一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構制造技術

本實用新型專利技術提出一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構，包括外殼、控制板、底蓋，外殼內設有放置槽，控制板固定收容于放置槽內，底蓋與外殼固定連接并遮擋放置槽，外殼上設有測試部和控制部，控制部位于測試部一側，測試部包括插接位、兩個支撐軌道，插接位位于兩個支撐軌道之間，插接位與控制板電連接，控制部包括第一指示燈、第二指示燈、按鍵，第一指示燈位于第二指示燈一側，按鍵遠離第二指示燈，第一指示燈、第二指示燈、按鍵均與控制板電連接；本基于PCIE多接口SSD測試的控制結構采用平躺的結構對PCIE固態硬盤電路板進行固定，且測試過程快速簡單，有助于工人對PCIE固態硬盤電路板進行快速測試，提高工作效率。提高工作效率。提高工作效率。

【技術實現步驟摘要】
一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構


[0001]本技術涉及儲存設備
，尤其涉及一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構。

技術介紹

[0002]SSD固態硬盤用固態電子存儲芯片陣列而制成的硬盤，SSD固態硬盤的穩定性決定了其寫入和讀取數據資料的安全性。斷電測試是固態硬盤穩定性測試方案中的一項重要內容，而傳統的PCIE固態硬盤斷電測試是通過serialtek、Quarch等大公司制作的專用設備，動則幾千美元甚至幾萬美元不等，操作復雜，功能鎖定，擴展性差。
[0003]而在進行測試前，需要將PCIE固態硬盤電路板插接在與測試設備相連的接口上，插完后需要操作設備才能進行測試，測試完成后仍需用力拔出，整個過程繁瑣且費時費力，不利于工人快速進行測試。
[0004]為此，有必要提出一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構來解決上述問題。

