旋轉測試機構及基于該旋轉測試機構的PCB測試方法技術

本發明專利技術公開了一種旋轉測試機構及基于該旋轉測試機構的PCB測試方法，屬于電子產品測試機構及測試方法技術領域，為解決現有技術中缺少自動測量裝置的缺陷而設計。本發明專利技術旋轉測試機構包括測試平臺，測試平臺上可拆卸地設置有用于放置待測試品的載具，在載具上方設置有旋轉下壓機構和測試探針，旋轉下壓機構能帶動測試探針抵靠在待測試品上。本發明專利技術旋轉測試機構能自動完成測試，便于自動取放載具，節省了空間、降低了成本，便于機械臂對載具進行自動取放。本發明專利技術PCB測試方法測試效率高、測試結果準確性高，適用于電子行業，尤其適用于PCB自動測試行業。

【技術實現步驟摘要】
【專利摘要】本專利技術公開了一種旋轉測試機構及基于該旋轉測試機構的PCB測試方法，屬于電子產品測試機構及測試方法
，為解決現有技術中缺少自動測量裝置的缺陷而設計。本專利技術旋轉測試機構包括測試平臺，測試平臺上可拆卸地設置有用于放置待測試品的載具，在載具上方設置有旋轉下壓機構和測試探針，旋轉下壓機構能帶動測試探針抵靠在待測試品上。本專利技術旋轉測試機構能自動完成測試，便于自動取放載具，節省了空間、降低了成本，便于機械臂對載具進行自動取放。本專利技術PCB測試方法測試效率高、測試結果準確性高，適用于電子行業，尤其適用于PCB自動測試行業。【專利說明】旋轉測試機構及基于該旋轉測試機構的PCB測試方法
本專利技術涉及電子產品測試機構及測試方法
，尤其涉及一種旋轉測試機構以及基于上述旋轉測試機構的PCB測試方法。
技術介紹
電子組裝車間中，尤其是PCB組裝行業中，需要對產品或半成品進行測試，將不合格產品從合格產品中剔除。現有測試多數為人工手動測試，測試效率低;而且受操作人員測試技術或手法的影響較大，測試結果準確性低，容易誤將合格品判定為不合格品或將不合格品判定為合格品O
技術實現思路
本專利技術的一個目的在于提出一種能自動完成測試的旋轉測試機構。本專利技術的另一個目的在于提出一種測試效率高的PCB測試方法。為達此目的，一方面，本專利技術采用以下技術方案:—種旋轉測試機構，包括測試平臺，所述測試平臺上可拆卸地設置有用于放置待測試品的載具，在所述載具上方設置有旋轉下壓機構和測試探針，所述旋轉下壓機構能帶動所述測試探針抵靠在所述待測試品上。特別是，所述旋轉測試機構還包括控制面板，所述控制面板上設置有電流電壓監測表和啟動按鈕。進一步，所述控制面板上還設置有狀態指示燈。特別是，所述旋轉下壓機構包括依次連接的氣缸、伸縮桿、連桿和探針安裝板;所述旋轉下壓機構還包括支撐桿，所述支撐桿的端頭鉸接在所述連桿的中部;所述測試探針可拆卸地安裝在所述探針安裝板上。進一步，所述旋轉下壓機構還包括壓力傳感器。特別是，所述旋轉測試機構還包括殼體，所述氣缸設置于所述殼體中，所述伸縮桿、連桿和探針安裝板伸出于所述殼體。特別是，在所述載具上形成有用于固定所述待測試品的凹槽。特別是，所述旋轉測試機構還包括機械臂，所述載具上設置有供機械臂夾持的固定槽。另一方面，本專利技術采用以下技術方案:—種基于上述旋轉測試機構的PCB測試方法，將待測試品放置在載具中，旋轉下壓機構帶動測試探針下壓直至所述測試探針抵靠在所述待測試品上，開始測試。本專利技術旋轉測試機構的旋轉下壓機構能帶動測試探針抵靠在待測試品上，自動完成測試，便于自動取放載具，節省了空間、降低了成本，便于機械臂對載具進行自動取放。本專利技術PCB測試方法是使用旋轉下壓機構帶動測試探針下壓直至測試探針抵靠在待測試品上，自動開始測試，測試效率高、測試結果準確性高，適用于電子行業，尤其適用于PCB自動測試行業。【附圖說明】圖1是本專利技術優選實施例提供的旋轉測試機構的結構示意圖；圖2是本專利技術優選實施例提供的旋轉測試機構的爆炸圖。圖中:1、測試平臺；2、載具;3、待測試品；4、旋轉下壓機構；5、測試探針;6、控制面板;7、電流電壓監測表;8、啟動按鈕;9、狀態指示燈;41、氣缸;42、伸縮桿;43、連桿;44、探針安裝板;45、支撐桿。【具體實施方式】下面結合附圖并通過【具體實施方式】來進一步說明本專利技術的技術方案。優選實施例:本優選實施例公開一種旋轉測試機構。如圖1和圖2所示，該旋轉測試機構包括測試平臺I，測試平臺I上可拆卸地設置有用于放置待測試品3的載具2，在載具2上方設置有旋轉下壓機構4和測試探針5，旋轉下壓機構4能帶動測試探針5抵靠在待測試品3上。