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    電流檢測裝置及方法制造方法及圖紙

    技術編號:24451806 閱讀:78 留言:0更新日期:2020-06-10 14:28
    本發明專利技術提供了一種電流檢測裝置及方法,其中,電流檢測裝置用以檢測目標電流的目標電流信號,其包括:至少兩個檢測單元,每一個所述檢測單元均包括隧道磁電阻TMR;所述檢測單元配置為,通過所述TMR感應磁場以產生檢測信號;處理單元,配置為獲取每一個所述檢測單元產生的所述檢測信號,并根據多個所述檢測信號以確定所述目標電流信號;其中,所述磁場包括第一磁場與第二磁場,所述第一磁場為所述目標電流產生的磁場,所述第二磁場為所述裝置所處空間內的干擾磁場。通過本發明專利技術可以解決相關技術中電流檢測過程中受外部磁場的影響較大的問題,以達到有效減小電流檢測過程中外部磁場的影響,進而提高電流檢測精度的效果。

    Current detection device and method

    【技術實現步驟摘要】
    電流檢測裝置及方法
    本專利技術涉及電子領域,具體而言,涉及一種電流檢測裝置及方法。
    技術介紹
    電流傳感器依據測量原理不同,主要可分為:分流器、電磁式電流互感器、電子式電流互感器等;其中,電子式電流互感器包括霍爾電流傳感器,羅科夫斯基電流傳感器和AnyWay變頻功率傳感器。目前,霍爾電流傳感器應用廣泛,但其在進行電流測量過程中易受到外部磁場干擾,并存在溫度特性差的問題。針對上述霍爾電流傳感器的缺陷,發展出基于隧道磁電阻(TunnelMagnetoResistance,TMR)效應的電流傳感器,其在靈敏度,分辨率,功耗,溫度特性等方面較于傳統的霍爾傳感器均具有顯著的提升。但是,相關技術中基于TMR效應的電流傳感器仍存在受外部磁場的影響較大的現象。針對上述相關技術中,電流檢測過程中受外部磁場的影響較大的問題,相關技術中尚未提出有效的解決方案。
    技術實現思路
    本專利技術實施例提供一種電流檢測裝置及方法,以至少解決相關技術中電流檢測過程中受外部磁場的影響較大的問題。根據本專利技術的一個實施例,提供了一種電流檢測裝置,用以檢測目標電流的目標電流信號,所述裝置包括:至少兩個檢測單元,每一個所述檢測單元均包括隧道磁電阻TMR;所述檢測單元配置為,通過所述TMR感應磁場以產生檢測信號;處理單元,配置為獲取每一個所述檢測單元產生的所述檢測信號,并根據多個所述檢測信號以確定所述目標電流信號;其中,所述磁場包括第一磁場與第二磁場,所述第一磁場為所述目標電流產生的磁場,所述第二磁場為所述裝置所處空間內的干擾磁場。根據本專利技術的另一個實施例,還提供了一種電流檢測方法,用以檢測目標電流的目標電流信號,所述方法包括:通過至少兩個檢測單元以產生檢測信號,其中,每一個所述檢測單元均包括隧道磁電阻TMR;所述檢測信號由所述TMR感應磁場以產生;獲取每一個所述檢測單元產生的所述檢測信號,并根據多個所述檢測信號以確定所述目標電流信號;其中,所述磁場包括第一磁場與第二磁場,所述第一磁場為所述目標電流產生的磁場,所述第二磁場為所述裝置所處空間內的干擾磁場。根據本專利技術的另一個實施例,還提供了一種電流檢測裝置,用以檢測目標電流的目標電流信號,所述裝置包括:檢測模塊,用于通過至少兩個檢測單元以產生檢測信號,其中,每一個所述檢測單元均包括隧道磁電阻TMR;所述檢測信號由所述TMR感應磁場以產生;確定模塊,用于獲取每一個所述檢測單元產生的所述檢測信號,并根據多個所述檢測信號以確定所述目標電流信號;其中,所述磁場包括第一磁場與第二磁場,所述第一磁場為所述目標電流產生的磁場,所述第二磁場為所述裝置所處空間內的干擾磁場。根據本專利技術的另一個實施例,還提供了一種計算機可讀的存儲介質,所述計算機可讀的存儲介質中存儲有計算機程序,其中,所述計算機程序被設置為運行時執行上述任一項方法實施例中的步驟。根據本專利技術的另一個實施例,還提供了一種電子裝置,包括存儲器和處理器,所述存儲器中存儲有計算機程序,所述處理器被設置為運行所述計算機程序以執行上述任一項方法實施例中的步驟。