Image processing method and defect inspection method. It can reduce the burden of skilled judgment on operators when sorting the object area from the photographed image of the object being inspected, and simply set the threshold value and easily select the object area to be inspected. The image processing method includes a differential calculation step, which divides the monochrome original image of the first and second regions with linear symmetry relative to the reference line into the first and second regions through the reference line. For each pair of the two original pixels which are arranged in the first and second regions with linear symmetry relative to the reference line, the differential pixel values of the difference of the pixel values of the two original pixels are calculated. \u3002 The method also includes a differential image generation step by configuring differential pixels with differential pixel values to generate a differential image, and by configuring differential pixels with pairs of original pixels at the first position in the first region and original pixels at the second position in the second region to the first and second positions of the differential image to generate a differential image.
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
圖像處理方法和缺陷檢查方法
本專利技術(shù)涉及使用通過拍攝裝置對被檢查物的表面進(jìn)行拍攝而得到的拍攝圖像來選出應(yīng)對被檢查物的表面進(jìn)行缺陷檢查的檢查對象區(qū)域的圖像處理方法以及使用了該圖像處理方法的缺陷檢查方法,尤其涉及對于具有線對稱性的被檢查物無論缺陷的種類如何均能夠高精度且容易地選出檢查對象區(qū)域的圖像處理方法以及使用其的缺陷檢查方法。
技術(shù)介紹
使用通過拍攝裝置對被檢查物的表面進(jìn)行拍攝而得到的拍攝圖像對被檢查物的表面檢查有無缺陷的缺陷檢查正在廣泛地進(jìn)行。申請人已經(jīng)提出了對稱為裂紋(crack)的線狀缺陷進(jìn)行檢測的缺陷檢查方法(專利文獻(xiàn)1)。在被檢查物的表面,除了上述裂紋以外還存在龜裂、缺口、印痕、標(biāo)記錯誤等多方面的缺陷。在檢測上述缺陷時,使用了對數(shù)字化的拍攝圖像進(jìn)行數(shù)字處理的圖像處理算法(圖像處理方法)。作為對被檢查物進(jìn)行拍攝的拍攝裝置,使用搭載有如CCD(Charged-coupleddevices,電荷耦合器件)或者CMOS(ComplemeNtarymetal-oxide-semicoNductor,互補(bǔ)性金屬氧化半導(dǎo)體)那樣的拍攝元件的攝像頭。當(dāng)在拍攝時從被檢查物發(fā)出的光輸入至上述拍攝元件時,光的強(qiáng)弱被變換成電信號的強(qiáng)弱并被進(jìn)行數(shù)字化、被記錄為數(shù)字圖像。(1)數(shù)字圖像在此,對數(shù)字圖像進(jìn)行說明。將構(gòu)成圖像的最小要素稱為像素,數(shù)字圖像由二維地排列的像素構(gòu)成。各像素作為顏色信息,獨(dú)立地具有組合了0和1的以二進(jìn)制表示的數(shù)值,該數(shù)值表示從被檢查物發(fā)出的光的強(qiáng)度和/或被檢查物的表面的顏色。將各像素所具有的數(shù)值稱為像素值,圖像例如分為彩色圖像、灰度等級圖像等種類。在彩 ...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種圖像處理方法,其特征在于,包括:差分算出步驟,將具有相對于基準(zhǔn)直線為線對稱的第1區(qū)域及第2區(qū)域的單色的原圖像,通過所述基準(zhǔn)直線劃分為所述第1區(qū)域及所述第2區(qū)域,關(guān)于在所述第1區(qū)域及所述第2區(qū)域內(nèi)配置于相對于所述基準(zhǔn)直線為線對稱的位置的兩個原像素的各對,算出成為所述兩個原像素的像素值的差分的差分像素值;和差分圖像生成步驟,是配置具有所述差分像素值的差分像素來生成差分圖像的差分圖像生成步驟,將具有使用所述第1區(qū)域內(nèi)的第1位置的原像素和所述第2區(qū)域內(nèi)的第2位置的原像素的對所算出的所述差分像素值的差分像素配置于所述差分圖像的所述第1位置及所述第2位置來生成所述差分圖像。
【技術(shù)特征摘要】
2017.06.28 JP 2017-1266741.一種圖像處理方法,其特征在于,包括:差分算出步驟,將具有相對于基準(zhǔn)直線為線對稱的第1區(qū)域及第2區(qū)域的單色的原圖像,通過所述基準(zhǔn)直線劃分為所述第1區(qū)域及所述第2區(qū)域,關(guān)于在所述第1區(qū)域及所述第2區(qū)域內(nèi)配置于相對于所述基準(zhǔn)直線為線對稱的位置的兩個原像素的各對,算出成為所述兩個原像素的像素值的差分的差分像素值;和差分圖像生成步驟,是配置具有所述差分像素值的差分像素來生成差分圖像的差分圖像生成步驟,將具有使用所述第1區(qū)域內(nèi)的第1位置的原像素和所述第2區(qū)域內(nèi)的第2位置的原像素的對所算出的所述差分像素值的差分像素配置于所述差分圖像的所述第1位置及所述第2位置來生成所述差分圖像。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理方法,其特征在于,所述基準(zhǔn)直線是將所述原圖像劃分為包含相等數(shù)量的原像素的上半部分的所述第1區(qū)域和下半部分的所述第2區(qū)域的第1直線。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理方法,其特征在于,所述基準(zhǔn)直線是將所述原圖像劃分為包含相等數(shù)量的原像素的左半部分的所述第1區(qū)域和右半部分的所述第2區(qū)域的第2直線。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像處理方法,其特征在于,在所述差分圖像生成步驟中,從同一所述原圖像生成第1差分圖像和與所述第1差分圖像不同的第2差分圖像來作為所述差分圖像,所述圖像處理方法還包括:檢查區(qū)域選出步驟,使用所述第1差分圖像和所述第2差分圖像,選出所述原圖像中的檢查對象區(qū)域。5.一種缺陷檢查方法,是使用權(quán)利要求1所述的圖像處理方法對被檢查物進(jìn)行缺陷檢查的缺陷檢查方法,其特征在于,具備:閾值設(shè)定模式和檢查執(zhí)行模式,所述閾值設(shè)定模式包括:第1步驟,使從拍攝已知是合格品的多個被檢查物而得到的拍攝圖像生成的單色圖像為第1原圖像,從所生成的多個第1原圖像使用所述圖像處理方法來生成多個合格品差分圖像;和第2步驟,使從拍攝已知是不合格品的多個被檢查物而得到的拍攝圖像生成的單色圖像為...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:加藤嗣,梅崎太造,
申請(專利權(quán))人:東京威爾斯股份有限公司,梅崎太造,
類型:發(fā)明
國別省市:日本,JP
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