一種埋容埋阻基板測試插座制造技術

本實用新型專利技術公開了一種埋容埋阻基板測試插座，包括翻蓋組件、用于固定埋容埋阻基板的基板固定組件、下探針組件、基座PCB以及底座；所述翻蓋組件包括移動壓板，所述移動壓板下表面依次設置有蓋板PCB以及上探針組件，所述基板固定組件、下探針組件、基座PCB以及底座按照自上而下的順序依次鎖緊連接，蓋合時，所述埋容埋阻基板上表面觸點通過上探針組件與蓋板PCB相導通，下表面觸點通過下探針組件與基座PCB相導通。本實用新型專利技術使埋容埋阻基板檢測時定位準確，保證觸點良好接觸，提高檢測數據的準確性，同時也適用于相近尺寸的不同埋容埋阻基板檢測使用。基板檢測使用。基板檢測使用。

【技術實現步驟摘要】
一種埋容埋阻基板測試插座


[0001]本技術涉及半導體集成電路
，尤其涉及一種埋容埋阻基板測試插座。

技術介紹

[0002]撓性埋容埋阻基板測試需要確保測試時基板的平整度，并保證基板相對于測試插座的定位(該基板整體是撓性的，觸點小且密集)，快速且準確的檢測電容電阻等的參數。
[0003]傳統的測試方式需要測試人員手動用電橋的兩極去接觸待測元器件的兩個極點，從而測出參數。埋容埋阻基板薄且是可彎曲的撓性體，整體面積大，觸點很小且分布密集，正反面都有觸點。對于傳統測試方式而言存在以下兩點缺陷，一是埋容埋阻基板的測試觸點非常小，電橋表筆難以定位；二是埋容埋阻的測試觸點分布在基板兩側，人工測量難以同時接觸對準。
[0004]因此，需要設計一種埋容埋阻基板測試插座來解決上述問題。

