【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及電線電纜的檢測，尤其涉及一種醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法和系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
1、目前，電線電纜是醫(yī)療設(shè)備中用于實現(xiàn)其電氣連接的重要零部件，在醫(yī)療設(shè)備中起著不可替代的作用，醫(yī)療設(shè)備的安全性和性能的高低很大一部分因素取決于電線電纜的質(zhì)量。電容是電線電纜的一個重要工作參數(shù)，電線電纜的電容性能直接影響到醫(yī)療設(shè)備的電氣性能和安全，一旦電容性能出現(xiàn)問題，將導(dǎo)致醫(yī)療設(shè)備無法正常工作或者容易產(chǎn)生事故。
2、在一種現(xiàn)有技術(shù)中，計算電線電纜電容值的方法是基于電纜作為標(biāo)準(zhǔn)圓柱形電容器的模型，其中導(dǎo)電線芯和接地的金屬屏蔽層構(gòu)成了電容器的兩個極板。通過測量電線電纜絕緣層外徑和導(dǎo)電線芯外徑，計算電容值。但是，醫(yī)療設(shè)備中電線電纜的絕緣形式較普通電線電纜要復(fù)雜和多樣化，既有普通電線電纜的絕緣，也有自粘絕緣和金屬繞包等。目前用于電線電纜的電容計算公式只能對普通電線電纜的絕緣進行測量和計算，無法滿足對自粘絕緣和金屬繞包的單獨測量和計算，不能確保測量和計算的準(zhǔn)確性。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)提供了一種醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法及系統(tǒng)，以解決醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容值計算不準(zhǔn)確問題。
2、第一方面，為了解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)提供了一種醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，包括：
3、獲取待測電線電纜的幾何參數(shù)、測試頻率和環(huán)境溫度；
4、根據(jù)所述幾何參數(shù)進行判斷，得到待測電線電纜的絕緣類型；
5、當(dāng)所述絕緣類型為繞包絕緣時，根據(jù)所述幾何參數(shù)、
6、當(dāng)所述絕緣類型為整體絕緣時，根據(jù)所述幾何參數(shù)進行計算，得到整體絕緣電容值和整體絕緣異常值；
7、根據(jù)所述繞包絕緣電容值和所述整體絕緣電容值，進行求和操作，得到待測電線電纜的實際電容值；
8、將所述實際電容值與所述繞包絕緣異常值和整體絕緣異常值進行比較，得到電容測試結(jié)果。
9、在一種可選的實施方式中，所述待測電線電纜的幾何參數(shù)包括待測電線電纜的絞線外徑、絞線內(nèi)徑、絞線直徑、纏繞角、絕緣層厚度、絞線層數(shù)、絕緣層外徑、絕緣層內(nèi)徑、絞線系數(shù)和絞線節(jié)距。
10、在一種可選的實施方式中，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)進行判斷，得到待測電線電纜的絕緣類型，包括：
11、分析所述絞線外徑、絞線內(nèi)徑、絞線直徑和絞線節(jié)距，得到幾何結(jié)構(gòu)特征；
12、當(dāng)所述幾何結(jié)構(gòu)特征顯示出多層結(jié)構(gòu)且包括螺旋形狀時，待測電線電纜的絕緣類型為繞包絕緣；
13、當(dāng)所述幾何結(jié)構(gòu)特征為單一結(jié)構(gòu)時，待測電線電纜的絕緣類型為整體絕緣。
14、在一種可選的實施方式中，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)、所述測試頻率和所述環(huán)境溫度，計算得到繞包絕緣異常值包括：
15、根據(jù)所述測試頻率和所述環(huán)境溫度，計算得到待測電線電纜的相對介電常數(shù)；
16、根據(jù)所述相對介電常數(shù)和所述幾何參數(shù)計算得到繞包絕緣異常值；
17、通過以下公式計算得到繞包絕緣電容值：
18、
19、通過以下公式計算得到繞包絕緣異常值：
20、
21、其中，為待測電線電纜的相對介電常數(shù)，為預(yù)設(shè)的待測電線電纜的標(biāo)準(zhǔn)體積電容值，為待測電線電纜的非均勻絕緣系數(shù)，為測試頻率，為待測電線電纜的第層繞包的徑向尺寸，為待測電線電纜在第層繞包之間的絕緣層與內(nèi)部金屬導(dǎo)體之間的環(huán)向角，是待測電纜的平均繞包徑向尺寸，為待測電線電纜在第層繞包之間的絕緣層與內(nèi)部金屬導(dǎo)體之間的切向電容，為繞包填充系數(shù)，為待測電線電纜在第層繞包與第層繞包之間的絕緣層的軸向尺寸，為填充系數(shù)，是絕緣層的高度，為絕緣層的內(nèi)徑，為絕緣層外徑。
22、在一種可選的實施方式中，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)進行計算，得到整體絕緣電容值和整體絕緣異常值包括：
23、通過以下公式計算得到整體絕緣電容值：
24、
25、通過以下公式計算得到整體絕緣異常值：
26、
27、其中，是待測電線電纜的銅芯的相對介電常數(shù)，是待測電線電纜的銅芯的橫截面積，是待測電線電纜的外徑，是待測電線電纜的外表層的外徑，是待測電線電纜的絕緣層的相對介電常數(shù)，是待測電線電纜的絕緣層總厚度，是待測電線電纜的銅芯與絕緣層之間的間距離，是纏繞角，是填充系數(shù)，為待測電線電纜的相對介電常數(shù)，是絕緣層的厚度，是絞線層數(shù)，是絞線系數(shù)，是絞線直徑，是絞線節(jié)距。
28、在一種可選的實施方式中，所述為待測電線電纜的相對介電常數(shù)包括：
29、通過以下公式計算相對介電常數(shù)：
30、
31、其中，為測試頻率，為環(huán)境溫度，為溫度基準(zhǔn)，和為修正常數(shù)。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述將所述實際電容值與所述繞包絕緣異常值和整體絕緣異常值進行比較，得到電容測試結(jié)果，包括：
32、當(dāng)所述實際電容值大于所述繞包絕緣異常值時，則電容測試結(jié)果為繞包絕緣異常；
33、當(dāng)所述實際電容值小于所述整體絕緣異常值時，則電容測試結(jié)果為整體異常；
