【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及檢測，尤其涉及一種檢測待檢測樣本的前帶現象的方法和裝置。
技術介紹
1、在使用免疫方法測量樣本中被測抗原抗體濃度時，經常出現抗原過量問題，由此產生的狀況稱為前帶現象。前帶現象表現為：在恒定劑量的抗體溶液中加入不同濃度抗原時，吸光度隨著抗原濃度升高而上升，但當抗原達到一定濃度以上時產生吸光度不增加反而下降的現象。例如，抗原濃度為z1時檢測到吸光度x，但在高濃度區域的抗原濃度z2下由于產生前帶現象而僅僅檢測到與吸光度x相同程度的甚至下降的吸光度。因此，雖然樣本中的實際抗原濃度為高濃度但表觀上被判斷為不存在或低濃度，這樣的前帶現象常常產生抗原濃度測量值偏低的假陰性的結果，給測量帶來很大干擾。因此，如何檢測出樣本是否為具有前帶現象的高濃度抗原樣本顯得尤為重要。
2、上述對
技術介紹
的陳述僅是為了方便對本專利技術技術方案(使用的技術手段、解決的技術問題以及產生的技術效果等方面)的深入理解，而不應當被視為承認或以任何形式暗示該消息構成已為本領域技術人員所公知的現有技術。
技術實現思路
1、本專利技術的目的是提供一種檢測待檢測樣本的前帶現象的方法和裝置，其利用相對殘差均值能夠確定出前帶現象，從而避免檢測出現假陰性的結果，因此提高分析結果的可靠性。
2、根據本專利技術的一個實施方案，提供了一種檢測待檢測樣本的前帶現象的方法，其包括步驟：獲取待檢測樣本的吸光度隨時間變化的反應曲線；計算反應曲線的相對殘差均值；確定相對殘差均值是否小于參考值；當確定出相對殘差均值大于
3、計算反應曲線的相對殘差均值的步驟可以包括：在反應曲線上選取預設起始時間點和預設結束時間點；對預設起始時間點與預設結束時間點之間的反應曲線進行線性回歸，以得到線性回歸方程：
4、y＝ax+b
5、
6、
7、其中，xi是由反應曲線表示的二維變量中的時間，yi是由反應曲線表示的二維變量中的吸光度，是預設起始時間點到預設結束時間點之間的時間點的平均值，是預設起始時間點到預設結束時間點之間的吸光度的平均值，xm是預設起始時間點，xn是預設結束時間點；
8、在得到線性回歸方程之后，通過以下等式計算反應曲線的相對殘差均值rra：
9、
10、其中，s是|yi-(axi+b)|之中的最大值，并且i＝m,m+1,…n-1,n。
11、根據本專利技術的另一個實施方案，提供了一種檢測待檢測樣本的前帶現象的裝置，其包括：至少一個數據處理器；以及至少一個存儲器，其存儲指令，當由所述至少一個數據處理器執行所述指令時，使得執行上述的檢測待檢測樣本的前帶現象的方法。
12、本專利技術采取以上技術方案，其具有以下有益效果：本專利技術利用相對殘差均值能夠確定出前帶現象，從而避免檢測出現假陰性的結果，因此提高分析結果的可靠性。
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1.一種檢測待檢測樣本的前帶現象的方法，其包括步驟：
2.根據權利要求1所述的檢測待檢測樣本的前帶現象的方法，其中，計算反應曲線的相對殘差均值的步驟包括：
3.一種檢測待檢測樣本的前帶現象的裝置，其包括：
【技術特征摘要】
1.一種檢測待檢測樣本的前帶現象的方法，其包括步驟：
2.根據權利要求1所述的檢測待檢測樣本的前帶現象...
【專利技術屬性】
技術研發人員：莊獻民，潘旱霖，劉希，張宜，李曉舟，蔡華雅，趙瀛，潘誠，
申請(專利權)人：北京九強生物技術股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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