自動化內存電特性測試系統技術方案

本實用新型專利技術公開了一種自動化內存電特性測試系統，包括：測試器，其上設置有多個被測內存插座，用于插接被測內存并進行測試；電源及數據轉換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結果進行轉換；處理器，與所述電源及數據轉換器相連，由所述電源及數據轉換器供電，并接收所述電源及數據轉換器轉換的測量結果。本實用新型專利技術能夠對不同種類內存進行全面電特性測試與SPD信息燒錄；通過自動識別內存種類，對內存SPD自動燒錄內存基本信息與測試結果；能夠全自動對產品進行測試，完成良品、不良品區分放置，避免產品發生混合；效率化生產，可以同時測試多達12個產品，提高生產效率，從而適應現代化生產需求。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及半導體器件，特別是涉及ー種自動化內存電特性測試系統。
技術介紹
電腦內存通過表面貼裝技術進行組裝，將幾十個原輔材料組合在一起，如何檢驗其組裝以后的性能相當重要。市場上內存在安裝中會有很大一部分無法開機運行，更嚴重的內部短路點情況會將電腦主板燒毀等現象也有發生。另ー方面，由于大量的焊接點可能存在虛焊、脫焊等情況，經過一段時間的使用后必然出現不良，給客戶造成極大的損失。內存需要將基本信息燒錄至SPD(SH)是SERIAL PRESENCE DETECT的縮寫，中文意思是模組存在的串行檢測，也即是通過IIC串行接ロ的EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory,電可擦可編程只讀存儲器)對內存插槽中的模組存在的信息檢查)，不同種類、不同頻率、不同容量內存的基本信息不同，因此，燒錄錯誤將會造成不可彌補的損失，SPD信息燒錄的準確性、高效性是很多內存生產廠商的頑疾。
技術實現思路
(一 )要解決的技術問題本技術要解決的技術問題是如何實現對內存電特性的測試，以提高內存在后續使用中的穩定性。( ニ )技術方案為了解決上述技術問題，本技術提供一種自動化內存電特性測試系統，其包括測試器，其上設置有多個被測內存插座，用于插接被測內存并進行測試；電源及數據轉換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結果進行轉換；處理器，與所述電源及數據轉換器相連，由所述電源及數據轉換器供電，并接收所述電源及數據轉換器轉換的測量結果。其中，還包括控制器，分別與所述電源及數據轉換器和測試器相連，用于控制所述測試器對內存進行測試以及控制電源及數據轉換器的結果轉換。其中，所述電源及數據轉換器與所述測試器之間通過系統總線相連。其中，所述處理器與所述電源及數據轉換器之間通過通用接ロ總線相連。其中，所述控制器分別通過監控器電纜與所述電源及數據轉換器和測試器相連。(三)有益效果上述技術方案所提供的自動化內存電特性測試系統，能夠對不同種類內存進行全面電特性測試與sro信息燒錄；控制器能夠自動下載測試程序，對內存每個引腳進行電特性測試與讀寫操作，組立性不良檢出率100% ;通過自動識別內存種類，對內存SPD自動燒錄內存基本信息與測試結果；能夠全自動對產品進行測試，完成良品、不良品區分放置，避免產品發生混合；效率化生產，可以同時測試多達12個產品，提高生產效率，從而適應現代化生產需求。附圖說明圖I是本技術實施例的自動化內存電特性測試系統的結構示意圖。具體實施方式以下結合附圖和實施例，對本技術的具體實施方式作進ー步詳細描述。以下實施例用于說明本技術，但不用來限制本技術的范圍。圖I示出了本實施例的自動化內存電特性測試系統的結構示意圖，參照圖示,其包括測試器，其上設置有多個被測內存插座，用于插接被測內存并進行測試；電源及數據轉換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結果進行轉換；處理器，與所述電源及數據轉換器相連，由所述電源及數據轉換器供電，并接收所述電源及數據轉換器轉換的測量結果。還包括控制器，分別與所述電源及數據轉換器和測試器相連，用于控制所述測試器對內存進行測試以及控制電源及數據轉換器的結果轉換。