本發明專利技術公開了一種用于納米孔的電流測量方法、裝置、計算機設備及存儲介質，根據預置規則對及檢測通道的數量對檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組。且每一檢測通道組均配置同一種協議，對現有的分組規則對檢測通道進行分組后使用同一協議進行檢測，使得每一檢測通道組均可對納米孔進行匹配檢測，保證納米孔檢測數據的完整性以及準確性。根據用戶采集需求信息及預置的通道采樣頻率確定每一檢測通道組中各檢測通道的測量時間信息，以得到與用戶采集需求相對應的測量時間，可對現有檢測通道處在不同時間區間的檢測通道進行確定，合理分配采集時間，從而對納米孔進行處理得到采集數據，大幅縮短的采集時間，提高了采集效率。提高了采集效率。提高了采集效率。
【技術實現步驟摘要】
一種用于納米孔的電流測量方法、裝置、設備及介質
[0001]本專利技術涉及電流測量
，尤其涉及一種用于納米孔的電流測量方法、裝置、設備及介質。
技術介紹
[0002]隨著制造業的不斷發展，納米孔測量技術向小型化，低成本，高速，高通量發展，人們針對納米孔的采集測量研發出了對大規模納米孔進行測量的方法，在納米孔測量下位機處理中，現有方法有串行采集處理和并行采集處理兩種方法。采用串行處理的方法，所有納米孔數據需要排隊進入到單個測量通道中進行測量，處理時間長，效率低下，一些情況下處理器速度不足以支撐大規模納米孔的測量；而采用并行處理的方法，即同步檢測方法，多個納米孔通道同時發生數據采集行為和同時發生數據處理行為，因為同步的需要，各通道具有一套一模一樣的程序結構，導致程序龐大，資源需求量大，處理器資源緊張，并且同時采集和處理，也意味著大量的時間同時在空閑，浪費了寶貴的時間資源。因此現有技術中對納米孔的測量存在要么測量時間過長，效率低下；要么時間浪費巨大，資源需求巨大的問題。
技術實現思路
[0003]本專利技術實施例提供了一種用于納米孔的電流測量方法、裝置、設備及介質，旨在解決現有技術中的對納米孔的數據進行采集的方法存在處理時間較長和程序龐大，時間利用率低，資源需求量大的問題。
[0004]本專利技術結合串行采集處理和并行采集處理兩種方法的特點，使用了通道分組的方法，即將納米孔集群分為多個檢測通道組，其中各組間使用了并行采集處理的方法，即組間是一模一樣的程序結構和同步發生數據采集和處理行為；組內各通道使用了串行采集處理的方法，即組內使用分時復用的采集和處理方法。
[0005]第一方面，本專利技術實施例提供了一種用于納米孔的電流測量方法，所述方法應用于納米孔采集設備，所述方法包括：根據預置的分組規則對及檢測通道的數量對所述檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組；在每一檢測通道組包含的檢測通道中配置同一種協議；根據用戶輸入的采集需求信息及預置的通道采樣頻率確定每一所述檢測通道組中各檢測通道的測量時間信息；所述測量時間信息包括采集時間區間及處理時間區間；根據各所述檢測通道的采集時間區間對納米孔進行信息采集，得到納米孔采集數據；根據各所述檢測通道的處理時間區間對與所述檢測通道對應的納米孔采集數據進行處理，得到對應的采集處理數據。
[0006]第二方面，本申請實施例還公開了一種用于納米孔的電流測量的裝置，其中，該裝置配置于納米孔采集設備，所述裝置包括：
[0007]檢測通道分組單元，用于根據預置的分組規則對及檢測通道的數量對所述檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組；用于在每一檢測通道組包含的檢測通道中配置同一種協議；
[0008]時間周期測量單元，用于根據用戶輸入的采集需求信息及預置的通道采樣頻率確定每一所述檢測通道組中各檢測通道的測量時間信息；所述測量時間信息包括采集時間區間及處理時間區間；
[0009]納米孔信息采集單元，用于根據各所述檢測通道的采集時間區間對納米孔進行信息采集，得到納米孔采集數據；
[0010]數據處理單元，用于根據各所述檢測通道的處理時間區間對與所述檢測通道對應的納米孔采集數據進行處理，得到對應的采集處理數據。
[0011]第三方面，一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，其中，所述處理器執行所述計算機程序時實現上述第一方面所述的一種用于納米孔的電流測量方法。
[0012]第四方面，一種計算機可讀存儲介質，其中，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，當所述計算機程序被處理器執行時實現上述第一方面所述的一種用于納米孔的電流測量方法。
[0013]本專利技術實施例提供了一種用于納米孔的電流測量方法、裝置、設備及介質。根據預置的分組規則對及檢測通道的數量對所述檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組。且每一檢測通道組包含的檢測通道中配置同一種協議，對現有的分組規則對檢測通道進行分組，使用同一協議進行檢測，使得每一檢測通道組均可對納米孔進行匹配檢測，保證納米孔檢測數據的完整性以及準確性。
[0014]根據用戶輸入的采集需求信息及預置的通道采樣頻率確定每一所述檢測通道組中各檢測通道的測量時間信息，所述測量時間信息包括采集時間區間及處理時間區間，以得到與用戶采集需求相對應的測量時間，可對現有檢測通道處在不同時間區間的檢測通道進行確定，合理分配采集時間，從而對納米孔進行處理得到采集數據，大幅縮短的采集時間，提高了采集效率。
