本發明專利技術涉及一種來自拾波器（ｐｉｃｋｕｐ）（２）、環境變化檢測器（１１）、以及振動檢測器（１２）的使用環境信息等數據是表示規定的變化的數據，而且相對于來自出錯率測定手段（８）的出錯率存儲于出錯率存儲手段（１０）形成的最小出錯率，劣化超過規定量時，根據再調整判斷手段（１４）的判斷，用出錯率比較.參數決定手段（９）再度決定使出錯率為最小的參數，將決定的參數從參數設定手段（６）再度設定于讀取手段（３）的盤片重放裝置。（*該技術在2024年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及能夠將讀取盤片上記錄的信息數據時的出錯率設定為最小的盤片重放裝置。
技術介紹
讀取盤片上記錄的信息數據時的出錯率的大小是左右作為盤片重放裝置的基本性能的重要事項。能夠使該出錯率為最小的已有的盤片重放裝置有以下所述的裝置(參照例如專利文獻1)。裝該盤片重放裝置具備讀取通過拾波器輸入的盤片記錄數據的讀取手段、對該讀取手段讀取的數據進行訂正的錯誤訂正手段以及對訂正錯誤之后的數據進行譯碼再輸出圖像和聲音等各種數據的譯碼手段構成的重放系統、對所述讀取手段設定決定其讀取動作特性的參數的參數設定手段、預先存儲各種所述參數，利用該參數設定手段讀出的參數存儲手段、根據所述錯誤訂正手段的錯誤訂正數和不能訂正數等數據測定出錯率的出錯率測定手段、以及從該出錯率測定手段的測定數據檢索決定出錯率為最小的參數的出錯率比較·參數決定手段。在上述結構中，出錯率最小的參數的檢索·決定如下所述處理。參數設定手段依序讀出在參數存儲手段中預先存儲的各種參數，依序變更對于讀取手段的參數的設定。該參數的依序變更由出錯率比較·參數決定手段對參數設定手段進行指令。根據該指令，參數設定手段從參數存儲手段讀出指定的參數。對于每一這樣依序變更的參數，在出錯率測定手段進行出錯率測定。測定的各參數的出錯率被送往出錯率比較·參數決定手段暫時存儲。依序設定規定種類的參數，分別用各參數測定出錯率后，出錯率比較·參數決定手段對存儲的每一參數的出錯率數據進行比較，檢索決定出錯率最小的參數。利用參數設定手段將決定的參數設定于讀取手段。借助于此，讀取手段被設定于出錯率最小的讀取動作。以上說明的參數設定通常只在盤片重放裝置出廠時進行一次。專利文獻日本特開平7-78302號公報已有的盤片重放裝置如上所述構成，具有使讀取手段的數據讀取出錯率為最小地設定參數的功能，但是對該參數進行的設定通常只是在出廠時進行一次。因而，設定的參數是在限定的環境條件下固定的，因此除了例如實際重放的盤片上的部分性缺陷外，還存在著環境溫度、環境濕度、磁或振動等對盤片的重放有影響的因素，還有設定的參數對于盤片的替換等不合適的情況，在這樣的情況下不能夠對參數進行再設定是一個問題。
技術實現思路
本專利技術是為解決上述問題而作出的，其目的在于，得到具備檢測盤片上的部分性缺陷、環境溫度、環境濕度、磁或振動等使用環境條件和盤片替換的手段，能夠根據該檢測手段的信息對一度設定的參數進行再設定，經常確保重放性能的盤片重放裝置。本專利技術的盤片重放裝置，其特征在于，具備對于讀取盤片記錄的數據的讀取手段，設定多個參數中使出錯率為最小的參數的出錯率比較·參數決定手段、存儲最小出錯率的出錯率存儲手段、發生使用環境信息的數據的使用環境信息手段、在設定實現所述最小出錯率的參數之后，判定所述使用環境信息的數據是表示規定的變化的數據，而且測定的出錯率相對于所述存儲形成的最小出錯率劣化超過規定量時，用出錯率比較·參數決定手段再度決定使出錯率為最小的參數，利用所述參數設定手段將決定的參數再度設定于所述讀取手段的再調整判斷手段。從而，采用本專利技術的結構，在設定實現最小出錯率的參數之后，測定的出錯率相對于所述最小出錯率劣化超過規定量時，能夠再度設定使出錯率為最小的參數，因此在盤片的重放中，即使由于該盤片上的部分性缺陷、環境溫度、環境濕度、磁或振動等使用環境的關系，出錯率比當初的設定更差，也能夠對讀取手段進行參數的再設定，以此可以確保出錯率的最小化，在盤片的重放中能夠總是確保其重放性能。附圖說明圖1是本專利技術實施形態1的盤片重放裝置的結構方框圖。圖2是本專利技術實施形態1的盤片重放裝置的動作說明用的流程圖。具體實施例方式下面對本專利技術的一實施形態進行說明。實施形態1圖1是本專利技術實施形態1的盤片重放裝置的結構方框圖。圖1中，該盤片重放裝置具備取得記錄于盤片1的信息數據的拾波器(pickup)2、讀取通過該拾波器2輸入的盤片記錄數據的讀取手段3、對該讀取手段3讀取的數據進行錯誤訂正的錯誤訂正手段4以及對訂正錯誤之后的數據進行譯碼再輸出圖像和聲音等各種數據的譯碼手段5構成的重放系統、對所述讀取手段3設定決定其讀取動作特性的參數的參數設定手段6、預先存儲各種所述參數，利用該參數設定手段6讀出的參數存儲手段7、以及根據錯誤訂正手段4的錯誤訂正數和不能訂正數等數據測定出錯率的出錯率測定手段8。