一種位翻轉檢測方法及裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術公開了一種位翻轉檢測方法及裝置。該方法包括：確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，所述閃存設備包括至少一個閃存分區(qū)；對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。實現(xiàn)了及時對閃存中位翻轉區(qū)域的檢測，從而提高了閃存的可靠性。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術涉及存儲管理領域，尤指一種位翻轉檢測方法及裝置。
技術介紹
Nand-flash是閃存(flash)的一種，其中，Nand-flash作為一種存儲設備，具有容量大、改寫速度快、適用于存儲大量數(shù)據(jù)等優(yōu)點，因而在業(yè)界得到了越來越廣泛的應用。在使用Nand-flash內存的過程中，通常通過在系統(tǒng)對該Nand-flash內存的存儲區(qū)域進行讀操作的過程中，可以發(fā)現(xiàn)位翻轉現(xiàn)象，也就是說，在讀到發(fā)生位翻轉區(qū)域時可以發(fā)現(xiàn)位翻轉，接著可以通過錯誤檢查和糾正(ErrorCorrectingCode，簡稱ECC)算法對位翻轉區(qū)域進行修復，其中，位翻轉是指一個比特bit發(fā)生翻轉或被報告翻轉了。上述現(xiàn)有技術是通過讀操作來發(fā)現(xiàn)位翻轉區(qū)域，然而，本領域技術人員在實現(xiàn)上述現(xiàn)有技術的過程中發(fā)現(xiàn)，若位翻轉區(qū)域未及時發(fā)現(xiàn)，位翻轉的位數(shù)超過一限值后，ECC算法將無法對該位翻轉區(qū)域進行修復，從而導致閃存的可靠性較低。
技術實現(xiàn)思路
為了解決上述技術問題，本專利技術提供了一種位翻轉檢測方法及裝置，用以解決及時發(fā)現(xiàn)位翻轉區(qū)域的問題。為了達到本專利技術目的，本專利技術提供了一種位翻轉檢測方法，包括：確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，所述閃存設備包括至少一個閃存分區(qū)；對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。進一步的，所述確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，包括以下任意一組或其組合:確定閃存分區(qū)當前無用戶訪問；確定當前CPU的第一使用率小于第一門限值，所述中央處理器CPU與所述閃存設備連接，用于對所述閃存設備進行控制操作；確定當前內存的第二使用率小于第二門限值，所述內存與所述CPU連接。進一步的，所述第一門限值為20％；所述第二門限值為50％。進一步的，所述對所述存閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，包括：向所述閃存設備發(fā)送分塊讀nanddump指令，所述分塊讀指令包括讀取所述閃存分區(qū)的數(shù)據(jù)，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。進一步的，所述對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作之后，還包括:確定所述閃存分區(qū)存在位翻轉區(qū)域；將所述位翻轉區(qū)域進行修復處理。本專利技術提供了一種位翻轉檢測裝置，包括：確定模塊，用于確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，所述閃存設備包括至少一個閃存分區(qū)；掃描模塊，用于對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。進一步的，所述確定模塊，具體用于執(zhí)行以下任意一組或其組合:確定閃存分區(qū)當前無用戶訪問；確定當前中央處理器CPU的第一使用率小于第一門限值，所述CPU與所述閃存設備連接，用于對所述閃存設備進行控制操作；確定當前內存的第二使用率小于第二門限值，所述內存與所述CPU連接。進一步的，所述第一門限值為20％；所述第二門限值為50％。進一步的，所述掃描模塊，具體用于向所述閃存設備發(fā)送分塊讀nanddump指令，所述分塊讀指令包括讀取所述閃存分區(qū)的數(shù)據(jù)，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。進一步的，所述確定模塊，還用于確定所述閃存分區(qū)存在位翻轉區(qū)域；將所述位翻轉區(qū)域進行修復處理。在本實施例中，確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，所述閃存設備包括至少一個閃存分區(qū)；對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。實現(xiàn)了及時對閃存中位翻轉區(qū)域的檢測，從而提高了閃存的可靠性。本專利技術的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本專利技術而了解。本專利技術的目的和其他優(yōu)點可通過在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的結構來實現(xiàn)和獲得。附圖說明附圖用來提供對本專利技術技術方案的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本申請的實施例一起用于解釋本專利技術的技術方案，并不構成對本專利技術技術方案的限制。圖1為本專利技術的位翻轉檢測方法一實施例的流程示意圖；圖2為本專利技術的位翻轉檢測方法二實施例的流程示意圖；圖3為本專利技術的位翻轉檢測裝置一實施例的結構示意圖。具體實施方式為使本專利技術的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白，下文中將結合附圖對本專利技術的實施例進行詳細說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互任意組合。