本發明專利技術涉及接觸式粒度檢測方法及裝置，其特征在于，在容器底部設有活動檢測柱，活動檢測柱上部設有位移傳感器，向活動檢測柱底部注入少量固液混合物樣品，活動檢測柱降下后會被樣品中的固體大顆粒硌住，位移傳感器檢測到活動檢測柱前后位置差即為樣品的最大顆粒粒度值。與現有技術相比，本發明專利技術的有益效果是：1)適應礦物分級作業中對粒度檢測的需要，專門檢測樣品中最大顆粒的粒度。2)結構簡單，成本低。3)適用于濃度低于60％的固液混合物，粒度檢測范圍為0.02mm-3mm。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及礦物處理工藝過程中磨礦、分級作業工序物料粒度的檢驗領域，特別涉及一種專門檢測樣品中最大顆粒的接觸式粒度檢測方法及裝置。
技術介紹
目前在線檢驗或離線檢驗物料粒度所用的激光粒度儀、超聲波粒度儀均為檢驗樣品全粒度分布，儀器結構復雜，價格昂貴。現有技術中，專利號“03208683. 0” “載流接觸式礦漿粒度檢測儀”中公開了一種粒度檢測儀，結構稍微簡單些，其測量頭是由測量馬達經傳動組件帶動的，作用是檢驗礦漿中的粒度分布，其造價也不低。在很多場合，如磨礦、分級作業中，不需要知道樣品中全部粒度的分布狀況，只要連續地知道最大顆粒的狀況就可以了。目前專門檢測樣品中最大顆粒的粒度檢測裝置，還沒見有報道。
技術實現思路
本專利技術的目的是提供一種接觸式粒度檢測方法及裝置，克服現有技術的不足，適應礦物分級作業中對粒度檢測的需要，專門檢測樣品中最大顆粒的粒度。為解決上述技術問題，本專利技術的技術方案是—種接觸式粒度檢測方法，在容器底部設有活動檢測柱，活動檢測柱上部設有位移傳感器，向活動檢測柱底部注入少量固液混合物樣品，活動檢測柱降下后會被樣品中的固體大顆粒硌住，位移傳感器檢測到活動檢測柱前后位置差即為樣品的最大顆粒粒度值， 其具體步驟如下1)活動檢測柱抬起清水閥打開，向容器內注入清水，儲液閥打開，儲液囊充水同時活動檢測柱抬起；2)沖洗關閉儲液閥，同時打開高位放液閥和低位放液閥，對活動檢測柱底部進樣空間進行沖洗，沖洗10-30秒鐘；3)校準關閉清水閥，打開儲液閥，活動檢測柱下方的水快速從高位放液閥和低位放液閥中流出，儲液囊中的水補入活動檢測柱上方殼體空間，活動檢測柱落至容器底部， 位移傳感器檢測此時活動檢測柱的位置記為“0” ；4)活動檢測柱二次抬起清水閥打開，儲液閥打開，同時活動檢測柱抬起；5)進樣關閉清水閥和儲液閥，打開樣品閥和高位放液閥，向活動檢測柱底部進樣空間注入樣品，注入量為5-15ml ；6)測量計算打開儲液閥和和高位放液閥，儲液囊釋放清水，活動檢測柱在重力和儲液囊與高位放液閥之間壓力差作用下緩慢下沉，直到活動檢測柱位置不再變化，位移傳感器檢測活動檢測柱的位置即為樣品的最大顆粒粒度值；7)重復上述步驟1)——步驟6)，可實現連續測量。一種接觸式粒度檢測裝置，包括有殼體、活動檢測柱、固定檢測頭和儲液囊，在密閉的殼體底部設有進樣空間，活動檢測柱設在殼體下部，活動檢測柱與殼體側壁構成滑動副，活動檢測柱上部設有固定檢測頭，固定檢測頭內設有位移傳感器，殼體頂部出口依次與儲液閥和儲液囊相連，進樣空間一側設有樣品閥，進樣空間另一側設有高位放液閥和低位放液閥，樣品閥側還設有清水閥。