防眩光表面及其制備方法技術(shù)

一種玻璃制品，包括：至少一個防眩光表面，所述表面具有本文所定義的霧度、鮮映度、表面粗糙度和均勻性。一種制備具有防眩光表面的制品的方法，包括例如在所述制品的至少一個表面的選定部分上形成保護(hù)膜；使所述至少一個表面接觸液體蝕刻劑；從所述制品表面上除去保護(hù)膜，形成防眩光表面。本發(fā)明專利技術(shù)還揭示了一種結(jié)合了如本文所定義的玻璃制品的顯示系統(tǒng)。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】要求在先申請權(quán)益的聲明本申請要求2010年4月30日提交的美國專利臨時申請第61/329，951號的優(yōu)先權(quán)。背景本專利技術(shù)一般涉及防眩光表面和包含所述防眩光表面的防眩光制品，以及制備和使用所述防眩光表面的方法。
技術(shù)實現(xiàn)思路
本專利技術(shù)提供了防眩光玻璃表面和包含所述防眩光表面的防眩光制品。本專利技術(shù)還提供了制備和使用上述防眩光表面的方法。 附圖說明在本專利技術(shù)的實施方式中圖Ia-Ic顯示了所揭示的制備防眩光玻璃表面和防眩光制品的方法的各個方面。圖2a_2h顯示了以遞減的表面覆蓋率施涂聚合物，形成遞增的孔區(qū)域或暴露區(qū)域之后的玻璃表面的一系列示例性顯微圖像。圖3顯示了酸蝕刻之后玻璃表面上未受聚合物膜掩蔽的未覆蓋多孔區(qū)域的百分率與鮮映度(distinctness-of-image) 之間的關(guān)系。圖4a顯示了酸蝕刻之后未受聚合物掩蔽的未覆蓋多孔區(qū)域的百分率與霧度之間的關(guān)系。圖4b顯示了霧度與DOI之間的相關(guān)性。圖5顯示了經(jīng)過酸蝕刻的多孔聚合物掩蔽表面的表面粗糙度(Ra)百分率與DOI (20° )之間的關(guān)系。圖6a和6b顯示了蝕刻和除去掩模之后的玻璃表面的顯微圖像的兩個例子；各掩蔽前體具有不同的表面覆蓋率或孔隙率，產(chǎn)生不同的外觀性質(zhì)。圖7a和7b顯示了對具有多孔聚合物掩模的表面進(jìn)行酸蝕刻得到的代表性表面形貌。圖8a_8d顯示了一系列模擬圖像,表示具有不同量的沉積斑點(diǎn)的表面,所述不同量的沉積斑點(diǎn)能給被掩蔽的表面區(qū)域覆蓋率和孔尺寸或暴露區(qū)域帶來有益的變化。圖9顯示了一系列模擬的圖像，表示在5x10陣列中沉積的聚合物斑點(diǎn)的數(shù)量呈現(xiàn)變化的涂覆表面，所述數(shù)量變化能給被掩蔽的表面區(qū)域覆蓋率帶來變化，并給包括孔的幾何結(jié)構(gòu)在內(nèi)的孔尺寸或暴露區(qū)域帶來變化。圖9a_9f顯示了一系列模擬的圖像，表示在5x10陣列中沉積的聚合物斑點(diǎn)的數(shù)量呈現(xiàn)變化的涂覆表面，所述數(shù)量變化能給被掩蔽的表面區(qū)域覆蓋率帶來變化，并給包括孔的幾何結(jié)構(gòu)在內(nèi)的孔尺寸或暴露區(qū)域帶來變化。圖IOa-IOf顯示了另一個系列的涂覆表面的模擬圖像，顯示了斑點(diǎn)數(shù)量的變化，斑點(diǎn)的相對取向，相對空間排布，或者陣列中的斑點(diǎn)間隔(即間距)，它們能給斑點(diǎn)表面區(qū)域覆蓋率和所得孔尺寸或暴露區(qū)域(包括孔的幾何形狀)進(jìn)一步帶來有益的變化。圖Ila-Ilf顯示了另一個系列的基于圖10的模擬圖像，它們進(jìn)一步包括第二系列的斑點(diǎn)(用灰色表示)，說明所產(chǎn)生的合并或聚集斑點(diǎn)變化能給斑點(diǎn)表面區(qū)域覆蓋率和包括孔的幾何特性在內(nèi)的孔尺寸或暴露區(qū)域進(jìn)一步帶來有益的變化。具體實施例方式下面詳細(xì)描述本專利技術(shù)的各種實施方式；若有附圖，則參考附圖描述。對各種實施方式的參考不限制本專利技術(shù)的范圍，本專利技術(shù)范圍僅受所附權(quán)利要求書的范圍的限制。此外，在本說明書中列出的任何實施例都不是限制性的，且僅列出要求保護(hù)的本專利技術(shù)的諸多可能實施方式中的一些實施方式。定義 “防眩光”或類似術(shù)語是指光接觸本專利技術(shù)經(jīng)過處理的制品表面(如顯示器表面)時變成漫反射而不是鏡面反射的物理轉(zhuǎn)變，或者指將制品表面反射的光變成漫反射而不是鏡面反射的性質(zhì)。在一些實施方式中，所述表面處理可以通過機(jī)械或化學(xué)蝕刻進(jìn)行。防眩光無法減少從所述表面反射的光的量，而僅僅會改變反射的光的特性。從防眩光表面反射的圖像不具有清晰的邊界。