框膠固化率測試樣品的制備方法及框膠固化率測試方法技術

本發明專利技術提供一種框膠固化率測試樣品的制備方法以及框膠固化率測試方法，其通過砂紙擦拭去除覆蓋在框膠上的黑色矩陣，采用紅外光譜儀分別獲取框膠和生膠的紅外光譜圖，并選定框膠和生膠的參考峰和目標峰，從而根據反應前后目標峰及參考峰的面積變化來計算框膠固化率，操作簡單，成功率高，制得的框膠固化率測試樣品表面干凈、無黑色矩陣殘留，固化率測試結果的準確度高，能夠提高框膠固化率測試的可執行性和測試重復性，為制程監控及框膠異常解析提供數據。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及顯示
，尤其涉及一種框膠固化率測試樣品的制備方法及框膠固化率測試方法。
技術介紹
隨著顯示技術的發展，液晶顯示器(LiquidCrystalDisplay，LCD)等平面顯示裝置因具有高畫質、省電、機身薄及應用范圍廣等優點，而被廣泛的應用于手機、電視、個人數字助理、數字相機、筆記本電腦、臺式計算機等各種消費性電子產品，成為顯示裝置中的主流?，F有市場上的液晶顯示裝置大部分為背光型液晶顯示器，其包括液晶顯示面板及背光模組(backlightmodule)。液晶顯示面板的工作原理是在兩片平行的玻璃基板當中放置液晶分子，兩片玻璃基板中間有許多垂直和水平的細小電線，通過通電與否來控制液晶分子改變方向，將背光模組的光線折射出來產生畫面。通常液晶顯示面板由彩膜(CF，ColorFilter)基板、薄膜晶體管(TFT，ThinFilmTransistor)基板、夾于彩膜基板與薄膜晶體管基板之間的液晶(LC，LiquidCrystal)及密封框膠(Sealant)組成，其成型工藝一般包括：前段陣列(Array)制程(薄膜、黃光、蝕刻及剝膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板與CF基板貼合)及后段模組組裝制程(驅動IC與印刷電路板壓合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的運動；中段Cell制程主要是在TFT基板與CF基板之間添加液晶；后段模組組裝制程主要是驅動IC壓合與印刷電路板的整合，進而驅動液晶分子轉動，顯示圖像。根據目前Cell制造流程，CF基板或TFT基板在配向膜(PI)制程后進行框膠的涂布，然后進行液晶滴入，在CF和TFT上下基板對組完成后進行框膠的固化，形成密封的液晶盒(LCDCell)。框膠的固化程度會直接影響框膠的粘合力，進而影響液晶盒的密封性能及可靠性表現，因此需測試框膠固化率。目前測試框膠固化率方法為用外力將CF基板與TFT基板拉開，但因為框膠與黑色矩陣(BM)的粘合力大于黑色矩陣與玻璃的粘合力，故CF基板與TFT基板分開時表現為CF基板表面的黑色矩陣從CF基板上剝離，覆蓋在TFT基板的框膠表面，從而影響了框膠的取樣測試，目前只能用刀片刮除框膠表面的黑色矩陣，然后再進行框膠固化率測試。但此方法在去除黑色矩陣時，由于黑色矩陣與框膠都很薄，很容易將黑色矩陣和框膠同時刮除，操作困難，成功率較低，影響測試的可行性。故此，開發一種框膠固化率測試樣品的制備方法及框膠固化率測試方法顯得尤為迫切。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種框膠固化率測試樣品的制備方法，操作簡單，成功率高，制得的框膠固化率測試樣品表面干凈、無黑色矩陣殘留。本專利技術的目的還在于提供一種框膠固化率測試方法，能夠提高框膠固化率測試的可執行性和測試重復性，為制程監控及框膠異常解析提供數據。為實現上述目的，本專利技術提供了一種框膠固化率測試樣品的制備方法，包括如下步驟：步驟1、獲取表面自下而上依次附著有框膠和黑色矩陣的TFT基板，作為待測樣本；步驟2、將所述待測樣本水平放置于桌面上，并使TFT基板具有黑色矩陣的一側為遠離桌面的一側；步驟3、提供一砂紙，用所述砂紙擦拭黑色矩陣，直至暴露出所述黑色矩陣下方的框膠，得到框膠固化率測試樣品。