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    一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法技術(shù)

    技術(shù)編號(hào):14882124 閱讀:119 留言:0更新日期:2017-03-24 04:34
    本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法,包括以下步驟:S1:儀器準(zhǔn)備,選用測(cè)量架、跳動(dòng)測(cè)量?jī)x、四目3D掃描儀和ASMB1?16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀;S2:曲軸裝夾,將需要檢測(cè)的淬火后的曲軸放置在檢測(cè)平臺(tái)的V型支架上。本發(fā)明專利技術(shù)利用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x對(duì)曲軸樣品的圓跳動(dòng)量進(jìn)行測(cè)量并做好詳細(xì)記錄,采用四目3D掃描儀對(duì)曲軸鍛件樣品外輪廓進(jìn)行三維掃描;分析跳動(dòng)數(shù)據(jù)和掃描得到的3D虛擬模型,研究確定曲軸變形規(guī)律;根據(jù)曲軸結(jié)構(gòu)特征和變形規(guī)律確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置,采用盲孔法對(duì)各測(cè)點(diǎn)應(yīng)力進(jìn)行測(cè)試,并得到曲軸應(yīng)力測(cè)點(diǎn)的應(yīng)力數(shù)據(jù),獲得曲軸樣品殘余應(yīng)力分布規(guī)律,以達(dá)到探究殘余應(yīng)力和曲軸變形的相互關(guān)系的目的。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及內(nèi)燃機(jī)車
    ,尤其涉及一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法
    技術(shù)介紹
    曲軸是內(nèi)燃機(jī)中最為關(guān)鍵的構(gòu)成部分之一,它直接影響柴油機(jī)的可靠性與使用壽命,但其自身結(jié)構(gòu)形狀復(fù)雜,工作過程環(huán)境特殊,熱處理工藝對(duì)其質(zhì)量有著重大影響,曲軸熱處理過程中,因零件內(nèi)部溫度分布不均勻,組織轉(zhuǎn)變過程的不均勻而形成熱應(yīng)力和相變應(yīng)力,當(dāng)熱應(yīng)力和相變應(yīng)力較大時(shí),會(huì)對(duì)曲軸的組織性能以及尺寸精度造成一定的影響,引起曲軸產(chǎn)生變形,嚴(yán)重時(shí)甚至致使曲軸開裂而報(bào)廢,曲軸是傳遞動(dòng)能的關(guān)鍵部件,活塞的往復(fù)運(yùn)動(dòng)通過曲軸轉(zhuǎn)變?yōu)樾D(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),從而輸出柴油機(jī)的功率,由于重型曲軸形狀復(fù)雜、剛度差、工作環(huán)境復(fù)雜等特點(diǎn),為保證承受扭矩、彎矩以及動(dòng)載荷等的影響,其結(jié)構(gòu)強(qiáng)度、剛度、尺寸精度以及質(zhì)量平衡等方面,都有很高的要求,避免或減少曲軸在加工過程中的變形是曲軸加工過程中的一個(gè)難點(diǎn)。
    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
    基于
    技術(shù)介紹
    存在的技術(shù)問題,本專利技術(shù)提出了一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法用于解決現(xiàn)有的機(jī)車曲軸易發(fā)生較大的變形超差,無法校調(diào),影響后續(xù)加工的不足。本專利技術(shù)提出的一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法,包括以下步驟:S1:儀器準(zhǔn)備,選用測(cè)量架、跳動(dòng)測(cè)量?jī)x、四目3D掃描儀和ASMB1-16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀;S2:曲軸裝夾,將需要檢測(cè)的淬火后的曲軸放置在檢測(cè)平臺(tái)的V型支架上,對(duì)淬火后的曲軸進(jìn)行檢查,然后將淬火后的曲軸的兩端主軸頸放在測(cè)量架上;S3:圓跳動(dòng)量測(cè)量,轉(zhuǎn)動(dòng)曲軸,在轉(zhuǎn)動(dòng)曲軸的同時(shí)用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x測(cè)量曲軸的各主軸頸的徑向跳動(dòng)量和方位,并作記錄,確定徑向跳動(dòng)量超標(biāo)的主軸頸和方向;S4:三維掃描,組裝好四目3D掃描儀以及連線,然后調(diào)整光圈,進(jìn)行光源補(bǔ)償,接著進(jìn)行相機(jī)標(biāo)定,最后用四目3D掃描儀對(duì)曲軸進(jìn)行三維測(cè)量;S5:確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置,分析跳動(dòng)數(shù)據(jù)和掃描得到的3D虛擬模型,研究確定曲軸變形規(guī)律,根據(jù)曲軸結(jié)構(gòu)特征和變形規(guī)律確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置;S6:應(yīng)力測(cè)量,準(zhǔn)備ASMB1-16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀,選擇應(yīng)力測(cè)試點(diǎn)之后進(jìn)行打磨,然后用酒精清洗測(cè)試點(diǎn),用瞬間粘接劑粘貼ASMB1-16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀的應(yīng)變片,再進(jìn)行數(shù)據(jù)線的連接,用電烙鐵焊接數(shù)據(jù)線,最后接入打孔裝置;S7:數(shù)據(jù)處理,測(cè)試殘余應(yīng)力后,將數(shù)據(jù)線拆除,清理現(xiàn)場(chǎng),用電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,得出應(yīng)力變化表。