所述位移傳感器為渦流位移傳感器或激光位移傳感器。高位放液閥和低位放液閥設置高度差為15mm-40mm。與現有技術相比，本專利技術的有益效果是1)適應礦物分級作業中對粒度檢測的需要，專門檢測樣品中最大顆粒的粒度。2)結構簡單，成本低。3)適用于濃度低于60%的固液混合物，粒度檢測范圍為0. 02mm-3mm。附圖說明圖1是本專利技術實施例結構示意圖。圖中1-清水閥 2-樣品閥 3-殼體 4-活動檢測柱 5-儲液囊 6_儲液閥 7-固定檢測頭8-高位放液閥9-低位放液閥10-進樣空間具體實施例方式下面結合附圖對本專利技術的具體實施方式作進一步說明見圖1，是本專利技術一種接觸式粒度檢測裝置實施例結構示意圖，包括有殼體3、活動檢測柱4、固定檢測頭7和儲液囊5，在密閉的殼體3底部設有進樣空間10，活動檢測柱4 設在殼體3下部，活動檢測柱4與殼體3側壁構成滑動副，活動檢測柱4上部設有固定檢測頭7，固定檢測頭7內設有位移傳感器，位移傳感器為渦流位移傳感器或激光位移傳感器。 殼體3頂部出口依次與儲液閥6和儲液囊5相連，儲液囊5的作用是儲存和釋放活動檢測柱4上方的液體；進樣空間10 —側設有樣品閥2，進樣空間10另一側設有高位放液閥8和低位放液閥9，高位放液閥8和低位放液閥9設置高度差為15mm-40mm，樣品閥側進樣空間 10底部設有清水閥1，儲液閥6與其它閥門配合可使活動檢測柱4在殼體3內起落浮動。本專利技術一種接觸式粒度檢測方法，是通過在容器3底部設有活動檢測柱4，活動檢測柱4上部設有渦流位移傳感器或激光位移傳感器，向活動檢測柱4底部進樣空間10注入少量固液混合物樣品，活動檢測柱4降下后會被樣品中的固體大顆粒硌住，位移傳感器檢測到活動檢測柱4前后位置差即為樣品的最大顆粒粒度值，其具體步驟如下1)活動檢測柱抬起清水閥1打開，儲液閥6打開，向容器3內注入清水，儲液囊5 充水同時活動檢測柱4抬起；2)沖洗儲液囊5充滿后，關閉儲液閥6，同時打開高位放液閥8和低位放液閥9， 對活動檢測柱4底部進樣空間10進行沖洗，沖洗10-30秒鐘；3)校準關閉清水閥1，打開儲液閥6，儲液囊5中的水快速從高位放液閥8和低位放液閥9中流出，活動檢測柱4落至容器底部，位移傳感器檢測此時活動檢測柱4的位置記為“0”；4)活動檢測柱二次抬起清水閥1打開，儲液閥6打開，向容器3內注入清水，儲液囊5充水同時活動檢測柱4抬起；5)進樣關閉清水閥1和儲液閥6，打開樣品閥2和高位放液閥8，向活動檢測柱4 底部進樣空間10注入樣品，注入量為5-15ml ；6)測量計算打開儲液閥6和和高位放液閥8，儲液囊5釋放清水，活動檢測柱4 在重力和儲液囊5與高位放液閥8之間壓力差作用下緩慢下沉，直到活動檢測柱4位置不再變化，位移傳感器檢測活動檢測柱4的位置即為樣品的最大顆粒粒度值；7)重復上述步驟1)-步驟6)，可實現連續測量，所測得數據可列表給出，可作曲線表達，也可采用數學模型(例如統計學方法)來進行數據分析，使檢驗結果更真實反映實際，為生產工藝過程提供時實可靠的控制依據。本專利技術動作步驟如下表1 表 權利要求1.