三端雙電容測量儀制造技術

本實用新型專利技術公開了一種三端雙電容測量儀，包括：外殼與內置電路，外殼上設置有小電容顯示屏、大電容顯示屏、電源開關、數據保持開關、滑動測量開關、大電容測量端、小電容測量端以及公共測量端；內置電路為振蕩器的一端連接正交檢波器，另一端連接公共電容，小電容正交檢波器、小電容運算放大器、小電容信號輸入電路以及小電容A/D芯片依次連接，大電容正交檢波器、大電容運算放大器、大電容信號輸入電路以及大電容A/D芯片依次連接。采用以上結構，實現一次性測量雙電容，測量值同時顯示在小電容顯示屏與大電容顯示屏，使得數據的呈現更加方便、快速以及直觀，避免出現進行兩次電容測量，提高工作效率。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及精密測量領域，特別涉及一種三端雙電容測量儀。
技術介紹
目前，在測量空調專用的三端雙電容時，通常采用通用的電容測量儀表。而通用的電容測量儀表測量三端雙電容時，需要測量兩次，且速度慢，不利于批量測量；對于有時出現裝反兩個電容出線腳的情況，容易誤判影響測量結果，同時影響工作的進度。
技術實現思路
本技術要解決的技術問題是提供一種三端雙電容測量儀，解決現有的通用測量儀無法同時測量兩個電容，導致測量速度慢且容易出現誤判的問題。為了解決上述技術問題，本技術的技術方案為，一種三端雙電容測量儀，包括外殼與內置電路，外殼上設置有小電容顯示屏、大電容顯示屏、電源開關、數據保持開關、滑動測量開關、大電容測量端、小電容測量端以及公共測量端，大電容測量端、小電容測量端以及公共測量端分別連接有帶鱷魚夾的測試線；內置電路包括：振蕩器、公共電容、小電容運算放大器、大電容運算放大器、小電容正交檢波器、大電容正交檢波器、小電容信號輸入電路、大電容信號輸入電路、小電容A/D芯片以及大電容A/D芯片，振蕩器的一端連接小電容正交檢波器，小電容正交檢波器串聯大電容正交檢波器，振蕩器的另一端連接公共電容，小電容正交檢波器的一端連接小電容運算放大器，小電容正交檢波器的另一端連接小電容信號輸入電路，小電容信號輸入電路連接小電容A/D芯片，大電容正交檢波器的一端連接大電容運算放大器，大電容正交檢波器的另一端連接大電容信號輸入電路，大電容信號輸入電路連接大電容A/D芯片；小電容A/D芯片連接所述小電容顯示屏，大電容A/D芯片連接大電容顯示屏。進一步的，滑動測量開關設置兩個檔位，分別為雙電容測量檔位和100μF-330μF大電容單獨測量檔位。進一步的，大電容顯示屏設置0-100μF和100μF-300μF兩個量程。進一步的，小電容運算放大器的正極接地，小電容運算放大器的負極并聯第一電阻，大電容運算放大器的正極接地，大電容運算放大器的負極并聯第二電阻。進一步的，小電容信號輸入電路以及大電容信號輸入電路分別包括兩個電阻，兩個電阻的之間連接一個電容。采用上述技術方案，由于在內置電路設置有大小電容測量支路，實現一次性測量雙電容，使測量值可同時顯示在大小電容顯示屏上，數據的呈現更加方便、快速以及直觀，避免出現進行兩次電容測量，減少誤判的出現機率，提高工作效率。附圖說明圖1為本技術三端雙電容測量儀的測量面板示意圖；圖2為本技術三端雙電容測量儀的內置電路示意圖。圖中，1-外殼，2-小電容顯示屏，3-大電容顯示屏，4-電源開關，5-數據保持開關，6-滑動測量開關，7-小電容測量端，8-大電容測量端，9-為公共測量端，10-帶鱷魚夾的測試線，11-振蕩器，12-公共電容，13-小電容運算放大器，14-大電容運算放大器，15-小電容正交檢波器，16-大電容正交檢波器，17-小電容A/D芯片，18-大電容A/D芯片，R1-第一電阻，R2-第二電阻，R-電阻，C-電容。具體實施方式下面結合附圖對本技術的具體實施方式作進一步說明。在此需要說明的是，對于這些實施方式的說明用于幫助理解本技術，但并不構成對本技術的限定。此外，下面所描述的本技術各個實施方式中所涉及的技術特征只要彼此之間未構成沖突就可以相互組合。如圖1所示，該種三端雙電容測量儀包括：外殼1與內置電路，外殼1上設有0-20μF小電容顯示屏2、大電容顯示屏3、電源開關4、數據保持開關5、滑動測量開關6，小電容測量端7、大電容測量端8以及公共測量端9，大電容測量端8、小電容測量端7以及公共測量端9分別連接有帶鱷魚夾的測試線10，其中滑動測量開關6分為兩種測量檔位：雙電容測量檔位和100μF-330μF大電容單獨測量檔位；大電容顯示屏3可顯示0-100μF和100μF-300μF兩個量程。