通過本專利技術,由于電流檢測裝置在檢測目標電流的目標電流信號的過程中,可通過至少兩個檢測單元所包括的隧道磁電阻TMR感應磁場以分別產生檢測信號;進一步地,通過處理單元獲取每一個檢測單元產生的檢測信號,并根據多個檢測信號以確定目標電流信號;其中,磁場包括第一磁場與第二磁場,第一磁場為目標電流產生的磁場,第二磁場為裝置所處空間內的干擾磁場。因此,本專利技術可以解決相關技術中電流檢測過程中受外部磁場的影響較大的問題,以達到有效減小電流檢測過程中外部磁場的影響,進而提高電流檢測精度的效果。附圖說明此處所說明的附圖用來提供對本專利技術的進一步理解,構成本申請的一部分,本專利技術的示意性實施例及其說明用于解釋本專利技術,并不構成對本專利技術的不當限定。在附圖中:圖1是根據本專利技術實施例提供的電流檢測裝置的功能示意圖;圖2是根據本專利技術實施例提供的檢測單元的分布示意圖;圖3是根據本專利技術實施例提供的檢測單元的結構示意圖;圖4是根據本專利技術實施例提供的電流檢測裝置的結構示意圖(一);圖5是根據本專利技術實施例提供的電流檢測裝置的結構示意圖(二);圖6是根據本專利技術實施例提供的聚磁環的結構示意圖;圖7是根據本專利技術實施例提供的電流檢測方法的流程圖;圖8是根據本專利技術實施例提供的電流檢測裝置的結構框圖。具體實施方式下文中將參考附圖并結合實施例來詳細說明本專利技術。需要說明的是,在不沖突的情況下,本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。需要說明的是,本專利技術的說明書和權利要求書及上述附圖中的術語“第一”、“第二”等是用于區別類似的對象,而不必用于描述特定的順序或先后次序。實施例1本實施例提供了一種電流檢測裝置,用以檢測目標電流的目標電流信號,圖1是根據本專利技術實施例提供的電流檢測裝置的功能示意圖,如圖1所示,本實施例中的電流檢測裝置包括裝置包括:至少兩個檢測單元102,每一個檢測單元均包括隧道磁電阻TMR;檢測單元配置為,通過TMR感應磁場以產生檢測信號;處理單元104,配置為獲取每一個檢測單元產生的檢測信號,并根據多個檢測信號以確定目標電流信號;其中,磁場包括第一磁場與第二磁場,第一磁場為目標電流產生的磁場,第二磁場為裝置所處空間內的干擾磁場。本實施例中的電流檢測裝置,每一個檢測單元中的TMR均可對磁場進行感應而產生電阻變化,本實施例中的電流檢測裝置即可根據上述不同檢測單元中TMR對磁場進行感應而產生電阻變化以得到的檢測信號,實現對目標電流的電流檢測。需要進一步說明的是,上述檢測信號可以為電壓信號,也可以是電流信號;上述TMR根據自身的TMR效應以電流產生的磁場進行感應的過程為本領域已知的,故在此不再贅述。需要進一步說明的是,上述第一磁場即為目標電流流經時所產生的磁場;上述第二磁場即本實施例中的電流檢測裝置在進行應用過程中所處的工作空間中存在的干擾磁場,具體而言,該第二磁場可能為上述工作空間中的地磁,也可能為第一磁場與地磁以外存在的外部磁場,即除目標電流產生的磁場外的任何磁場,均屬于上述第二磁場所涵蓋的范圍。需要進一步說明的,本實施例的電流檢測裝置中,檢測單元與處理單元均可搭載在PCB板之上實現電路設置,處理單元可采用微控制器構成。通過本實施例中的電流檢測裝置,由于電流檢測裝置在檢測目標電流的目標電流信號的過程中,可通過至少兩個檢測單元所包括的隧道磁電阻TMR感應磁場以分別產生檢測信號;進一步地,通過處理單元獲取每一個檢測單元產生的檢測信號,并根據多個檢測信號以確定目標電流信號;其中,磁場包括第一磁場與第二磁場,第一磁場為目標電流產生的磁場,第二磁場為裝置所處空間內的干擾磁場。因此,本實施例中的電流檢測裝置可以解決相關技術中電流檢測過程中受外部磁場的影響較大的問題,以達到有效減本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    1.一種電流檢測裝置,用以檢測目標電流的目標電流信號,其特征在于,所述裝置包括:/n至少兩個檢測單元,每一個所述檢測單元均包括隧道磁電阻TMR;所述檢測單元配置為,通過所述TMR感應磁場以產生檢測信號;/n處理單元,配置為獲取每一個所述檢測單元產生的所述檢測信號,并根據多個所述檢測信號以確定所述目標電流信號;/n其中,所述磁場包括第一磁場與第二磁場,所述第一磁場為所述目標電流產生的磁場,所述第二磁場為所述裝置所處空間內的干擾磁場。/n