與防眩光表面不同，減反射表面通常是利用折射率變化以及(在一些情況下)相消干涉技術(shù)減少從表面反射的光的薄膜涂層。“孔”、“多孔的”或類似術(shù)語是指例如微米級或亞微米級孔洞、間隙、非涂覆區(qū)域、未涂覆區(qū)域或類似的開口，或者排除在臨時性保護(hù)膜或聚合物層以外的區(qū)域。孔或未涂覆區(qū)域允許局部施加的蝕刻劑穿透聚合物涂層，并接觸涂覆層下面的表面。孔的開口大小或者孔直徑(即任何橫跨開口的直線的長度)可以是例如約O. 1-50 μ m，包括中間數(shù)值和范圍。涂覆層中的孔、間隙或類似的開口可通過例如以下步驟形成在待蝕刻表面上有選擇地沉積聚合物液滴，形成斑點(diǎn)陣列，其中蝕刻劑可到達(dá)斑點(diǎn)之間的間隙或開口 ；控制待蝕刻表面和/或成孔涂料組合物的相對濕潤特性；在聚合物中包括發(fā)泡劑，然后通過加熱、光照或其組合活化發(fā)泡劑或者使發(fā)泡劑“發(fā)泡”;在聚合物制劑中包含具有不同溶解性的粒子，在制品表面上沉積涂層之后，在酸蝕刻或類似方法進(jìn)行之前或者在進(jìn)行酸蝕刻或類似方法的同時，自聚合物表面膜溶解所述粒子，形成多孔表面層。“反射圖像清晰度(di stinctness-of-ref lected image )”、“ 鮮映度”、“D0I ” 或類似術(shù)語由名為“涂層表面鮮映性光澤度儀器測量標(biāo)準(zhǔn)試驗方法”(Standard Test Methodsfor Instrumental Measurements of Distinctness-of-Image Gloss of CoatingSurfaces)的ASTM規(guī)程D5767 (ASTM 5767)中的方法A定義。根據(jù)ASTM 5767的方法A,在玻璃制品的至少一個糙化表面上，在鏡面觀察角和略微偏離鏡面觀察角的角度進(jìn)行玻璃反射因子的測量。將這些測量得到的數(shù)值合并，以提供DOI值。具體地，DOI按照方程式(I)計算DOI =xlOO(I) L Rs」在此式中，Rs是鏡面方向上的反射率的相對大小，Ros是偏離鏡面方向上的反射率的相對大小。在本文中，除非另外說明，通過對在偏離鏡面方向0. 2°至0.4°的角度范圍內(nèi)獲得的反射率進(jìn)行取平均值來計算Ros。Rs可通過對以鏡面方向為中心，在±0.05°的角度范圍內(nèi)得到的反射率取平均值而計算得到。Rs和Ros用測角光度計按照ASTM規(guī)程D523和D5767的規(guī)定測量，該測角光度計用標(biāo)準(zhǔn)的黑玻璃標(biāo)樣進(jìn)行校準(zhǔn)。所述Novo-Gloss儀器使用檢測器陣列，在此陣列中，在檢測器陣列的最大值的附近設(shè)定鏡面角中心。還使用單側(cè)法(玻璃背面連有黑色吸收體)和雙側(cè)法(可以從玻璃的兩個表面發(fā)生反射，沒有任何東西與玻璃相連)測量D0I。所述單側(cè)測量可以測定玻璃制品單個表面(例如單個糙化表面)的光澤度、反射率和D0I，而雙側(cè)測量可以將玻璃制品作為整體測定光澤度、反射率和D0I。由上文所述的Rs和Ros得到的平均值計算Ros/Rs之比。“20° D0I”或“D0I 20° ”是指光從偏離玻璃法線20°的角度入射到樣品上的DOI測量值，如ASTM D5767所述。兩側(cè)法對DOI或普通光澤度進(jìn)行測量的操作最好在暗室或封閉罩子內(nèi)進(jìn)行，使得在沒有樣品的情況下，測得的這些性質(zhì)的數(shù)值為零。 對于防眩光表面，通常希望DOI較低而且反射率之比Ros/Rs (公式(I))較高。這會導(dǎo)致觀察到模糊的或者不清楚的反射圖像。在一些實施方式中，當(dāng)使用單側(cè)測量法，從偏離鏡面方向20°的角度測量時，所述玻璃制品的至少一個糙化表面的Ros/Rs約大于O. 1，約大于O. 4，約大于O. 8。使用兩側(cè)法，玻璃制品在偏離鏡面方向20°的角度上的Ros/Rs約大于O. 05。在一些實施方式中，通過兩側(cè)法測得的玻璃制品的Ros/Rs約大于O. 2，約大于0.4。通過ASTM D523測得的普通光澤度不足以將具有強(qiáng)鏡面反射分量的表面(清晰的反射圖像)與具有弱鏡面反射分量(模糊的反射圖像)的表面區(qū)別開來。這是因為無法使用根據(jù)ASTM D523設(shè)計的普通光澤計測量上述小角散射效應(yīng)。“透射霧度”、”霧度”或類似術(shù)本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：J·T·科利，K·恩古耶，張魯，
申請(專利權(quán))人：康寧股份有限公司，
類型：
國別省市：