用于太赫茲光路中的晶體固定架制造技術

本實用新型專利技術為一種用于太赫茲光路中的晶體固定架，該晶體固定架包括圓形的固定架本體和固定架蓋體；所述固定架本體軸向中心設有一內螺紋凹槽，該內螺紋凹槽的槽底為一平面，該內螺紋凹槽的槽底中心設有一軸向貫通固定架本體的第一圓孔；所述固定架蓋體螺旋設置于內螺紋凹槽中，所述固定架蓋體的底面也為一平面，固定架蓋體的底面與內螺紋凹槽的槽底接觸；所述固定架蓋體的底面中心向上設有一方形凹槽，該方形凹槽的槽底中心設有一軸向貫通固定架蓋體的第二圓孔；所述第一圓孔與第二圓孔的孔徑相同。本實用新型專利技術用于太赫茲光路中的晶體固定架，能在太赫茲光路中方便地安裝和拆卸方形晶體片，同時能夠調節晶體片的角度，提高實驗的效率。

【技術實現步驟摘要】

本技術是關于太赫茲光路系統，尤其涉及一種用于太赫茲光路中放置砷化銦(InAs)或碲化鋅(ZnTe)晶片的晶體固定架。
技術介紹
太赫茲光路中的鏡架(反射鏡架或透射鏡架)中心設有圓柱形的通孔，用于放置晶體片，在鏡架表面有刻度，用于調節晶體片的角度；實驗所用的晶體片有時是正方形的晶體片，如果直接放到鏡架上面需要用雙面膠加以固定，況且在實驗過程中調節其角度很不方便，所以需要一個既能固定晶體片又能滿足調節角度需要的裝置，以方便的安裝、取下和調試晶片，提高實驗的效率；由此，本專利技術人憑借多年從事相關行業的經驗與實踐，提出一種用于太赫茲光路中的晶體固定架，以克服現有技術的缺陷。
技術實現思路
本技術的目的在于提供一種用于太赫茲光路中的晶體固定架，能在太赫茲光路中方便地安裝和拆卸方形晶體片，同時能夠調節晶體片的角度，提高實驗的效率。本技術的目的是這樣實現的，一種用于太赫茲光路中的晶體固定架，該晶體固定架包括圓形的固定架本體和固定架蓋體；所述固定架本體軸向中心設有一內螺紋凹槽，該內螺紋凹槽的槽底為一平面，該內螺紋凹槽的槽底中心設有一軸向貫通固定架本體的第一圓孔；所述固定架蓋體螺旋設置于內螺紋凹槽中，所述固定架蓋體的底面也為一平面，固定架蓋體的底面與內螺紋凹槽的槽底接觸；所述固定架蓋體的底面中心向上設有一方形凹槽，該方形凹槽的槽底中心設有一軸向貫通固定架蓋體的第二圓孔；所述第一圓孔與第二圓孔的孔徑相同。在本技術的一較佳實施方式中，所述固定架蓋體的頂面上設有至少一凸柱。在本技術的一較佳實施方式中，所述固定架蓋體的頂面上設有兩個凸柱，所述兩個凸柱呈徑向對稱設置。在本技術的一較佳實施方式中，所述固定架蓋體為直徑23mm、厚度3mm的圓形體，固定架蓋體上的方形凹槽邊長為10mm、厚度為1.1～1.2mm，固定架蓋體上的第二圓孔的直徑為9.5mm；所述固定架本體為直徑25mm、厚度5mm的圓形體，固定架本體的內螺紋凹槽深度為3mm，固定架本體的第一圓孔直徑為9.5mm。在本技術的一較佳實施方式中，所述凸柱為直徑2mm、高度1.5mm的圓柱形。在本技術的一較佳實施方式中，內螺紋為右旋，其大徑為23.5mm，小徑為23mm，螺紋段高度為3mm，螺距0.5mm，螺旋角度30°；外螺紋為右旋，其大徑23mm，小徑22mm，螺紋段高度3mm，螺距0.5mm，螺旋角度30°。在本技術的一較佳實施方式中，所述固定架本體和固定架蓋體由丙烯腈-丁二烯-苯乙烯塑料制成。由上所述，本技術用于太赫茲光路中的晶體固定架，能在太赫茲光路中方便地安裝和拆卸方形晶體片，同時能夠調節晶體片的角度，提高實驗的效率。附圖說明以下附圖僅旨在于對本技術做示意性說明和解釋，并不限定本技術的范圍。其中：圖1A：為本技術用于太赫茲光路中的晶體固定架立體結構示意圖；圖1B：為本技術用于太赫茲光路中的晶體固定架俯視結構示意圖；圖1C：為圖1B中A-A處剖視結構示意圖；圖2A：為本技術中固定架蓋體的俯視結構示意圖；圖2B：為圖2A中B-B處剖視結構示意圖；圖3A：為本技術中固定架本體的俯視結構示意圖；圖3B：為圖3A中C-C處剖視結構示意圖。圖中標號：100:用于太赫茲光路中的晶體固定架；1:固定架本體；11:內螺紋凹槽；12：第一圓孔；2:固定架蓋體；21:方形凹槽；22:第二圓孔；23:凸柱；具體實施方式為了對本技術的技術特征、目的和效果有更加清楚的理解，現對照附圖說明本技術的具體實施方式。如圖1A、圖1B和圖1C所示，本技術提出一種用于太赫茲光路中的晶體固定架100，該晶體固定架100包括圓形的固定架本體1和固定架蓋體2；如圖2A、圖2B和圖3A、圖3B所示，所述固定架本體1軸向中心設有一內螺紋凹槽(即：為圓形凹槽且內側壁設有內螺紋)11，該內螺紋凹槽11的槽底為一平面，該內螺紋凹槽11的槽底中心設有一軸向貫通固定架本體的第一圓孔12；所述固定架蓋體2設有外螺紋且螺旋設置于內螺紋凹槽11中，所述固定架蓋體2的底面也為一平面，固定架蓋體2的底面與內螺紋凹槽11的槽底接觸；所述固定架蓋體2的底面中心向上設有一方形凹槽21，該方形凹槽21的槽底中心設有一軸向貫通固定架蓋體的第二圓孔22；所述第一圓孔12與第二圓孔22的孔徑相同。上述用于太赫茲光路中的晶體固定架在使用時，將方形晶體片(本實施方式中，使用的晶體片為邊長10mm、厚度1mm的正方形晶體片)放入方形凹槽21中，并把固定架本體1蓋到固定架蓋體2上，順著螺紋的方向將固定架蓋體擰入固定架本體1的內螺紋凹槽中，使兩者結合成一整體，然后將晶體固定架放置到鏡架(反射鏡架或透射鏡架，為現有技術)上的圓柱形通孔中，并由該通孔側壁上設置的鎖緊釘將晶體固定架固定，由此用于太赫茲的產生和探測實驗；當需要調節晶體片的角度時，可以松開鎖緊釘，轉動晶體固定架至合適的角度，之后再將鎖緊釘擰緊固定。本實施方式中，所述晶體片為用于產生太赫茲的砷化銦(InAs)晶體片或用于探測太赫茲的碲化鋅(ZnTe)晶體片。由上所述，本技術用于太赫茲光路中的晶體固定架，能在太赫茲光路中方便地安裝和拆卸方形晶體片，同時能夠調節晶體片的角度，提高實驗的效率。進一步，在本實施方式中，所述固定架蓋體2的頂面上設有兩個凸柱23，所述兩個凸柱23呈徑向對稱設置。所述兩個凸柱23可以當作手柄使用，以便于將固定架蓋體2螺旋連接于內螺紋凹槽11中。在本實施方式中，所述固定架蓋體為直徑23mm、厚度3mm的圓形體，固定架蓋體上的方形凹槽邊長為10mm、厚度為1.1～1.2mm，固定架蓋體上的第二圓孔的直徑為9.5mm；所述固定架本體為直徑25mm、厚度5mm的圓形體，固定架本體的內螺紋凹槽深度為3mm，固定架本體的第一圓孔直徑為9.5mm。所述凸柱為直徑2mm、高度1.5mm的圓柱形。進一步，內螺紋為右旋，其大徑為23.5mm，小徑為23mm，螺紋段高度為3mm，螺距0.5mm，螺旋角度30°；外螺紋為右旋，其大徑23mm，小徑22mm，螺紋段高度3mm，螺距0.5mm，螺旋角度30°。在本實施方式中，所述固定架本體1和固定架蓋體2均由丙烯腈-丁二烯-苯乙烯塑料(簡稱ABS塑料)制成。本技術用于太赫茲光路中的晶體固定架，能在太赫茲光路中方便地安裝...

