一種用于測試放射性樣品的樣品室制造技術

本實用新型專利技術提供一種用于測試放射性樣品的樣品室，該樣品室置于上鉛室和下鉛室之間，該樣品室包括抽板組件、導板組件以及暗盒組件；所述抽板組件主要由抽板和位于抽板端部的蓋板組成；所述導板組件為凹形結構，其凹陷部位稱為導槽；所述暗盒組件為一端開口的立體空心結構；上述各結構的連接關系：導板組件的上表面與上鉛室的下表面固連，從而使導槽上方被上鉛室下表面覆蓋，導板組件下表面與下鉛室固連；暗盒組件開口端固連于上、下鉛室的后壁上，并使暗盒組件上的空心腔與導槽的末端相通；抽板設于導槽中，抽板組件前端的蓋板位于導槽的前端，且蓋板的高度大于導槽的高度。本實用新型專利技術樣品室可滿足厚樣品和薄樣品的測量。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現(xiàn)步驟摘要】

本技術涉及一種用于測試放射性樣品的樣品室，屬于放射性測量

技術介紹
目前，采用鉛室屏蔽反符合技術的“低本底α/β測量儀”是用于測量放射性樣品總α和總β活度的裝置。它由屏蔽鉛室、低本底α/β測量儀和計算機構成，低本底α/β測量儀和計算機之間用電纜和數(shù)據(jù)線連接。屏蔽鉛室由樣品室、上鉛室和下鉛室組成；樣品室居中間，用于放置被測樣品；上鉛室內(nèi)裝有用于測量樣品的主探測器，下鉛室內(nèi)裝有屏蔽探測器(又稱反符合探測器)，用于屏蔽宇宙射線；低本底α/β測量儀的功能主要是給鉛室內(nèi)探測器提供高、低壓電源、采集被測樣品數(shù)據(jù)并通過接口和數(shù)據(jù)線送到計算機；計算機通過專用軟件按程序操作執(zhí)行低本底α/β測量儀的運行和數(shù)據(jù)處理、結果顯示等。該裝置具有本底低、靈敏度高、樣品室結構適用薄樣法制樣測量的特點。 薄樣法制樣測量，樣品需經(jīng)過灰化、蒸發(fā)、稱重等制樣流程，使用的設備多、制樣周期長。在戰(zhàn)時核條件下或核事故或突發(fā)核事件的場景，短時間內(nèi)難以完成大批量放射性樣品的測量。基于核條件下或核事故或突發(fā)核事件場景的放射性污染控制水平和行動水平目標，可以采用厚樣法測量樣品比活度，其主要優(yōu)點是放射性均勻分布的樣品不需灰化、蒸發(fā)和稱重，可以直接制樣、鋪樣測量，迅速給出結果(比活度)。但是目前的屏蔽鉛室由于其所能擱置樣品厚度的限制，因此不能用于厚樣法測量。
技術實現(xiàn)思路
本技術提供一種用于測試放射性樣品的樣品室，在低本底α/β測量儀中使用該樣品室可以滿足對厚樣品和薄樣品的測量。實現(xiàn)本技術的技術方案如下一種用于測試放射性樣品的樣品室，該樣品室置于上鉛室和下鉛室之間，其中該樣品室包括抽板組件、導板組件以及暗盒組件；所述抽板組件主要由抽板和位于抽板前端的蓋板組成；所述導板組件為凹形結構，其凹陷部位稱為導槽；所述暗盒組件為一端開口的立體空心結構；上述各結構的連接關系導板組件的上表面與上鉛室的下表面固連，從而使導槽上方被上鉛室下表面覆蓋，導板組件下表面與下鉛室固連；暗盒組件開口端固連于上、下鉛室的后壁上，并使暗盒組件上的空心腔與導槽的末端相通；抽板設于導槽中，抽板組件前端的蓋板位于導槽的前端，且蓋板的高度大于導槽的高度；抽板上設有圓形階梯孔，所述階梯孔的高度為15mm，所述導板組件的厚度為17mm。進一步地，本技術樣品室還包括由壓板和壓板橡膠墊組成的壓板組件；所述壓板橡膠墊與壓板形狀相同，其固連于所述壓板的內(nèi)側面上，所述壓板組件固連于導槽前端開口上、下鉛室的前壁上。較佳地，本技術導板組件主要由左導板、右導板和底板組成。進一步地，本技術所述導板組件的左、右導板通過螺栓固定于上鉛室和下鉛室上。較佳地，本技術所述暗盒組件包括暗盒體、暗盒底及暗盒罩蓋；其中所述暗盒體為帶有空心腔的長方體結構，暗盒底設在空心腔的后端上，空心腔的前端固連于上、下鉛室的后壁上，且保證暗盒空心腔與所述導槽的后端相通；所述暗盒體上方設有通孔，所述暗盒罩蓋位于暗盒體的上方并可完全覆蓋暗盒體上方的通孔。進一步地，本技術所述暗盒還包括暗盒橡膠墊，所述暗盒橡膠墊設置于暗盒上空心腔的前端與上、下鉛室的后壁之間。進一步地，本技術所述抽板組件還包括拉手，所述拉手固連于抽板前端。 進一步地，本技術所述導板組件的導槽上設有滑軌，同時抽板后端設有定位滑塊。有益效果本技術樣品室在保持原有儀器性能不變的前提下，通過加深樣品槽的深度并設定導板組件的厚度，使得本技術的樣品室可同時滿足厚樣法測量和薄樣法測量，因此其可適用于在核條件下或核事故或突發(fā)核事件場景，實現(xiàn)大批量放射性樣品的快速測量，提升設備的工作效能。附圖說明圖I為本技術裝配上上鉛室和下鉛室形成的屏蔽鉛室的機構示意圖。