁場進行電力輸送；耦合系數計算部，被配置為計算所述送電線圈和被供電的單元內的受電線圈之間的耦合系數。所述耦合系數計算部測量所述被供電的單元內的整流電路的非工作狀態下的輸入阻抗的頻率特性，并且使用所述頻率特性的測量結果計算所述耦合系數。

【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術涉及饋電單元和饋電系統。一種饋電單元，包括：送電線圈，被配置為使用磁場進行電力輸送；耦合系數計算部，被配置為計算所述送電線圈和被供電的單元內的受電線圈之間的耦合系數。所述耦合系數計算部測量所述被供電的單元內的整流電路的非工作狀態下的輸入阻抗的頻率特性，并且使用所述頻率特性的測量結果計算所述耦合系數。【專利說明】饋電單元和饋電系統 相關申請的交叉引用 本申請要求申請日為2013年4月8日申請號為JP2013-80429的日本在先專利申 請的優先權，以上專利文獻全文結合進本文作為引用。
本專利技術涉及一種饋電系統和應用于該饋電系統的饋電單元，所述饋電系統對被供 電的單元(例如，電子設備）進行非接觸式供電（電力輸送)。
技術介紹
近年來，消費電子設備（CE設備）（例如手機和便攜音樂播放器）進行非接觸式供 電的饋電系統(例如非接觸式饋電系統或無線充電系統）已經得到關注。因此，這使得能夠 僅通過將電子設備(副側單元）放置在充電托板(主側單元）上開始進行充電，而不是通過將 電源(例如AC適配器）的連接器插入(連接）進所述單元中開始進行充電。換言之，電子設 備和充電托板之間的端子連接變得不再必要。 -種通過這種方式進行非接觸供電的方法是公知的電磁感應法。此外，一種使用 電磁諧振現象的被稱為磁諧振法的方法的非接觸式饋電系統已經引起關注。這種非接觸式 饋電系統被披露于例如日本未審專利申請公開2011-45161和2012-7046等中。
技術實現思路
理論上，在上面所述的非接觸式饋電系統中，希望容易得到主側單元(送電線圈） 和副側單元(受電線圈）之間的耦合系數。因此，需要提出一種能夠容易得到該耦合系數的 方法。 希望提供一種饋電單元和饋電系統，所述饋電單元和饋電系統能夠容易得到使用 磁場的電力輸送中的耦合系數。 根據本專利技術的實施例，提供了一種饋電單元，包括：送電線圈，被配置為使用磁場 進行電力輸送；耦合系數計算部，被配置為計算所述送電線圈和被供電的單元內的受電線 圈之間的耦合系數。所述耦合系數計算部測量所述被供電的單元內的整流電路的非工作狀 態下的輸入阻抗的頻率特性，并且使用所述頻率特性的測量結果計算所述耦合系數。 根據本專利技術的實施例，提供了一種饋電系統，所述饋電系統設置有一個或多個電 子設備(被供電的單元)和饋電單元。所述一個或多個電子設備每個都具有受電線圈和整流 電路，并且所述饋電單元被配置為使用磁場對所述電子設備進行電力輸送。所述饋電單元 包括：送電線圈，被配置為進行電力輸送；耦合系數計算部，被配置為計算所述送電線圈和 所述受電線圈之間的耦合系數。所述耦合系數計算部測量所述整流電路的非工作狀態下的 輸入阻抗的頻率特性，并且使用所述頻率特性的測量結果計算所述耦合系數。 在根據本專利技術的各個實施例的饋電單元和饋電系統中，所述被供電的單元（電子 設備）內的整流電路的非工作狀態下的輸入阻抗的頻率特性被測量，并且所述頻率特性的 測量結果被用于計算所述送電線圈和受電線圈之間的所述耦合系數。因此，能夠在不使用 例如對被供電的單元進行動態控制的復雜方法的條件下獲得所述耦合系數。 在根據本專利技術的各個實施例的饋電單元和饋電系統中，使用所述整流電路的非工 作狀態下的輸入阻抗的頻率特性的測量結果計算所述耦合系數。因此，能夠在不使用復雜 方法的條件下獲得所述耦合系數。因此，能夠容易獲得在使用磁場的電力輸送中使用的耦 合系數。 應當理解，前面所述的一般性說明和下面的詳細說明都是示例性的，并且目的是 對所要求保護的技術提供進一步解釋。 【專利附圖】【附圖說明】 說明書提供附圖以方便對本專利技術的進一步理解，并且將附圖結合進說明書并作為 其一部分。