【技術實現步驟摘要】
本專利技術有關一種顯示面板及切割顯示面板的精度測試方法。
技術介紹
1、目前顯示面板被切割時是沿著切割線切割，而切割精度是通過儀器量測來進行判定。但是現有技術無法即時有效掌握顯示面板切割精度是否符合規格，例如切割后邊料過多或過少都無法及時發現，而是需要通過尺寸量測才能得知，但是通過尺寸量測仍存在盲點。
2、本“
技術介紹
”段落只是用來幫助了解本
技術實現思路
，因此在“
技術介紹
”中所公開的內容可能包含一些沒有構成本領域技術人員所知道的現有技術。此外，在“
技術介紹
”中所公開的內容并不代表該內容或者本專利技術一個或多個實施例所要解決的問題，也不代表在本專利技術申請前已被本領域技術人員所知曉或認知。
技術實現思路
1、本專利技術提供一種顯示面板及切割顯示面板的精度測試方法，可在顯示面板切割后通過測試治具即時量測顯示面板上的測量點以便有效掌握顯示面板切割精度是否符合規格，且不存在尺寸量測上的盲點。
2、本專利技術的其他目的和優點可以從本專利技術所公開的技術特征中得到進一步的了解。
3、為達到上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本專利技術所提供的顯示面板包括兩第一測量點以及第一導電線，其中兩第一測量點沿著顯示面板的至少一切割邊之一切割邊設置，第一導電線沿著顯示面板的至少一切割邊布設，并以兩第一測量點之一第一測量點作為起點以及兩測量點之另一第一測量點作為終點。
4、為達到上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本專利技術所提供的切割顯示面板的精度測試方
5、本專利技術因在顯示面板上設置測量點及導電線，因此可在顯示面板切割后通過測試治具即時量測顯示面板上的測量點以便有效掌握顯示面板是否過度切割以及其切割精度是否符合規格，且不存在尺寸量測上的盲點，以及同時可實現窄邊框的效果。
6、為讓本專利技術之上述和其他目的、特征和優點能更明顯易懂，下文特舉優選實施例，并配合附圖，作詳細說明如下。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種顯示面板，其特征在于，所述顯示面板包括兩第一測量點以及第一導電線，其中
2.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述第一導電線是氧化銦錫混合物。
3.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述第一導電線與所述至少一切割邊之間具有第一間距。
4.根據權利要求3所述的顯示面板，其特征在于，所述兩第一測量點與所述至少一切割邊之間具有第二間距，且所述第二間距大于或等于所述第一間距。
5.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板還包括兩第二測量點以及第二導電線，其中
6.一種切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述切割顯示面板的精度測試方法包括：
7.根據權利要求6所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述橋接所述顯示面板上的所述兩第一測量點之間的步驟是通過測試治具進行橋接。
8.根據權利要求6所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述切割顯示面板的精度測試方法還包括：
9.根據權利要求8所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，當判斷所述
10.根據權利要求6所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述切割顯示面板的精度測試方法還包括：
11.根據權利要求10所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述橋接所述顯示面板上的所述兩第一測量點之間的步驟以及所述橋接所述顯示面板上的所述兩第二測量點之間的步驟是通過測試治具進行橋接。
12.根據權利要求10所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述切割顯示面板的精度測試方法還包括：
13.根據權利要求12所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，當判斷所述兩第一測量點之間形成通路回路且所述兩第二測量點之間形成開路回路時，所述顯示面板包括所述兩第一測量點、所述兩第二測量點、所述第一導電線以及所述第二導電線，所述兩第一測量點與所述兩第二測量點沿著所述顯示面板的所述至少一切割邊中的一個切割邊設置，且所述兩第二測量點位于所述兩第一測量點之間，所述第一導電線沿著所述顯示面板的所述至少一切割邊布設并以所述兩第一測量點分別作為所述起點以及所述終點，所述第二導電線包括兩線段，且所述兩線段的一端分別連接所述兩第二測量點，所述兩線段的另一端則分別延伸至所述切割邊的邊緣。
...【技術特征摘要】
1.一種顯示面板，其特征在于，所述顯示面板包括兩第一測量點以及第一導電線，其中
2.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述第一導電線是氧化銦錫混合物。
3.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述第一導電線與所述至少一切割邊之間具有第一間距。
4.根據權利要求3所述的顯示面板，其特征在于，所述兩第一測量點與所述至少一切割邊之間具有第二間距，且所述第二間距大于或等于所述第一間距。
5.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板還包括兩第二測量點以及第二導電線，其中
6.一種切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述切割顯示面板的精度測試方法包括：
7.根據權利要求6所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述橋接所述顯示面板上的所述兩第一測量點之間的步驟是通過測試治具進行橋接。
8.根據權利要求6所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，所述切割顯示面板的精度測試方法還包括：
9.根據權利要求8所述的切割顯示面板的精度測試方法，其特征在于，當判斷所述兩第一測量點之間形成通路回路時，所述顯示面板包括沿著所述顯示面板的所述至少一切割邊之切割邊設置的所述兩第一測量點以及沿著所述顯...
【專利技術屬性】
技術研發人員：徐建廷，
申請(專利權)人：蘇州璨曜光電有限公司，
類型：發明
國別省市：
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