本實用新型專利技術公開銣原子頻標測試系統及其參考信號發生裝置，參考信號發生裝置包括銣鐘，電路板，發光二極管，電源輸入口，信號輸出口，裝置外殼；銣原子頻標測試系統包括參考信號發生裝置，通用頻率計數器，高阻探針，被測晶振，工作電源；工作電源與信號發生裝置連接，信號發生裝置信號輸出口與通用頻率計數器外接參考信號輸入端連接，通用頻率計數器通過所述高阻探針檢測所述晶振的頻率。本實用新型專利技術提供的頻標測試系統通過外接高穩定度的參考信號，提高了通用頻率計數器的檢測精度，擴大了通用頻率計數器的檢測范圍，增強了檢測設備的通用性。
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及頻率標準測試領域，特別涉及一種高精度銣原子頻標測試系統。
技術介紹
目前，晶體振蕩器是一種能夠提供穩定、精確的單頻振蕩裝置，廣泛應用于各種電路中，用于產生震蕩頻率，因此在不同工作環境下，晶振輸出的頻率是否準確穩定，是衡量晶振是否合格的一個重要標準。然而，在測試晶振的穩定性指標如溫度穩定度、電源特性、負載特性時，考慮日波動因素，選擇參考信號的穩定度指標都要比被測晶振高一個量級。如在測試溫度穩定性時，選擇溫度穩定度指標比被測晶振高一個量級的晶振或原子鐘作為參考信號。目前，隨著晶振的穩定性不斷提高，在可靠性檢測時，常因為測試設備的測試量級不能滿足實際需求，達不到測試指標要求，而導致不能檢測，而購置高精度測試設備的價格比較昂貴。如常用的通用頻率計數器內部參考信號的偏差范圍為10-5，而實際送檢晶振的輸出頻率偏差范圍為10-9。
技術實現思路
本技術的目的在于提供一種銣原子頻標測試系統及其參考信號發生裝置，以解決現有的通用頻率計數器穩定度低于待檢測晶振穩定度的問題。本技術提供一種用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置，包括銣鐘，電路板，發光二極管，電源輸入口，信號輸出口，裝置外殼；從所述銣鐘引出所述信號輸出口置于所述裝置外殼側面；在所述裝置外殼側面設有所述電源輸入口，同時所述電源輸入口與所述電路板連接，用于向所述電路板提供電能；所述電路板用于向所述銣鐘提供雙路電源，還用于接收所述銣鐘工作狀態的反饋信號；從所述電路板引出的所述發光二極管，所述發光二極管置于所述裝置外殼側面。根據本技術的用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置，所述銣鐘為檢測所述晶振的頻率提供參考信號，輸出頻率為10MHz。根據本技術的用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置，所述信號發生裝置的所述電源輸入口、所述信號輸出口在所述裝置外殼側面，且在同一側；所述發光二極管設于所述裝置外殼的側面，且位于所述信號輸出口的對面。根據本技術的用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置，所述電路板的線路結構中設有所述發光二極管，當所述銣鐘輸出穩定的信號時，所述發光二極管正常發光，提示用戶所述銣鐘已加電成功。本技術還提供一種銣原子頻標測試系統，包括所述的參考信號發生裝置、通用頻率計數器，高阻探針，被測晶振，工作電源；所述工作電源與所述信號發生裝置連接，所述信號發生裝置信號輸出口與所述通用頻率計數器外接參考信號輸入端連接，所述通用頻率計數器通過所述高阻探針檢測所述晶振的頻率。相對于現有技術，本技術所述的高精密銣原子頻標測試系統具有以下優勢：利用信號發生裝置輸出高穩定度的信號，替代通用頻率計數器內部提供的信號源，作為通用頻率計數器的外接參考信號，提高了檢測設備的精度，擴大了通用頻率計數器的檢測范圍，增強了檢測設備的通用性。附圖說明圖1為銣原子頻標測試系統整體連接示意圖；圖2為用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置結構示意圖；圖3為用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置裝配完成后的示意圖。具體實施方式為使本技術的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本技術進一步詳細說明。需要說明的是，本技術實施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是為了區分兩個相同名稱非相同的實體或者非相同的參量，可見“第一”“第二”僅為了表述的方便，不應理解為對本技術實施例的限定，后續實施例對此不再一一說明。