一種高溫超導帶材檢測系統技術方案

本發明專利技術實施例公開了一種高溫超導帶材檢測系統，包括沿待測超導帶材運行方向依次設置的磁路探測裝置和二維掃描平臺，所述磁路探測裝置和二維掃描平臺設置于裝有液氮的密閉杜瓦中，且位于所述杜瓦內的待測超導帶材位于所述液氮液面下；所述磁路探測裝置包括勵磁組件和磁路測量組件；所述二維掃描平臺包括沿所述待測超導帶材運行方向設置的再勵磁組件、二維掃描支撐架和設置于所述二維掃描支撐架上的霍爾探針組件，所述霍爾探針組件上的霍爾探針針頭正對所述待測超導帶材、且位于所述液氮液面下。本發明專利技術公開的一種高溫超導帶材檢測系統，無需配合精密的傳動系統，快速實現待測超導帶材的精細測量。

【技術實現步驟摘要】
201610339579

【技術保護點】
一種高溫超導帶材檢測系統，其特征在于，包括沿待測超導帶材(7)運行方向依次設置的磁路探測裝置和二維掃描平臺，所述磁路探測裝置和二維掃描平臺設置于裝有液氮的密閉杜瓦(10)中，且位于所述杜瓦(10)內的待測超導帶材(7)位于所述液氮液面下；所述磁路探測裝置包括勵磁組件(1)和磁路測量組件(2)；所述二維掃描平臺包括沿所述待測超導帶材(7)運行方向設置的再勵磁組件(4)、二維掃描支撐架(6)和設置于所述二維掃描支撐架(6)上的霍爾探針組件(5)，所述霍爾探針組件(5)上的霍爾探針針頭正對所述待測超導帶材(7)、且位于所述液氮液面下。

【技術特征摘要】
1.一種高溫超導帶材檢測系統，其特征在于，包括沿待測超導帶材(7)運行方向依次設置的磁路探測裝置和二維掃描平臺，所述磁路探測裝置和二維掃描平臺設置于裝有液氮的密閉杜瓦(10)中，且位于所述杜瓦(10)內的待測超導帶材(7)位于所述液氮液面下；所述磁路探測裝置包括勵磁組件(1)和磁路測量組件(2)；所述二維掃描平臺包括沿所述待測超導帶材(7)運行方向設置的再勵磁組件(4)、二維掃描支撐架(6)和設置于所述二維掃描支撐架(6)上的霍爾探針組件(5)，所述霍爾探針組件(5)上的霍爾探針針頭正對所述待測超導帶材(7)、且位于所述液氮液面下。2.根據權利要求1所述的高溫超導帶材檢測系統，其特征在于，所述勵磁組件(1)設置為開有缺口的第一環形磁鐵，所述第一環形磁鐵上設置有繞組；所述磁路測量組件(2)包括對稱開有兩個缺口的第二環形磁鐵和設置在所述第二環形磁鐵其中一個缺口上的霍爾探頭(3)，兩個所述缺口關于所述第二環形磁鐵的中心對稱；所述待測超導帶材(7)依次貫穿所述第一環形磁鐵和第二環形磁鐵的缺口。3.根據權利要求1所述的高溫超導帶材檢測系統，其特征在于，所述勵磁組件(1)設置為對稱開有兩個缺口的第三環形磁鐵，兩個所述缺口關于所述第三環形磁鐵的中心對稱，所述第三環形磁鐵上設置有繞組；所述磁路測量組件(2)設置為霍爾探頭(3)，所述霍爾探頭(3)設置于所述第三環形磁鐵的其中一個缺口處，所述第三環形磁鐵的另一個缺口處貫穿所述待測超導帶材(7)。4.根據權利要求1所述的高溫超導帶材檢測系統，其特征在于，所述勵磁組件(1)設置為開有一個缺口的第四環形磁鐵，所...

【專利技術屬性】
技術研發人員：胡南南，高崎，王科，顧晨，黑穎頓，馬儀，許冰，
申請(專利權)人：云南電網有限責任公司電力科學研究院，北京原力辰超導技術有限公司，
類型：發明
國別省市：云南;53