具體地，所述電源及數據轉換器與所述測試器之間通過系統總線相連；所述處理器與所述電源及數據轉換器之間通過通用接ロ總線相連；所述控制器分別通過監控器電纜與所述電源及數據轉換器和測試器相連。使用本實施例的自動化內存電特性測試系統進行電特性測試時，通過控制器來控制測試程序的下載，顯示測試結果，保存詳細測試結果信息；電源及數據轉換器部分用于提供各個設備的電源，并且完成與處理器之間的數據交換，實現處理器自動抓取與區分內存；測試器部分用于測試內存，并且具有對sro進行燒錄的功能。該系統能夠實現批量化生產需要，自動化實現產品的測試與區分，一臺控制器，能夠實現對多個測試頭進行控制，即安裝在測試器上的多個內存在同一程序、同一標準下進行測試。測試器部分可以根據不同類型產品進行更換測試頭，提高其通用性，該系統最多一次可以對12個測試頭進行同時測試，并且可以任意開啟關閉其中的測試頭。由以上實施例可以看出，本技術實施例能夠對不同種類內存進行全面電特性測試與sro信息燒錄；控制器能夠自動下載測試程序，對內存每個引腳進行電特性測試與讀寫操作，組立性不良檢出率100% ;通過自動識別內存種類，對內存SPD自動燒錄內存基本信息與測試結果；能夠全自動對產品進行測試，完成良品、不良品區分放置，避免產品發生混合；效率化生產，可以同時測試多達12個產品，提高生產效率，從而適應現代化生產需求。以上所述僅是本技術的優選實施方式，應當指出，對于本
的普通技術人員來說，在不脫離本技術技術原理的前提下，還可以做出若干改進和替換，這些改進和替換也應視為本技術的保護范圍。權利要求1.一種自動化內存電特性測試系統，其特征在于，包括測試器，其上設置有多個被測內存插座，用于插接被測內存并進行測試；電源及數據轉換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結果進行轉換；處理器，與所述電源及數據轉換器相連，由所述電源及數據轉換器供電，并接收所述電源及數據轉換器轉換的測量結果。2.如權利要求I所述的自動化內存電特性測試系統，其特征在于，還包括控制器，分別與所述電源及數據轉換器和測試器相連，用于控制所述測試器對內存進行測試以及控制電源及數據轉換器的結果轉換。3.如權利要求2所述的自動化內存電特性測試系統，其特征在于，所述電源及數據轉換器與所述測試器之間通過系統總線相連。4.如權利要求2所述的自動化內存電特性測試系統，其特征在于，所述處理器與所述電源及數據轉換器之間通過通用接口總線相連。5.如權利要求2所述的自動化內存電特性測試系統，其特征在于，所述控制器分別通過監控器電纜與所述電源及數據轉換器和測試器相連。專利摘要本技術公開了一種自動化內存電特性測試系統，包括測試器，其上設置有多個被測內存插座，用于插接被測內存并進行測試；電源及數據轉換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結果進行轉換；處理器，與所述電源及數據轉換器相連，由所述電源及數據轉換器供電，并接收所述電源及數據轉換器轉換的測量結果。本技術能夠對不同種類內存進行全面電特性測試與SPD信息燒錄；通過自動識別內存種類，對內存SPD自動燒錄內存基本信息與測試結果；能夠全自動對產品進行測試，完成良品、不良品區分放置，避免產品發生混合；效率化生產，可以同時測試多達12個產品，提高生產效率，從而適應現代化生產需求。文檔編號G11C29/56GK202650548SQ201220183118公開日2013年1月2日 申請日期2012年4月27日 優先權日2012年4月27日專利技術者沈澤斌, 陶宗明, 王一, 劉欣, 蔡燕, 唐奇勝 申請人:海太半導體(無錫)有限公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種自動化內存電特性測試系統，其特征在于，包括：測試器，其上設置有多個被測內存插座，用于插接被測內存并進行測試；電源及數據轉換器，與所述測試器相連，為所述測試器供電，并接收所述測試器的測量結果進行轉換；處理器，與所述電源及數據轉換器相連，由所述電源及數據轉換器供電，并接收所述電源及數據轉換器轉換的測量結果。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：沈澤斌，陶宗明，王一，劉欣，蔡燕，唐奇勝，
申請(專利權)人：海太半導體無錫有限公司，
類型：實用新型
國別省市：