【技術實現步驟摘要】
【技術保護點】
一種有源天線系統射頻指標的測試方法，其特征在于，將被測有源天線系統置于測試罩內進行射頻指標的測試，其中所述測試罩包括天線陣列部分與無源網絡部分，所述天線陣列部分與所述被測有源天線系統的天饋部分相同；所述方法包括：測試罩單體校準：校準所述測試罩自身所產生的差損和相位偏移量；近場耦合校準：用兩個經過所述測試罩單體校準的測試罩，對所述測試罩的近場耦合測試環境進行校準；射頻指標測試：將所述被測有源天線系統置于校準后的所述測試罩內并與其構成近場耦合方式，其測試環境和所述近場耦合校準測試環境相同；使用校準過程得到的校準結果對所述測試環境進行補償后，通過所述測試罩上的射頻測試接口對所述被測有源天線系統進行射頻指標測試，得到所述被測有源天線系統射頻端口的射頻指標。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：王博明，李香玲，曹長江，韓香紫，
申請(專利權)人：中興通訊股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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