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    一種帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置制造方法及圖紙

    技術(shù)編號(hào):45216168 閱讀:7 留言:0更新日期:2025-05-09 19:01
    本發(fā)明專(zhuān)利技術(shù)涉及醫(yī)學(xué)成像領(lǐng)域,公開(kāi)了一種帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其包括:粒子束限流器,用于接收并限定由束流噴嘴釋放的帶電粒子束的尺寸及強(qiáng)度,使束流的直徑和強(qiáng)度滿足設(shè)定的要求,以準(zhǔn)確擊中待測(cè)物所在目標(biāo)區(qū)域;四軸坐標(biāo)儀,設(shè)置在待測(cè)物的下部,用于帶動(dòng)待測(cè)物在X、Y、Z方向自由平移,并繞Z軸旋轉(zhuǎn),確保粒子束能精準(zhǔn)覆蓋待測(cè)物所在目標(biāo)區(qū)域;量能器,設(shè)置在待測(cè)物后部,用于測(cè)量粒子能量沉積,并計(jì)算射程和RSP值,將計(jì)算結(jié)果傳輸至數(shù)據(jù)讀出與裝置運(yùn)動(dòng)控制器;數(shù)據(jù)讀出與裝置運(yùn)動(dòng)控制器用于控制四軸坐標(biāo)儀的運(yùn)動(dòng)。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專(zhuān)利技術(shù)涉及一種醫(yī)學(xué)成像,特別是關(guān)于一種帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像(ct)裝置。


    技術(shù)介紹

    1、惡性腫瘤是全球主要的死亡原因之一?,F(xiàn)有的放射治療技術(shù)大多依賴(lài)于基于mev級(jí)x射線的圖像引導(dǎo)方案,這類(lèi)技術(shù)雖然可以提供一定的腫瘤定位功能,但由于光子在組織中的相互作用,健康組織不可避免地受到額外輻射損傷。此外,x射線成像的射程和能量分布信息無(wú)法直接應(yīng)用于帶電粒子治療,需要進(jìn)行信息轉(zhuǎn)換,這引入了射程不確定性,影響了放療的精準(zhǔn)性。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、針對(duì)上述問(wèn)題,本專(zhuān)利技術(shù)的目的是提供一種帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其能精確地定位腫瘤,并有效減少對(duì)健康組織的輻射影響。

    2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本專(zhuān)利技術(shù)采取以下技術(shù)方案:一種帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其包括:粒子束限流器,用于限定由束流噴嘴釋放的帶電粒子束的尺寸及強(qiáng)度,使束流的直徑和強(qiáng)度滿足設(shè)定的要求,以準(zhǔn)確擊中待測(cè)物所在目標(biāo)區(qū)域;四軸坐標(biāo)儀,設(shè)置在待測(cè)物的下部,用于帶動(dòng)待測(cè)物在x、y、z方向自由平移,并繞z軸旋轉(zhuǎn),確保粒子束能精準(zhǔn)覆蓋待測(cè)物所在目標(biāo)區(qū)域;量能器,設(shè)置在待測(cè)物后部,用于測(cè)量粒子能量沉積,并計(jì)算射程和rsp值;裝置運(yùn)動(dòng)控制器用于控制四軸坐標(biāo)儀的運(yùn)動(dòng)。

    3、在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施方式中,粒子束限流器采用單個(gè)小孔結(jié)構(gòu);或,粒子束限流器采用多個(gè)小孔結(jié)構(gòu)。

    4、進(jìn)一步,優(yōu)選的,單個(gè)小孔結(jié)構(gòu)的粒子束限流器,其小孔徑為10μm~2000μm;多個(gè)小孔結(jié)構(gòu)的粒子束限流器,其每個(gè)小孔徑為10μm~2000μm,且多個(gè)小孔進(jìn)行規(guī)則排列,以同時(shí)擊中待測(cè)物的多個(gè)位置。

    5、進(jìn)一步,優(yōu)選的,粒子束限流器用于調(diào)控束流的尺寸與強(qiáng)度,以使粒子束準(zhǔn)確擊中在目標(biāo)區(qū)域。

    6、進(jìn)一步,優(yōu)選的,粒子束限流器與束流接觸面面積大于待測(cè)物的最大截面積。

    7、在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施方案中,四軸坐標(biāo)儀可精確控制待測(cè)物在三維空間中位置,包括在垂直和平行于粒子束方向平面內(nèi)自由平移和垂直于粒子束方向平面內(nèi)自由旋轉(zhuǎn),以確保粒子束的精確對(duì)準(zhǔn)和定位。