優(yōu)選地,所述S3中,將曲軸裝夾好之后,利用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x對(duì)曲軸樣品的圓跳動(dòng)量進(jìn)行測(cè)量并做好詳細(xì)記錄。優(yōu)選地,所述S4中,用四目3D掃描儀對(duì)曲軸鍛件樣品外輪廓進(jìn)行三維掃描。優(yōu)選地,所述S6中,應(yīng)力測(cè)量的方法為盲孔法。本專利技術(shù)中,所述一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法利用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x對(duì)曲軸樣品的圓跳動(dòng)量進(jìn)行測(cè)量并做好詳細(xì)記錄,采用四目3D掃描儀對(duì)曲軸鍛件樣品外輪廓進(jìn)行三維掃描;分析跳動(dòng)數(shù)據(jù)和掃描得到的3D虛擬模型,研究確定曲軸變形規(guī)律;根據(jù)曲軸結(jié)構(gòu)特征和變形規(guī)律確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置,采用盲孔法對(duì)各測(cè)點(diǎn)應(yīng)力進(jìn)行測(cè)試,并得到曲軸應(yīng)力測(cè)點(diǎn)的應(yīng)力數(shù)據(jù),獲得曲軸樣品殘余應(yīng)力分布規(guī)律,以達(dá)到探究殘余應(yīng)力和曲軸變形的相互關(guān)系的目的。具體實(shí)施方式下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本專利技術(shù)作進(jìn)一步解說。實(shí)施例本實(shí)施例提出了一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法,包括以下步驟:S1:儀器準(zhǔn)備,選用測(cè)量架、跳動(dòng)測(cè)量?jī)x、四目3D掃描儀和ASMB1-16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀;S2:曲軸裝夾,將需要檢測(cè)的淬火后的曲軸放置在檢測(cè)平臺(tái)的V型支架上,對(duì)淬火后的曲軸進(jìn)行檢查,然后將淬火后的曲軸的兩端主軸頸放在測(cè)量架上;S3:圓跳動(dòng)量測(cè)量,轉(zhuǎn)動(dòng)曲軸,在轉(zhuǎn)動(dòng)曲軸的同時(shí)用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x測(cè)量曲軸的各主軸頸的徑向跳動(dòng)量和方位,并作記錄,確定徑向跳動(dòng)量超標(biāo)的主軸頸和方向;S4:三維掃描,組裝好四目3D掃描儀以及連線,然后調(diào)整光圈,進(jìn)行光源補(bǔ)償,接著進(jìn)行相機(jī)標(biāo)定,最后用四目3D掃描儀對(duì)曲軸進(jìn)行三維測(cè)量;S5:確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置,分析跳動(dòng)數(shù)據(jù)和掃描得到的3D虛擬模型,研究確定曲軸變形規(guī)律,根據(jù)曲軸結(jié)構(gòu)特征和變形規(guī)律確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置;S6:應(yīng)力測(cè)量,準(zhǔn)備ASMB1-16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀,選擇應(yīng)力測(cè)試點(diǎn)之后進(jìn)行打磨,然后用酒精清洗測(cè)試點(diǎn),用瞬間粘接劑粘貼ASMB1-16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀的應(yīng)變片,再進(jìn)行數(shù)據(jù)線的連接,用電烙鐵焊接數(shù)據(jù)線,最后接入打孔裝置;S7:數(shù)據(jù)處理,測(cè)試殘余應(yīng)力后,將數(shù)據(jù)線拆除,清理現(xiàn)場(chǎng),用電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,得出應(yīng)力變化表。本實(shí)施例中,S3中,將曲軸裝夾好之后,利用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x對(duì)曲軸樣品的圓跳動(dòng)量進(jìn)行測(cè)量并做好詳細(xì)記錄,S4中,用四目3D掃描儀對(duì)曲軸鍛件樣品外輪廓進(jìn)行三維掃描,S6中,應(yīng)力測(cè)量的方法為盲孔法,一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法利用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x對(duì)曲軸樣品的圓跳動(dòng)量進(jìn)行測(cè)量并做好詳細(xì)記錄,采用四目3D掃描儀對(duì)曲軸鍛件樣品外輪廓進(jìn)行三維掃描;分析跳動(dòng)數(shù)據(jù)和掃描得到的3D虛擬模型,研究確定曲軸變形規(guī)律;根據(jù)曲軸結(jié)構(gòu)特征和變形規(guī)律確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置,采用盲孔法對(duì)各測(cè)點(diǎn)應(yīng)力進(jìn)行測(cè)試,并得到曲軸應(yīng)力測(cè)點(diǎn)的應(yīng)力數(shù)據(jù),獲得曲軸樣品殘余應(yīng)力分布規(guī)律,以達(dá)到探究殘余應(yīng)力和曲軸變形的相互關(guān)系的目的。以上所述,僅為本專利技術(shù)較佳的具體實(shí)施方式,但本專利技術(shù)的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本