34、當(dāng)所述實際電容值大于所述整體絕緣異常值時，則電容測試結(jié)果為無異常；
35、當(dāng)所述實際電容值處于所述繞包絕緣異常值和所述整體絕緣異常值之間時，則電容測試結(jié)果為繞包和整體均有異常。
36、第二方面，本專利技術(shù)提供了一種醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試系統(tǒng)，包括：
37、數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取待測電線電纜的幾何參數(shù)、測試頻率和環(huán)境溫度；
38、絕緣類型判斷模塊，用于根據(jù)所述幾何參數(shù)，進行判斷，得到待測電線電纜的絕緣類型；
39、繞包絕緣計算模塊，當(dāng)所述絕緣類型為繞包絕緣時，根據(jù)所述幾何參數(shù)、所述測試頻率和所述環(huán)境溫度，計算得到繞包絕緣電容值和繞包絕緣異常值；
40、整體絕緣計算模塊，當(dāng)所述絕緣類型為整體絕緣時，根據(jù)所述幾何參數(shù)進行計算，得到整體絕緣電容值和整體絕緣異常值；
41、電容值異常值計算模塊，用于根據(jù)所述絕緣類型和所述電線電纜的幾何參數(shù)、測試頻率和環(huán)境溫度，分別進行繞包絕緣電容異常值和整體絕緣電容異常值計算，得到繞包絕緣異常值和整體絕緣異常值；
42、測試結(jié)果輸出模塊，用于根據(jù)所述實際電容值和所述繞包絕緣異常值與整體絕緣異常值，進行比較，得到電容測試結(jié)果。
43、第三方面，本專利技術(shù)還提供了一種電子設(shè)備，包括處理器、存儲器以及存儲在所述存儲器中且被配置為由所述處理器執(zhí)行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)上述任意一項所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法。
44、第四方面，本專利技術(shù)還提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，所述計算機可讀存儲介質(zhì)包括存儲的計算機程序，其中，在所述計算機程序運行時控制所述計算機可讀存儲介質(zhì)所在設(shè)備執(zhí)行上述任意一項所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法。
45、相比于現(xiàn)有技術(shù)，本本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護點】
1.一種醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，由計算機執(zhí)行，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述待測電線電纜的幾何參數(shù)包括待測電線電纜的絞線外徑、絞線內(nèi)徑、絞線直徑、纏繞角、絕緣層厚度、絞線層數(shù)、絕緣層外徑、絕緣層內(nèi)徑、絞線系數(shù)和絞線節(jié)距。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)進行判斷，得到待測電線電纜的絕緣類型，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)、所述測試頻率和所述環(huán)境溫度，計算得到繞包絕緣異常值包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)進行計算，得到整體絕緣電容值和整體絕緣異常值包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試頻率和所述環(huán)境溫度，計算得到待測電線電纜的相對介電常數(shù)包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征
8.一種醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括處理器、存儲器以及存儲在所述存儲器中且被配置為由所述處理器執(zhí)行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任意一項所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法。
10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)包括存儲的計算機程序，其中，在所述計算機程序運行時控制所述計算機可讀存儲介質(zhì)所在設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求1至7中任意一項所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，由計算機執(zhí)行，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述待測電線電纜的幾何參數(shù)包括待測電線電纜的絞線外徑、絞線內(nèi)徑、絞線直徑、纏繞角、絕緣層厚度、絞線層數(shù)、絕緣層外徑、絕緣層內(nèi)徑、絞線系數(shù)和絞線節(jié)距。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)進行判斷，得到待測電線電纜的絕緣類型，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)、所述測試頻率和所述環(huán)境溫度，計算得到繞包絕緣異常值包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備電線電纜的電容測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述幾何參數(shù)進行計算，得到整體絕緣電容值和整體絕緣異常值包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的醫(yī)療設(shè)備電...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：許高華，黃龍，
申請(專利權(quán))人：三元科技深圳有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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