本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種光強(qiáng)測試設(shè)備，為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的無法對被測設(shè)備進(jìn)行光強(qiáng)測試的問題，本發(fā)明專利技術(shù)實(shí)施例提供一種光強(qiáng)測試設(shè)備，光強(qiáng)測試設(shè)備包括光源和光強(qiáng)測試器，其中光源發(fā)射的光線經(jīng)過第一光路，經(jīng)被測設(shè)備反射后經(jīng)過第二光路，光強(qiáng)測試器的光接收面位于第一光路之外且位于第二光路之上，由于通過光源和光強(qiáng)測試器采用反射的方式進(jìn)行測試，從而實(shí)現(xiàn)光強(qiáng)測試。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及液晶面板技術(shù)，尤其涉及一種光強(qiáng)測試設(shè)備。
技術(shù)介紹
隨著薄膜場效應(yīng)晶體管液晶顯示(TFT-IXD)技術(shù)的發(fā)展和工業(yè)技術(shù)的進(jìn)步，液晶顯示器件生產(chǎn)成本降低、制造工藝的日益完善，使其成為當(dāng)前顯示領(lǐng)域的主流技術(shù)。LCD是所有顯示器中耗電較低的產(chǎn)品，特別是反射型TFT-LCD，由于取消了背光源，其功耗比透射 式TFT-LCD低了一個數(shù)量級。傳統(tǒng)透射型液晶顯示器在光強(qiáng)測試時，是由背面照射，正面測試的方法進(jìn)行光強(qiáng)測試，而反射型薄膜場效應(yīng)晶體管液晶顯示器或沒有背光源的其它被測設(shè)備，由于沒有背光源無法按照上述的方法進(jìn)行光強(qiáng)測試。由此可見現(xiàn)有技術(shù)中存在無法對沒有背光源的被測設(shè)備進(jìn)行光強(qiáng)測試的問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的是提供一種光強(qiáng)測試設(shè)備，解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的無法對沒有背光源的被測設(shè)備進(jìn)行光強(qiáng)測試的問題。本專利技術(shù)提供一種光強(qiáng)測試設(shè)備，光強(qiáng)測試設(shè)備包括光源和光強(qiáng)測試器，其中光源發(fā)射的光線經(jīng)過第一光路，經(jīng)被測設(shè)備反射后經(jīng)過第二光路，光強(qiáng)測試器的光接收面位于第一光路之外，且能夠接收第二光路上的光。優(yōu)選地，所述被測設(shè)備為反射型液晶面板。優(yōu)選地，還包括光反射板,其中光源發(fā)射的光線經(jīng)光反射板反射后,射向反射型液晶面板，再經(jīng)反射型液晶面板反射后經(jīng)過第二光路。優(yōu)選地，光源發(fā)射的光線經(jīng)光反射板反射后，垂直射向反射型液晶面板。優(yōu)選地，光源發(fā)射的光線與反射型液晶面板平行。優(yōu)選地，所述光反射板上設(shè)置有光通過孔，經(jīng)過所述第二光路的光通過所述光通過孔被光強(qiáng)測試器的光接收面接收。優(yōu)選地，所述光通過孔設(shè)置在所述光反射板的中心區(qū)域。優(yōu)選地，所述光通過孔的外形為圓形或多邊形或橢圓形。優(yōu)選地，所述光反射板的反射面上設(shè)置有反射棱鏡。優(yōu)選地，所述反射棱鏡為多個，分別設(shè)置于所述光通過孔的四周。優(yōu)選地，光強(qiáng)測試設(shè)備進(jìn)一步包括轉(zhuǎn)動裝置，轉(zhuǎn)動裝置用于在反射型液晶面板所在的平面內(nèi)，轉(zhuǎn)動和移動所述反射型液晶面板。由于本專利技術(shù)實(shí)施例所述光強(qiáng)測試設(shè)備是通過光源和光強(qiáng)測試器采用反射的方式進(jìn)行測試，光源發(fā)射的光線經(jīng)過第一光路，經(jīng)沒有背光源的被測設(shè)備反射后經(jīng)過第二光路射入光強(qiáng)測試器，從而實(shí)現(xiàn)對被測設(shè)備的光強(qiáng)測試。