一種雙相機芯片檢測系統技術方案

本實用新型專利技術提供一種雙相機芯片檢測系統，利用安裝有芯片的芯片框架在導軌上移動，并利用設置在導軌上的第一像機和第二像機對芯片框架中的芯片進行拍照，通過設置與芯片框架上的安裝位列數相同的像機來對芯片進行拍照，從而可以快速地獲取芯片圖像，并利用圖像檢測系統對芯片圖像進行處理，判斷芯片是否合格，本實用新型專利技術利用上述芯片視覺檢測系統可以對芯片進行機器自動檢測，克服了現有檢測技術中個，采用人為判斷芯片合格與否的不足，而且相比人工檢測的方式，更加高效。

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及利用圖像來進行芯片檢測的
，特別是涉及一種雙相機芯片檢測系統。
技術介紹
制約我國計算機發展和普及的關鍵技術之一是芯片，芯片的發展瓶頸是制造設備和生產工藝。龍芯能否普及在我國計算機上的重要因素之一就是我國芯片制造業必須掌握芯片的生產工藝。生產工藝涉及的技術很多，其中芯片制造過程中的外觀檢測是重要內容之一。目前芯片制造過程的外觀檢測系統基本上是美國INTEL和AMD公司的標準和技術。我國目前還沒有一套此類芯片外觀檢測系統。因此我國自行開發芯片外觀檢測系統是對我國芯片制造是一項極其重要的項目和工程。在現有的生產過程中，還是主要采用人工檢測的方式來對芯片的質量進行檢測，如何提供一種有效的圖像檢測輔助裝置來進行圖像檢測，就成了本領域技術人員需要解決的問題。
技術實現思路
鑒于以上所述現有技術的缺點，本技術的目的在于提供一種雙相機芯片檢測系統，適于解決現有技術中依靠人工來對芯片進行檢測而導致檢測效率不高的問題。為實現上述目的及其他相關目的，本技術提供以下技術方案：一種雙相機芯片檢測系統，其特征在于，包括：導軌，適于提供移動路徑；阻擋器，按照預設位置安裝在導軌提供的移動路徑上；芯片框架，包括兩列相互平行的供放置芯片的安裝位，適于將放置在安裝位上的芯片沿導軌提供的移動路徑移動以將放置在安裝位上的芯片運送至預設位置；圖像獲取裝置，包括第一像機和第二像機，所述第一像機和第二像機與所述兩列安裝位平行的安裝在導軌上方，適于在芯片框架沿所述導軌移動至所述預設位置時對放置在安裝位上的芯片進行拍照，并將所獲取得到的芯片圖像予以輸出；圖像檢測系統，連接圖像獲取裝置，適于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進行識別，以確定芯片圖像所對應的芯片是否合格。優選地，每列安裝位上具有5-7個間距相等的安裝位。優選地，在所述阻擋器處還設置有一到位傳感器，連接于圖像檢測系統，適于在檢測到芯片框架移動至阻擋器時通知圖像檢測系統控制圖像獲取裝置對芯片進行拍照。優選地，在與芯片框架上的安裝位正對的導軌下方還設置有光源。優選地，所述圖像檢測系統為計算機。如上所述，本技術至少具有以下有益效果：本技術利用上述芯片視覺檢測系統可以對芯片進行機器自動檢測，克服了現有檢測技術中個，采用人為判斷芯片合格與否的不足，而且相比人工檢測的方式，更加高效。附圖說明圖1為一種雙相機芯片檢測系統的原理圖。附圖標號說明1導軌2芯片框架21安裝位3阻擋器4圖像獲取裝置41第一像機42第二像機5圖像檢測系統6芯片7到位傳感器8光源具體實施方式以下由特定的具體實施例說明本技術的實施方式，熟悉此技術的人士可由本說明書所揭露的內容輕易地了解本技術的其他優點及功效。須知，本說明書所附圖式所繪示的結構、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內容，以供熟悉此技術的人士了解與閱讀，并非用以限定本技術可實施的限定條件，故不具技術上的實質意義，任何結構的修飾、比例關系的改變或大小的調整，在不影響本技術所能產生的功效及所能達成的目的下，均應仍落在本技術所揭示的
技術實現思路
得能涵蓋的范圍內。同時，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本技術可實施的范圍，其相對關系的改變或調整，在無實質變更
