一種熒光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法及測試裝置制造方法及圖紙

本發明專利技術涉及真空紫外激發領域，尤其涉及等離子顯示屏熒光粉抗真空紫外光性能的測試方法，步驟如下１）將熒光粉壓在帶槽玻璃片上，放置在玻璃放電管中；２）金屬電極貼在玻璃放電管外壁上；３）對玻璃放電管抽真空，充入惰性氣體后密封；４）將高頻交流電壓加在金屬電極上，調整電壓激發惰性氣體放電，激發熒光粉發光；５）在玻璃放電管內老化。測試裝置，包括，玻璃放電管，金屬電極，高頻高壓電源，在帶槽玻璃片的槽中設置有熒光粉，放置在玻璃放電管中，金屬電極設置在玻璃放電管的外壁上，電極連接高頻高壓電源，在玻璃放電管的兩端部分別設置有進氣管道與排氣管道。本發明專利技術可以簡單快捷地完成對ＰＤＰ熒光粉的抗真空紫外光劣化性能的測試。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及真空紫外激發領域，尤其涉及等離子顯示屏PDP熒光 粉抗真空紫外光劣化情況的測試方法與測試裝置。技術背景目前，等離子顯示屏(Plasma Display Panel)熒光粉抗真空 紫外光劣化測試方面，大多是使用標準147nm光源燈在真空系統中直 接激發熒光粉，進行抗真空紫外光劣化測試。還有方法是制作一種VUV 燈，其原理是仿照氣體放電原理，利用燈管制作工藝，在玻璃放電管 內接入兩個對等電極，往管內充入惰性氣體，然后封接，給電極兩端 加上電壓，從而使惰性氣體放電，產生短波長的紫外光。在真空系統 中直接激發熒光粉，進行抗真空紫外光劣化測試。以上兩種方法都存在很多弊端，第一種方法，由于標準147mn光 源比較昂貴，是好多用戶都很難接受，加之長時間的老化，會影響光 源燈的壽命。第二種方法，雖然比較經濟容易實現，但是由于從燈管 中所產生的短波長紫外光被玻璃所吸收，使其激發在熒光粉表面的紫 外光能量很弱，達不到熒光粉的老化要求。
技術實現思路
針對現有技術中用于測試等離子顯示屏熒光粉的抗真空紫外光 劣化性能的方法成本高，紫外光被玻璃所吸收的技術問題，本專利技術提出一種熒光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置，包括，玻璃放電管， 一對金屬電極,高頻高壓電源，在帶槽玻璃片的槽中設置有熒光粉，帶 槽玻璃片上覆蓋著玻璃片，覆蓋著玻璃片的帶槽玻璃片及其上的熒光 粉設置在玻璃放電管中， 一對金屬電極相對應設置在玻璃放電管的外 壁上，電極的一端連接高頻高壓電源的一端，電極的一端連接高頻高 壓電源的另一端，在玻璃放電管的兩端部分別設置有進氣管道與排氣 管道。一種等離子顯示屏熒光粉抗真空紫外劣化性能測試方法，包括如 下步驟1 )將熒光粉壓制在帶槽玻璃片上，在帶槽玻璃片上蓋上另一塊 玻璃片，然后然后將覆蓋著另一塊玻璃片的帶槽玻璃片及其上的熒光 粉放置在玻璃放電管中；2) 將一對金屬電極貼在玻璃放電管外壁相對應的位置上，并加 以固定；3) 用真空泵對玻璃放電管進行抽真空排氣作業，當玻璃放電管 內的真空度達到10'5Pa的壓力后，往玻璃放電管內充入惰性混合氣體 到100Torr后密封玻璃放電管；4) 將4一1 5KV的高頻交流電壓加在一對金屬電極上，調整電 壓為1一3KV，繼續激發惰性氣體放電，電離出147nm和172nm紫外 光，激發熒光粉發光；5 )在玻璃放電管內老化24-72小時后，將熒光粉取出放到真空 紫外光譜儀上進行老化后進行亮度和光譜測試，將具體測試數據與老化前的亮度和光譜的測試數據進行對比，評價熒光粉的真空紫外劣化 性能。所述的玻璃放電管徑在3 4cm，具體尺寸根據帶槽玻璃片的尺寸 大小來決定。所述的電極是銅電極，其寬度至少在lcm，兩電極之間的距離需 要根據玻璃放電管大小來調節，電極長度根據被測試樣品數來定。所述步驟3)中的玻璃放電管的兩端可以封閉或者不封閉，玻璃 放電管中的真空度達到10-5Pa的壓力。所述步驟3)中的玻璃放電管的真空度用惰性氣體的壓力來衡量， 至少在100Torr。本專利技術的真空紫外激發系統，用于測試PDP熒光粉的抗真空紫外 光劣化性能，本專利技術在玻璃放電管內無電極，電極是貼在玻璃放電管 外面對應放置的，在電極上加上高頻高壓電壓，使其激發管內的混合 惰性氣體分子產生147nm和172nm紫外輻射，從而激發PDP熒光粉 發光。熒光粉在放電管內老化一段時間后，取出放到真空紫外光譜儀 上進行老化前和老化后亮度、光譜對比測試，從而就可以評價熒光粉 的真空紫外劣化性能。本專利技術可以簡單快捷地完成對PDP熒光粉的抗 真空紫外光劣化性能的測試。 