其中I-抽板組件，2-導板組件，3-壓板組件，4-暗盒組件，5-下鉛室，6_上鉛室；圖2為本技術抽板組件結構示意圖；其中，11_抽板，12-蓋板,13-拉手；圖3為本技術抽板組件、導板組件以及壓板組件的裝配示意圖；其中，21-左導板，22-右導板，23-底板；31_壓板，32-壓板橡膠墊；圖4為本技術暗盒組件結構示意圖；其中，41-暗盒體，42-暗盒底，43-暗盒罩蓋，44-暗盒橡膠墊。具體實施方式以下結合附圖和具體實施例對本技術進行進一步詳細說明。如圖I所示，本技術提出的用于測試放射性樣品的樣品室，該樣品室置于上鉛室5和下鉛室6之間，該樣品室包括抽板組件I、導板組件2以及暗盒組件4 ;所述抽板組件I主要由抽板11和位于抽板端部的蓋板12組成，如圖2所示；所述導板組件2為凹形結構，其凹陷部位稱為導槽；所述暗盒組件4為一端開口的立體空心結構。上述各結構的連接關系導板組件2上表面緊貼且固連于上鉛室6的下表面上，從而使導槽上方被上鉛室6部分下表面覆蓋，導板組件2下表面與下鉛室5固連；暗盒組件4固連于上、下鉛室的后壁上，并使暗盒組件上的空心腔與導槽的末端相通；抽板組件I設于導槽中，抽板組件I前端的蓋板12位于導槽的前端，且蓋板12的高度大于導槽的高度；抽板組件I可在導槽上自由的推進和拉出，且當抽板組件I處于推進狀態(tài)時，抽板組件I上的蓋板12實現(xiàn)對導槽另一端開口的抵觸連接。抽板組件I的抽板11上設有一用于擱置樣品盤的圓形階梯通孔，該階梯孔的高度為15mm,所述導板組件的厚度為17mm,導板組件的寬度不小于80mm。利用本技術樣品室進行厚樣品測量過程時，將抽板組件I從導板組件2中拉出，將放置厚樣品的樣品盤擱置在樣品槽側邊緣階梯狀凸沿上，由于樣品槽的高度設計為15_，該高度不僅可以實現(xiàn)對薄樣品的測量，還可以滿足對厚樣品的測量。然后將所需測試的樣品放置在樣品盤上，將抽板組件I推進導板內(nèi)，這樣就可以開始對樣品進行測量；同時因為抽板11較長，推入定位后會露出一段，所以要用暗盒組件4將其密封、排氣、避光罩起來。在對樣品進行測量的過程中，必須防止外部光線的進入，使樣品室處于黑暗狀態(tài)；因此本技術樣品室還包括由壓板31和壓板橡膠墊32組成的壓板組件3，如圖3所示； 所述壓板橡膠墊32與壓板31形狀相同，其固連于所述壓板31的內(nèi)側面上，所述壓板組件3固連于導槽前端開口的上、下鉛室的前壁上，且不對所述導槽的端部開口產(chǎn)生遮攔。通過使壓板31和壓板橡膠墊32上的開口不對導槽遮攔，這樣就不影響抽板組件I在導槽內(nèi)的推進與拉出；同時在抽板組件I處于推進狀態(tài)下，抽板組件I上的蓋板12壓緊壓板橡膠墊32，利用橡膠墊的彈性很好的實現(xiàn)可對導槽開口的密封。為便于加工，同時達到節(jié)約成本低的目的，本技術導板組件2主要由左導板21、右導板22和底板23組成，如圖3所不；其中左、右導板之間留有間距，底板23固連于左、右導板的下方且完全覆蓋左、右導板之間的間距，使得左、右導板及底板之間形成一矩形導槽。同時在左、右導板邊緣處設置螺栓，實現(xiàn)將導板組件2固定在上鉛室和下鉛室上。本技術當暗盒組件4為一完全密封的組件時，由于抽板11與導槽之間是緊密滑動配合間隙很小，當手握抽板拉手用力推抽板11時，無法使內(nèi)部氣體迅速排出，這樣會使將抽板組件I推進或拉出導板組件2變得較為困難；因此本技術所述暗盒組件包括暗盒體41、暗盒底42及暗盒罩蓋43，如圖4所示；其中所述暗盒體41為帶有空心腔的長方體結構，暗盒底42設在空心腔的后本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術保護點】
一種用于測試放射性樣品的樣品室，該樣品室置于上鉛室和下鉛室之間，其特征在于：該樣品室包括抽板組件、導板組件以及暗盒組件；所述抽板組件主要由抽板和位于抽板前端的蓋板組成；所述導板組件為凹形結構，其凹陷部位稱為導槽；所述暗盒組件為一端開口的立體空心結構；上述各結構的連接關系：導板組件的上表面與上鉛室的下表面固連，從而使導槽上方被上鉛室下表面覆蓋，導板組件下表面與下鉛室固連；暗盒組件開口端固連于上、下鉛室的后壁上，并使暗盒組件上的空心腔與導槽的末端相通；抽板設于導槽中，抽板組件前端的蓋板位于導槽的前端，且蓋板的高度大于導槽的高度；抽板上設有圓形階梯孔，所述階梯孔的高度為15mm，所述導板組件的厚度為17mm。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：沈春霞，沈庭云，南宏杰，曹劍鋒，沈春燕，
申請(專利權)人：中國人民解放軍防化學院，山東金瑞達環(huán)保科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：