本發(fā)明專利技術(shù)涉及X射線檢查裝置、X射線檢查系統(tǒng)以及X射線檢查方法，X射線檢查裝置具備：輸送部，輸送物品；電磁波照射部，將第一能量帶的第一電磁波以及第二能量帶的第二電磁波照射到物品上；電磁波傳感器，檢測照射到物品上的第一電磁波以及第二電磁波；以及控制部，輸入電磁波傳感器的檢測結(jié)果。控制部生成基于第一電磁波的檢測結(jié)果的第一透射圖像和基于第二電磁波的檢測結(jié)果的第二透射圖像，利用在第一透射圖像以及第二透射圖像中映出的與物品以外的背景有關(guān)的亮度分布，實(shí)施包括針對第一透射圖像以及第二透射圖像的減影處理的圖像處理，基于通過減影處理得到的差分圖像，判定物品中有無異物。有無異物。有無異物。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
X射線檢查裝置、X射線檢查系統(tǒng)以及X射線檢查方法
[0001]本公開涉及X射線檢查裝置、X射線檢查系統(tǒng)以及X射線檢查方法。
技術(shù)介紹
[0002]作為現(xiàn)有的X射線檢查裝置，例如已知有日本特開2012
?
73056號公報(bào)所記載的裝置。日本特開2012
?
73056號公報(bào)所記載的X射線檢查裝置，具備：X射線源，對被檢查物照射X射線；傳感器單元，具有檢測從X射線源照射的第一能量帶的X射線的第一傳感器以及檢測第二能量帶的X射線的第二傳感器；圖像生成部，基于由第一傳感器檢測出的X射線數(shù)據(jù)生成被檢查物的第一透射圖像，同時(shí)基于由第二傳感器檢測出的X射線數(shù)據(jù)生成被檢查物的第二透射圖像；以及檢查部，基于由圖像生成部生成的圖像進(jìn)行檢查。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
[0003]在上述那樣的X射線檢查裝置中，例如物品的輸送速度越高，對該物品的X射線照射時(shí)間越短。因此，被檢查物的檢查精度降低。
[0004]本公開的一個(gè)方面的目的在于，提供即使提高物品的輸送速度也能夠防止該物品的檢查精度的降低的X射線檢查裝置、X射線檢查系統(tǒng)以及X射線檢查方法。
[0005]本公開的一個(gè)方面所涉及的X射線檢查裝置具備：輸送部，輸送物品；電磁波照射部，將第一能量帶的第一電磁波以及比第一能量帶高的第二能量帶的第二電磁波照射到物品上；電磁波傳感器，檢測照射到物品上的第一電磁波以及第二電磁波；以及控制部，輸入電磁波傳感器的檢測結(jié)果。控制部生成基于第一電磁波的檢測結(jié)果的第一透射圖像和基于第二電磁波的檢測結(jié)果的第二透射圖像，利用在第一透射圖像以及第二透射圖像中映出的與物品以外的背景有關(guān)的亮度分布，實(shí)施包括針對第一透射圖像以及第二透射圖像的減影處理的圖像處理，并基于通過減影處理得到的差分圖像，判定物品中有無異物。
[0006]根據(jù)該X射線檢查裝置，控制部利用在第一透射圖像以及第二透射圖像中映出的與物品以外的背景有關(guān)的亮度分布，實(shí)施包括針對第一透射圖像以及第二透射圖像的減影處理的圖像處理。通過使用這樣實(shí)施利用了上述亮度分布的圖像處理而得到的差分圖像，可以實(shí)施高精度的能量分析處理。由此，例如即使提高輸送部對物品的輸送速度，也能夠防止該物品的檢查精度的降低。
[0007]也可以是，圖像處理還包括：LUT生成處理，基于表示第一透射圖像中的每個(gè)灰度的像素?cái)?shù)的第一數(shù)據(jù)、以及表示第二透射圖像中的每個(gè)灰度的像素?cái)?shù)的第二數(shù)據(jù)，生成用于使第一透射圖像與第二透射圖像的明度一致的LUT(查找表)；LUT校正處理，直接或間接地利用亮度分布來校正LUT的至少一部分；以及圖像校正處理，利用校正后的LUT，校正第一透射圖像的明度，對圖像校正處理后的第一透射圖像和第二透射圖像實(shí)施減影處理。在該情況下，使用利用亮度分布校正后的LUT來校正第一透射圖像。由此，容易生成適當(dāng)?shù)牟罘謭D像。