【技術保護點】
一種用于太赫茲光路中的晶體固定架，其特征在于：該晶體固定架包括圓形的固定架本體和固定架蓋體；所述固定架本體軸向中心設有一內螺紋凹槽，該內螺紋凹槽的槽底為一平面，該內螺紋凹槽的槽底中心設有一軸向貫通固定架本體的第一圓孔；所述固定架蓋體設有外螺紋且螺旋設置于內螺紋凹槽中，所述固定架蓋體的底面也為一平面，固定架蓋體的底面與內螺紋凹槽的槽底接觸；所述固定架蓋體的底面中心向上設有一方形凹槽，該方形凹槽的槽底中心設有一軸向貫通固定架蓋體的第二圓孔；所述第一圓孔與第二圓孔的孔徑相同。

【技術特征摘要】
1.一種用于太赫茲光路中的晶體固定架，其特征在于：該晶體固定架包括圓形的固定架本體和固定架蓋體；所述固定架本體軸向中心設有一內螺紋凹槽，該內螺紋凹槽的槽底為一平面，該內螺紋凹槽的槽底中心設有一軸向貫通固定架本體的第一圓孔；所述固定架蓋體設有外螺紋且螺旋設置于內螺紋凹槽中，所述固定架蓋體的底面也為一平面，固定架蓋體的底面與內螺紋凹槽的槽底接觸；所述固定架蓋體的底面中心向上設有一方形凹槽，該方形凹槽的槽底中心設有一軸向貫通固定架蓋體的第二圓孔；所述第一圓孔與第二圓孔的孔徑相同。
2.如權利要求1所述的用于太赫茲光路中的晶體固定架，其特征在于：所述固定架蓋體的頂面上設有至少一凸柱。
3.如權利要求2所述的用于太赫茲光路中的晶體固定架，其特征在于：所述固定架蓋體的頂面上設有兩個凸柱，所述兩個凸柱呈徑向對稱設置。
4.如權利要求1或2或3所述的用于太赫茲光路中的晶體固定架，其特征在于：所述固定架蓋...

【專利技術屬性】
技術研發人員：高磊，張平，于憲書，衣玲學，
申請(專利權)人：中國石油大學北京，
類型：新型
國別省市：北京;11