Including mobile phone screen MURA defect detection method, convolution neural network pruning algorithm based on custom depth: 1) convolutional neural network, using the existing training data to train a mobile phone screen is used to detect the defects of MURA neural network; 2) pruning operation to convolutional neural network method using adaptive template matching, reduce the network size. Shorten the running time of the algorithm; 3) the high resolution camera mobile phone screen pictures in different proportion zoom, form a picture of Pyramid, for each scale image, using the method of sliding window pictures will be divided into small pieces, all the small picture together as a group to the convolutional neural network; 4) selects all feature maps the middle layer of the map as a response to defects, using the method of threshold segmentation obtained by mobile phone screen MURA defect location.
【技術實現步驟摘要】
基于卷積神經網絡剪枝算法的手機屏幕MURA缺陷檢測方法
本專利技術屬于目標檢測與識別領域,涉及從圖像中檢測特定目標,具體是檢測手機屏幕缺陷的方法。
技術介紹
傳統的用人工檢測屏幕瑕疵方法存在諸多不足之處,在工業生產高速發展的今天,它已經完全無法適應當今工業生產高效、準確的要求。對手機屏幕產商而言,尋找一種高效、準確的自動化檢測設備用以替代人工檢測環節,成為了迫切的需求。隨著計算機視覺、圖像處理等領域的發展,基于機器視覺的自動化檢測系統成為了一種良好的解決方案。該方案通過高分辨率工業相機采集手機屏幕圖像,然后將圖像信息通過圖像分析模塊進行實時的處理,從而判斷手機屏幕是否合格。傳統的基于機器視覺的屏幕缺陷檢測算法,大多是針對一種或幾種類別的屏幕缺陷進行設計的,不具有通用性,所以對于特殊的瑕疵,需要寫專門的算法。由于屏幕的特殊性,拍照時在成像上的摩爾紋是不可避免的,而傳統算法不能很好地解決摩爾紋問題。另外,傳統的算法雖然可以檢測較明顯的線狀、點狀缺陷,但是對于成像上很淡的團狀MURA缺陷,準確率很低。最后,傳統的屏幕缺陷檢測算法需要調節大量參數,尤其是在屏幕產品換型時,調整大量參數會導致時間的浪費。因此,設計一個具有良好泛化性的算法具有非常實用的價值。近年來,深度學習方法在計算機視覺領域產生了巨大的影響。深度學習采用多層網絡結構,模擬人腦中神經系統的層次關系和傳遞方式,它已經在模式識別的多個領域得到了廣泛的應用并取得了良好的成績。本方法采用基于深度卷積神經網絡的分類算法,使用預處理后的手機屏幕局部圖像塊作為分類器的輸入,然后抽取卷積神經網絡的特征圖作為檢測結果, ...
【技術保護點】
基于卷積神經網絡剪枝算法的手機屏幕MURA缺陷檢測方法,包括如下步驟:1)自定義卷積神經網絡,通過訓練數據訓練該網絡直到收斂并且有較高準確率;2)通過自適應模板匹配的方法來進行卷積神經網絡的剪枝,縮小網絡規模和網絡參數;3)采集手機屏幕圖片數據,生成圖片金字塔,分割成圖片塊,用于測試階段數據生成,送入到步驟2)獲得的剪枝后的卷積神經網絡中進行運算;4)取中間隱層的特征圖之和作為響應圖,采用閾值分割的方法獲得缺陷最終位置并圈出,該方法尤其用于檢測MURA缺陷。
【技術特征摘要】
1.基于卷積神經網絡剪枝算法的手機屏幕MURA缺陷檢測方法,包括如下步驟:1)自定義卷積神經網絡,通過訓練數據訓練該網絡直到收斂并且有較高準確率;2)通過自適應模板匹配的方法來進行卷積神經網絡的剪枝,縮小網絡規模和網絡參數;3)采集手機屏幕圖片數據,生成圖片金字塔,分割成圖片塊,用于測試階段數據生成,送入到步驟2)獲得的剪枝后的卷積神經網絡中進行運算;4)取中間隱層的特征圖之和作為響應圖,采用閾值分割的方法獲得缺陷最終位置并圈出,該方法尤其用于檢測MURA缺陷。2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于:步驟2)所述的自適應模板匹配的剪枝具體是:...
【專利技術屬性】
技術研發人員:宋明黎,高鑫,沈紅佳,邱畫謀,
申請(專利權)人:浙江大學,
類型:發明
國別省市:浙江,33
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