隔膜平整度檢測裝置及其工作方法制造方法及圖紙

本發明專利技術屬于鋰電池隔膜技術領域，具體涉及一種隔膜平整度檢測裝置及其工作方法。本隔膜平整度檢測裝置包括：測量架、安裝在測量架上的多維測量組件、安裝在測量架上的放卷機構；所述放卷機構適于將隔膜鋪展在測量架上，以通過多維測量組件檢測隔膜鋪展面的平整度。具有結構簡易、成本低、使用方便等優點。

【技術實現步驟摘要】
隔膜平整度檢測裝置及其工作方法
本專利技術屬于鋰電池隔膜
，具體涉及一種隔膜平整度檢測裝置及其工作方法。
技術介紹
在薄膜生產中，因為薄膜本身具有塑性變形特性，膜面情況隨時間、環境溫度、收卷張力、膜自身厚度等因素變化較快，因此導致隔膜的實際平整度與需求值之間存在一定偏差，如果不能及時進行檢測，會降低隔膜的利用率。而膜面平整度的檢測是企業的最大問題，一般采用人為經驗判定，無法量化描述的膜面情況。因此有必要研發一種結構簡易、成本低、使用方便的隔膜平整度檢測裝置。
技術實現思路
本專利技術提供了一種隔膜平整度檢測裝置及其工作方法。為了解決上述技術問題，本專利技術提供了一種隔膜平整度檢測裝置，包括：測量架、安裝在測量架上的多維測量組件、安裝在測量架上的放卷機構；所述放卷機構適于將隔膜鋪展在測量架上，以通過多維測量組件檢測隔膜鋪展面的平整度。第二方面，本專利技術還提供了一種隔膜平整度檢測裝置的工作方法，即通過放卷機構將隔膜進行鋪展，然后通過多維測量組件檢測隔膜鋪展面的平整度。本專利技術的有益效果是，本專利技術的隔膜平整度檢測裝置及其工作方法通過放卷機構將隔膜鋪展在測量架上，以通過多維測量組件檢測隔膜鋪展面的平整度，具有結構簡易、成本低、使用方便等優點。本專利技術的其他特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本專利技術而了解。本專利技術的目的和其他優點在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。為使本專利技術的上述目的、特征和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合所附附圖，作詳細說明如下。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術具體實施方式或現有技術中的技術方案，下面將對具體實施方式或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本專利技術的一些實施方式，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本專利技術的檢測裝置的主視圖；圖2是本專利技術的檢測裝置的俯視圖；圖3是本專利技術的檢測裝置的側視圖；圖中：測量架1，支架11，平行過輥12，調平組件13，底座131，調平墊腳132，移動滾輪133，水平測量儀134，多維測量組件2，X軸刻度尺21，Y軸刻度尺22，Z軸刻度尺23，放卷機構3，放卷氣漲軸31，旋轉鎖扣32，隔膜4，隔膜4鋪展面41，固定組件5，配重組件6，固定輥61，配重升降輥62。具體實施方式為使本專利技術實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖對本專利技術的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本專利技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。實施例1在薄膜生產中，膜面平整度一般采用人為經驗判定，無法量化描述的膜面情況，導致隔膜的實際平整度與需求值之間存在一定偏差，降低了隔膜的利用率。見圖1，為此，本專利技術提供了一種隔膜平整度檢測裝置，包括：測量架1、安裝在測量架1上的多維測量組件2、安裝在測量架1上的放卷機構3；所述放卷機構3適于將隔膜4鋪展在測量架1上，以通過多維測量組件2檢測隔膜4鋪展面41的平整度。本專利技術的隔膜平整度檢測裝置通過放卷機構將隔膜鋪展在測量架上，以通過多維測量組件檢測隔膜鋪展面的平整度，具有結構簡易、成本低、使用方便等優點。作為測量架的一種可選的實施方式。見圖1，所述測量架1包括：支架11、分離設置在支架11兩側的兩個平行過輥12；隔膜4依次繞過兩個平行過輥12，以在兩個平行過輥12之間形成所述鋪展面41。具體的，見圖2，多維測量組件2位于隔膜4鋪展面41的上方，即不會影響隔膜的鋪展，又便于從隔膜上方進行檢測，即檢測隔膜的長寬變形和高度變形。作為放卷機構的一種可選的實施方式。見圖1，所述放卷機構3包括：用于纏繞隔膜4的放卷氣漲軸31；隔膜4由放卷氣漲軸31放卷引出后，依次繞過兩個平行過輥12，并通過隔膜4端部的固定組件5懸掛鋪展。具體的，所述放卷氣漲軸安裝在支架上，位于隔膜4鋪展面41的下方。可選的，所述放卷氣漲軸例如但不限于采用3英寸、6英寸可轉換嵌套，可適用3英寸及6英寸內徑收卷管。可選的，見圖1，所述放卷機構3還包括：位于放卷氣漲軸31上的旋轉鎖扣32，以防止隔膜4自行放卷，在隔膜檢測過程中，保持隔膜的鋪展狀態不變，提高隔膜的檢測準確度。進一步，見圖1，固定組件5與其同側的平行過輥12之間還設有適于隔膜4繞過的配重組件6。可選的，所述配重組件6包括上下設置的固定輥61和配重升降輥62，以使隔膜4形成蛇形迂回，可以通過調整配重升降輥62的重量，調節隔膜的鋪展狀態，可以避免隔膜褶皺，以適應Z軸刻度尺23檢測隔膜的高度變形，也可以模擬隔膜拉力，并檢測隔膜在該狀態下的長寬變形和高度變形。可選的，見圖1，固定輥61固定安裝在支架11上且位于配重升降輥62上方，所述配重升降輥62可自由活動，以適于隔膜從配重升降輥62底部托起，并從固定輥61頂部引至固定組件5，形成蛇形迂回。配重升降輥的配重范圍可以根據隔膜的寬度、應用條件（隔膜涂覆、電芯裝配張力）等參數設定，一般為10-1000g，優選為100-300g。作為固定組件的一種可選的實施方式。見圖1，所述固定組件5包括：固定在測量架1上的固定磁條、活動設置在固定磁條上的夾持磁條；所述夾持磁條與固定磁條產生磁吸附，以夾緊隔膜端部。采用固定磁條、夾持磁條組合，既方便隔膜夾持，調整固定組件與配重組件之間的隔膜，用于張緊隔膜，使其鋪展在兩個平行過輥12之間，形成鋪展面。可選的，固定磁條與夾持磁條外表面均采用膠墊包裹，以增加隔膜的摩擦力，提高固定組件對隔膜端部的夾緊力，同時也不會損傷隔膜。作為多維測量組件的一種可選的實施方式。見圖2，所述多維測量組件2包括：互相垂直設置的X軸刻度尺21、Y軸刻度尺22、Z軸刻度尺23；其中X軸刻度尺21與Y軸刻度尺22形成水平面，以用于檢測隔膜4的長寬變形；Z軸刻度尺23垂直水平面，以用于檢測隔膜4的高度變形。具體的，X軸刻度尺21、Y軸刻度尺22例如但不限于采用帶有刻度值的直線導軌；其中X軸刻度尺21為兩根且平行設置，用于檢測隔膜4鋪展面41的長度變形，其長度為1.0-10m，優選2-3m，以適于Y軸刻度尺滑動；Y軸刻度尺22用于檢測隔膜4鋪展面41的寬度變形，其長度為0.5-3.0m，優選0.8-1.2m，以適于Z軸刻度尺滑動；Z軸刻度尺23安裝在Y軸刻度尺22上，其測量范圍可調，一般為10-150mm，優選50-100mm，以用于檢測隔膜4鋪展面41的高度變形。作為調平組件的一種可選的實施方式。見圖3，所述檢測裝置還包括位于測量架1底部的調平組件13；所述調平組件13包括：位于測量架1底部的底座131、分布在底座131底部的若干調平墊腳132。具體的，結合本文檔來自技高網...