而且具有從該出錯率測定手段8測定的數據檢索決定出錯率變為最小的參數的出錯率比較·參數決定手段9、存儲與出錯率比較·參數決定手段9決定的參數對應的最小出錯率的出錯率存儲手段10、檢測溫度、濕度或磁性等環境變化的環境變化檢測手段11、檢測振動的振動檢測手段12、以及檢測盤片的替換的盤片替換檢測手段13。而且具備在設定形成最小出錯率的參數之后，判定來自出錯率測定手段8的出錯率比存儲在所述出錯率存儲手段10形成的最小出錯率劣化超過規定量時，根據來自環境變化檢測手段11、振動檢測手段12或盤片替換檢測手段13等的數據，用出錯率比較·參數決定手段9再度決定使出錯率為最小的參數，利用參數設定手段6將決定的參數再度設定于讀取手段3的再調整判斷手段14。又，上述再調整判斷手段14除了輸入環境變化檢測手段11、振動檢測手段12、以及盤片替換檢測手段13來的信息數據外，還從拾波器2輸入監視盤片上的缺陷用的信息數據。在各種信息中，將來自環境變化檢測手段11、振動檢測手段12、以及拾波器2的信息數據總稱為“使用環境信息”，將這些信息的發生源總稱為“使用環境信息手段”。又，環境變化檢測手段11由檢測環境溫度的溫度傳感器、檢測環境濕度的濕度傳感器、檢測磁的磁傳感器等構成，振動檢測手段12可以用檢測振動的強度的G傳感器等構成，盤片替換檢測手段13可以用光傳感器構成，只要能夠檢測出盤片的替換即可。作為盤片上的缺陷信息的其他取得方法，也可以由再調整判定手段14經常監視出錯率測定手段8測定的出錯率，在該出錯率大于規定值以上時判斷為盤片上發生缺陷。下面用圖2對圖1的盤片重放裝置的動作進行說明。在這里，圖2是動作說明用的流程圖。在圖2，在步驟ST1中，在本重放裝置的動作開始的初期(例如出廠時等)利用參數設定手段6對讀取手段3設定決定其讀取動作的特性的參數。在設定該參數的基礎上，讀取手段3讀取通過拾波器2輸入的盤片1的記錄數據。讀取手段3讀取的數據在錯誤訂正手段4進行錯誤的訂正。經過訂正錯誤的數據被輸入到譯碼手段5，經過譯碼后輸出圖像和聲音等各種數據。在步驟ST2，將錯誤訂正手段4的錯誤訂正信息、即錯誤訂正數和不能訂正數等數據傳送到出錯率測定手段8，出錯率測定手段8根據這些數據進行出錯率測定。測定的出錯率存儲于出錯率比較·參數決定手段9。在步驟ST3，出錯率比較·參數決定手段9判斷是否對規定的全部參數測定了出錯率，在還沒有對全部參數完成出錯率測定的情況下(步驟ST3判斷為NO)，進入步驟ST4。在步驟ST4，出錯率比較·參數決定手段9指示參數設定手段6對讀取手段3選擇設定下述參數。根據上述指示，參數設定手段6從參數存儲手段7讀出規定的參數，對讀取手段3進行設定(步驟ST1)。下面經過步驟ST2進入步驟ST3，進行與上面所述相同的判斷。反復進行上面所述的步驟ST1～步驟ST4，依序變更規定種類的全部參數，對變本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種盤片重放裝置，其特征在于，具備讀取盤片記錄的數據的讀取手段、存儲多種決定所述讀取手段的讀取動作特性用的參數的參數存儲手段、從所述參數存儲手段讀出所要的參數，然后設定于所述讀取手段的參數設定手段、對于所述讀 取手段讀取的數據，在進行錯誤訂正之后通過譯碼手段輸出譯碼數據的錯誤訂正手段、以所述錯誤訂正手段的錯誤訂正結果為依據，測定出錯率的出錯率測定手段、決定使所述測定的出錯率為最小的參數，由所述參數設定手段將其設定為對所述讀取手段決 定的參數的出錯率比較.參數決定手段、從所述出錯率比較.參數決定手段取得最小出錯率并加以存儲的出錯率存儲手段、發生使用環境信息的數據的使用環境信息手段、以及在設定實現所述最小出錯率的參數之后，判定來自所述使用環境信息手 段的使用環境信息的數據是表示規定的變化的數據，而且來自出錯率測定手段的出錯率相對于存儲在所述出錯率存儲手段形成的最小出錯率，劣化超過規定量時，用出錯率比較.參數決定手段再度決定使出錯率為最小的參數，利用所述參數設定手段將決定的參數再度設定于所述讀取手段的再調整判斷手段。...
【技術特征摘要】
JP 2003-10-3 2003-3460381.一種盤片重放裝置，其特征在于，具備讀取盤片記錄的數據的讀取手段、存儲多種決定所述讀取手段的讀取動作特性用的參數的參數存儲手段、從所述參數存儲手段讀出所要的參數，然后設定于所述讀取手段的參數設定手段、對于所述讀取手段讀取的數據，在進行錯誤訂正之后通過譯碼手段輸出譯碼數據的錯誤訂正手段、以所述錯誤訂正手段的錯誤訂正結果為依據，測定出錯率的出錯率測定手段、決定使所述測定的出錯率為最小的參數，由所述參數設定手段將其設定為對所述讀取手段決定的參數的出錯率比較·參數決定手段、從所述出錯率比較·參數決定手段取得最小出錯率并加以存儲的出錯率存儲手段、發生使用環境信息的數據的使用環境信息手...
【專利技術屬性】
技術研發人員：武藤英樹，
申請(專利權)人：三菱電機株式會社，
類型：發明
國別省市：JP[日本]
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