附圖示出了實施例，并且與說明書一起用于闡述技術原理。 圖1是示出根據本專利技術第一實施例的饋電系統的外觀結構示例的透視圖。 圖2是示出圖1中所示出的饋電系統的詳細結構示例的框圖。 圖3是示出圖2中所示出的各個塊的詳細結構示例的圖。 圖4是用于解釋計算圖3中所示出的電路中的耦合系數的方法的電路圖。 圖5是用于解釋根據第一實施例的計算耦合系數的方法中使用的輸入阻抗的極 小值時的頻率和其極大值時的頻率的特性圖。 圖6是示出根據第一實施例的計算耦合系數的操作示例的流程圖。 圖7是示出根據示例1和2的電感值和電容值的圖。 圖8A是示出根據示例1的輸入阻抗的頻率特性的示例的特性圖。 圖8B是示出根據示例1的輸入阻抗的頻率特性的另一個示例的特性圖。 圖9A是示出根據示例2的輸入阻抗的頻率特性的示例的特性圖。 圖9B是示出根據示例2的輸入阻抗的頻率特性的另一個示例的特性圖。 圖10是示出根據第二實施例的饋電系統的結構示例的電路圖。 圖11是用于解釋計算圖10中所示出的電路中的耦合系數的方法的電路圖。 圖12是用于解釋在根據第二實施例的計算耦合系數的方法中使用的兩個極小值 處的頻率的特性圖。 圖13A是示出根據修改例1的旁通路的布置結構示例的電路圖。 圖13B是示出根據修改例2的旁通路的布置結構示例的電路圖。 圖14是示出根據第三實施例的設置饋電參數的操作的示例的流程圖。 圖15是示出根據第四實施例的計算耦合系數的操作和檢測是否存在被供電的單 元的操作的示例的流程圖。 圖16是示出根據第五實施例的電力輸送控制操作的示例的流程圖。 圖17是示出根據第五實施例的電力輸送控制操作的另一個示例的流程圖。 【具體實施方式】 下面將參照附圖對本專利技術的一些實施進行說明。注意，將按照以下順序進行說明。 1.第一實施例(使用極小值和極大值處的頻率得到耦合系數的示例） 2.第二實施例(使用兩個極小值處的頻率得到耦合系數的示例） 3.修改例1和2 (副側單元中的旁通路的其它布置結構示例） 4.第三實施例(使用得到的耦合系數設置饋電參數的示例） 5.第四實施例(得到的耦合系數的同時檢測被供電的單元的存在或不存在的示 例） 6.第五實施例(根據得到的耦合系數的大小進行電力輸送控制的示例） 7.其它修改例 (第一實施例） (饋電系統4的總體結構） 圖1示出了根據本專利技術第一實施例的饋電系統(饋電系統4)的外觀結構示例，以 及圖2示出了饋電系統4的塊結構示例。饋電系統4是使用磁場(利用磁諧振、電磁感應 等，下同）進行非接觸電力輸送(供電、饋電或電力輸送）的系統(非接觸型饋電系統)。饋電 系統4包括饋電單元1 (主側單元）和用作被供電的單元的一個或多個電子設備(在該情形 中，兩個電子設備2A和2B ;副側單元)。 如圖1中所示，例如，在饋電系統4中，將電子設備2A和2B放置在(或接近地設置 于）饋電單元1的饋電表面（電力輸送表面）S1上以便進行從饋電單元1到電子設備2A和 2B的電力輸送。在該情形中，考慮到同時或通過分時方式(順序）在多個電子設備2A和2B 上進行電力輸送的情形，饋電單元1具有墊板形狀(托板形狀)，其中，饋電表面S1的面積大 于受電的電子設備2A和2B等的尺寸。 (饋電單元1) 如上面所述，饋電單元1是使用磁場對本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種饋電單元，包括：送電線圈，被配置為使用磁場進行電力輸送；耦合系數計算部，被配置為計算所述送電線圈和將被供電的單元內的受電線圈之間的耦合系數，其中，所述耦合系數計算部測量所述將被供電的單元內的整流電路的非工作狀態下的輸入阻抗的頻率特性，并且使用所述頻率特性的測量結果來計算所述耦合系數。

【技術特征摘要】
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【專利技術屬性】
技術研發人員：文仙啟吾，
申請(專利權)人：索尼公司，
類型：發明
國別省市：日本;JP