附圖說明圖I所示為本專利技術(shù)提供的反射型液晶面板測試設(shè)備剖面圖；圖2所示為本專利技術(shù)提供的帶反射板的反射型液晶面板測試設(shè)備剖面圖；圖3所示為本專利技術(shù)提供的反射型液晶面板測試設(shè)備反射板俯視圖；圖4所示為本專利技術(shù)提供的帶轉(zhuǎn)動裝置的反射型液晶面板測試設(shè)備反射板俯視圖。具體實(shí)施例方式本專利技術(shù)提供一種光強(qiáng)測試設(shè)備，為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的無法對沒有背光源的被測設(shè)備進(jìn)行光強(qiáng)測試的問題。為了便于本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解，下面結(jié)合反射型液晶面板的具體實(shí)施例和附圖對本專利技術(shù)進(jìn)行說明。 參見圖I所示，該圖為本專利技術(shù)提供的測試設(shè)備剖面圖。本專利技術(shù)實(shí)施例以反射型液晶面板作為被測設(shè)備進(jìn)行說明，當(dāng)然被測設(shè)備也可以是其它需要進(jìn)行光強(qiáng)測試的設(shè)備，在此不再詳述。本專利技術(shù)實(shí)施例所述光強(qiáng)測試設(shè)備具體可以包括光源11和光強(qiáng)測試器12。其中光源11發(fā)射的光線經(jīng)過第一光路，經(jīng)反射型液晶面板13反射后經(jīng)過第二光路，光強(qiáng)測試器12的光接收面位于第一光路之外，且位于第二光路之上。這樣通過光源11和光強(qiáng)測試器12經(jīng)過反射的方式可以對反射型液晶面板13進(jìn)行光強(qiáng)測試。反射型液晶面板可以包括半透半反液晶面板和全反射液晶面板。由于本專利技術(shù)實(shí)施例所述光強(qiáng)測試設(shè)備是通過光源11和光強(qiáng)測試器12采用反射的方式進(jìn)行測試，光源11發(fā)射的光線經(jīng)過第一光路，經(jīng)被測設(shè)備反射后經(jīng)過第二光路射入光強(qiáng)測試器12，從而實(shí)現(xiàn)對被測設(shè)備的光強(qiáng)測試。如圖2所示，本專利技術(shù)實(shí)施例所述光強(qiáng)測試設(shè)備還可以包括光反射板14。其中光源11發(fā)射的光線經(jīng)光反射板14反射后，射向反射型液晶面板13，再經(jīng)反射型液晶面板反射(漫反射)后經(jīng)過第二光路，射入光強(qiáng)測試器12的光接收面。為了便于光強(qiáng)測試器12對光強(qiáng)的計(jì)算，需要保證測試時光源11的入射光能夠垂直射向反射型液晶面板13。光源11發(fā)射的光線經(jīng)光反射板14反射后,垂直射向反射型液晶面板13，再經(jīng)反射型液晶面板反射(漫反射)后經(jīng)過第二光路，射入光強(qiáng)測試器12的光接收面。當(dāng)然，經(jīng)光反射板14反射的光也可以與反射型液晶面板13呈其他角度。優(yōu)選的方案是光源11發(fā)射的光線與反射型液晶面板平行13。反射板14的結(jié)構(gòu)如圖3所示，為了便于光強(qiáng)測試器12接收反射光，在光反射板14上可以開設(shè)有光通過孔141，經(jīng)過所述第二光路的光通過所述光通過孔141被光強(qiáng)測試器12的光接收面接收。光通過孔141設(shè)置在光反射板的中心區(qū)域，當(dāng)然也可以設(shè)置在其它區(qū)域，如中心偏左區(qū)域或中心偏右區(qū)域，本專利技術(shù)實(shí)施例對此不進(jìn)行限定。光通過孔141的外形可以為圓形，當(dāng)然也可以是多邊形、橢圓形等其它形狀，本專利技術(shù)實(shí)施例對此不進(jìn)行限定。為了保證能夠有更多的光線射向反射型液晶面板，在光反射板14的反射面上設(shè)置有反射棱鏡142,反射棱鏡142可以為多個。多個反射棱鏡142可以設(shè)置于光通過孔141的四周。