    8、在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施方式中,量能器為多層結(jié)構(gòu),每層結(jié)構(gòu)都為一個(gè)探測(cè)層;探測(cè)層采用方硅探測(cè)器或者閃爍體探測(cè)器或者硅像素探測(cè)器或者閃爍光纖。

    9、進(jìn)一步,優(yōu)選的,探測(cè)層的厚度為:

    10、方硅探測(cè)器厚度為100μm~800μm;

    11、閃爍體探測(cè)器的厚度為1mm~3mm;

    12、硅像素探測(cè)器的像素尺寸為20μm~100μm;

    13、閃爍光纖的直徑為0.5mm~1mm。

    14、進(jìn)一步,優(yōu)選的,各探測(cè)層能測(cè)量粒子在該層的能量沉積,布拉格峰位置處的能量沉積最大,由此確定粒子的射程和rsp值;通過(guò)對(duì)rsp值進(jìn)行換算,得到粒子在患者體內(nèi)的水等效路徑。

    15、在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施方案中,裝置運(yùn)動(dòng)控制器結(jié)合計(jì)算機(jī)軟件,能夠?qū)崟r(shí)調(diào)整四軸坐標(biāo)儀的運(yùn)動(dòng)軌跡,從而實(shí)現(xiàn)更高精度的成像掃描控制。

    16、本專(zhuān)利技術(shù)由于采取以上技術(shù)方案,其具有以下優(yōu)點(diǎn):

    17、本專(zhuān)利技術(shù)能有效避免傳統(tǒng)x射線igrt方案中的能量轉(zhuǎn)換誤差及額外輻射劑量問(wèn)題,并大幅降低了射程不確定性,減少了健康組織的輻射損傷。

    18、本專(zhuān)利技術(shù)能廣泛應(yīng)用于腫瘤檢測(cè)與治療中的精確圖像引導(dǎo)放療(igrt)和腫瘤靶向放射治療計(jì)劃制定。

    本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,包括:

    2.如權(quán)利要求1所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,粒子束限流器采用單個(gè)小孔結(jié)構(gòu);或,粒子束限流器采用多個(gè)小孔結(jié)構(gòu)。

    3.如權(quán)利要求2所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,單個(gè)小孔結(jié)構(gòu)的粒子束限流器,其小孔徑為10μm~2000μm;

    4.如權(quán)利要求2所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,粒子束限流器用于調(diào)控束流的尺寸與強(qiáng)度,以使粒子束準(zhǔn)確擊中在目標(biāo)區(qū)域。

    5.如權(quán)利要求2所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,粒子束限流器與束流接觸面面積大于待測(cè)物的最大截面積。

    6.如權(quán)利要求1所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,降能器是由RSP值高于設(shè)定值材料構(gòu)成的立方體。

    7.如權(quán)利要求1所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,量能器為多層結(jié)構(gòu),每層結(jié)構(gòu)為探測(cè)層;

    8.如權(quán)利要求7所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,探測(cè)層的厚度為:

    9.如權(quán)利要求7所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,各探測(cè)層能測(cè)量粒子在該層的能量沉積,布拉格峰位置處的能量沉積最大,由此確定粒子的射程和RSP值;通過(guò)對(duì)RSP值進(jìn)行換算,得到粒子在患者體內(nèi)的水等效路徑。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,包括:

    2.如權(quán)利要求1所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,粒子束限流器采用單個(gè)小孔結(jié)構(gòu);或,粒子束限流器采用多個(gè)小孔結(jié)構(gòu)。

    3.如權(quán)利要求2所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,單個(gè)小孔結(jié)構(gòu)的粒子束限流器,其小孔徑為10μm~2000μm;

    4.如權(quán)利要求2所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,粒子束限流器用于調(diào)控束流的尺寸與強(qiáng)度,以使粒子束準(zhǔn)確擊中在目標(biāo)區(qū)域。

    5.如權(quán)利要求2所述帶電粒子計(jì)算機(jī)斷層成像裝置,其特征在于,粒子束限流器與束流接觸面面積...

    【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:張洪林,趙承心楊海波
    申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人:中國(guó)科學(xué)院近代物理研究所,
    類(lèi)型:發(fā)明
    國(guó)別省市:

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