【技術實現步驟摘要】
一種雙光路大孔徑靜態干涉光譜儀
本技術屬于光學領域,尤其涉及一種雙光路大孔徑靜態干涉光譜儀。
技術介紹
干涉光譜成像儀可以獲得來自同一目標點不同光程差處的光波疊加強度,進而形成干涉條紋,通過物理變化可以獲得目標的二維幾何信息和一維光譜信息。根據原理可分為時間調制干涉光譜儀、空間調制干涉光譜儀和時空聯合調制干涉光譜儀,時空聯合調制干涉光譜儀也叫大孔徑靜態干涉光譜儀,大孔徑靜態干涉光譜儀集合時間調制和空間調制型儀器優點,既具有大孔徑優勢,同時又沒有運動部件,具有很高的技術優勢和應用價值,也是目前干涉光譜成像遙感領域的研究熱點。大孔徑靜態干涉光譜技術在系統平行光路中放置了一個Sagnac橫向剪切干涉儀,將平行光路分成兩路并產生橫向剪切量,由傅里葉變換透鏡在焦面上將光路會聚并產生干涉條紋。儀器全系統主要由前置光學系統、橫向剪切干涉儀、傅里葉變換透鏡及探測器四大部分組成,其中前置光學系統的主要作用是壓縮光束孔徑,縮小干涉儀的體積。大孔徑靜態干涉光譜技術在每一次曝光時獲得一幀干涉圖像,同一視場的不同目標單元,其光程差不同,通過推掃,在飛行方向上(與干涉條紋垂直的方向),連續采集后,即可獲得同一地物目標不同光程差的干涉信息。隨著儀器的發展,大孔徑靜態干涉光譜技術面臨著兩個主要問題:1)由于探測器響應譜段限制,無法用同一臺儀器實現寬譜段干涉數據采集;2)紅外探測器制冷機壽命限制了干涉光譜儀的使用壽命。
技術實現思路
本技術所要解決的技術問題是提供一種雙光路大孔徑靜態干涉光譜儀,用以解決了
技術介紹
中無法用同一臺儀器實現寬譜段干涉數據采集和干涉光譜儀的使用壽命問題。為解決上述技術 ...
【技術保護點】
一種雙光路大孔徑靜態干涉光譜儀,其特征在于:包括依次設置在光路上的前置鏡組件和分光組件,分別設置在分光組件后第一光路上的第一后置鏡組件和第一探測器,以及第二光路上的第二后置鏡組件和第二探測器。
【技術特征摘要】
1.一種雙光路大孔徑靜態干涉光譜儀,其特征在于:包括依次設置在光路上的前置鏡組件和分光組件,分別設置在分光組件后第一光路上的第一后置鏡組件和第一探測器,以及第二光路上的第二后置鏡組件和第二探測器。2.根據權利要求1所述的雙光路大孔徑靜態干涉光譜儀,其特征在于:所述分光組件形狀為三棱柱,三棱柱其中一棱邊正對所述前置鏡組件出...
【專利技術屬性】
技術研發人員:李思遠,鄒純博,武俊強,趙強,張周峰,張宏建,
申請(專利權)人:中國科學院西安光學精密機械研究所,
類型:新型
國別省市:陜西,61
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