本發明專利技術提供能夠不在工件的低硬度部產生損傷地進行固定而對工件高精度地進行特性測定的工件的特性測定裝置以及工件的特性測定方法。工件的特性測定裝置(100)具備在輸送工作臺(2)的外周部設置并進行被收納在工件收納孔內的工件(W1)的特性測定的工件的特性檢測部(10)。工件的特性檢測部(10)具有抵接于工件(W1)而進行工件的特性檢測的檢測部件(P1a、P1b)；和將工件收納孔內(3)的工件(W1)向工件收納孔(3)中與開口部相向的內壁(3si、5s)側固定的固定單元(15)。在各工件收納孔(3)的內壁(3si、5s)形成有在工件(W1)抵接于內壁的情況下避開工件(W1)的低硬度部的缺口部(3si)。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及在形成于輸送工作臺的多個工件收納孔個別地收納電子零件等工件并輸送、由在輸送工作臺的旋轉路徑中配置的工件的特性測定部對工件的特性進行測定的工件的特性測定裝置以及工件的特性測定方法，特別涉及在具有易于由于按壓而產生損傷的低硬度部的工件的測定時、能夠不按壓低硬度部地將工件固定的工件的特性測定裝置以及工件的特性測定方法。
技術介紹
以往以來，已知有在形成于旋轉自在的輸送工作臺的多個工件收納孔中個別地收納電子零件等工件并輸送的工件特性測定裝置(參照專利文獻1)。將專利文獻1中記載的工件輸送裝置的平面圖示于圖28。工件輸送裝置100具有在水平的工作臺基座101之上配置的旋轉自在的輸送工作臺102。在輸送工作臺102的外周部形成有個別地收納圖29所示的芯片形電子零件等工件W0的多個工件收納孔103。輸送工作臺102通過未圖示的驅動機構的作用在中心軸104的周圍順時針(箭頭A方向)間歇旋轉。另外，除位于后述的分離供給部107的工件收納孔103外，工件收納孔103的上表面由工作臺罩105覆蓋。將工件W0的立體圖示于圖29。工件W0是發光二極管(LED)，具有在上表面有發光面W0s的長方體形狀的主體W0x和從主體W0x向長邊方向的前方以及后方突出的引線端子W0a、W0b。將從圖29中的E0方向、F0方向、G0方向、H0方向看工件W0的圖分別示于圖30(a)(b)(c)(d)。如圖30(a)(c)所示，引線端子W0a、W0b分別從主體W0x的后方面W0c、前方面W0d突出，它們的底面與主體W0x的底面一致。將工件W0的內部電路示于圖31。內部電路是發光二極管D0，引線端子W0a是陽極、引線端子W0b是陰極。若對引線端子W0a、W0b之間施加電壓使得W0a變為高電位，則發光二極管D0發光。此時，外觀上，圖29中的發光面W0s發光。此外，如圖30(b)(c)所示，發光面W0s比主體W0x的上表面W0t稍稍凹陷。作為市售的發光二極管的例子，有的如圖29所示，主體W0x的縱長X0是3mm、橫寬Y0是5mm、高度Z0是1mm、引線端子W0a以及W0b的突出部的長度j是0.3mm、高度k是0.25mm。圖29所示的工件W0，在圖28所示的工件輸送裝置中通過直線形狀的線性送料器106的振動的作用而按一列被沿箭頭B方向輸送。此時，圖29所示的引線端子W0b變得位于沿圖28所示的箭頭B方向。線性送料器106的終端部與在輸送工作臺102的外周部形成的工件收納孔103的開口部相向，在這里設置有分離供給部107。在線性送料器106上以一列狀態被輸送的工件W0，在分離供給部107中分離而被個別地收納于在輸送工作臺102的外周部形成的工件收納孔103。接著，通過輸送工作臺102的圖28中的箭頭A方向的間歇旋轉而被輸送。在輸送工作臺102的外周部沿間歇旋轉方向(箭頭A方向)依次設置有第1檢測部108、第2檢測部109、排出部110。在第1檢測部108進行工件W0的電氣特點檢測。將該樣子作為圖28的C－C′剖視圖示于圖32到圖34。在圖32中，輸送工作臺102停止，工件W0位于第1檢測部108。在第1檢測部108中，在引線端子W0a、W0b的正下位置的工作臺基座101內配置有探針P0a、P0b。而且，通過未圖示的驅動機構的作用，探針P0a、P0b如圖33所示朝向引線端子W0a、W0b沿箭頭K1方向進出。而且，探針P0a、P0b在抵接于引線端子W0a、W0b的狀態下推起工件W0，在工件W0的上表面W0t抵接于覆蓋工件收納孔103的上表面的第1檢測部罩108a的下表面108as的狀態下停止。在該狀態下，探針P0a、P0b連接于未圖示的測定器并對工件W0的電氣特性進行測定。之后，如圖34所示，通過未圖示的驅動機構的作用，探針P0a、P0b沿箭頭K2方向退出而返回圖32所示的狀態。接著，輸送工作臺102進行間歇旋轉，工件W0被輸送。之后，工件W0到達第2檢測部109，針對不同于第1檢測部108的檢測項目實施檢測。接著，到達排出部110，通過未圖示的排出單元從工件收納孔103排出。在以上那樣的利用現有技術的工件輸送裝置100中，存在以下的問題點。