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    具有組分梯度無機(jī)層的薄膜、其制造方法和顯示裝置制造方法及圖紙

    技術(shù)編號(hào):37396901 閱讀:21 留言:0更新日期:2023-04-30 09:25
    本發(fā)明專利技術(shù)的薄膜通過調(diào)整在包含SiO

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
    具有組分梯度無機(jī)層的薄膜、其制造方法和顯示裝置


    [0001]本專利技術(shù)涉及一種具有組成梯度無機(jī)層的薄膜、其制備方法和顯示裝置。

    技術(shù)介紹

    [0002]隨著IT設(shè)備的發(fā)展所帶來的需求,顯示技術(shù)正在不斷發(fā)展,曲面顯示和通風(fēng)顯示等技術(shù)已經(jīng)步入商業(yè)化進(jìn)程。近來,在同時(shí)要求實(shí)現(xiàn)大屏幕和便攜性的移動(dòng)設(shè)備的領(lǐng)域,優(yōu)選能夠根據(jù)外力靈活彎曲或折疊的柔性顯示裝置。尤其是可折疊的顯示裝置,其最大的優(yōu)點(diǎn)便是不使用時(shí)可折疊縮小,增加便攜性,使用時(shí),展開實(shí)現(xiàn)大屏。
    [0003]透明聚酰亞胺薄膜或超薄玻璃(UTG)被適用于柔性顯示裝置的窗口,但依然存在一些問題,透明聚酰亞胺薄膜易受到外部劃痕的影響,缺乏對(duì)水分或氧氣的阻隔性能,而超薄玻璃則防碎性較弱。因此,窗口表面現(xiàn)適用具有良好的耐刮擦性和耐透濕性的無機(jī)薄膜,如金屬氧化物或金屬氮化物的保護(hù)膜。此外,近年來為了防止外部光在顯示器前表面反射導(dǎo)致可視性下降,正在開發(fā)表面處理技術(shù),用于降低適用于顯示裝置前表面膜的反射率。
    [0004]例如,日本公開專利公報(bào)第2003~098306號(hào)公開了一種膜,其表面由氧化硅層和氧化銦錫層交替堆疊從而具有抗反射效果,同時(shí)通過在其表面上沉積致密的碳基薄膜來賦予其耐刮擦性。然而,問題在于制作該膜須通過單獨(dú)沉積碳基薄膜以提高耐刮擦性,此工藝過于繁瑣且降低了透明度。
    [0005][參考文獻(xiàn)][0006](專利文獻(xiàn)1)日本公開專利公報(bào)第2003~098306號(hào)。

