開關自動測試系統、方法、電子設備及存儲介質技術方案

本發明專利技術揭示了一種開關自動測試系統、方法、電子設備及存儲介質，所述自動測試系統包括上位機測控模塊、伺服定位模塊、高低溫沖擊模塊、電壓采集模塊及LCR測試模塊；伺服定位模塊用以固定待測開關，并控制待測開關做精確距離移動；高低溫沖擊模塊用以罩住待測開關，對待測開關進行預設溫度的加溫測試；電壓采集模塊連接待測開關，用以對待測開關進行電壓采集；LCR測試模塊連接待測開關，用以對待測開關的LCR參數進行測試。本發明專利技術提出的開關自動測試系統、方法、電子設備及存儲介質，可提高測試的自動化程度，提高測試的精確度。提高測試的精確度。提高測試的精確度。

【技術實現步驟摘要】
開關自動測試系統、方法、電子設備及存儲介質


[0001]本專利技術屬于開關測試
，涉及一種開關測試系統，尤其涉及一種開關自動測試系統、方法、電子設備及存儲介質。

技術介紹

[0002]對于線圈式接近開關參數的測試，需要測出接近開關在不同溫度下，在一定的距離范圍內每個距離點下對應的輸出電壓、RP、Ls、Lp、Q值，并保存這些參數值；目前市面上沒有滿足這些測試要求的整套測試系統。現有測試方式通常是手動測試，或者僅針對部分功能的測試，效率較低。
[0003]有鑒于此，如今迫切需要設計一種新的開關測試方式，以便克服現有開關測試方式存在的上述至少部分缺陷。