如圖1所示，本技術實施例提供的高精度銣原子頻標測試系統包括參考信號發生裝置1，通用頻率計數器2，高阻探針3，被測晶振4，工作電源5；工作電源5與信號發生裝置1連接，信號發生裝置1信號輸出口與通用頻率計數器2外接參考信號輸入端連接，通用頻率計數器2通過高阻探針3檢測晶振4的頻率。圖2為用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置結構示意圖；圖3為用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置裝配完成后的示意圖。如圖2和圖3所示，信號發生裝置1包括銣鐘6，電路板7，發光二極管8，電源輸入口9，信號輸出口10，裝置外殼11；具體地，從銣鐘6引出信號輸出口10置于裝置外殼11側面；在裝置外殼11側面設有電源輸入口9，與信號輸出口10同側，用于連接外部4A，220V交流電源，同時電源輸入口9與電路板7連接，用于向電路板7提供電能；電路板7是一個數字電路，用于向銣鐘6提供雙路電源，還用于接收銣鐘6工作狀態的反饋信號；從電路板7引出的發光二極管8置于裝置外殼11側面，且位于電源輸入口9對側，銣鐘6正常工作時，發光二極管8所在線路開通，發光二極管8正常發光；使用時，工作電源5與電源輸入口9連接，向信號發生裝置1提供電力，將信號發生裝置1信號輸出口10與通用頻率計數器2連接，作為頻率計數器2的參考信號，通用頻率計數器2通過高阻探針3檢測晶振4的頻率。其中，銣鐘6為檢測晶振4的頻率提供參考信號，輸出頻率為10MHz；銣鐘頻率的偏差范圍在5×10-11和5×10-12之間；銣鐘6通常通電半小時后輸出信號穩定，可以為檢測晶振4頻率提供參考信號。具體地，電路板7設有雙路電源，用于向銣鐘6提供電力，在一路電源故障時由另一路電源單獨供電，保證了裝置使用時的穩定性；在電路板7的線路結構中還設有發光二極管8，當電路板7收到銣鐘6輸出信號穩定的信息時，發光二極管8被接通，正常發光，提示用戶銣鐘6已加電成功。檢測晶振4的頻率時，先加外接電源為4A、220V的交流電，通電半小時以滿足銣鐘6輸出信號穩定，在裝置外殼11一端的發光二極管8正常發光時，可判斷銣鐘6加電成功；當滿足加電需求后，通過SMA射頻轉接電纜，把10MHz輸出的頻率信號連接到通用頻率計數器2的外接參考信號輸入端，作為參考信號；由于銣鐘6具有精度高的特點，偏差范圍在5×10-11和5×10-12之間，因此，通用頻率計數器的測試指標已滿足達到晶振偏差范圍在10-9以內的晶振要求，可直接通過高阻探針3對被測晶振4進行測試。相對于現有技術，本技術實施例提供的高精度銣原子頻標測試系統具有以下優勢；利用信號發生裝置1輸出高穩定度的信號，替代通用頻率計數器2內部提供的信號源，作為通用頻率計數器2的外接參考信號，提高了檢測設備的精度，擴大了通用頻率計數器2的檢測范圍，增強了檢測設備的通用性。本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置，其特征在于，包括銣鐘，電路板，發光二極管，電源輸入口，信號輸出口，裝置外殼；從所述銣鐘引出所述信號輸出口置于所述裝置外殼側面；在所述裝置外殼側面設有所述電源輸入口，同時所述電源輸入口與所述電路板連接，用于向所述電路板提供電能；所述電路板用于向所述銣鐘提供雙路電源，還用于接收所述銣鐘工作狀態的反饋信號；從所述電路板引出的所述發光二極管設置于所述裝置外殼側面。
【技術特征摘要】
1.一種用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置，其特征在于，包括銣鐘，電路板，發光二極管，電源輸入口，信號輸出口，裝置外殼；從所述銣鐘引出所述信號輸出口置于所述裝置外殼側面；在所述裝置外殼側面設有所述電源輸入口，同時所述電源輸入口與所述電路板連接，用于向所述電路板提供電能；所述電路板用于向所述銣鐘提供雙路電源，還用于接收所述銣鐘工作狀態的反饋信號；從所述電路板引出的所述發光二極管設置于所述裝置外殼側面。2.根據權利要求1所述的用于銣原子頻標測試的參考信號發生裝置，其特征在于，所述信號發生裝置的所述電源輸入口、所述信號輸出口在所述裝置外殼側面，且在同一側；所述發光二極管設于所述裝置外殼的側面，且位于所述信號輸出口的...
【專利技術屬性】
技術研發人員：苗志坤，
申請(專利權)人：航天科工防御技術研究試驗中心，
類型：新型
國別省市：北京;11
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