    的技術(shù)人員在本專利技術(shù)揭露的技術(shù)范圍內(nèi),根據(jù)本專利技術(shù)的技術(shù)方案及其專利技術(shù)構(gòu)思加以等同替換或改變,都應(yīng)涵蓋在本專利技術(shù)的保護(hù)范圍之內(nèi)。本文檔來自技高網(wǎng)
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    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
    一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:S1:儀器準(zhǔn)備,選用測(cè)量架、跳動(dòng)測(cè)量?jī)x、四目3D掃描儀和ASMB1?16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀;S2:曲軸裝夾,將需要檢測(cè)的淬火后的曲軸放置在檢測(cè)平臺(tái)的V型支架上,對(duì)淬火后的曲軸進(jìn)行檢查,然后將淬火后的曲軸的兩端主軸頸放在測(cè)量架上;S3:圓跳動(dòng)量測(cè)量,轉(zhuǎn)動(dòng)曲軸,在轉(zhuǎn)動(dòng)曲軸的同時(shí)用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x測(cè)量曲軸的各主軸頸的徑向跳動(dòng)量和方位,并作記錄,確定徑向跳動(dòng)量超標(biāo)的主軸頸和方向;S4:三維掃描,組裝好四目3D掃描儀以及連線,然后調(diào)整光圈,進(jìn)行光源補(bǔ)償,接著進(jìn)行相機(jī)標(biāo)定,最后用四目3D掃描儀對(duì)曲軸進(jìn)行三維測(cè)量;S5:確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置,分析跳動(dòng)數(shù)據(jù)和掃描得到的3D虛擬模型,研究確定曲軸變形規(guī)律,根據(jù)曲軸結(jié)構(gòu)特征和變形規(guī)律確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置;S6:應(yīng)力測(cè)量,準(zhǔn)備ASMB1?16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀,選擇應(yīng)力測(cè)試點(diǎn)之后進(jìn)行打磨,然后用酒精清洗測(cè)試點(diǎn),用瞬間粘接劑粘貼ASMB1?16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀的應(yīng)變片,再進(jìn)行數(shù)據(jù)線的連接,用電烙鐵焊接數(shù)據(jù)線,最后接入打孔裝置;S7:數(shù)據(jù)處理,測(cè)試殘余應(yīng)力后,將數(shù)據(jù)線拆除,清理現(xiàn)場(chǎng),用電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,得出應(yīng)力變化表。...

    【技術(shù)特征摘要】
    1.一種探究殘余應(yīng)力和曲軸變形相互關(guān)系的檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:S1:儀器準(zhǔn)備,選用測(cè)量架、跳動(dòng)測(cè)量?jī)x、四目3D掃描儀和ASMB1-16靜態(tài)電阻應(yīng)變儀;S2:曲軸裝夾,將需要檢測(cè)的淬火后的曲軸放置在檢測(cè)平臺(tái)的V型支架上,對(duì)淬火后的曲軸進(jìn)行檢查,然后將淬火后的曲軸的兩端主軸頸放在測(cè)量架上;S3:圓跳動(dòng)量測(cè)量,轉(zhuǎn)動(dòng)曲軸,在轉(zhuǎn)動(dòng)曲軸的同時(shí)用跳動(dòng)測(cè)量?jī)x測(cè)量曲軸的各主軸頸的徑向跳動(dòng)量和方位,并作記錄,確定徑向跳動(dòng)量超標(biāo)的主軸頸和方向;S4:三維掃描,組裝好四目3D掃描儀以及連線,然后調(diào)整光圈,進(jìn)行光源補(bǔ)償,接著進(jìn)行相機(jī)標(biāo)定,最后用四目3D掃描儀對(duì)曲軸進(jìn)行三維測(cè)量;S5:確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置,分析跳動(dòng)數(shù)據(jù)和掃描得到的3D虛擬模型,研究確定曲軸變形規(guī)律,根據(jù)曲軸結(jié)構(gòu)特征和變形規(guī)律確定殘余應(yīng)力測(cè)點(diǎn)位置;S6:應(yīng)力測(cè)量,準(zhǔn)...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:王榮胡超凡魏德強(qiáng)鐘盛
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:桂林電子科技大學(xué)
    類型:發(fā)明
    國(guó)別省市:廣西;45

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