所述步驟1包括：步驟11、提供一待測試的液晶面板，所述液晶面板包括CF基板、TFT基板、設于所述CF基板與TFT基板之間用于將CF基板與TFT基板粘接在一起的框膠、設于所述CF基板上遠離框膠一側的上偏光片、以及設于所述TFT基板上遠離框膠一側的下偏光片；其中，所述CF基板包括襯底基板和設于襯底基板上靠近TFT基板一側的黑色矩陣，所述框膠與所述黑色矩陣相接觸；步驟12、將液晶面板兩面的上、下偏光片撕去，加熱液晶面板的一角，待該角的框膠軟化后，從該角將CF基板與TFT基板撕開，黑色矩陣從CF基板的襯底基板上剝離，與框膠共同附著于TFT基板表面；步驟13、切下一部分表面附著有框膠和黑色矩陣的TFT基板，作為待測樣本，所述待測樣本中的框膠為所述步驟12中非加熱軟化的部分。所述步驟3中所述砂紙呈長條型，其寬度小于所述待測樣本上的黑色矩陣的長度；所述步驟3中將所述砂紙與所述黑色矩陣交叉放置，并沿所述砂紙的長度方向來回擦拭。所述步驟12中，采用熱風槍加熱液晶面板的一角；所述步驟13中，采用玻璃刀切下一部分表面附著有框膠和黑色矩陣的TFT基板。本專利技術還提供一種框膠固化率測試方法，包括如下步驟：步驟1、獲取表面自下而上依次附著有框膠和黑色矩陣的TFT基板，作為待測樣本；步驟2、將所述待測樣本水平放置于桌面上，并使TFT基板具有黑色矩陣的一側為遠離桌面的一側；步驟3、提供一砂紙，用所述砂紙擦拭黑色矩陣，直至暴露出所述黑色矩陣下方的框膠，得到框膠固化率測試樣品；步驟4、將所述框膠固化率測試樣品放入紅外光譜儀中通過顯微ATR采集框膠固化率測試樣品中暴露出的框膠的紅外光譜圖；步驟5、提供生膠，將生膠直接涂在顯微ATR晶體上，采集生膠的紅外光譜圖，所述生膠為未經過固化反應的框膠；步驟6、從所述框膠的紅外光譜圖獲取多個樣品參考峰和多個樣品目標峰，從生膠的紅外光譜圖獲取多個生膠參考峰和多個生膠目標峰，并計算框膠固化率；所述樣品參考峰為預設的參考峰官能團在框膠的紅外光譜圖中的特征峰；所述樣品目標峰為預設的目標峰官能團在框膠的紅外光譜圖中的特征峰；所述生膠參考峰為預設的參考峰官能團在生膠的紅外光譜圖中的特征峰；所述生膠目標峰為預設的目標峰官能團在生膠的紅外光譜圖中的特征峰；所述預設的參考峰官能團為不參與固化反應的官能團，所述預設的目標峰官能團為固化反應前后相對峰面積變小或消失的官能團；框膠固化率的計算公式為：其中，S1i為第i個樣品目標峰的峰面積，S2i為第i個樣品參考峰的峰面積，S3i為第i個生膠目標峰的峰面積，S4i為第i個生膠參考峰的峰面積，X為框膠固化率。所述參考峰官能團為苯環。所述目標峰官能團為丙烯基或環氧基。所述步驟1包括：步驟11、提供一待測試的液晶面板，所述液晶面板包括CF基板、TFT基板、設于所述CF基板與TFT基板之間用于將CF基板與TFT基板粘接在一起的框膠、設于所述CF基板上遠離框膠一側的上偏光片、以及設于所述TFT基板上遠離框膠一側的下偏光片；其中，所述CF基板包括襯底基板和設于襯底基板上靠近TFT基板一側的黑色矩陣，所述框膠與所述黑色矩陣相接觸；步驟12、將液晶面板兩面的上、下偏光片撕去，加熱液晶面板的一角，待該角的框膠軟化后，從該角將CF基板與TFT基板撕開，黑色矩陣從CF基板的襯底基板上剝離，與框膠共同附著于TFT基板表面；步驟13、切下一部分表面附著有框膠和黑色矩陣的TFT基板，作為待測樣本，所述待測樣本中的框膠為所述步驟12中非加熱軟化的部分。所述步驟3中所述砂紙呈長條型，其寬度小于所述待測樣本上的黑色矩陣的長度；所述步驟3中將所述砂紙與所述黑色矩陣交叉放置，并沿所述砂紙的長度方向來回擦拭。所述步驟12中，采用熱風槍加熱液晶面板的一角；所述步驟13中，采用玻璃刀切下一部分表面附著有框膠和黑色矩陣的TFT基板。