本專利技術實施例提供的位翻轉檢測方法具體應用于檢測閃存，如Nand-flash是否存在位翻轉區(qū)域，其中，位翻轉是指一個比特bit發(fā)生翻轉或被報告翻轉了。本實施例提供的位翻轉檢測實現(xiàn)方法可以通過位翻轉檢測裝置執(zhí)行，該位翻轉檢測裝置可以單獨設置，也可以設置在用于檢測閃存是否位翻轉的設備中，該設備可以為電腦或移動終端等，其中，該裝置可以采用軟/硬件實現(xiàn)。以下對位翻轉檢測方法及裝置進行詳細闡述。圖1為本專利技術的位翻轉檢測方法一實施例的流程示意圖，如圖1所示，本專利技術提供的位翻轉檢測方法適用于對閃存設備的該閃存分區(qū)進行讀操作之前，該位翻轉檢測方法，包括：步驟101、確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)。在本實施例中，所述閃存設備包括至少一個閃存分區(qū)，所述閃存分區(qū)包括至少一個存儲區(qū)域，所述存儲區(qū)域的大小與擦除塊的大小相同。舉例來講，NandFlash的數(shù)據(jù)是以比特bit的方式保存在存儲單元(memorycell)中，一般來說，一個存儲單元中只能存儲一個bit。這些存儲單元以8個bit或者16個bit為單位，連成比特線(bitline)，形成所謂的字節(jié)(byte/word)，這就是閃存的位寬。這些bitline會再組成頁(page)，頁會組成塊(block)。NandFlash以頁為單位讀寫數(shù)據(jù)，以塊為單位擦除數(shù)據(jù)。舉例來講，對于確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，包括以下任意一組或其組合：確定閃存分區(qū)當前無用戶訪問；確定當前CPU的第一使用率小于第一門限值，所述中央處理器CPU對所述閃存設備進行控制操作；確定當前內存的第二使用率小于第二門限值，所述內存與所述CPU連接。步驟102、對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。在本實施例中，確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，閃存設備包括至少一個閃存分區(qū)；對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。實現(xiàn)了及時對閃存中位翻轉區(qū)域的檢測，從而提高了閃存的可靠性。需要說明的是，在上述實施例的基礎上，所述第一門限值可以為20％；所述第二門限值可以為50％。進一步的，在上述實施例的基礎上，對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，可以包括：向所述閃存設備發(fā)送分塊讀nanddump指令，所述分塊讀指令包括讀取所述閃存分區(qū)的數(shù)據(jù)，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。更進一步的，在上述實施例的基礎上，所述對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作之后，還包括:確定所述閃存分區(qū)存在位翻轉區(qū)域；將所述位翻轉區(qū)域進行修復處理。圖2為本專利技術的位翻轉檢測方法二實施例的流程示意圖，如圖2所示，該方法包括：步驟201、確定閃存中閃存分區(qū)的數(shù)目，用以確定需要掃描的閃存分區(qū)數(shù)目。步驟202、根據(jù)閃存中擦除塊大小，確定每一閃存分區(qū)需要掃描的次數(shù)。先以一個閃存分區(qū)作為當前閃存分區(qū)，進行步驟202。舉例來講，將每一閃存分區(qū)的大小與擦除塊大小相除，接著將相除結果取整后獲得需要掃描的次數(shù)。步驟203、獲取內存當前的第二使用率；步驟204、獲取CPU當前的第一使用率；步驟205、檢查當前閃存分區(qū)是否有其他用戶正在訪問；步驟206、確本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種位翻轉檢測方法，其特征在于，包括：確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，閃存設備包括至少一個閃存分區(qū)；對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。

【技術特征摘要】
1.一種位翻轉檢測方法，其特征在于，包括：確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，閃存設備包括至少一個閃存分區(qū)；對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定閃存分區(qū)的工作狀態(tài)為空閑態(tài)，包括以下任意一組或其組合:確定所述閃存分區(qū)當前無用戶訪問；確定當前中央處理器CPU的第一使用率小于第一門限值，所述CPU與所述閃存設備連接，用于對所述閃存設備進行控制操作；確定當前內存的第二使用率小于第二門限值，所述內存與所述CPU連接。3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一門限值為20％；所述第二門限值為50％。4.根據(jù)權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述對所述存閃存分區(qū)進行分塊掃描操作，包括：向所述閃存設備發(fā)送分塊讀nanddump指令，所述分塊讀指令包括讀取所述閃存分區(qū)的數(shù)據(jù)，用以確定所述閃存分區(qū)是否存在位翻轉。5.根據(jù)權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對所述閃存分區(qū)進行分塊掃描操作之后，還包括:確定所述閃存分區(qū)存在位翻轉區(qū)域；將所述位翻轉區(qū)域進...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：陳曉偉，
申請(專利權)人：中興通訊股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：廣東;44