如圖2所示，內置電路包括：振蕩器11、公共電容12、小電容運算放大器13、大電容運算放大器14、小電容正交檢波器15、大電容正交檢波器16、小電容信號輸入電路、大電容信號輸入電路、小電容A/D芯片17以及大電容A/D芯片18，振蕩器11的一端連接小電容正交檢波器15，小電容正交檢波器15串聯大電容正交檢波器16，振蕩器11的另一端連接公共電容12，小電容正交檢波器15的一端連接小電容運算放大器13，小電容正交檢波器15的另一端連接小電容信號輸入電路，小電容信號輸入電路連接小電容A/D芯片17，大電容正交檢波器16的一端連接大電容運算放大器14，大電容正交檢波器16的另一端連接大電容信號輸入電路，大電容信號輸入電路連接大電容A/D芯片18；小電容A/D芯片17連接小電容顯示屏2，大電容A/D芯片18連接大電容顯示屏3，其中小電容運算放大器13的正極接地，小電容運算放大器13的負極并聯第一電阻R1，大電容運算放大器14的正極接地，大電容運算放大器14的負極并聯第二電阻R2，小電容信號輸入電路以及大電容信號輸入電路分別包括兩個電阻R，兩個電阻的之間連接一個電容C。本技術的工作過程為：利用3條帶鱷魚夾的測試線10將被測雙電容夾緊，使被測雙電容同時連接在公共電容12的一端，其中被測雙電容中的小電容連接小電容運算放大器13的負極，被測電容中的大電容連接大電容運算放大器14的負極；打開電源開關4，選澤測量狀態；內置電路中小電容運算放大器13與大電容運算放大器14同時產生穩定的頻率與幅度，并且在相位上使振蕩器11發出正交的方波與三角波信號，三角波信號從公共電容12去激勵被測雙電容，由于被測雙電容分別與相對應的運算放大器連接成反向放大的方式，這樣兩個 運算放大器的輸出端就得到一個信號幅度與公共電容12的電容值成正比的方波信號，這個方波信號與前面振蕩器11的方波信號同步，接著小電容正交檢波器15與大電容正交檢波器16將信號幅度轉變成直流信號，并將直流信號給相對應的A/D芯片轉換成具體的電容值顯示出來，而且可以將被測雙電容中的寄生電阻去除，得到真正的電容值，真正的電容值就會顯示在相對應的電容顯示屏上顯示，其中為了使振蕩器11發出的振蕩頻率和三角波的幅度恒定，為此公共電容12選用溫度特性穩定金屬化滌綸電容，產生約為75HZ的頻率信號，而進入小電容運算放大器13與大電容運算放大器14的信號幅度則是通過第一電阻R1與第二電阻R2分別控制得到。以上結合附圖對本技術的實施方式作了詳細說明，但本技術不限于所描述的實施方式。對于本領域的技術人員而言，在不脫離本技術原理和精神的情況下，對這些實施方式進行多種變化、修改、替換和變型，仍落入本技術的保護范圍內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種三端雙電容測量儀，其特征在于：包括外殼與內置電路；所述外殼上設置有小電容顯示屏、大電容顯示屏、電源開關、數據保持開關、滑動測量開關、大電容測量端、小電容測量端以及公共測量端，所述大電容測量端、所述小電容測量端以及所述公共測量端分別連接有帶鱷魚夾的測試線；所述內置電路包括：振蕩器、公共電容、小電容運算放大器、大電容運算放大器、小電容正交檢波器、大電容正交檢波器、小電容信號輸入電路、大電容信號輸入電路、小電容A/D芯片以及大電容A/D芯片；所述振蕩器的一端連接所述小電容正交檢波器，所述小電容正交檢波器串聯所述大電容正交檢波器，所述振蕩器的另一端連接所述公共電容，所述小電容正交檢波器的一端連接所述小電容運算放大器，所述小電容正交檢波器的另一端連接所述小電容信號輸入電路，所述小電容信號輸入電路連接所述小電容A/D芯片，所述大電容正交檢波器的一端連接所述大電容運算放大器，所述大電容正交檢波器的另一端連接所述大電容信號輸入電路，所述大電容信號輸入電路連接所述大電容A/D芯片；所述小電容A/D芯片連接所述小電容顯示屏，所述大電容A/D芯片連接所述大電容顯示屏。

【技術特征摘要】
1.一種三端雙電容測量儀，其特征在于：包括外殼與內置電路；所述外殼上設置有小電容顯示屏、大電容顯示屏、電源開關、數據保持開關、滑動測量開關、大電容測量端、小電容測量端以及公共測量端，所述大電容測量端、所述小電容測量端以及所述公共測量端分別連接有帶鱷魚夾的測試線；所述內置電路包括：振蕩器、公共電容、小電容運算放大器、大電容運算放大器、小電容正交檢波器、大電容正交檢波器、小電容信號輸入電路、大電容信號輸入電路、小電容A/D芯片以及大電容A/D芯片；所述振蕩器的一端連接所述小電容正交檢波器，所述小電容正交檢波器串聯所述大電容正交檢波器，所述振蕩器的另一端連接所述公共電容，所述小電容正交檢波器的一端連接所述小電容運算放大器，所述小電容正交檢波器的另一端連接所述小電容信號輸入電路，所述小電容信號輸入電路連接所述小電容A/D芯片，所述大電容正交檢波器的一端連接所述大電容運算放大器，所述大電容正...

【專利技術屬性】
技術研發人員：白志平，
申請(專利權)人：珠海市吉大華普儀器有限公司，
類型：新型
國別省市：廣東;44