技術實現思路

[0005]為克服上述缺點，本技術的目的在于提供一種埋容埋阻基板測試插座，使埋容埋阻基板檢測時定位準確，保證觸點良好接觸，提高檢測數據的準確性，同時也適用于相近尺寸的不同埋容埋阻基板檢測使用。
[0006]為了達到以上目的，本技術采用的技術方案是：一種埋容埋阻基板測試插座，包括翻蓋組件、用于固定埋容埋阻基板的基板固定組件、下探針組件、基座PCB以及底座；所述翻蓋組件包括移動壓板，所述移動壓板下表面依次設置有蓋板PCB以及上探針組件，所述基板固定組件、下探針組件、基座PCB以及底座按照自上而下的順序依次鎖緊連接，蓋合時，所述埋容埋阻基板上表面觸點通過上探針組件與蓋板PCB相導通，下表面觸點通過下探針組件與基座PCB相導通，埋容埋阻基板上下表面均與探針充分接觸，保證信號傳輸的穩定性。
[0007]進一步的，所述翻蓋組件還包括翻蓋本體以及旋轉測試機構，所述移動壓板通過若干導向螺釘與翻蓋本體活動連接，所述旋轉測試機構包括與所述翻蓋本體上表面螺紋連接的旋鈕，轉動所述旋鈕時，所述旋鈕底部能推動移動壓板，使其沿導向螺釘向遠離翻蓋本體的方向移動，通過導向螺釘對移動壓板的移動方向以及移動距離進行導向，合蓋檢測時，轉動旋鈕，旋鈕底部能夠將移動壓板上的上探針組件壓緊在埋容埋阻基板上表面，使埋容埋阻基板上表面的觸點能與探針一充分接觸，進一步保證埋容埋阻基板上表面觸點與蓋板PCB之間信號導通的精確度以及穩定性。
[0008]進一步的，所述翻蓋本體一端通過鉸接件與下探針組件邊沿可翻轉連接，另一端設置有一夾緊機構，所述夾緊機構包括與翻蓋本體相鉸接的翻蓋夾，所述翻蓋夾上與下探針組件扣合的一端設置有卡鉤，所述下探針組件上開設有與所述卡鉤相適配的卡槽口，通過卡鉤與卡槽口的相互配合，進一步保證埋容埋阻基板上下表面的觸點與上探針組件以及
下探針組件的充分接觸，保證后續信號傳輸的穩定性。
[0009]進一步的，所述上探針組件包括上探針固定板以及位于所述上探針固定板上的探針一，所述上探針固定板通過鎖緊件與移動壓板固定連接，所述下探針組件包括下探針固定板以及探針二，埋容埋阻基板上下表面觸點僅通過上探針組件與下探針組件進行接觸，分別實現與蓋板PCB以及基座PCB的信號導通，減少了與外部檢測點間的轉接件，整個測試插座的內阻減小，進一步保證檢測參數的準確性。
[0010]進一步的，所述基板固定組件包括基板定位板以及與其可拆卸連接的基板固定板，所述埋容埋阻基板位于基板定位板以及基板固定板之間，且所述基板定位板上設置有供埋容埋阻基板上的定位孔插入的定位銷，所述基板固定板上開設有供上探針組件與埋容埋阻基板上表面觸點相接觸的通槽，所述基板定位板通過鎖緊件與下探針固定板螺紋連接。
[0011]埋容埋阻基板的每個區間上都設置有相對應的定位孔，擰開鎖緊件，則可根據埋容埋阻基板上的不同區間的檢測需求，調整埋容埋阻基板與基板定位板之間的相對位置，并通過將基板定位板上的定位銷插入相對應的定位孔內實現埋容埋阻基板的精確定位，無需對埋容埋阻基板進行剪裁即可進行多個區間的檢測。
[0012]基板固定組件、上探針組件以及下探針組件均可拆卸連接，在需要檢測相近尺寸的不同埋容埋阻基板時，僅需要更換不同的基板固定組件以及上下探針組件即可，使該測試插座具有良好的兼容性。
[0013]進一步的，所述蓋板PCB以及下探針固定板上均設置有若干分別對上探針組件以及基板定位板定位的定位銷釘，實現測試插座組合安裝過程中的精確定位。
[0014]進一步的，所述移動壓板上開設有供蓋板PCB放入的讓位凹槽，所述蓋板PCB與基座PCB上分別設置有若干相對應的標識觸點，通過電橋檢測蓋板PCB以及基座PCB上的同一標識觸點即可獲取相應的測試參數，操作更簡便。
[0015]本技術的有益效果：
[0016]本技術通過基板固定組件對埋容埋阻基板進行位置調整以及定位，使埋容埋阻基板檢測時定位準確，對相近尺寸的埋容埋阻基板進行檢測時，可隨時更換不同的基板固定組件以及上下探針組件從而滿足測試需求；對埋容埋阻基板上的其他區間進行檢測時，無需剪裁埋容埋阻基板，可通過擰開基板固定組件，調節埋容埋阻基板與基板固定組件的相對位置，即可檢測埋容埋阻基板上的其他位置區間，有效提高該測試插座的實用性；蓋合時，移動壓板將上探針組件壓緊在埋容埋阻基板上，此時能夠保證埋容埋阻基板上表面以及下表面的觸點均與探針良好接觸，提高檢測數據的準確性，使用電橋表筆檢測蓋板PCB以及基座PCB上同一標識觸點即可獲取相應的檢測參數。
附圖說明
[0017]圖1為本技術一實施例的整體結構軸側圖；
[0018]圖2為本技術一實施例的另一視角整體結構軸側圖；
[0019]圖3為本技術一實施例的部分結構爆炸圖；
[0020]圖4為本技術一實施例的測試狀態整體結構截面圖；
[0021]圖中：1、翻蓋組件；101、翻蓋本體；102、夾緊機構；1021、翻蓋夾；1022、卡鉤；103、
旋轉測試機構；1031、旋鈕；104、移動壓板；105、導向螺釘；2、鉸接件；3、蓋板PCB；4、上探針組件；41、上探針固定板；42、探針一；5、定位銷釘；6、鎖緊件；7、基板固定組件；71、基板定位板；72、基板固定板；8、埋容埋阻基板；9、下探針組件；91、下探針固定板；92、探針二；93、卡槽口；10、基座PCB；11、底座。
具體實施方式
[0022]下面結合附圖對本技術的較佳實施例進行詳細闡述，以使本技術的優點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本技術的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
[0023]參見附圖1至4所示，本實施例中的一種埋容埋阻基板測試插座，包括翻蓋組件1、用于固定埋容埋阻基板8的基板固定組件7、下探針組件9、基座PCB10以及底座11；所述翻蓋組件1包括移動壓板104，所述移動壓板104下表面依次設置有蓋板PCB3以及上探針組件4，所述蓋板PCB3能夠將埋容埋阻基板8上表面觸點與人工檢測觸點之間的信號進行轉換；所述基板固定組件7、下探針組件9、基座PCB10以及底座本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種埋容埋阻基板測試插座，其特征在于：包括翻蓋組件(1)、用于固定埋容埋阻基板(8)的基板固定組件(7)、下探針組件(9)、基座PCB(10)以及底座(11)；所述翻蓋組件(1)包括移動壓板(104)，所述移動壓板(104)下表面依次設置有蓋板PCB(3)以及上探針組件(4)，所述基板固定組件(7)、下探針組件(9)、基座PCB(10)以及底座(11)按照自上而下的順序依次鎖緊連接，蓋合時，所述埋容埋阻基板(8)上表面觸點通過上探針組件(4)與蓋板PCB(3)相導通，下表面觸點通過下探針組件(9)與基座PCB(10)相導通。2.根據權利要求1所述的一種埋容埋阻基板測試插座，其特征在于：所述翻蓋組件(1)還包括翻蓋本體(101)以及旋轉測試機構(103)，所述移動壓板(104)通過若干導向螺釘(105)與翻蓋本體(101)活動連接，所述旋轉測試機構(103)包括與所述翻蓋本體(101)上表面螺紋連接的旋鈕(1031)，轉動所述旋鈕(1031)時，所述旋鈕(1031)底部能推動移動壓板(104)，使其沿導向螺釘(105)向遠離翻蓋本體(101)的方向移動。3.根據權利要求2所述的一種埋容埋阻基板測試插座，其特征在于：所述翻蓋本體(101)一端通過鉸接件(2)與下探針組件(9)邊沿可翻轉連接，另一端設置有一夾緊機構(102)，所述夾緊機構(102)包括與翻蓋本體(101)相鉸接的翻蓋夾(1021)，所述翻蓋夾(1021)上與下探針組件(9...

【專利技術屬性】
技術研發人員：饒桐，侯燕兵，王強，賀濤，金永斌，丁寧，朱偉，
申請(專利權)人：法特迪精密科技蘇州有限公司，
類型：新型
國別省市：