為了方便對反射型液晶面板不同區(qū)域進(jìn)行測試，反射型液晶面板13測試設(shè)備還可以包括轉(zhuǎn)動裝置15,轉(zhuǎn)動裝置15用于在反射型液晶面板13所在的平面內(nèi)，轉(zhuǎn)動和移動反射型液晶面板13，這樣就可以方便對反射型液晶面板進(jìn)行光強(qiáng)測試。首先從光源11發(fā)射出平行光(與反射型液晶面板13所在平面平行的光)，并照射到光反射板14。光反射板14上的反射棱鏡142再將平行光均勻分散照射到反射型液晶面板13上。接下來，反射型液晶面板13將照射到其上的光漫反射出去，并通過光反射板14上的光通過孔141經(jīng)第二光路被位于其上端的光強(qiáng)測試器12接收。光強(qiáng)測試器12根據(jù)接收到的光強(qiáng)的強(qiáng)弱計(jì)算得到測試結(jié)果 。為了方便測試，本專利技術(shù)所述光強(qiáng)測試設(shè)備還可以進(jìn)一步包括轉(zhuǎn)動裝置15，轉(zhuǎn)動裝置15可以設(shè)置在反射型液晶面板(或被測設(shè)備)的一端，用于在反射型液晶面板所在的平面內(nèi)，轉(zhuǎn)動和移動所述反射型液晶面板。本實(shí)施例中的反射型液晶面板可以是半透半反型的面板，半透半反型的面板既可以通過背光源實(shí)現(xiàn)顯示，也可以將外界透過基板的光重新反射回去。本專利技術(shù)本實(shí)施例所述光強(qiáng)測試設(shè)備的實(shí)驗(yàn)條件具體可以為暗室測試。當(dāng)光線只通過半透半反型液晶面板的背光源發(fā)出時，即本專利技術(shù)實(shí)施例所述的光強(qiáng)測試設(shè)備的光源11可以處于不開啟狀態(tài)，光強(qiáng)測試設(shè)備此時接收到的光線為背光源所發(fā)出的光。根據(jù)接收到的光強(qiáng)，我們可以測量出只打開背光源情況下液晶面板的亮度。當(dāng)本專利技術(shù)實(shí)施例所述的光強(qiáng)測試設(shè)備的光源11開啟，液晶面板的背光源關(guān)閉時，本專利技術(shù)實(shí)施例所述的光強(qiáng)測試設(shè)備的光源11發(fā)出的光可以經(jīng)過光反射板14反射到半透半反型的液晶面板上，再經(jīng)過反射從而被光強(qiáng)測試器12接收，進(jìn)而測試出反射光的強(qiáng)度。本專利技術(shù)實(shí)施例所述的光強(qiáng)測試設(shè)備可以將接收到的光強(qiáng)與液晶面板的背光源發(fā)出的光強(qiáng)進(jìn)行對比，從而判斷出半透半反型的面板的反射效果。當(dāng)然也可以是即打開背光源又打開光強(qiáng)測試設(shè)備的光源11，這樣光線通過半透半反型液晶面板的背光源和光強(qiáng)測試設(shè)備的光源11同時發(fā)出，利用前述的測試方法進(jìn)行測試，以用來測試屏幕總體亮度的情況。最后應(yīng)說明的是以上實(shí)施例僅用以說明本專利技術(shù)的技術(shù)方案而非對其進(jìn)行限制，盡管參照較佳實(shí)施例對本專利技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解其依然可以對本專利技術(shù)的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而這些修改或者等同替換亦不能使修本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種光強(qiáng)測試設(shè)備，其特征在于，光強(qiáng)測試設(shè)備包括光源和光強(qiáng)測試器，其中光源發(fā)射的光線經(jīng)過第一光路，經(jīng)被測設(shè)備反射后經(jīng)過第二光路，光強(qiáng)測試器的光接收面位于第一光路之外，且能夠接收第二光路上的光。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張彌，
申請(專利權(quán))人：京東方科技集團(tuán)股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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