如圖33所示，在工件W0的電氣特性測定時，探針P0a、P0b以抵接于引線端子W0a、W0b的狀態將工件W0抬起，以工件W0的上表面W0t抵接于覆蓋工件收納孔103的上表面的第1檢測部罩108a的下表面108as的狀態停止。以該狀態實施測定的原因在于：以工件W0固定了的狀態使探針P0a、P0b與引線端子W0a、W0b抵接，由此能夠使探針P0a、P0b以充分大的壓力抵接于引線端子W0a、W0b而使接觸阻力減低、且確保測定精度。但是，圖29所示的工件W0的主體W0x由不易由于按壓而產生損傷的高硬度部即電介體覆蓋。因此，其上表面W0t如圖33所示抵接于第1檢測部罩108a的下表面108as，之后如果也如圖34所示分離則在主體W0x的上表面W0t不會產生損傷。相對于此，圖29所示的發光面W0s由易于由于按壓而產生損傷的低硬度部即樹脂形成，在抵接于第1檢測部罩108a的下表面108as的情況下，即使之后如圖34所示分離，在圖29所示的發光面W0s也會產生損傷。一般而言在圖29所示的工件W0的情況下，如圖30(b)(c)所示，發光面W0s在主體W0x的上表面的內部形成且相比上表面稍有凹陷，因此發光面W0s不會抵接于第1檢測部罩108a的下表面108as。但是，在發光二極管之中，有的發光的部分(以下稱為發光部)不是像圖29的工件W0的發光面W0s那樣的平面形狀，而是從工件的上表面進一步向上方突出的立體形狀。另外，也有的發光部是進一步覆蓋上表面的周圍而向四方突出的形狀。在該情況下，在測定之際在將工件固定時，若采用圖33所示那樣的現有技術的固定方法，則由于受到按壓致在發光部產生損傷。另一方面，若為了避免該狀態而以將工件置于工件收納孔103內且不固定的狀態使探針抵接于工件的端子，則不能通過充分大的壓力使探針抵接于工件的端子。因此，探針與工件的端子之間的接觸阻力變大，不能確保測定精度。另外，難以不使低硬度部即發光部抵接與任何部位額，而僅使高硬度部即主體抵接于工件收納孔103的周圍的某處并使其固定，另外能夠使其抵接的范圍變窄。進一步，若在這樣進行固定時僅按壓工件的高硬度部，則因為按壓力被施加于窄的本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種工件的特性測定裝置，其對具有高硬度部和低硬度部的工件的特性進行測定，其特征在于，具備：工作臺基座；輸送工作臺，旋轉自如地配置于所述工作臺基座上，并具有向外方開口的開口部并且沿外周邊緣設置有多個收納工件的工件收納孔；和工件的特性檢測部，設置于所述輸送工作臺的外周部，進行被收納于所述工件收納孔內的工件的特性測定，所述工件的特性檢測部具有：抵接于工件而進行工件的特性檢測的檢測部件；和將工件收納孔內的工件向工件收納孔中與開口部相向的內壁側固定的固定單元，在各工件收納孔的內壁，形成有在工件抵接于內壁的情況下避開工件的低硬度部的缺口部。
【技術特征摘要】
2015.01.07 JP 2015-0016211.一種工件的特性測定裝置，其對具有高硬度部和低硬度部的工件的
特性進行測定，其特征在于，具備：
工作臺基座；
輸送工作臺，旋轉自如地配置于所述工作臺基座上，并具有向外方開
口的開口部并且沿外周邊緣設置有多個收納工件的工件收納孔；和
工件的特性檢測部，設置于所述輸送工作臺的外周部，進行被收納于
所述工件收納孔內的工件的特性測定，
所述工件的特性檢測部具有：抵接于工件而進行工件的特性檢測的檢
測部件；和將工件收納孔內的工件向工件收納孔中與開口部相向的內壁側
固定的固定單元，
在各工件收納孔的內壁，形成有在工件抵接于內壁的情況下避開工件
的低硬度部的缺口部。
2.根據權利要求1所述的工件的特性測定裝置，其特征在于，
所述固定單元包括從開口部朝向內壁側按壓工件的高硬度部的推壓
件，
所述工件的特性檢測部進一步具有：計測推壓件的移動距離的距離計
測單元；和強制排出單元，該強制排出單元，在由距離計測單元所計測到
的移動距離比預先規定的距離大的情況下，通過控制部而工作以將工件收
納孔內的工件排出。
3.根據權利要求1所述的工件的特性測定裝置，其特征在于，
所述工件的特性檢測部進一步具有：設置于工作臺基座且向工作臺基
座吸引工件的吸引通道；計測吸引通道內的真空度的真空度計測單元；和
強制排出單元，該強制排出單元在由真空度計測單元所計測到的真空度比
預先規定的真空度低的情況下，通過控制部而工作以將工件收納孔內的工
件排出。
4.根據權利要求2或3所述的工件的特性測定裝置，其特征在于，
所述強制排出單元包括對工件收納孔內的工件是否已被排出進行檢測
的排出...
【專利技術屬性】
技術研發人員：小島智幸，小平晃久，
申請(專利權)人：東京威爾斯股份有限公司，
類型：發明
國別省市：日本;JP
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