本發明專利技術涉及一種電子設備電磁發射特性的現場測試方法及裝置，其中，該方法步驟是：環境場強測試，對設備工作現場的電磁環境進行測試，確定環境常駐信號及有無新增異常信號；輻射發射測試，通過便攜式雙錐天線，對10kHz至3GHz頻率范圍內的輻射發射進行測試，通過環境剔除算法，對測試數據進行處理，獲得被測設備的實際電磁發射特性；傳導發射測試，通過電流卡鉗，對25Hz至10MHz頻率范圍內的傳導發射進行測試，以及對25Hz至250MHz頻率范圍內的線間耦合進行測試；故障診斷測試，依據被測設備的電磁發射特性，分別選用不同精度的近場探頭，進一步確定具體部位的電磁發射特性；對現場測試數據的異常頻段與其他設備模板進行相關性計算，獲得現場測試與故障診斷結果。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于電磁兼容測試領域，特別是一種電子設備電磁發射特性的現場測試方 法及裝置。
技術介紹
隨著電子技術的飛速發展，系統線纜布局復雜，組成設備眾多，工作頻率及傳輸速 率增加，從而導致電子系統的電磁兼容問題日益突出。由于系統體積的限制和測試實時性 的要求，電磁兼容測試無法在屏蔽室內進行，且對于被測設備而言，實際工作狀態與實驗室 狀態的電磁發射特性有很大差別。最明顯的差別在于，前者處于實際的工作環境，設備處于 聯網工作狀態，而后者的設備處于單臺非聯網工作狀態。顯然，兩種狀態下電磁發射特性最 真實的為第一種狀態。因此，在工作現場對設備進行電磁兼容測試，獲得被測設備的電磁發 射特性，為判別干擾源，對其進行電磁兼容故障診斷提供依據。 電磁兼容現場測試需進行輻射發射測試和傳導發射測試。輻射發射測試頻帶較 寬，通常分布在IOkHz~3GHz。標準測試采用有源桿狀天線、雙錐天線、對數周期天線和喇 叭天線。這些天線不僅體積較大，使用起來非常不便，而且無法區分鄰近設備的輻射信號。 傳導發射測試頻帶通常分布在幾十Hz~250MHz。由于正常工作環境下系統的線纜布局復 雜，而線間耦合是導致電磁泄漏和傳導干擾的重要因素，因此探測線纜之間的耦合，就顯得 非常重要。為了進一步確定具體部位的電磁發射特性，就需要對設備的機箱/機柜孔、縫、 電路板等部位進行貼近探測。因此，電磁兼容現場測試需要采用方便有效的測試診斷組件。 電磁兼容現場測試由于不具備理想的屏蔽、濾波環境，致使環境中既有設備自身 產生的信號，又有環境噪聲信號，嚴重影響了測試的準確性，增加了故障診斷的難度。目前 我國唯一關于電磁兼容現場測試的標準YDT 1633-2007《電磁兼容性現場測試方法》規定 了電磁兼容現場測試時設備級產品的性能判據、騷擾度和抗擾度的測量方法，但是未涉及 復雜電磁環境和聯網工作狀態下的電磁兼容現場測試，更沒有測試數據的處理方法和電磁 兼容性的詳細要求。虛擬暗室理論通過采用雙通道接收機測量和自適應噪聲抵消技術，對 被測設備進行普通環境下的輻射發射測試，由于實際測試時，干擾源與敏感設備的距離非 常近，不能滿足該方法理論上所要求的測試距離，因此無法用于實際測試。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種使用方便，可在現場非屏蔽環境下，獲得被測設備的 實際電磁發射特性的一種電子設備電磁發射特性的現場測試方法及裝置。 本專利技術具體是這樣實現的：一種電子設備電磁發射特性的現場測試方法，其特征 是：它至少包括如下步驟： 步驟101 :環境場強測試，對設備工作現場的電磁環境進行測試，確定環境常駐信 號及有無新增異常信號； 步驟102 :輻射發射測試，通過便攜式雙錐天線，對IOkHz至3GHz頻率范圍內的輻 射發射進行測試，通過環境剔除算法，對測試數據進行處理，獲得被測設備的實際電磁發射 特性； 步驟103 :傳導發射測試，通過電流卡鉗，對25Hz至IOMHz頻率范圍內的傳導發射 進行測試，以及對25Hz至250MHz頻率范圍內的線間耦合進行測試； 步驟104 :故障診斷測試，依據被測設備的電磁發射特性，分別選用不同精度的近 場探頭，進一步確定具體部位的電磁發射特性； 步驟105 :對現場測試數據的異常頻段與其他設備模板進行相關性計算，獲得現 場測試與故障診斷結果。 