技術實現思路

[0005]為了解決上述問題，本技術提出一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構來解決上述問題。
[0006]本技術通過以下技術方案實現的：
[0007]本技術提出一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構，包括外殼、控制板、底蓋，所述外殼內設有放置槽，所述控制板固定收容于所述放置槽內，所述底蓋與所述外殼固定連接并遮擋所述放置槽，所述外殼上設有測試部和控制部，所述控制部位于所述測試部一側，所述測試部包括插接位、兩個支撐軌道，所述插接位位于兩個支撐軌道之間，所述插接位與所述控制板電連接，所述控制部包括第一指示燈、第二指示燈、按鍵，所述第一指示燈位于所述第二指示燈一側，所述按鍵遠離所述第二指示燈，所述第一指示燈、所述第二指示燈、所述按鍵均與所述控制板電連接。
[0008]進一步的，兩個所述支撐軌道之間設有用于避讓PCIE固態硬盤電路板上的凸起元器件的第一避讓槽。
[0009]進一步的，所述外殼一端設有用于避讓測試員手指的第二避讓槽。
[0010]進一步的，兩個所述支撐軌道上均設有遮擋板，兩個所述遮擋板對稱設置。
[0011]進一步的，所述外殼一端設有用于與外部設備連接的連接口，所述連接口與所述控制板電連接。
[0012]進一步的，所述控制部兩側設有便于拿捏的手抓位。
[0013]進一步的，所述手抓位上設有多個依次排列的防滑凸起結構。
[0014]進一步的，所述控制部包括蜂鳴器，所述蜂鳴器靠近所述第一指示燈。
[0015]本技術的有益效果：
[0016]本技術提出的一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構，包括外殼、控制板、
底蓋，外殼內設有放置槽，控制板固定收容于放置槽內，底蓋與外殼固定連接并遮擋放置槽，外殼上設有測試部和控制部，控制部位于測試部一側，測試部包括插接位、兩個支撐軌道，插接位位于兩個支撐軌道之間，插接位與控制板電連接，控制部包括第一指示燈、第二指示燈、按鍵，第一指示燈位于第二指示燈一側，按鍵遠離第二指示燈，第一指示燈、第二指示燈、按鍵均與控制板電連接；在PCIE固態硬盤電路板進行斷電或數據傳輸測試前，先通過連接線插入連接口使得控制板與外部電腦相連，然后將PCIE固態硬盤電路板順著支撐軌道插入插接位上，插入后按下按鍵則開始自動測試，若第一指示燈亮起且蜂鳴器響起，則說明該PCIE固態硬盤電路板質量未達標，若第二指示燈亮起則說明該PCIE固態硬盤電路板質量達標，有助于工人快速對PCIE固態硬盤電路板進行測試；綜上所述，本基于PCIE多接口SSD測試的控制結構采用平躺的結構對PCIE固態硬盤電路板進行固定，且測試過程快速簡單，有助于工人對PCIE固態硬盤電路板進行快速測試，提高工作效率。
附圖說明
[0017]圖1為本技術的基于PCIE多接口SSD測試的控制結構的爆炸圖；
[0018]圖2為本技術的基于PCIE多接口SSD測試的控制結構的整體示意圖；
[0019]圖3為本技術的基于PCIE多接口SSD測試的控制結構的外殼示意圖。
具體實施方式
[0020]為了更加清楚完整的說明本技術的技術方案，下面結合附圖對本技術作進一步說明。
[0021]請參考圖1
?
圖3，本技術提出一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構，包括外殼1、控制板2、底蓋3，外殼1內設有放置槽11，控制板2固定收容于放置槽11內，底蓋3與外殼1固定連接并遮擋放置槽11，外殼1上設有測試部12和控制部13，控制部13位于測試部12一側，測試部12包括插接位121、兩個支撐軌道122，插接位121位于兩個支撐軌道122之間，插接位121與控制板2電連接，控制部13包括第一指示燈131、第二指示燈132、按鍵133，第一指示燈131位于第二指示燈132一側，按鍵133遠離第二指示燈132，第一指示燈131、第二指示燈132、按鍵133均與控制板2電連接；控制部13包括蜂鳴器135，蜂鳴器135靠近第一指示燈131。
[0022]在本實施方式中：
[0023]外殼1用于為控制板2提供一個保護的結構；
[0024]放置槽11用于為控制板2提供一個放置的空間；
[0025]測試部12用于為外部待測試的PCIE固態硬盤電路板提供一個測試的位置；
[0026]插接位121用于為外部待測試的PCIE固態硬盤電路板提供一個插接的位置，其上設有兩個接口，分別是miniSAS連接接口和SFF8639連接接口；
[0027]支撐軌道122用于為外部待測試的PCIE固態硬盤電路板在插入時提供一個滑動的支撐結構；
[0028]控制部13用于為用戶提供一個操控的位置；
[0029]第一指示燈131為紅燈，用于為測試人員提供指示；
[0030]第二指示燈132為綠燈，用于為測試人員提供指示；
[0031]按鍵133共有2個，一個是啟動開關，另一個是測試按鍵；
[0032]蜂鳴器135用于為測試人員提供提醒的提示音；
[0033]控制板2為本基于PCIE多接口SSD測試的控制結構的電路板，其為STC89C52RC單片機；
[0034]底蓋3用于為控制板2提供一個保護的結構；
[0035]具體的，在PCIE固態硬盤電路板進行斷電或數據傳輸測試前，先通過連接線插入連接口15使得控制板2與外部電腦相連，然后將PCIE固態硬盤電路板順著支撐軌道122插入插接位上，插入后按下按鍵133則開始自動測試，若第一指示燈131亮起且蜂鳴器135響起，則說明該PCIE固態硬盤電路板質量未達標，若第二指示燈132亮起則說明該PCIE固態硬盤電路板質量達標，有助于工人快速對PCIE固態硬盤電路板進行測試；
[0036]綜上所述，本基于PCIE多接口SSD測試的控制結構采用平躺的結構對PCIE固態硬盤電路板進行固定，且測試過程快速簡單，有助于工人對PCIE固態硬盤電路板進行快速測試，提高工作效率。
[003本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種基于PCIE多接口SSD測試的控制結構，其特征在于，包括外殼、控制板、底蓋，所述外殼內設有放置槽，所述控制板固定收容于所述放置槽內，所述底蓋與所述外殼固定連接并遮擋所述放置槽，所述外殼上設有測試部和控制部，所述控制部位于所述測試部一側，所述測試部包括插接位、兩個支撐軌道，所述插接位位于兩個支撐軌道之間，所述插接位與所述控制板電連接，所述控制部包括第一指示燈、第二指示燈、按鍵，所述第一指示燈位于所述第二指示燈一側，所述按鍵遠離所述第二指示燈，所述第一指示燈、所述第二指示燈、所述按鍵均與所述控制板電連接。2.根據權利要求1所述的基于PCIE多接口SSD測試的控制結構，其特征在于，兩個所述支撐軌道之間設有用于避讓PCIE固態硬盤電路板上的凸起元器件的第一避讓槽。3.根據權利要求1所述的基于PCIE多接口SSD測試的...

【專利技術屬性】
技術研發人員：王遠軍，
申請(專利權)人：深圳市領德創科技有限公司，
類型：新型
國別省市：