附圖說明
[0015]為了更清楚地說明本專利技術實施例技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本專利技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0016]圖1為本專利技術實施例提供的用于納米孔的電流測量方法的總流程示意圖；
[0017]圖2為本專利技術實施例提供的用于納米孔的電流測量方法的子流程示意圖；
[0018]圖3為本專利技術實施例提供的用于納米孔的電流測量方法的另子流程示意圖；
[0019]圖4為本專利技術實施例提供的一種實施例采集控制時序示意圖；
[0020]圖5為本專利技術實施例提供的復用程序模塊FPGA具體工作原理圖。
[0021]圖6為本專利技術實施例提供的用于納米孔電流檢測裝置流程圖；
[0022]圖7為本專利技術實施例提供的實施例提供的計算機設備的示意性框圖。
具體實施方式
[0023]下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發
明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。
[0024]應當理解，當在本說明書和所附權利要求書中使用時，術語“包括”和“包含”指示所描述特征、整體、步驟、操作、元素和/或組件的存在，但并不排除一個或多個其它特征、整體、步驟、操作、元素、組件和/或其集合的存在或添加。
[0025]還應當理解，在此本專利技術說明書中所使用的術語僅僅是出于描述特定實施例的目的而并不意在限制本專利技術。如在本專利技術說明書和所附權利要求書中所使用的那樣，除非上下文清楚地指明其它情況，否則單數形式的“一”、“一個”及“該”意在包括復數形式。
[0026]還應當進一步理解，在本專利技術說明書和所附權利要求書中使用的術語“和/或”是指相關聯列出的項中的一個或多個的任何組合以及所有可能組合，并且包括這些組合。
[0027]請參閱圖1，如圖所示，該用于納米孔的電流測量方法應用于納米孔采集設備，該納米孔的電流測量方法通過安裝于檢測終端或檢測服務器中的應用軟件執行，納米孔采集設備即是可用于執行納米孔的電流測量方法以對多個納米孔進行檢測，并通過終端回傳給用戶，該采集設備適用于企業或檢測機構配置的工作終端，在第一時間接收用戶采集需求信息，預設本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種用于納米孔的電流測量方法，其特征在于，所述方法應用于納米孔采集設備，所述方法包括：根據預置的分組規則對及檢測通道的數量對所述檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組；在每一檢測通道組包含的檢測通道中配置同一種協議；根據用戶輸入的采集需求信息，及預置的通道采樣頻率確定每一所述檢測通道組中各檢測通道的測量時間信息；所述測量時間信息包括采集時間區間及處理時間區間；根據各所述檢測通道的采集時間區間對納米孔進行信息采集，得到納米孔采集數據；根據各所述檢測通道的處理時間區間對與所述檢測通道對應的納米孔采集數據進行處理，得到對應的采集處理數據。2.根據權利要求1所述的用于納米孔的電流測量方法，其特征在于，所述根據預置的分組規則對及檢測通道的數量對所述檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組，包括：根據所述分組規則所包含的數量閾值對所述檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組，每一檢測通道組包含的檢測通道數量不大于所述數量閾值。3.根據權利要求1所述的用于納米孔的電流測量方法，其特征在于，其特征在于，所述根據預置的分組規則對及檢測通道的數量對所述檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組，包括：根據所述分組規則所包含的通道類型對所述檢測通道進行分組，得到多個檢測通道組。4.根據權利要求1所述的用于納米孔的電流測量方法，其特征在于，所述根據用戶輸入的采集需求信息及預置的通道采樣頻率確定各檢測通道的測量時間信息，包括：根據電信號持續時間及采樣周期計算得到對應的采樣間隔時間；根據預置的處理時間占比及所述采樣間隔時間確定對應的處理時間區間；根據所述電信號持續時長及所述處理時間區間確定錯位時間；根據所述錯位時間依次確定各檢測通道的測量時間信息；所述測量時間信息中采集時間區間與所述電信號持續時間相等。5.根據權利要求1所述的用于納米孔的電流測量方法，其特征在于，所述根據用戶輸入的采集需求信息及預置的通道采樣頻率確定各檢測通道的測量時間信息，包括：根據電信號持續時間及采樣周期計算得到對應的采樣間隔時間；根據預置的處理時間占比及所述采樣間隔時間確定...
【專利技術屬性】
技術研發人員：劉炬坪，周智，
申請(專利權)人：深圳市梅麗納米孔科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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