本實用新型專利技術涉及一種專用h尺寸測量器，底座上端面固定連接有立柱，立柱與底座上端面垂直，立柱上固定連接有一組平行設置的探桿Ⅰ和探桿Ⅱ，探桿Ⅰ和探桿Ⅱ的軸線均與底座上端面平行，探桿Ⅰ和探桿Ⅱ均設有通孔，通孔的軸線與立柱中心線平行且兩通孔的軸心線重合，立柱上端面擺動連接有杠桿，杠桿一端固定連接有百分表，百分表測頭一端貫穿探桿Ⅱ的通孔，探桿Ⅰ的通孔內設有導柱，導柱的軸心線與百分表測頭的軸心線重合。通過杠桿的上下擺動，調整百分表測頭與導柱之間的距離，精確測量h尺寸，解決了普通檢測器具檢測不了的實際尺寸，同時降低了檢測零件的難度和復雜程度。（*該技術在2024年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種測量器，尤其是一種專門用于h尺寸的測量器。
技術介紹
隨著各種千差萬別的零件單一的測量工具如卡尺、量規或角度尺等已經不能滿足形狀復雜型面零件的監測，所以專用的檢測工具就越來越多，在實際生產加工需要的量具需要有各種形式，每種量具都需要其測量應用的范圍及其應用特性。
技術實現思路
本技術要解決的技術問題是提供一種專用h尺寸測量器，專門用于對h尺寸進行測量，實現通過杠桿原理、百分表和線性平面精確測量h尺寸，提高工作效率，克服h尺寸無法測量的問題。為解決以上問題，本技術的具體技術方案如下:一種專用h尺寸測量器，底座上端面固定連接有立柱，立柱與底座上端面垂直，立柱上固定連接有一組平行設置的探桿I和探桿II，探桿I和探桿II的軸線均與底座上端面平行，探桿I和探桿II均設有通孔，通孔的軸線與立柱中心線平行且兩通孔的軸心線重合，立柱上端面擺動連接有杠桿，杠桿一端固定連接有百分表，百分表測頭一端貫穿探桿II的通孔，探桿I的通孔內設有導柱，導柱的軸心線與百分表測頭的軸心線重合。通過杠桿的上下擺動，調整百分表測頭與導柱之間的距離，精確測量h尺寸，解決了普通檢測器具檢測不了的實際尺寸，同時降低了檢測零件的難度和復雜程度。優選地，所述的導柱與百分表測頭相對的一端為凸球面。優選地，所述立柱上端面設有U型槽，槽口方向向上，立柱與杠桿通過叉形件連接，叉形件的上方設有定位孔，杠桿與叉形件通過轉動銷在定位孔處擺動連接。本技術帶來的有益效果為:通過立柱上方杠桿的上下擺動，調整百分表測頭與導柱之間的距離，精確測量h尺寸，解決了普通檢測器具檢測不了的實際尺寸，同時降低了檢測零件的難度和復雜程度。【附圖說明】圖1為專用h尺寸測量器結構示意圖。圖2為所需測量零件示意圖。圖3為實施例示意圖。其中:1_底座，2-立柱，3-杠桿，4-探桿I，5-探桿II，6-導柱，7-百分表，8-叉形件，9-U型槽，10-轉動銷。【具體實施方式】如圖1所示，一種專用h尺寸測量器，底座I上端面固定連接有立柱2，立柱2與底座I上端面垂直，立柱2上固定連接有一組平行設置的探桿I 4和探桿II 5，探桿I 4和探桿II 5的軸線均與底座I上端面平行，探桿I 4和探桿II 5均設有通孔，通孔的軸線與立柱2中心線平行且兩通孔的軸心線重合，立柱2上端面擺動連接有杠桿3，杠桿3 —端固定連接有百分表7，百分表7測頭一端貫穿探桿II 5的通孔，探桿I 4的通孔內設有導柱6，導柱6的軸心線與百分表7測頭的軸心線重合。優選地，所述的導柱6與百分表7測頭相對的一端為凸球面。