本專利技術的有益效果：本專利技術提供了一種框膠固化率測試樣品的制備方法，其通過砂紙擦拭去除覆蓋在框膠上的黑色矩陣，操作簡單，成功率高，制得的框膠固化率測試樣品表面干凈本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種框膠固化率測試樣品的制備方法，其特征在于，包括如下步驟：步驟1、獲取表面自下而上依次附著有框膠(30)和黑色矩陣(12)的TFT基板(20)，作為待測樣本(80)；步驟2、將所述待測樣本(80)水平放置于桌面上，并使TFT基板(20)具有黑色矩陣(12)的一側為遠離桌面的一側；步驟3、提供一砂紙(50)，用所述砂紙(50)擦拭黑色矩陣(12)，直至暴露出所述黑色矩陣(12)下方的框膠(30)，得到框膠固化率測試樣品(60)。

【技術特征摘要】
1.一種框膠固化率測試樣品的制備方法，其特征在于，包括如下步驟：步驟1、獲取表面自下而上依次附著有框膠(30)和黑色矩陣(12)的TFT基板(20)，作為待測樣本(80)；步驟2、將所述待測樣本(80)水平放置于桌面上，并使TFT基板(20)具有黑色矩陣(12)的一側為遠離桌面的一側；步驟3、提供一砂紙(50)，用所述砂紙(50)擦拭黑色矩陣(12)，直至暴露出所述黑色矩陣(12)下方的框膠(30)，得到框膠固化率測試樣品(60)。2.如權利要求1所述的框膠固化率測試樣品的制備方法，其特征在于，所述步驟1包括：步驟11、提供一待測試的液晶面板(90)，所述液晶面板(90)包括CF基板(10)、TFT基板(20)、設于所述CF基板(10)與TFT基板(20)之間用于將CF基板(10)與TFT基板(20)粘接在一起的框膠(30)、設于所述CF基板(10)上遠離框膠(30)一側的上偏光片(40)、以及設于所述TFT基板(20)上遠離框膠(30)一側的下偏光片(50)；其中，所述CF基板(10)包括襯底基板(11)和設于襯底基板(11)上靠近TFT基板(20)一側的黑色矩陣(12)，所述框膠(30)與所述黑色矩陣(12)相接觸；步驟12、將液晶面板(90)兩面的上、下偏光片(40、50)撕去，加熱液晶面板(90)的一角，待該角的框膠(30)軟化后，從該角將CF基板(10)與TFT基板(20)撕開，黑色矩陣(12)從CF基板(10)的襯底基板(11)上剝離，與框膠(30)共同附著于TFT基板(20)表面；步驟13、切下一部分表面附著有框膠(30)和黑色矩陣(12)的TFT基板(20)，作為待測樣本(80)，所述待測樣本(80)中的框膠(30)為所述步驟12中非加熱軟化的部分。3.如權利要求1所述的框膠固化率測試樣品的制備方法，其特征在于，所述步驟3中所述砂紙(50)呈長條型，其寬度小于所述待測樣本(80)上的黑色矩陣(12)的長度；所述步驟3中將所述砂紙(50)與所述黑色矩陣(12)交叉放置，并沿所述砂紙(50)的長度方向來回擦拭。4.如權利要求2所述的框膠固化率測試樣品的制備方法，其特征在于，所述步驟12中，采用熱風槍加熱液晶面板(90)的一角；所述步驟13中，采用玻璃刀切下一部分表面附著有框膠(30)和黑色矩陣(12)的TFT基板(20)。5.一種框膠固化率測試方法，其特征在于，包括如下步驟：步驟1、獲取表面自下而上依次附著有框膠(30)和黑色矩陣(12)的TFT基板(20)，作為待測樣本(80)；步驟2、將所述待測樣本(80)水平放置于桌面上，并使TFT基板(20)具有黑色矩陣(12)的一側為遠離桌面的一側；步驟3、提供一砂紙(50)，用所述砂紙(50)擦拭黑色矩陣(12)，直至暴露出所述黑色矩陣(12)下方的框膠(30)，得到框膠固化率測試樣品(60)；步驟4、將所述框膠固化率測試樣品(60)放入紅外光譜儀中通過顯微ATR采集框膠固化率測試樣品(60)中暴露出的框膠...

【專利技術屬性】
技術研發人員：巫景銘，鐘興進，張小新，
申請(專利權)人：深圳市華星光電技術有限公司，
類型：發明
國別省市：廣東;44