【技術保護點】
1.一種隔膜平整度檢測裝置，其特征在于，包括：/n測量架、安裝在測量架上的多維測量組件、安裝在測量架上的放卷機構；/n所述放卷機構適于將隔膜鋪展在測量架上，以通過多維測量組件檢測隔膜鋪展面的平整度。/n

【技術特征摘要】
1.一種隔膜平整度檢測裝置，其特征在于，包括：
測量架、安裝在測量架上的多維測量組件、安裝在測量架上的放卷機構；
所述放卷機構適于將隔膜鋪展在測量架上，以通過多維測量組件檢測隔膜鋪展面的平整度。


2.根據權利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，
所述測量架包括：支架、分離設置在支架兩側的兩個平行過輥；
隔膜依次繞過兩個平行過輥，以在兩個平行過輥之間形成所述鋪展面。


3.根據權利要求2所述的檢測裝置，其特征在于，
所述放卷機構包括：用于纏繞隔膜的放卷氣漲軸；
隔膜由放卷氣漲軸放卷引出后，依次繞過兩個平行過輥，并通過隔膜端部的固定組件懸掛鋪展。


4.根據權利要求3所述的檢測裝置，其特征在于，
所述放卷機構還包括：位于放卷氣漲軸上的旋轉鎖扣，以防止隔膜自行放卷。


5.根據權利要求3所述的檢測裝置，其特征在于，
固定組件與其同側的平行過輥之間還設有適于隔膜繞過的配重組件。


6.根據權利要求5所述...

【專利技術屬性】
技術研發人員：李正林，翁星星，貢晶晶，王成豪，陳朝暉，
申請(專利權)人：江蘇厚生新能源科技有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇;32