    【技術特征摘要】
    1.一種電流檢測裝置,用以檢測目標電流的目標電流信號,其特征在于,所述裝置包括:
    至少兩個檢測單元,每一個所述檢測單元均包括隧道磁電阻TMR;所述檢測單元配置為,通過所述TMR感應磁場以產生檢測信號;
    處理單元,配置為獲取每一個所述檢測單元產生的所述檢測信號,并根據多個所述檢測信號以確定所述目標電流信號;
    其中,所述磁場包括第一磁場與第二磁場,所述第一磁場為所述目標電流產生的磁場,所述第二磁場為所述裝置所處空間內的干擾磁場。


    2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述處理單元還配置為,
    獲取每一個所述檢測單元產生的所述檢測信號,根據多個所述檢測信號以及預設的第一處理模型確定第一電流信號;
    根據所述第一電流信號的電流值確定第二處理模型;
    根據多個所述檢測信號與所述第二處理模型確定第二電流信號,并將所述第二電流信號作為所述目標電流信號;
    其中,所述第一處理模型用于指示預設量程內電流信號與所述檢測信號之間的關系,所述第二處理模型用于指示一個子量程內電流信號與所述檢測信號之間的關系,所述預設量程由所述多個子量程構成。


    3.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述處理單元還配置為,
    根據多個采樣電流信號以及對應的多個采樣檢測信號,以獲取所述第一處理模型與一個或多個所述第二處理模型;
    其中,所述采樣電流信號為所述預設量程中預設的采樣電流的電流信號;所述采樣檢測信號為所述目標電流為所述采樣電流時,所述檢測單元產生的檢測信號。


    4.根據權利要求3所述的裝置,其特征在于,所述處理單元還配置為,
    獲取第一采樣電流信號集合以及第一采樣檢測信號集合;其中,所述第一采樣電流信號集合包括所述預設量程內多個所述采樣電流的所述采樣電流信號,所述第一采樣檢測信號集合包括所述第一采樣電流信號集合中多個所述采樣電流信號對應的多個所述采樣檢測信號;
    根據所述第一采樣電流信號集合中的多個所述采樣電流信號,以及所述第一采樣檢測信號集合中對應的多個所述采樣檢測信號,以建立第一處理模型;
    獲取多個第二采樣電流信號集合以及多個第二采樣檢測信號集合;其中,所述多個第二采樣電流信號集合與所述多個子量程對應,所述多個第二采樣檢測信號集合與所述多個子量程對應;每一個所述第二采樣電流信號集合包括對應的所述子量程中的多個所述采樣電流的所述采樣電流信號;每一個所述第二采樣檢測信號集合包括對應的所述子量程中的多個所述采樣電流的所述采樣檢測信號;
    根據每一個所述子量程對應的所述第二采樣電流信號集合中的多個所述采樣電...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:張蘇黃珊
    申請(專利權)人:張蘇
    類型:發明
    國別省市:江蘇;32

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