一種能定位的磁環(huán)電感測試裝置制造方法及圖紙

本申請公開了一種能定位的磁環(huán)電感測試裝置，包括多分度回轉(zhuǎn)盤和磁環(huán)電感測試裝置，多分度回轉(zhuǎn)盤沿周向設(shè)若干個(gè)大通孔，每個(gè)大通孔內(nèi)設(shè)環(huán)形的支撐盤，每個(gè)支撐盤沿周向設(shè)一圈小通孔和若干根定位導(dǎo)向桿；磁環(huán)電感測試裝置包括上蓋和下蓋，上蓋的下表面設(shè)不同半徑的兩圈插針；下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤的下方，下蓋的上表面設(shè)兩圈不同半徑的接線插孔和一圈定位槽；當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，外圈的插針能從小通孔中穿出，內(nèi)圈的插針從支撐盤的內(nèi)環(huán)中穿過，并分別與接線插孔相配合；定位導(dǎo)向桿的底部能與相應(yīng)的定位槽相配合。采用上述結(jié)構(gòu)后，自動(dòng)化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合，測試效率高且能自動(dòng)定位。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本申請涉及一種鐵氧體電感測試裝置，特別是一種能定位的磁環(huán)電感測試裝置。
技術(shù)介紹
2010年12月29日公布的申請?zhí)枮?01020140997.8號的中國技術(shù)專利，該專利公開了一種磁環(huán)測試裝置。該測試裝置包括上蓋板、下蓋板和兩個(gè)防護(hù)皮套，所述上蓋板上沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置有多個(gè)插針，下蓋板上設(shè)置有與插針相配合的若干個(gè)插槽，每個(gè)外圈插針和內(nèi)圈插針通過設(shè)置在插針根部的導(dǎo)線連接，相對應(yīng)的兩個(gè)插槽根部也用導(dǎo)線連接，形成一個(gè)完整的單根通路。上述測試裝置確實(shí)解決了同一種磁環(huán)繞線測試?yán)щy的技術(shù)問題，帶來了有益的技術(shù)效果，但也存在著如下不足:每次測試前，需要操作人員將帶有插針的上蓋與帶有插槽的下蓋進(jìn)行配合，而插針和插槽數(shù)量多，每個(gè)都準(zhǔn)確配合，需要較長時(shí)間，測試效率低下，另外，還需出現(xiàn)個(gè)別插針與插槽配合不良的現(xiàn)象，導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。申請內(nèi)容本申請要解決的技術(shù)問題是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，而提供一種自動(dòng)化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合，測試效率高且能自動(dòng)定位的能定位的磁環(huán)電感測試裝置。為解決上述技術(shù)問題，本申請采用的技術(shù)方案是：????一種能定位的磁環(huán)電感測試裝置，包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤和一套磁環(huán)電感測試裝置，所述多分度回轉(zhuǎn)盤沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔，每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)環(huán)形的支撐盤，每個(gè)支撐盤的內(nèi)徑大于待測磁環(huán)的內(nèi)徑，每個(gè)支撐盤的外徑大于待測磁環(huán)的外徑，每個(gè)支撐盤沿周向均勻設(shè)置有一圈小通孔，每個(gè)支撐盤的內(nèi)環(huán)中沿周向均設(shè)置有若干根定位導(dǎo)向桿；所述磁環(huán)電感測試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋，其中，上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤其中一個(gè)大通孔的正上方，上蓋的下表面設(shè)置有兩圈插針，兩圈插針沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的插針和相鄰的內(nèi)圈的插針通過導(dǎo)線相連接；所述下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤的下方，下蓋的上表面設(shè)置有兩圈接線插孔和一圈定位槽，兩圈接線插孔也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的接線插孔和相鄰的內(nèi)圈的接線插孔通過導(dǎo)線相連接；當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，外圈的插針能從相應(yīng)的小通孔中穿出，內(nèi)圈的插針從支撐盤的內(nèi)環(huán)中穿過，并分別與相應(yīng)的接線插孔相配合；所述定位導(dǎo)向桿的高度與插針的高度相等，當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，定位導(dǎo)向桿的底部能與相應(yīng)的定位槽相配合。????所述多分度回轉(zhuǎn)盤為8分度回轉(zhuǎn)盤，所述大通孔有8個(gè)。????所述多分度回轉(zhuǎn)盤分別與分度器和電機(jī)相連接。本申請采用上述結(jié)構(gòu)后，自動(dòng)化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合，測試效率高且能自動(dòng)定位。附圖說明圖1是本申請一種能定位的磁環(huán)電感測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2顯示了圖1中支撐盤的放大結(jié)構(gòu)示意圖。其中有：1.多分度回轉(zhuǎn)盤；2.大通孔；21.支撐盤；22.小通孔；23.定位導(dǎo)向桿；3.上蓋；31.插針；4.下蓋；41.接線插孔；42.定位槽。具體實(shí)施方式下面結(jié)合附圖和具體較佳實(shí)施方式對本申請作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。如圖1所示，一種能定位的磁環(huán)電感測試裝置，包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤1和一套磁環(huán)電感測試裝置。