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    基于反厄米算符的銅氧化物超導相變建模方法和相互作用放大裝置制造方法及圖紙

    技術編號:42243500 閱讀:18 留言:0更新日期:2024-08-02 13:54
    本發明專利技術提供了一種基于反厄米算符的超導建模方法和相互作用放大裝置,所建立和涉及到的內容包括但不限于:1)反厄米算符的物理意義(作為可觀測量的反厄米算符),2)能級吸引(ζ微擾),3)方程本征值與矩陣本征值的分離及其導致的多電子糾纏態,4)所述多電子糾纏態的編組(Z編組)、其行列式det|φ<subgt;mj</subgt;|和對應的網絡,5)聯合波函數及其表示的聯合矩陣元,6)Z編組內外的電子態之間的相互作用的公式和性質,7)聯合波函數的投影算符,8)基于Z編組的電子態相互作用放大機制,9)聯合波函數的正交關系,10)聯合波函數的電子自旋部分的對稱性與臨界溫度的關系,11)引起ζ微擾的PNSS過程,等等。ζ微擾與CDW微擾的交織對相互作用的放大效應起到了關鍵作用。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及基于反厄米算符的銅氧化物超導相變建模方法和相互作用放大裝置


    技術介紹

    1、超導相變建模需要為已知的超導實驗現象提供機制解釋,就銅氧化物高溫超導來說,最主要的實驗現象包括:反節點區的“峰-坑-脊”(peak-dip-hump,pdh)現象[1];以及,節點區的“折彎”(kink)[2]。

    2、雖然上述現象已被公認為與高溫超導的機制相關,但迄今對該機制的量子理論內容存在不同的解釋。


    技術實現思路

    1、根據本專利技術的一個方面,提供了一種物理相變的建模方法,其特征在于包括:

    2、b)把與晶格電子系中的一部分電子態m的化學勢相關的化學勢算符ζ表征為:

    3、

    4、其中:

    5、φi0,φj0∈m表示態φi0和φj0均是電子態集合m中的態,

    6、表示φi0和φj0均不是電子態集合m中的態,

    7、0≤χij≤1是實的常系數,

    8、c)對集合m中的全部電子態進行編組,該m個電子態滿足關系:

    9、

    10、其中該m個電子包括m1個能量ek<ζk的電子和m2個能量en>ζn的電子,m1+m2=m,k=1,2,......m1,n=1,2,......m2,且:

    11、

    12、其中0<χkn≤1是系數,且χkn=χnk,

    13、d)確定編組造成的電子態的第一微擾,其中所述第一微擾是能級吸引的,并對于編組中的電子態建立行列式λ=det|φmj|,φmj是第一微擾形成的第m個態與第j個態的標積,

    14、e)確定編組內外的各電子態之間的基于定態擾動w的第二微擾,該第二微擾是厄米性的,且用表征編組內的電子態與編組外的電子態|k>之間的相互作用,其中是λ中用wmk替換了第j列,

    15、f)確定步驟b-e的操作所導致的能帶重整所對應的能量減小e(-)與進行這些操作所需的伴隨應變能e(+)的差值δe=|e(-)|-|e(+)|,

    16、g)迭代步驟b-f,對δe進行最大值尋優,尋優的調節參數包括:m組中的態的數目和在k空間中的位置、各χij的取值、所述m1個電子和m2個電子的組合。

    17、根據本專利技術的一個進一步的方面,上述建模方法進一步包括:

    18、a)對于晶格電子系的相互作用矩陣:

    19、{aij},i,j=1,2,3……,

    20、其中i和j各自的取值范圍是晶格中所有的電子態,把aii=0的電子態確定為pnss態,處于為p?nss上的電子為pnss電子,且所述集合m中的電子態均為pnss態,所述pnss態均在集合m中,所述步驟g)包括迭代步驟a-f。

    21、根據本專利技術的一個進一步的方面,上述的建模方法中:

    22、所述基于定態擾動的耦合是電荷密度波引起的電子態耦合,

    23、所述電子態是布洛赫態的疊加態。

    24、根據本專利技術的一個進一步的方面,上述的建模方法中編組造成的電子態的擾動的哈密頓量為h=h0+ζ,

    25、其中:

    26、h0表示該擾動前的電子態的哈密頓量,

    27、ζ是反厄米算符。

    28、根據本專利技術的一個進一步的方面,上述的建模方法中:

    29、所述尋優的調節參數進一步包括:編組的聯合波函數的聯合電子自旋部分的構成,

    30、并包括:

    31、把δe=0作為編組建立實現的臨界點,也就是相變臨界點。

    32、估計本專利技術的又一個方面,提供了一種電子態的相互作用的放大裝置,其特征在于包括:

    33、上述的建模方法所表征的物理系統,

    34、所述相互作用是所述編組對組外電子態的能級排斥作用。

    35、根據本專利技術的一個進一步的方面,上述的放大裝置中,所述物理系統是處于超導狀態的超導體。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種物理相變的建模方法,其特征在于包括:

    2.根據權利要求1所述的建模方法,其特征在于進一步包括:

    3.根據權利要求1所述的建模方法,其特征在于:

    4.根據權利要求1所述的建模方法,其特征在于編組造成的電子態的擾動的哈密頓量為H=H0+ζ,

    5.根據權利要求1所述的建模方法,其特征在于:

    6.一種電子態相互作用的放大裝置,其特征在于包括:

    7.根據權利要求6所述的放大裝置,其特征在于所述物理系統是處于超導狀態的超導體。

    【技術特征摘要】

    1.一種物理相變的建模方法,其特征在于包括:

    2.根據權利要求1所述的建模方法,其特征在于進一步包括:

    3.根據權利要求1所述的建模方法,其特征在于:

    4.根據權利要求1所述的建模方法,其特征在于編組造成的電子態的...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:李強
    申請(專利權)人:田多賢
    類型:發明
    國別省市:

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