[0008]也可以是，控制部確定第一灰度和第二灰度，所述第一灰度是亮度分布中像素?cái)?shù)
最多的灰度，所述第二灰度是亮度分布中像素?cái)?shù)最少的灰度中比第一灰度低且最接近第一灰度的灰度；并對LUT中從第一灰度到第二灰度的至少一部分進(jìn)行校正。在該情況下，容易生成更適當(dāng)?shù)牟罘謭D像。
[0009]也可以是，控制部以LUT中從第一灰度到第二灰度成比例地增加的方式進(jìn)行校正。在該情況下，可以簡單且良好地校正LUT。
[0010]也可以是，在LUT校正處理中，利用基于亮度分布生成的校正用LUT來校正LUT的至少一部分。
[0011]也可以是，電磁波傳感器具有檢測互不相同的多個(gè)能量帶的X射線的傳感器部件。
[0012]本公開的另一個(gè)方面所涉及的X射線檢查系統(tǒng)具備：X射線檢查裝置，其具有：輸送部，輸送物品；電磁波照射部，將第一能量帶的第一電磁波以及比第一能量帶高的第二能量帶的第二電磁波照射到物品上；以及電磁波傳感器，檢測照射到物品上的第一電磁波以及第二電磁波；以及控制裝置，輸入X射線檢查裝置的檢測結(jié)果。控制裝置生成基于第一電磁波的檢測結(jié)果的第一透射圖像和基于第二電磁波的檢測結(jié)果的第二透射圖像；并利用在第一透射圖像以及第二透射圖像中映出的與物品以外的背景有關(guān)的亮度分布，實(shí)施包括針對第一透射圖像以及第二透射圖像的減影處理的圖像處理。
[0013]根據(jù)該X射線檢查系統(tǒng)，控制裝置利用在第一透射圖像以及第二透射圖像中映出的與物品以外的背景有關(guān)的亮度分布，實(shí)施包括針對第一透射圖像以及第二透射圖像的減影處理的圖像處理。通過這樣實(shí)施利用了上述亮度分布的圖像處理，得到差分圖像。并且，通過使用該差分圖像，可以實(shí)施高精度的能量分析處理。由此，例如即使提高輸送部對物品的輸送速度，也能夠防止該物品的檢查精度的降低。
[0014]本公開的又一個(gè)方面所涉及的X射線檢查方法具備：電磁波照射步驟，對輸送中的物品照射第一能量帶的第一電磁波以及比第一能量帶高的第二能量帶的第二電磁波；圖像生成步驟，生成基于第一電磁波的檢測結(jié)果的第一透射圖像，同時(shí)生成基于第二電磁波的檢測結(jié)果的第二透射圖像；圖像處理步驟，利用在第一透射圖像以及第二透射圖像中映出的與物品以外的背景有關(guān)的亮度分布，實(shí)施包括針對第一透射圖像以及第二透射圖像的減影處理的圖像處理；以及異物判定步驟，基于圖像處理步驟后得到的差分圖像，判定物品中有無異物。
[0015]根據(jù)該X射線檢查方法，利用在第一透射圖像以及第二透射圖像中映出的與物品以外的背景有關(guān)的亮度分布，實(shí)施包括針對第一透射圖像以及第二透射圖像的減影處理的圖像處理。通過使用這樣實(shí)施利用了上述亮度分布的圖像處理而得到的差分圖像，能夠?qū)嵤└呔鹊哪芰糠治鎏幚怼Ｓ纱耍缂词固岣咻斔筒繉ξ锲返妮斔退俣龋材軌蚍乐乖撐锲返臋z查精度的降低。
附圖說明
[0016]圖1是一個(gè)實(shí)施方式所涉及的X射線檢查裝置的結(jié)構(gòu)圖。
[0017]圖2是圖1所示的屏蔽箱的內(nèi)部的結(jié)構(gòu)圖。
[0018]圖3的(a)是表示第一透射圖像的圖，圖3的(b)是表示第二透射圖像的圖。
[0019]圖4是表示與背景圖像中的灰度對應(yīng)的像素?cái)?shù)的直方圖。