將待測試品3放置在載具2中，旋轉下壓機構4帶動測試探針5下壓直至測試探針5抵靠在待測試品3上，即可開始測試;通過測試探針5將測試信號導出，完成測試;旋轉下壓機構4帶動測試探針5抬起，從載具2上卸下待測試品3或將載具2和待測試品3—起從測試平臺I上卸下，準備進行下一個待測試品3的測試。在上述結構的基礎上，旋轉測試機構還包括控制面板6，控制面板6上設置有電流電壓監測表7、啟動按鈕8和狀態指示燈9。旋轉下壓機構4的具體結構不限，能帶動測試探針5抬起、下壓即可。優選的，旋轉下壓機構4包括依次連接的氣缸41、伸縮桿42、連桿43和探針安裝板44;旋轉下壓機構4還包括支撐桿45，支撐桿45的端頭鉸接在連桿43的中部;測試探針5可拆卸地安裝在探針安裝板44上。當待測試品3就位、準備開始測試時，氣缸41帶動伸縮桿42伸展，伸縮桿42帶動連桿43繞支撐桿45的端頭轉動(連桿43上連接伸縮桿42的一端上抬、連接探針安裝板44的一端下壓)，探針安裝板44帶動測試探針5下壓直至測試探針5抵靠在待測試品3上，開始測試。測試結束后，氣缸41帶動伸縮桿42收縮，伸縮桿42帶動連桿43繞支撐桿45的端頭轉動(連桿43上連接伸縮桿42的一端下壓、連接探針安裝板44的一端上抬)，探針安裝板44帶動測試探針5抬起，準備進行下一次測試。為了避免探針安裝板44帶動測試探針5下壓過度導致測試探針5壓傷待測試品3，可以在旋轉下壓機構4中設置壓力傳感器。壓力傳感器可以設置在探針安裝板44上或連桿43上，也可以設置在其它結構上，能準確測量到測試探針5所承受的來自于待測試品3上的反作用力即可。在上述結構的基礎上，旋轉測試機構還可以包括殼體，氣缸41設置于殼體中，伸縮桿42、連桿43和探針安裝板44伸出于殼體，整體結構更加緊湊，保護氣缸41不被外力損傷。為了避免待測試品3在測試過程中發生意外移動、同時保證測試探針5能準確對應待測試品3上的測試點，可以在載具2上形成用于固定待測試品3的凹槽。凹槽的側壁高度達至IJ待測試品3高度的10%-50%即可，既能保證待測試品3在測試過程中發生移動，而且將待測試品3放入凹槽中即可進行測量、無需在測試探針5下壓后再調整待測試品3的位置，簡化測量過程。在上述結構的基礎上，旋轉測試機構還可以包括機械臂，載具2上設置有供機械臂夾持的固定槽。通過機械臂來自動更換載具2、進而更換待測試品3，提高了測試效率、降低了勞動強度;可以設置多根機械臂，保證在上件位、測試位、卸件位等位置處都有載具2，使測試過程更加連續。注意，上述僅為本專利技術的較佳實施例及所運用的技術原理。本領域技術人員會理解，本專利技術不限于這里所述的特定實施例，對本領域技術人員來說能夠進行各種明顯的變化、重新調整和替代而不會脫離本專利技術的保護范圍。因此，雖然通過以上實施例對本專利技術進行了較為詳細的說明，但是本專利技術不僅僅限于以上實施例，在不脫離本專利技術構思的情況下，還可以包括更多其他等效實施例，而本專利技術的范圍由所附的權利要求范圍決定。【主權項】1.一種旋轉測試機構，其特征在于，包括測試平臺(I)，所述測試平臺(I)上可拆卸地設置有用于放置待測試品(3)的載具(2)，在所述載具(2)上方設置有旋轉下壓機構(4)和測試探針(5)，所述旋轉下壓機構(4)能帶動所述測試探針(5)抵靠在所述待測試品(3)上。2.根據權利要求1所述的旋轉測試機構，其特征在于，所述旋轉測試機構還包括控制面板(6)，所述控制面板(6)上設置有電流電壓監測表(7)和啟動按鈕(8)。3.根據權利要求本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種旋轉測試機構，其特征在于，包括測試平臺(1)，所述測試平臺(1)上可拆卸地設置有用于放置待測試品(3)的載具(2)，在所述載具(2)上方設置有旋轉下壓機構(4)和測試探針(5)，所述旋轉下壓機構(4)能帶動所述測試探針(5)抵靠在所述待測試品(3)上。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：孫豐，
申請(專利權)人：蘇州賽騰精密電子股份有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇;32