【技術實現步驟摘要】
本申請實施例涉及電子信息，尤其是一種閃存open?block測試方法及其相關設備。
技術介紹
1、作為非易失性存儲介質，閃存在眾多應用領域中得到了廣泛應用，數據保持能力對于確保閃存的可靠性尤為關鍵，尤其是在處理未完全編程的塊(open?block)時，相較于已完全編程的塊(closeblock)，open?block的數據保持特性往往較弱，隨著3dtlc閃存的塊大小增加，處于open狀態的塊數量增多，這使得評估open?block的數據保持性能變得更加復雜。
2、目前，評估open?block數據保持性能的方法必須考慮到所有可能的open狀態以及產品的整個壽命周期階段，這導致測試周期可能長達數月甚至一年，從而對產品的上市時間產生不利影響。
技術實現思路
1、本申請實施例提供一種閃存open?block測試方法及其相關設備，能基于壽命初期的比特翻轉數量選出多個目標open?case，進而進行壽命中后期數據保持實驗，以快速有效的評估出open?block的數據保持性能，節省3dtlc閃存的測試時間，并使得測試結論更加穩定可靠。
2、為實現上述目的，本申請實施例的第一方面提供了一種閃存open?block測試方法，包括：獲取閃存open?block的多個測試樣本，并從每個所述測試樣本中選定多個測試塊；對選定的所述多個測試塊進行壽命前期數據保持實驗，獲取所述閃存open?block對應的每個open?case的比特翻轉數量；基于所述比特翻轉數量從所述閃存open?b
3、在一些實施例中，所述對選定的所述多個測試塊進行壽命前期數據保持實驗，獲取所述閃存open?block對應的每個open?case的比特翻轉數量，包括：將選定的所述多個測試塊擦寫到第一目標pecycles，以使所述閃存open?block處于使用壽命的早期階段；分別為每個所述測試塊配置對應的open?case初始狀態，以在預設的環境條件下模擬數據保持實驗，并在實驗中讀取并記錄每個open?case的比特翻轉數量。
4、在一些實施例中，所述基于所述比特翻轉數量從所述閃存open?block對應的多個open?case中選出多個目標open?case，包括：確定所述閃存open?block對應的狀態采樣數量；基于所述比特翻轉數量對所述閃存open?block對應的多個open?case進行排序，得到open?case序列；根據所述狀態采樣數量從所述open?case序列中選出多個目標open?case。
5、在一些實施例中，所述確定所述閃存open?block對應的狀態采樣數量，包括：獲取所述閃存open?block對應的open?case狀態數量；根據所述open?case狀態數量和預設的采樣比例確定狀態采樣數量。
6、在一些實施例中，所述根據所述狀態采樣數量從所述open?case序列中選出多個目標open?case，包括：根據所述狀態采樣數量和預設的采樣分布比例得到第一采樣數量n1、第二采樣數量n2和第三采樣數量n3；從所述open?case序列中選出n1個所述比特翻轉數量最大的目標open?case；從所述open?case序列中選出n2個所述比特翻轉數量靠近中位數的目標open?case；從所述open?case序列中選出n3個所述比特翻轉數量最小的目標opencase。
7、在一些實施例中，所述n1占所述狀態采樣數量的60％，所述n2占所述狀態采樣數量的30％，所述n3占所述狀態采樣數量的10％。
8、在一些實施例中，所述對所述多個目標open?case進行壽命中后期數據保持實驗，包括：將選定的所述多個測試塊擦寫到第二目標pe?cycles，以使所述閃存open?block處于使用壽命的中期階段，對所述多個目標open?case進行數據保持實驗，記錄所述多個目標open?case的中期階段實驗數據；將選定的所述多個測試塊擦寫到第三目標pe?cycles，以使所述閃存open?block處于使用壽命的后期階段，對所述多個目標open?case進行數據保持實驗，記錄所述多個目標open?case的后期階段實驗數據。
9、為實現上述目的，本申請實施例的第二方面提供了一種閃存open?block測試裝置，包括：數據獲取單元，用于獲取閃存open?block的多個測試樣本，并從每個所述測試樣本中選定多個測試塊；壽命前期實驗單元，用于將選定的所述多個測試塊擦寫到第一目標pe?cycles，以進行壽命前期數據保持實驗，獲取所述閃存open?block對應的每個opencase的比特翻轉數量；壽命中后期實驗單元，用于基于所述比特翻轉數量從所述閃存openblock對應的多個open?case中選出多個目標open?case，并對所述多個目標open?case進行壽命中后期數據保持實驗，以基于實驗數據確定所述閃存open?block的數據保持性能。
10、為實現上述目的，本申請實施例的第三方面提出了一種計算機可讀存儲介質，存儲有計算機可執行指令，計算機可執行指令用于執行如第一方面中任意一項實施例所述的閃存open?block測試方法。