一種接觸式粒度檢測方法，其特征在于，在容器底部設有活動檢測柱，活動檢測柱上部設有位移傳感器，向活動檢測柱底部注入少量固液混合物樣品，活動檢測柱降下后會被樣品中的固體大顆粒硌住，位移傳感器檢測到活動檢測柱前后位置差即為樣品的最大顆粒粒度值，其具體步驟如下1)活動檢測柱抬起清水閥打開，向容器內注入清水，儲液閥打開，儲液囊充水同時活動檢測柱抬起；2)沖洗關閉儲液閥，同時打開高位放液閥和低位放液閥，對活動檢測柱底部進樣空間進行沖洗，沖洗10-30秒鐘；3)校準關閉清水閥，打開儲液閥，活動檢測柱下方的水快速從高位放液閥和低位放液閥中流出，儲液囊中的水補入活動檢測柱上方殼體空間，活動檢測柱落至容器底部，位移傳感器檢測此時活動檢測柱的位置記為“0” ；4)活動檢測柱二次抬起清水閥打開，儲液閥打開，同時活動檢測柱抬起；5)進樣關閉清水閥和儲液閥，打開樣品閥和高位放液閥，向活動檢測柱底部進樣空間注入樣品，注入量為5-15ml ；6)測量計算打開儲液閥和和高位放液閥，儲液囊釋放清水，活動檢測柱在重力和儲液囊與高位放液閥之間壓力差作用下緩慢下沉，直到活動檢測柱位置不再變化，位移傳感器檢測活動檢測柱的位置即為樣品的最大顆粒粒度值；7)重復上述步驟1)——步驟6)，可實現連續測量。2.一種接觸式粒度檢測裝置，其特征在于，包括有殼體、活動檢測柱、固定檢測頭和儲液囊，在密閉的殼體底部設有進樣空間，活動檢測柱設在殼體下部，活動檢測柱與殼體側壁構成滑本文檔來自技高網...
【技術保護點】
１．一種接觸式粒度檢測方法，其特征在于，在容器底部設有活動檢測柱，活動檢測柱上部設有位移傳感器，向活動檢測柱底部注入少量固液混合物樣品，活動檢測柱降下后會被樣品中的固體大顆粒硌住，位移傳感器檢測到活動檢測柱前后位置差即為樣品的最大顆粒粒度值，其具體步驟如下：１）活動檢測柱抬起：清水閥打開，向容器內注入清水，儲液閥打開，儲液囊充水同時活動檢測柱抬起；２）沖洗：關閉儲液閥，同時打開高位放液閥和低位放液閥，對活動檢測柱底部進樣空間進行沖洗，沖洗１０－３０秒鐘；３）校準：關閉清水閥，打開儲液閥，活動檢測柱下方的水快速從高位放液閥和低位放液閥中流出，儲液囊中的水補入活動檢測柱上方殼體空間，活動檢測柱落至容器底部，位移傳感器檢測此時活動檢測柱的位置記為“０”；４）活動檢測柱二次抬起：清水閥打開，儲液閥打開，同時活動檢測柱抬起；５）進樣：關閉清水閥和儲液閥，打開樣品閥和高位放液閥，向活動檢測柱底部進樣空間注入樣品，注入量為５－１５ｍｌ；６）測量計算：打開儲液閥和和高位放液閥，儲液囊釋放清水，活動檢測柱在重力和儲液囊與高位放液閥之間壓力差作用下緩慢下沉，直到活動檢測柱位置不再變化，位移傳感器檢測活動檢測柱的位置即為樣品的最大顆粒粒度值；７）重復上述步驟１）——步驟６），可實現連續測量。...
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：吳曉元，都業富，
申請(專利權)人：吳曉元，
類型：發明
國別省市：21
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