技術實現思路

[0004]本專利技術提供一種開關自動測試系統、方法、電子設備及存儲介質，可提高測試的自動化程度，提高測試的精確度。
[0005]為解決上述技術問題，根據本專利技術的一個方面，采用如下技術方案：
[0006]一種開關自動測試系統，所述自動測試系統包括：上位機測控模塊、伺服定位模塊、高低溫沖擊模塊、電壓采集模塊及LCR測試模塊；
[0007]所述上位機測控模塊分別連接伺服定位模塊、高低溫沖擊模塊、電壓采集模塊、LCR測試模塊，用以對所述伺服定位模塊、高低溫沖擊模塊、電壓采集模塊、LCR測試模塊進行控制，并保存開關的測試結果；
[0008]所述伺服定位模塊用以固定待測開關，并控制待測開關做精確距離移動；
[0009]所述高低溫沖擊模塊用以罩住待測開關，對待測開關進行預設溫度的加溫測試；
[0010]所述電壓采集模塊連接待測開關，用以對待測開關進行電壓采集；
[0011]所述LCR測試模塊連接待測開關，用以對待測開關的LCR參數進行測試。
[0012]作為本專利技術的一種實施方式，所述上位機測控模塊包括：
[0013]伺服定位模塊控制單元，用以通過RS485接口連接伺服，設置伺服原點，控制所述伺服定位模塊做絕對運動及絕對往復運動，對距離數據自動讀取保存；
[0014]高低溫沖擊控制單元，用以控制所述高低溫沖擊模塊對待測開關進行
?
40℃、25℃、150℃預設溫度的加溫測試；
[0015]電壓采集控制單元，用以通過USB接口控制所述電壓采集模塊采集電壓，并對電壓測試結果自動保存；
[0016]LCR測試模塊控制單元，用以通過USB接口控制所述LCR測試模塊讀取線圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一個，并對此結果自動保存。
[0017]作為本專利技術的一種實施方式，所述高低溫沖擊模塊用以罩住待測開關，對待測開關進行
?
40℃、25℃、150℃加溫測試。
[0018]作為本專利技術的一種實施方式，所述高低溫沖擊模塊包括產生高低溫沖擊設備和耐高低溫材料做的保溫罩，通過設置高低溫設備使輸出
?
40℃、25℃、150℃氣流，氣流加入到保溫罩中，對待測件進行溫度調節，同時能采集反饋保溫罩中帶測件的環境溫度。
[0019]根據本專利技術的另一個方面，采用如下技術方案：一種開關自動測試方法，所述自動測試方法包括：
[0020]伺服定位步驟；伺服定位模塊固定待測開關，并控制待測開關做精確距離移動；
[0021]高低溫沖擊步驟；高低溫沖擊模塊罩住待測開關，對待測開關進行預設溫度的加溫測試；
[0022]電壓采集步驟；電壓采集模塊對待測開關進行電壓采集；
[0023]LCR測試步驟；LCR測試模塊對待測開關的設定LCR參數進行測試。
[0024]作為本專利技術的一種實施方式，所述伺服定位步驟包括：上位機測控模塊的伺服定位模塊控制單元通過RS485接口連接伺服定位模塊，設置原點，控制所述伺服定位模塊做絕對運動及絕對往復運動，對距離數據自動讀取保存。
[0025]作為本專利技術的一種實施方式，所述電壓采集步驟包括：上位機測控模塊的電壓采集控制單元通過USB接口控制所述電壓采集模塊采集電壓，并對電壓測試結果自動保存。
[0026]作為本專利技術的一種實施方式，所述LCR測試步驟包括：上位機測控模塊的LCR測試模塊控制單元通過USB接口控制所述LCR測試模塊讀取線圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一個，并對此結果自動保存。
[0027]根據本專利技術的又一個方面，采用如下技術方案：一種電子設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現上述方法的步驟。
[0028]根據本專利技術的又一個方面，采用如下技術方案：一種存儲介質，其上存儲有計算機程序指令，該計算機程序指令被處理器執行時實現上述方法的步驟。
[0029]本專利技術的有益效果在于：本專利技術提出的開關自動測試系統、方法、電子設備及存儲介質，可提高測試的自動化程度，提高測試的精確度。
附圖說明
[0030]圖1為本專利技術一實施例中開關自動測試系統的組成示意圖。
[0031]圖2為本專利技術一實施例中開關自動測試方法的流程圖。
[0032]圖3為本專利技術一實施例中電子設備的組成示意圖。
具體實施方式
[0033]下面結合附圖詳細說明本專利技術的優選實施例。
[0034]為了進一步理解本專利技術，下面結合實施例對本專利技術優選實施方案進行描述，但是應當理解，這些描述只是為進一步說明本專利技術的特征和優點，而不是對本專利技術權利要求的限制。
[0035]該部分的描述只針對幾個典型的實施例，本專利技術并不僅局限于實施例描述的范圍。相同或相近的現有技術手段與實施例中的一些技術特征進行相互替換也在本專利技術描述和保護的范圍內。
[0036]說明書中各個實施例中的步驟的表述只是為了方便說明，本申請的實現方式不受步驟實現的順序限制。
[0037]說明書中的“連接”既包含直接連接，也包含間接連接。
[0038]本專利技術揭示了一種開關自動測試系統，圖1為本專利技術一實施例中開關自動測試系統的組成示意圖；請參閱圖1，所述自動測試系統包括：上位機測控模塊1、伺服定位模塊2、高低溫沖擊模塊3、電壓采集模塊4及LCR測試模塊5。本專利技術可用于測試線圈式接近開關，也可以是其他和距離相關的感應開關。
[0039]所述上位機測控模塊1分別連接伺服定位模塊2、高低溫沖擊模塊3、電壓采集模塊4、LCR測試模塊5，用以對所述伺服定位模塊2、高低溫沖擊模塊3、電壓采集模塊4、LCR測試模塊5進行控制，并保存開關的測試結果。
[0040]所述伺服定位模塊2用以固定待測開關，并控制待測開關做精確距離移動。
[0041]所述高低溫沖擊模塊3用以罩住待測開關，對待測開關進行預設溫度的加溫測試。在一實施例中，所述高低溫沖擊模塊3用以罩住待測開關，對待測開關進行
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40℃、25℃、150℃加溫測試。所述高低溫沖擊模塊3包括產生高低溫沖擊設備和耐高低溫材料做的保溫罩，通過設置高低溫設備使輸出
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40℃、25℃、150℃氣流，氣流加入到保溫罩中，對本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
1.一種開關自動測試系統，其特征在于，所述自動測試系統包括：上位機測控模塊、伺服定位模塊、高低溫沖擊模塊、電壓采集模塊及LCR測試模塊；所述上位機測控模塊分別連接伺服定位模塊、高低溫沖擊模塊、電壓采集模塊、LCR測試模塊，用以對所述伺服定位模塊、高低溫沖擊模塊、電壓采集模塊、LCR測試模塊進行控制，并保存開關的測試結果；所述伺服定位模塊用以固定待測開關，并控制待測開關做精確距離移動；所述高低溫沖擊模塊用以罩住待測開關，對待測開關進行預設溫度的加溫測試；所述電壓采集模塊連接待測開關，用以對待測開關進行電壓采集；所述LCR測試模塊連接待測開關，用以對待測開關的LCR參數進行測試。2.根據權利要求1所述的開關自動測試系統，其特征在于：所述上位機測控模塊包括：伺服定位模塊控制單元，用以連接伺服定位模塊，設置伺服原點，控制所述伺服定位模塊做絕對運動及絕對往復運動，對距離數據自動讀取保存；高低溫沖擊控制單元，用以控制所述高低溫沖擊模塊對待測開關進行預設溫度的加溫測試；電壓采集控制單元，用以控制所述電壓采集模塊采集電壓，并對電壓測試結果自動保存；LCR測試模塊控制單元，用以控制所述LCR測試模塊讀取線圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一個，并對此結果自動保存。3.根據權利要求1所述的開關自動測試系統，其特征在于：所述高低溫沖擊模塊用以罩住待測開關，對待測開關進行
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40℃、25℃、150℃加溫測試。4.根據權利要求1所述的開關自動測試系統，其特征在于：所述高低溫沖擊模塊包括產生高低溫沖擊設備和耐高低溫材料做的保溫罩，通過設置高低溫設備使...

【專利技術屬性】
技術研發人員：黎弋平，
申請(專利權)人：麥歌恩電子上海有限公司，
類型：發明
國別省市：