附圖說明圖1為本專利技術熒光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置示意圖之一。 圖2為本專利技術熒光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置示意圖之二。具體實施方式如圖1所示，本專利技術的測試裝置包括玻璃放電管l，帶槽玻璃 片3，帶槽玻璃片3上設置有一方槽，需檢測的熒光粉4被玻璃片5 壓在淺方槽中，覆蓋有玻璃片5的帶槽玻璃片3及其上的熒光粉4被 擺放在玻璃放電管1里面，幾個帶槽玻璃片3依次排開，玻璃放電管1 的管徑在3 4cm，可以根據使用的帶槽玻璃片3的尺寸大小來決定。 玻璃放電管1的兩端分別設置有進氣管道9與排氣管道10，進氣管道 9與排氣管道10是與玻璃放電管1連通的細玻璃管，用來抽氣和充入 惰性氣體。 一對呈圓弧形狀的金屬電極6 、 7設置在玻璃放電管1的外 壁上，金屬電極的圓弧形狀與玻璃放電管的圓形相吻合，相向設置，金 屬電極6 、 7分別連接高頻高壓電源8的兩端。寬度至少在lcm，兩電 極之間的距離根據玻璃放電管1大小來調節，電極距離不同，放電的 氣壓也不同，電極距離越大，氣壓越小，所要求電壓越低，優選數值 為100Torr。電極的長度尺寸根據需要測試的樣品數量來確定。本專利技術的玻璃放電管1不封閉，如圖1所示，圖2是本專利技術的玻 璃放電管1封閉，其使用過程與圖1的使用過程是一樣的。一種等離子顯示屏熒光粉抗真空紫外劣化性能的測試方法，包括 如下步驟1 )將熒光粉壓制在帶槽玻璃片上,槽的尺寸為20mmX10mmX 0.5mm，在帶槽玻璃片上蓋上另一塊玻璃片，然后然后將覆蓋著另一塊 玻璃片的帶槽玻璃片及其上的熒光粉放置在玻璃放電管中；2)將一對金屬電極貼在玻璃放電管外壁相對應的位置上，并加 以固定；3) 用真空泵對玻璃放電管進行抽真空排氣作業，當玻璃放電管 內的真空度達到l(T5Pa的壓力后，往玻璃放電管內充入惰性混合氣體 到100Torr后密封玻璃放電管；4) 將4一1 5KV的高頻交流電壓加在一對金屬電極上，調整電 壓為1一3KV，繼續激發惰性氣體放電，電離出147nm和172nm紫外 光，激發熒光粉發光；5) 在玻璃放電管內老化24-72小時后，將熒光粉取出放到真空 紫外光譜儀上進行老化后進行亮度和光譜測試，將具體測試數據與老 化前的亮度和光譜的測試數據進行對比，評價熒光粉的真空紫外劣化 性能。把每個樣品測試結果進行計算對比后，就可以得出各個樣品抗 真空紫外劣化性能的好壞。對本專利技術測試裝置對真空度的要求如果玻璃放電管內的氣體是 處于一直對流的狀態的，對真空度則沒有具體要求，但如果玻璃放電 管是封閉的，則需要將玻璃放電管中的氧氣抽干凈。實施例中，申請人將熒光粉放在玻璃放電管l中，在4KV啟動， 升到-15KV后，惰性氣體開始激發時將電壓調到8KV,激發惰性氣體 放電使熒光粉發光后，繼續激發惰性氣體放電，電離出147nm和172nm 紫外光，將電壓調低到2KV進行熒光粉老化，老化時間分別為24小 時、48小時、72小時,進行計算對比后，得出各個樣品抗真空紫外劣化 性能數據。從實驗數據中可以明顯看出，在不同的老化時間段內樣品的亮度 衰減比標準品要大，色度X值上升的幅度也比較大，說明樣品的抗真空紫外劣化性能比較差，具體數據見附表K附表2。真空紫外劣化實驗數據-<table>table see original document page 9</column></row><table>附表2真空紫外劣化分析數據權利要求1.一種熒光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置，包括，玻璃放電管(1)，一對金屬電極(6、7)，高頻高壓電源(8)，其特征在于在帶槽玻璃本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種熒光粉抗真空紫外劣化性能的測試裝置，包括，玻璃放電管（１），一對金屬電極（６、７），高頻高壓電源（８），其特征在于：在帶槽玻璃片（３）的槽中設置有熒光粉（４），帶槽玻璃片（３）上覆蓋著玻璃片（５），覆蓋著玻璃片（５）的帶槽玻璃片（２）及其上的熒光粉（４）設置在玻璃放電管（１）中，一對金屬電極（６、７）相對應設置在玻璃放電管（１）的外壁上，電極（６）的一端連接高頻高壓電源（８）的一端，電極（７）的一端連接高頻高壓電源（８）的另一端，在玻璃放電管（１）的兩端部分別設置有進氣管道（９）與排氣管道（１０）。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：趙翔，郭濤，
申請(專利權)人：彩虹集團電子股份有限公司，
類型：發明
國別省市：61[中國|陜西]