優選地，所述立柱2上端面設有U型槽9，槽口方向向上，立柱2與杠桿3通過叉形件8連接，叉形件8的上方設有定位孔，杠桿3與叉形件8通過轉動銷10在定位孔處擺動連接。實施例:如圖2和圖3所示，將被測零件放入百分表7測頭與導柱6之間，使得被測零件碗狀圓弧一端與導柱6重合，通過擺動杠桿3使得百分表7測頭一端與被測零件接觸，進而讀取百分表數據，若被測零件易發生摩擦，在被測零件與百分表7測頭接觸處放置千分墊，測出數據后減去千分墊厚度即可。以上所述的僅是本技術的優選實施例。應當指出，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本技術原理的前提下，還可以作出若干變型和改進，也應視為屬于本技術的保護范圍。【主權項】1.一種專用h尺寸測量器，其特征在于:底座上端面固定連接有立柱，立柱與底座上端面垂直，立柱上固定連接有一組平行設置的探桿I和探桿II，探桿I和探桿II的軸線均與底座上端面平行，探桿I和探桿II均設有通孔，通孔的軸線與立柱中心線平行且兩通孔的軸心線重合，立柱上端面擺動連接有杠桿，杠桿一端固定連接有百分表，百分表測頭一端貫穿探桿II的通孔，探桿I的通孔內設有導柱，導柱的軸心線與百分表測頭的軸心線重合。2.如權利要求1所述的專用h尺寸測量器，其特征在于:所述的導柱與百分表測頭相對的一端為凸球面。3.如權利要求1所述的專用h尺寸測量器，其特征在于:所述的立柱上端面設有U型槽，槽口方向向上，立柱與杠桿通過叉形件連接，叉形件的上方設有定位孔，杠桿與叉形件通過轉動銷在定位孔處擺動連接。【專利摘要】本技術涉及一種專用h尺寸測量器，底座上端面固定連接有立柱，立柱與底座上端面垂直，立柱上固定連接有一組平行設置的探桿Ⅰ和探桿Ⅱ，探桿Ⅰ和探桿Ⅱ的軸線均與底座上端面平行，探桿Ⅰ和探桿Ⅱ均設有通孔，通孔的軸線與立柱中心線平行且兩通孔的軸心線重合，立柱上端面擺動連接有杠桿，杠桿一端固定連接有百分表，百分表測頭一端貫穿探桿Ⅱ的通孔，探桿Ⅰ的通孔內設有導柱，導柱的軸心線與百分表測頭的軸心線重合。通過杠桿的上下擺動，調整百分表測頭與導柱之間的距離，精確測量h尺寸，解決了普通檢測器具檢測不了的實際尺寸，同時降低了檢測零件的難度和復雜程度。【IPC分類】G01B5-00, G01B5-02【公開號】CN204313727【申請號】CN201420728762【專利技術人】張筠 【申請人】沈陽飛機工業（集團）有限公司【公開日】2015年5月6日【申請日】2014年11月28日本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種專用h尺寸測量器，其特征在于：底座上端面固定連接有立柱，立柱與底座上端面垂直，立柱上固定連接有一組平行設置的探桿Ⅰ和探桿Ⅱ，探桿Ⅰ和探桿Ⅱ的軸線均與底座上端面平行，探桿Ⅰ和探桿Ⅱ均設有通孔，通孔的軸線與立柱中心線平行且兩通孔的軸心線重合，立柱上端面擺動連接有杠桿，杠桿一端固定連接有百分表，百分表測頭一端貫穿探桿Ⅱ的通孔，探桿Ⅰ的通孔內設有導柱，導柱的軸心線與百分表測頭的軸心線重合。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：張筠，
申請(專利權)人：沈陽飛機工業集團有限公司，
類型：新型
國別省市：遼寧;21
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