    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    [0007]專利技術(shù)所要解決的課題
    [0008]目前正在開發(fā)與基材的粘接性和透明度優(yōu)異的SiOx薄膜,或具有高耐刮擦性的SiC
    y
    薄膜適用于可折疊顯示裝置窗口的保護(hù)膜,但依然存在SiO
    x
    薄膜缺乏耐刮擦性以及SiC
    y
    薄膜透明度較差的缺點(diǎn)。
    [0009]為了解決這一技術(shù)問題,正在嘗試組合適用SiO
    x
    薄膜和SiC
    y
    薄膜或者應(yīng)用經(jīng)適當(dāng)調(diào)整碳氧比的SiO
    x
    C
    y
    薄膜,但隨著薄膜的數(shù)量增加,折疊時(shí)發(fā)生層間剝離的可能性也會(huì)增加,而目前被熟知的SiO
    x
    C
    y
    薄膜未能充分發(fā)揮SiO
    x
    薄膜和SiC
    y
    薄膜的優(yōu)點(diǎn)。
    [0010]針對(duì)這一問題,本專利技術(shù)通過在厚度方向調(diào)整不同的碳氧比從而實(shí)現(xiàn)可有效提供兼具SiO
    x
    薄膜和SiC
    y
    薄膜優(yōu)點(diǎn)的薄膜。此外,通過將卷對(duì)卷方法應(yīng)用于如反應(yīng)等離子體濺射等沉積工藝,在前端和后端以調(diào)整不同的反應(yīng)氣體注入量,可以有效制備此膜。
    [0011]因此,本專利技術(shù)提供一種可用于保護(hù)折疊顯示裝置窗口的薄膜、其制造方法和包含其的顯示裝置,其具有優(yōu)異的光學(xué)性、耐刮擦性及折疊性。
    [0012]解決課題的技術(shù)手段
    [0013]根據(jù)一個(gè)實(shí)施例,本專利技術(shù)提供一種薄膜,包含基底層和第一無機(jī)層,所述第一無機(jī)層設(shè)置在所述基底層的一側(cè)表面;其中所述第一無機(jī)層包含碳氧化硅SiO
    x
    C
    y
    ,且氧含量比和
    碳含量比在厚度方向發(fā)生變化。
    [0014]根據(jù)另一實(shí)施例,本專利技術(shù)提供一種薄膜的制備方法包含在基底層的一側(cè)表面沉積所述第一無機(jī)層的步驟,其中,所述第一無機(jī)層包含碳氧化硅SiO
    x
    C
    y
    ;在所述第一無機(jī)層中,使得氧含量比和碳含量比在厚度方向發(fā)生變化。
    [0015]根據(jù)另一實(shí)施例,本專利技術(shù)提供一種包含實(shí)施例所述的顯示裝置,其包含顯示面板;設(shè)置在所述顯示面板的前表面的窗口;和設(shè)置在所述窗口表面的保護(hù)膜;其中,所述保護(hù)膜包含實(shí)施例中的薄膜。
    [0016]專利技術(shù)效果
    [0017]根據(jù)所述實(shí)施例的薄膜通過在包含所述碳氧化硅SiO
    x
    C
    y
    的無機(jī)層的厚度方向以調(diào)整不同的氧含量比和碳含量比,有效地提供了SiO
    x
    薄膜和SiC
    y
    薄膜的優(yōu)點(diǎn),相較于將這兩種薄膜組合在一起的傳統(tǒng)薄膜,折疊耐久性更加優(yōu)異。
    [0018]具體通過增加包含碳氧化硅SiO
    x
    C
    y
    的無機(jī)層兩側(cè)中與基底層粘接面的氧含量比,并在另一側(cè)增加碳含量比,以此提高與基底層的粘接力和透明度的同時(shí)賦予表面耐刮擦性,并可以將該無機(jī)層實(shí)現(xiàn)為單層。此外,還可以通過層壓結(jié)構(gòu)提供抗反射功能,所述層壓結(jié)構(gòu)由所述無機(jī)層和其他折射率不同的層結(jié)合而成。
    [0019]尤其是上述實(shí)施例的薄膜可以通過將卷對(duì)卷方法適用于如反應(yīng)等離子體濺射等沉積工藝,在前端和后端以調(diào)整不同的反應(yīng)氣體注入量,從而有效地制備而成。
    [0020]因此,上述實(shí)施例的薄膜可適用于保護(hù)如折疊顯示裝置等需要具備光學(xué)特性、戶外可視性、耐刮擦性和折疊性的多種產(chǎn)品的保護(hù)膜。
    附圖說明
    [0021]圖1顯示一實(shí)施例的薄膜橫截面。
    [0022]圖2顯示另一實(shí)施例的薄膜橫截面。
    [0023]圖3顯示一實(shí)施例的薄膜制備方法。
    [0024]圖4顯示另一實(shí)施例的薄膜制備方法。
    [0025]圖5顯示根據(jù)一實(shí)施例的薄膜的無機(jī)層深度的SIMS結(jié)果。
    [0026]圖6顯示薄膜樣品的折疊測(cè)試的一例。
