【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】
本專利技術(shù)涉及熱傳遞機(jī)構(gòu),更具體地說,涉及用于移除由電子器件 產(chǎn)生的熱量的熱傳遞機(jī)構(gòu)及冷卻組件。更具體地,本專利技術(shù)涉及一種用 于將冷卻組件界面連接到一個(gè)或多個(gè)產(chǎn)熱電子器件的導(dǎo)熱復(fù)合界面 及其制造方法。
技術(shù)介紹
眾所周知,工作中的電子器件產(chǎn)生熱量。為了將器件結(jié)溫保持在 所希望限度內(nèi),應(yīng)該從該器件移除這些熱量,不能移除熱量會(huì)導(dǎo)致器 件溫度增加,可能引起熱失控情形。電子工業(yè)中的幾個(gè)趨勢(shì)結(jié)合使得 熱管理的重要性增加,包括用于電子器件的熱量移除、包括傳統(tǒng)上較少關(guān)注熱管理的諸如CMOS的技術(shù)。特別,更快和更密集地封裝電 路的需要對(duì)熱管理的重要性有直接影響。首先,功率耗散以及因此的 熱量產(chǎn)生隨器件工作頻率增加而增加。其次,在較低器件結(jié)溫下,可 以增加工作頻率。最后,隨著在單個(gè)芯片上封裝越來越多的器件,功 率密度(瓦/cm2)增加,使得需要從給定尺寸的芯片或模塊移除更多 功率。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
冷卻技術(shù)利用空氣或水將熱量帶離電子器件,并將熱量?jī)A泄到周 圍環(huán)境。具有熱管或蒸汽室的熱沉是通常使用的空氣冷卻器件,而在 水冷方法中冷板是最主流的。對(duì)于這兩種冷卻組件,必須將冷卻組件 耦合到電子器件。該耦合可能在冷卻組件和電子器件之間SI起界面熱 阻(thermal interface resistance )。因此用于將冷卻組件耦合到電子器件的界面應(yīng)該提供用于將熱從電子器件傳遞到冷卻組件的有效熱 路徑。另外,半導(dǎo)體工藝已發(fā)展到在單個(gè)集成電路芯片上設(shè)置多個(gè)邏輯 單元和與其相關(guān)的控制和支持電路的程度。從熱學(xué)觀點(diǎn),這導(dǎo)致器件 具有高度不均勻的熱通量分布。在處理器內(nèi)核區(qū)域中產(chǎn)生較高熱通 量 ...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種用于將冷卻組件耦合到至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的導(dǎo)熱復(fù)合界面,該導(dǎo)熱復(fù)合界面包括: 多個(gè)導(dǎo)熱引線,其包括具有第一導(dǎo)熱率的第一材料; 熱界面材料,當(dāng)在冷卻組件和至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面之間采用所述導(dǎo)熱復(fù)合界面時(shí),該熱界面材料至少部分地圍繞所述多個(gè)導(dǎo)熱引線,并將該冷卻組件熱界面連接到所述待冷卻表面,該熱界面材料包括具有第二導(dǎo)熱率的第二材料,其中所述第一材料的第一導(dǎo)熱率大于所述第二材料的第二導(dǎo)熱率;以及 其中當(dāng)采用所述導(dǎo)熱復(fù)合界面來耦合該冷卻組件和待冷卻表面時(shí),所述多個(gè)導(dǎo)熱引線中的至少一些導(dǎo)熱引線部分地駐留在至少一個(gè)較高熱通量的第一區(qū)域上方,并部分地在至少一個(gè)較低熱通量的第二區(qū)域上方延伸,該至少一個(gè)第一區(qū)域和該至少一個(gè)第二區(qū)域包括所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面的不同區(qū)域,以及其中所述至少一些導(dǎo)熱引線用作熱擴(kuò)散器,用于促進(jìn)從所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面到該冷卻組件的熱傳遞。
【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】US 2006-6-16 11/424,6421. 一種用于將冷卻組件耦合到至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的導(dǎo)熱復(fù)合界面,該導(dǎo)熱復(fù)合界面包括多個(gè)導(dǎo)熱引線,其包括具有第一導(dǎo)熱率的第一材料;熱界面材料,當(dāng)在冷卻組件和至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面之間采用所述導(dǎo)熱復(fù)合界面時(shí),該熱界面材料至少部分地圍繞所述多個(gè)導(dǎo)熱引線,并將該冷卻組件熱界面連接到所述待冷卻表面,該熱界面材料包括具有第二導(dǎo)熱率的第二材料,其中所述第一材料的第一導(dǎo)熱率大于所述第二材料的第二導(dǎo)熱率;以及其中當(dāng)采用所述導(dǎo)熱復(fù)合界面來耦合該冷卻組件和待冷卻表面時(shí),所述多個(gè)導(dǎo)熱引線中的至少一些導(dǎo)熱引線部分地駐留在至少一個(gè)較高熱通量的第一區(qū)域上方,并部分地在至少一個(gè)較低熱通量的第二區(qū)域上方延伸,該至少一個(gè)第一區(qū)域和該至少一個(gè)第二區(qū)域包括所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面的不同區(qū)域,以及其中所述至少一些導(dǎo)熱引線用作熱擴(kuò)散器,用于促進(jìn)從所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面到該冷卻組件的熱傳遞。