11、為實現上述目的，本申請實施例的第四方面提出了一種計算機程序產品，該計算機程序產品包括計算機程序，該計算機程序存儲在計算機可讀存儲介質中。計算機設備的處理器從計算機可讀存儲介質讀取該計算機程序，處理器執行該計算機程序，使得該計算機設備執行實現如第一方面中任意一項實施例所述的閃存open?block測試方法。
12、本申請實施例方案提供的閃存open?block測試方法及其相關設備，可以通過從多個閃存樣片中選定多個測試塊(blocks)，確保涵蓋不同的open狀態；進一步的，將選定的測試塊擦寫到預定的pe?cycles(編程/擦除周期)，使閃存進入其使用壽命的早期階段隨后進行數據保持實驗，記錄每個open?case狀態下數據比特翻轉的數量；進一步的，根據壽命前期實驗獲得的比特翻轉數量，從所有open?case中挑選出多個比特翻轉數量較多的目標open?case，從而確保這些open?case具有代表性；進一步的，對選定的目標open?case進行壽命中后期的數據保持實驗，通過高溫烘烤等加速老化方法，模擬真實使用環境，評估這些open?case在閃存壽命不同階段的數據保持性能；其中，可以理解的是，相比于傳統方法需要覆蓋所有open狀態和壽命周期，本方案僅需挑選多個代表性的目標open?case進行壽命中后期數據保持實驗，可以有效縮短測試周期，以節省3d?tlc閃存的測試時間，且通過篩選比特翻轉數量較多的目標open?case，確保了測試結果的代表性，提高了測試的準確性，使得測試結論更加穩定可靠，進而本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種閃存open?block測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述對選定的所述多個測試塊進行壽命前期數據保持實驗，獲取所述閃存open?block對應的每個open?case的比特翻轉數量，包括：
3.根據權利要求1所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述基于所述比特翻轉數量從所述閃存open?block對應的多個open?case中選出多個目標open?case，包括：
4.根據權利要求3所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述確定所述閃存open?block對應的狀態采樣數量，包括：
5.根據權利要求3所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述根據所述狀態采樣數量從所述open?case序列中選出多個目標open?case，包括：
6.根據權利要求5所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述n1占所述狀態采樣數量的60％，所述n2占所述狀態采樣數量的30％，所述n3占所述狀態采樣數量的10
7.根據權利要求1所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述對所述多個目標open?case進行壽命中后期數據保持實驗，包括：
8.一種閃存open?block測試裝置，其特征在于，包括：
9.一種計算機可讀存儲介質，存儲有計算機可執行指令，其特征在于，所述計算機可執行指令用于執行如權利要求1至7中任意一項所述的閃存open?block測試方法。
10.一種計算機程序產品，包括計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任意一項所述的閃存open?block測試方法。
...【技術特征摘要】
1.一種閃存open?block測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述對選定的所述多個測試塊進行壽命前期數據保持實驗，獲取所述閃存open?block對應的每個open?case的比特翻轉數量，包括：
3.根據權利要求1所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述基于所述比特翻轉數量從所述閃存open?block對應的多個open?case中選出多個目標open?case，包括：
4.根據權利要求3所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述確定所述閃存open?block對應的狀態采樣數量，包括：
5.根據權利要求3所述的閃存open?block測試方法，其特征在于，所述根據所述狀態采樣數量從所述open?case序列中選出多個目標o...
【專利技術屬性】
技術研發人員：賀樂，賴鼐，
申請(專利權)人：珠海妙存科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。