所述的步驟101，具體包括如下步驟： 步驟201 :關閉所有設備，使便攜式雙錐天線處于接收狀態，接收到的信號通過同 軸屏蔽線纜傳遞至接收儀和測控計算機； 步驟202:返復進行環境場強測試時，當同一頻段多次幅度差別不大時，則認為該 信號為環境常駐信號；應在輻射發射測試時對其進行剔除。 所述的步驟102,具體包括如下步驟： 步驟301 :將被測設備關閉，便攜式雙錐天線接收，接收到的信號通過同軸屏蔽線 纜傳遞至接收儀和測控計算機； 在h時刻對被測設備所處環境進行測試，得到其頻譜為S tl(co)，即當前環境的頻 譜； 步驟302 :將被測設備開啟并處于正常工作狀態，便攜式雙錐天線接收，接收到的 信號通過同軸屏蔽線纜傳遞至接收儀和測控計算機，在t 2時刻對被測設備進行測試，得到 其頻譜為St2 (ω )，即環境的頻譜和被測設備發射的頻譜之和； 步驟303 :確定閾值，將t2時刻測得頻譜的負包絡S e (ω)作為閾值； 步驟304 :估計上述參數下的頻率偏移和幅度偏差； 步驟305:差值補償； 步驟306 :差分計算，針對不滿足同一性判別的測試數據進行差分計算； 若同一頻率t2時刻測試數據S t2(co)高于tl時刻測試數據S tl(co)，由于單位為 dB μ V/m，兩組測試數據不是線性關系，則應先將單位由dB μ V/m轉換為μ V再進行差分計 算： 若問一頻率t2時刻測試數據St2 ( ω )低于或等于tl時刻測試數據S tl ( ω )，差分計 算出現負值，則保留一時刻測得頻譜的負包絡SJ ω); 對環境常駐信號進行分段處理，確定環境常駐信號頻段并對其進行剔除，保留t2 時刻測得頻譜的負包絡SJ ω ); 步驟307 :消噪處理，降低寬帶噪聲； 步驟308 :獲得電子設備實際輻射發射特性，將被測設備正常工作狀態下的測試 數據存為該設備的模板數據，當該設備出現異常時，對其再次進行輻射發射測試，將測試數 據與模板數據進行比對，確定該設備的異常頻段。 所述的步驟103,具體包括如下步驟： 步驟401 :選擇被測設備的電源線，將電流卡鉗卡在上面，接收到的信號通過同軸 屏蔽線纜傳遞至接收儀和測控計算機； 步驟402:獲得電子設備實際傳導發射特性，將被測設備正常工作狀態下的測試 數據存為該設備的模板數據，當該設備出現異常時，對其再次進行傳導發射測試，將測試數 據與模板數據進行比對，確定該設備的異常頻段； 步驟403 :選擇被測設備的一條線纜，將電流卡鉗卡在上面，接收到的信號通過同 軸屏蔽線纜傳遞至接收儀和測控計算機； 步驟404 :選擇被測設備的一條線纜，并將其與其他線纜進行物理隔離，將電流卡 鉗卡在上面，接收到的信號通過同軸屏蔽線纜傳遞至接收儀和測控計算機； 步驟405:對兩次測試數據進行比對，確定電磁泄漏通過線間耦合導致傳導干擾 的頻段，對耦合頻段數據和其他設備模板進行峰值提取和相關性計算，實現耦合干擾定位。 所述的步驟104,具體包括如下步驟： 步驟501 :近場探頭貼近被測設備的機箱/機柜孔、縫、顯示屏等輻射發射較強的當前第1頁1 2 3 4 本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種電子設備電磁發射特性的現場測試方法，其特征是：它至少包括如下步驟：步驟101：環境場強測試，對設備工作現場的電磁環境進行測試，確定環境常駐信號及有無新增異常信號；步驟102：輻射發射測試，通過便攜式雙錐天線，對10kHz至3GHz頻率范圍內的輻射發射進行測試，通過環境剔除算法，對測試數據進行處理，獲得被測設備的實際電磁發射特性；步驟103：傳導發射測試，通過電流卡鉗，對25Hz至10MHz頻率范圍內的傳導發射進行測試，以及對25Hz至250MHz頻率范圍內的線間耦合進行測試；步驟104：故障診斷測試，依據被測設備的電磁發射特性，分別選用不同精度的近場探頭，進一步確定具體部位的電磁發射特性；步驟105：對現場測試數據的異常頻段與其他設備模板進行相關性計算，獲得現場測試與故障診斷結果。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：許清琳，邱揚，田錦，張建國，王森，許社教，
申請(專利權)人：西安電子科技大學，
類型：發明
國別省市：陜西;61
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