2. 如權(quán)利要求1所述的導(dǎo)熱復(fù)合界面,其中當(dāng)在該冷卻組件和所 述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面之間采用所述導(dǎo)熱復(fù)合界面 時(shí),所述至少一些導(dǎo)熱引線至少部分地懸置在該熱界面材料內(nèi)。3. 如權(quán)利要求1或2所述的導(dǎo)熱復(fù)合界面,其中當(dāng)采用所述導(dǎo)熱 復(fù)合界面來耦合該冷卻組件和所述待冷卻表面時(shí),所述多個(gè)導(dǎo)熱引線 中的所述至少一些導(dǎo)熱引線被引線鍵合到該冷卻組件的表面或所述 至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面中的至少一個(gè)。4. 如權(quán)利要求3所述的導(dǎo)熱復(fù)合界面,其中所述至少一些導(dǎo)熱引 線每一個(gè)被分開地在第一端引線鍵合到所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面的所述至少一個(gè)較高熱通量的第一區(qū)域中。5. 如權(quán)利要求4所述的導(dǎo)熱復(fù)合界面,其中當(dāng)采用所述導(dǎo)熱復(fù)合 界面來耦合所述冷卻組件和所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表 面時(shí),所述至少一些導(dǎo)熱引線的每一個(gè)的第二端被設(shè)置在所述至少一 個(gè)較低熱通量的第二區(qū)域上方,并且懸置在熱界面材料內(nèi)、部分地接 觸所述冷卻組件、或被附著到所述冷卻組件的表面。6. 如任一在前的權(quán)利要求所述的導(dǎo)熱復(fù)合界面,其中所述多個(gè)導(dǎo) 熱引線的第一材料包括金、銅、鋁或石墨中的至少一種,以及其中所 述熱界面材料的第二材料包括導(dǎo)熱脂、環(huán)氧樹脂、彈性體材料或液態(tài) 金屬之一。7. 如任一在前的權(quán)利要求所述的導(dǎo)熱復(fù)合界面,其中該第一材料 的第一導(dǎo)熱率比該第二材料的第二導(dǎo)熱率的十倍大,以及其中所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件包括集成電路芯片、多集成電路芯片、單芯片模 塊或多芯片模塊中的至少一種。8. 如任一在前的權(quán)利要求所述的導(dǎo)熱復(fù)合界面,還包括多個(gè)引線 鍵合的突柱,當(dāng)采用該導(dǎo)熱復(fù)合界面來耦合所述冷卻組件和所述待冷 卻表面時(shí),其附著到所述冷卻組件的表面或所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器 件的待冷卻表面中的至少一個(gè)上,以及其中每個(gè)引線鍵合的突柱被配置為隔離柱,用以在采用所述導(dǎo)熱復(fù)合界面來耦合所述冷卻組 件和所述待冷卻表面時(shí),在所述冷卻組件和所述待冷卻表面之間提供 間隔;和/或排列在所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的待冷卻表面的所述至少一 個(gè)較高熱通量的第一區(qū)域上方,以促進(jìn)來自該區(qū)域的熱的傳遞。9. 一種冷卻式電子組件包括冷卻組件;至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件,其包括待冷卻表面,其中該待冷卻表面 包括至少一個(gè)較高熱通量的第一區(qū)域和至少一個(gè)較低熱通量的第二 區(qū)&戈;以及耦合該冷卻組件和該待冷卻表面的導(dǎo)熱復(fù)合界面,該導(dǎo)熱復(fù)合界 面包括多個(gè)導(dǎo)熱引線,其包括具有第一導(dǎo)熱率的第一材料; 熱界面材料,其至少部分地圍繞所述多個(gè)導(dǎo)熱引線并將該冷卻組 件熱界面連接到所述至少一個(gè)產(chǎn)熱電子器件的所述待冷卻表面,該熱 界面材料包括具有第二導(dǎo)熱率的第二材料,其中所述第一材料的第一 導(dǎo)熱率大于所述第二材料的第二導(dǎo)熱率;以及其中所述多個(gè)導(dǎo)熱引線中的至少一些導(dǎo)熱引線部分地駐留在所 述至少一個(gè)較高熱...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:L坎貝爾,R朱,M埃里斯沃斯,K福格爾,馬德胡蘇丹英加爾,羅格施米德,羅伯特西蒙斯,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:國際商業(yè)機(jī)器公司,
類型:發(fā)明
國別省市:US[美國]
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