技術實現思路
下，當亦視為本技術可實施的范疇。請參閱圖1，為一種雙相機芯片檢測系統的原理圖，如圖所示，該雙相機芯片檢測系統包括：導軌1，適于提供移動路徑；阻擋器3，按照預設位置安裝在導軌1提供的移動路徑上；芯片框架2，包括兩列相互平行的供放置芯片6的安裝位21，適于將放置在安裝位21上的芯片6沿導軌1提供的移動路徑移動以將放置在安裝位21上的芯片6運送至預設位置；圖像獲取裝置4，包括第一像機41和第二像機42，所述第一像機41和第二像機42與所述兩列安裝位21平行的安裝在導軌1上方，適于在芯片框架2沿所述導軌1移動至所述預設位置時對放置在安裝位21上的芯片6進行拍照，并將所獲取得到的芯片圖像予以輸出；圖像檢測系統5，連接圖像獲取裝置4，適于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進行識別，以確定芯片圖像所對應的芯片是否合格。在具體實施中，每列安裝位21上具有5-7個間距相等的安裝位21。在具體實施中，在所述阻擋器3處還設置有一到位傳感器7，連接于圖像檢測系統5，適于在檢測到芯片框架2移動至阻擋器3時通知圖像檢測系統5控制圖像獲取裝置4對芯片進行拍照。在具體實施中，在與芯片框架2上的安裝位21正對的導軌1下方還設置有光源8。在具體實施中，所述圖像檢測系統5為計算機,可以在計算機中安裝檢測軟件對芯片圖像進行處理，從而實現檢測目的。其中，圖像檢測系統的原理在于，對獲取的圖片進行處理，通過現有的圖片處理技術，來判斷圖片中的某些條件是否與預設的條件相同，或者在預設條件的范圍內，如果是則判定其合格，若不是則判定其不合格。具體地，在不合格時，可以在圖像檢測系統中做出報警提示。本技術利用上述芯片視覺檢測系統可以對芯片進行機器自動檢測，克服了現有檢測技術中個，采用人為判斷芯片合格與否的不足，而且相比人工檢測的方式，更加高效。所以，本技術有效克服了現有技術中的種種缺點而具高度產業利用價值。上述實施例僅例示性說明本技術的原理及其功效，而非適于限制本技術。任何熟悉此技術的人士皆可在不違背本技術的精神及范疇下，對上述實施例進行修飾或改變。因此，舉凡所屬
中具有通常知識者在未脫離本技術所揭示的精神與技術思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應由本技術的權利要求所涵蓋。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種雙相機芯片檢測系統，包括：導軌，適于提供移動路徑；芯片框架，包括兩列相互平行的供放置芯片的安裝位，適于將放置在安裝位上的芯片沿導軌提供的移動路徑移動以將放置在安裝位上的芯片運送至預設位置；其特征在于，還包括：阻擋器，按照預設位置安裝在導軌提供的移動路徑上；圖像獲取裝置，包括第一像機和第二像機，所述第一像機和第二像機與所述兩列安裝位平行的安裝在導軌上方，適于在芯片框架沿所述導軌移動至所述預設位置時對放置在安裝位上的芯片進行拍照，并將所獲取得到的芯片圖像予以輸出；圖像檢測系統，連接圖像獲取裝置，適于將所述芯片圖像輸入檢測模型中進行識別，以確定芯片圖像所對應的芯片是否合格。

【技術特征摘要】
1.一種雙相機芯片檢測系統，包括：導軌，適于提供移動路徑；芯片框架，包括兩列相互平行的供放置芯片的安裝位，適于將放置在安裝位上的芯片沿導軌提供的移動路徑移動以將放置在安裝位上的芯片運送至預設位置；其特征在于，還包括：阻擋器，按照預設位置安裝在導軌提供的移動路徑上；圖像獲取裝置，包括第一像機和第二像機，所述第一像機和第二像機與所述兩列安裝位平行的安裝在導軌上方，適于在芯片框架沿所述導軌移動至所述預設位置時對放置在安裝位上的芯片進行拍照，并將所獲取得到的芯片圖像予以輸出；圖像檢測系統，連接圖像獲取裝置，適于將所述芯片圖像輸入檢測...

【專利技術屬性】
技術研發人員：李志遠，耿世慧，李熙春，
申請(專利權)人：重慶遠創光電科技有限公司，
類型：新型
國別省市：重慶;50