    [0027]圖7顯示一實(shí)施例的顯示裝置的分解透視圖。
    [0028]圖8a和8b分別顯示外折疊和內(nèi)折疊類型的柔性顯示裝置。
    [0029]附圖標(biāo)記說明
    [0030]1:顯示裝置,1a:內(nèi)折疊式柔性顯示裝置,1b:外折疊式柔性顯示裝置,3:折疊測(cè)試儀,10:(保護(hù))薄膜,10a:薄膜樣品,20:窗口,30:顯示面板,100:基底層,201:高氧比的粒子,202:高碳比的粒子,210:第一無機(jī)層,211:第一面,212:第2面,220:第二無機(jī)層300:靶材,310:第一靶材,320:第二靶材,330:第三靶材,340:第四靶材,350:第五靶材,401:第一噴嘴,402:第二噴嘴,501:放電氣體,502:反應(yīng)氣體,600:等離子體,710:滾筒,720:解卷輥,730:卷繞輥,T:第一無機(jī)層的厚度,p1、p2:折疊點(diǎn)。
    具體實(shí)施方式
    [0031]下面將參考附圖詳細(xì)說明各種實(shí)施例。
    [0032]在說明實(shí)施例時(shí),如果確定相關(guān)已知結(jié)構(gòu)或功能的特定描述可能模糊實(shí)施例的要點(diǎn),則省略其詳細(xì)描述。此外,圖中每個(gè)結(jié)構(gòu)要素的大小可以為了說明目的而被夸大或省略,并且可能與實(shí)際應(yīng)用的大小不同。
    [0033]在本文中,描述一個(gè)結(jié)構(gòu)要素形成于其它結(jié)構(gòu)要素之上/之下,或者彼此連接或結(jié)合,包括通過直接形成或介于其它結(jié)構(gòu)要素間接地形成、連接或結(jié)合。還應(yīng)當(dāng)理解,每個(gè)結(jié)構(gòu)要素的上/下的基準(zhǔn)可因觀察物體的方向而異。
    [0034]這里用來指代每個(gè)結(jié)構(gòu)要素的術(shù)語是用來區(qū)別于其它結(jié)構(gòu)要素的,并不用于限制實(shí)施例。此外,除非另有說明單數(shù)在此表示上下文未明確指代的復(fù)數(shù)的表達(dá)方式
    [003本文檔來自技高網(wǎng)
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    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    【技術(shù)特征摘要】
    1.一種薄膜,包含:基底層,和第一無機(jī)層,所述第一無機(jī)層設(shè)置在所述基底層的一側(cè)表面;所述第一無機(jī)層包含碳氧化硅SiO
    x
    C
    y
    ,且氧含量比和碳含量比在厚度方向發(fā)生變化。2.如權(quán)利要求1所述的薄膜,其特征在于,所述第一無機(jī)層具有與所述基底層相向的第一表面,和與所述第一表面相反的第二表面;隨著從第一表面到第二表面而氧含量比逐漸減小,碳含量比逐漸增加。3.如權(quán)利要求2所述的薄膜,其特征在于,所述第一表面中,氧O:碳C的原子比為1.5~1.9:0.1~0.5,所述第二表面中,氧O:碳C的原子比為0.05~0.1:0.8~0.9。4.如權(quán)利要求2所述的薄膜,其特征在于,所述薄膜具有40%~60%的由下式定義的Txy:Txy(%)=[(T0
    ?
    T1)/T0]
    ×
    100其中,T0為所述第一無機(jī)層的厚度,單位為nm;T1為從所述第二表面到所述第一表面的厚度方向上通過SIMS進(jìn)行成分分析時(shí),測(cè)量到氧與碳的原子比x/y為2的地點(diǎn)的深度(nm)。5.如權(quán)利要求2所述的薄膜,從所述第一無機(jī)層的第二表面到第一表面的厚度方向上通過SIMS進(jìn)行成分分析時(shí),隨著測(cè)量深度每增加10nm,與上述第二表面的碳含量相比,碳含量減少4%~8%。6.如權(quán)利要求1所述的薄膜,其特征在于,將所述薄膜的尺寸裁切為長15cm寬2.54cm,在常溫條件下,以每2秒1次的速度重復(fù)折疊試驗(yàn)使基底層向內(nèi)折疊并使其曲率半徑為2R,直至發(fā)生層間剝離或開裂,此時(shí)折疊次數(shù)達(dá)到40000次以上,總透光率為85%以上;根據(jù)JIS
    ?
    5400...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:李镕旭樸鐘湖
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:愛思開希高科技材料有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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