[0020]圖5的(a)是表示與第一透射圖像中的灰度對應(yīng)的像素?cái)?shù)的直方圖，圖5的(b)是表
示與第一透射圖像中的灰度對應(yīng)的累計(jì)像素?cái)?shù)的直方圖。
[0021]圖6的(a)是表示與第二透射圖像中的灰度對應(yīng)的像素?cái)?shù)的直方圖，圖6的(b)是表示與第二透射圖像中的灰度對應(yīng)的累計(jì)像素?cái)?shù)的直方圖。
[0022]圖7是表示基于第一數(shù)據(jù)以及第二數(shù)據(jù)生成的LUT的圖表。
[0023]圖8的(a)是用于說明LUT的校正處理的主要部分放大圖，圖8的(b)是表示校正后的LUT的圖表。
[0024]圖9是表示校正后的第一透射圖像的圖。
[0025]圖10是表示差分圖像的圖。
[0026]圖11是表示比較例所涉及的差分圖像的圖。
[0027]圖12的(a)是包括表示與通過第一能量帶的X射線照射而得到的背景圖像的灰度對應(yīng)的像素?cái)?shù)的直方圖和圖5的(a)所示的直方圖的圖，圖12的(b)是包括表示與通過第二能量本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
【技術(shù)特征摘要】
1.一種X射線檢查裝置，具備：輸送部，輸送物品；電磁波照射部，將第一能量帶的第一電磁波以及比所述第一能量帶高的第二能量帶的第二電磁波照射到所述物品上；電磁波傳感器，檢測照射到所述物品上的所述第一電磁波以及所述第二電磁波；以及控制部，被輸入所述電磁波傳感器的檢測結(jié)果，所述控制部生成基于所述第一電磁波的檢測結(jié)果的第一透射圖像和基于所述第二電磁波的檢測結(jié)果的第二透射圖像；直接或間接地利用在所述第一透射圖像以及所述第二透射圖像中映出的與所述物品以外的背景有關(guān)的亮度分布，實(shí)施包括針對所述第一透射圖像以及所述第二透射圖像的減影處理的圖像處理；并基于通過所述減影處理得到的差分圖像，判定所述物品中有無異物。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線檢查裝置，其中，所述圖像處理還包括：LUT生成處理，基于表示第一透射圖像中的每個(gè)灰度的像素?cái)?shù)的第一數(shù)據(jù)、以及表示第二透射圖像中的每個(gè)灰度的像素?cái)?shù)的第二數(shù)據(jù)，生成用于使所述第一透射圖像與所述第二透射圖像的明度一致的LUT；LUT校正處理，直接或間接地利用所述亮度分布來校正所述LUT的至少一部分；以及圖像校正處理，利用校正后的所述LUT，校正所述第一透射圖像的明度，對所述圖像校正處理后的所述第一透射圖像和所述第二透射圖像實(shí)施所述減影處理。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線檢查裝置，其中，所述控制部確定第一灰度和第二灰度，所述第一灰度是所述亮度分布中像素?cái)?shù)最多的灰度，所述第二灰度是所述亮度分布中像素?cái)?shù)最少的灰度中比所述第一灰度低且最接近所述第一灰度的灰度；并對所述LUT中從所述第一灰度到所述第二灰度的至少一部分進(jìn)行校正。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的X射線檢查裝置，其中，所述控制部以所述...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：吉田圭佑，萬木太，
申請(專利權(quán))人：株式會社石田，
類型：發(fā)明
國別省市：
還沒有人留言評論。發(fā)表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。