上述多分度回轉(zhuǎn)盤1沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔2，每個(gè)大通孔2內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)環(huán)形的支撐盤21，每個(gè)支撐盤21的內(nèi)徑大于待測磁環(huán)的內(nèi)徑，每個(gè)支撐盤21的外徑大于待測磁環(huán)的外徑。如圖2所示，每個(gè)支撐盤21沿周向均勻設(shè)置有一圈小通孔22，每個(gè)支撐盤21的內(nèi)環(huán)中沿周向均設(shè)置有若干根定位導(dǎo)向桿23。定位導(dǎo)向桿23能對待測磁環(huán)的內(nèi)孔進(jìn)行定位，防止待測磁環(huán)位置移動(dòng)，影響測試的準(zhǔn)確性。上述磁環(huán)電感測試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋3和下蓋4。上蓋3位于多分度回轉(zhuǎn)盤1其中一個(gè)大通孔2的正上方，上蓋3的下表面設(shè)置有兩圈插針31，兩圈插針31沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的插針31和相鄰的內(nèi)圈的插針31通過導(dǎo)線相連接。下蓋4位于多分度回轉(zhuǎn)盤1的下方，下蓋4的上表面設(shè)置有兩圈接線插孔41和一圈定位槽42，兩圈接線插孔41也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的接線插孔41和相鄰的內(nèi)圈的接線插孔41通過導(dǎo)線相連接。當(dāng)上蓋3的高度下降和下蓋4的高度上升后，外圈的插針31能從相應(yīng)的小通孔22中穿出，內(nèi)圈的插針31從支撐盤21的內(nèi)環(huán)中穿過，并分別與相應(yīng)的接線插孔41相配合。定位導(dǎo)向桿23的高度與插針31的高度相等，當(dāng)上蓋3的高度下降和下蓋4的高度上升后，定位導(dǎo)向桿23的底部能與相應(yīng)的定位槽42相配合，從而進(jìn)行導(dǎo)向。????所述多分度回轉(zhuǎn)盤1優(yōu)選為8分度回轉(zhuǎn)盤，所述大通孔2優(yōu)選有8個(gè)。????所述多分度回轉(zhuǎn)盤1優(yōu)選分別與分度器和電機(jī)相連接。以上所述，僅為本申請較佳的具體實(shí)施方式，但本申請的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本
的技術(shù)人員在本申請揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本申請的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本申請的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種能定位的磁環(huán)電感測試裝置，其特征在于：包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤和一套磁環(huán)電感測試裝置，所述多分度回轉(zhuǎn)盤沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔，每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)環(huán)形的支撐盤，每個(gè)支撐盤的內(nèi)徑大于待測磁環(huán)的內(nèi)徑，每個(gè)支撐盤的外徑大于待測磁環(huán)的外徑，每個(gè)支撐盤沿周向均勻設(shè)置有一圈小通孔，每個(gè)支撐盤的內(nèi)環(huán)中沿周向均設(shè)置有若干根定位導(dǎo)向桿；所述磁環(huán)電感測試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋，其中，上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤其中一個(gè)大通孔的正上方，上蓋的下表面設(shè)置有兩圈插針，兩圈插針沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的插針和相鄰的內(nèi)圈的插針通過導(dǎo)線相連接；所述下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤的下方，下蓋的上表面設(shè)置有兩圈接線插孔和一圈定位槽，兩圈接線插孔也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的接線插孔和相鄰的內(nèi)圈的接線插孔通過導(dǎo)線相連接；當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，外圈的插針能從相應(yīng)的小通孔中穿出，內(nèi)圈的插針從支撐盤的內(nèi)環(huán)中穿過，并分別與相應(yīng)的接線插孔相配合；所述定位導(dǎo)向桿的高度與插針的高度相等，當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，定位導(dǎo)向桿的底部能與相應(yīng)的定位槽相配合。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種能定位的磁環(huán)電感測試裝置，其特征在于：包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤和一套磁環(huán)電感測試裝置，所述多分度回轉(zhuǎn)盤沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔，每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)環(huán)形的支撐盤，每個(gè)支撐盤的內(nèi)徑大于待測磁環(huán)的內(nèi)徑，每個(gè)支撐盤的外徑大于待測磁環(huán)的外徑，每個(gè)支撐盤沿周向均勻設(shè)置有一圈小通孔，每個(gè)支撐盤的內(nèi)環(huán)中沿周向均設(shè)置有若干根定位導(dǎo)向桿；所述磁環(huán)電感測試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋，其中，上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤其中一個(gè)大通孔的正上方，上蓋的下表面設(shè)置有兩圈插針，兩圈插針沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的插針和相鄰的內(nèi)圈的插針通過導(dǎo)線相連接；所述下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤的下方，下蓋的上表面設(shè)置有...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：李玲，
申請(專利權(quán))人：李玲，
類型：發(fā)明
國別省市：江蘇;32