本發明專利技術涉及電子電路及自動化控制技術，具體的講是涉及一種過零檢測電路自動進行電壓校正的方法及裝置。本發明專利技術的方法的主要步驟為：在進行電壓過零檢測的同時進行電壓檢測，根據檢測到的電壓值通過和額定電壓比較得出電壓過零點的偏移值，利用偏移值對檢測到的過零點進行實時動態補償校正。本發明專利技術的裝置，主要包括電壓檢測電路、過零檢測電路和微處理器，所述電壓檢測電路和過零檢測電路分別與微處理器連接。本發明專利技術的有益效果為，能夠實時對過零信號進行智能校正，達到對電壓過零信號動態補償校正，從而有效的提高過零控制信號的精確度。本發明專利技術尤其適用于過零檢測電路。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及電子電路及自動化控制技術，具體的講是涉及一種過零檢測電路自動進行電壓校正的方法及裝置。
技術介紹
過零檢測的作用可以理解為給主芯片提供一個標準 ，這個標準的起點是零電壓，可控硅導通角的大小就是依據這個標準。也就是說塑封電機高、中、低、微轉速都對應一個導通角，而每個導通角的導通時間是從零電壓開始計算的，導通時間不一樣，導通角度的大小就不一樣，因此電機的轉速就不一樣。目前國內外在電壓過零檢測時，采用電壓降到一定電壓值時，默認為0，即認為這就是電壓過零點，都沒有考慮電壓變化對電壓過零點的影響，過零點都是在額定電壓的情況下給一個固定的補償，或者根本就無補償，都不能自動進行過零點偏移校正，在外部電壓變化時檢測到的電壓過零點與實際的電壓過零點存在較大的誤差。
技術實現思路
本專利技術所要解決的技術問題，就是針對目前的電壓過零檢測存在較大誤差的問題，提供一種過零檢測電路自動進行電壓校正的方法及裝置。本專利技術解決上述技術問題所采用的技術方案是過零檢測電路自動進行電壓校正的方法，其特征在于，包括以下步驟a.在進行電壓過零檢測的同時進行電壓檢測；b.根據檢測到的電壓值通過和額定電壓比較得出電壓過零點的偏移值；c.利用偏移值對檢測到的過零點進行實時動態補償校正。具體的，對檢測到的過零點進行實時動態補償校正的具體方法為假設T為過零信號經過校正后的輸出時間、t為檢測到的過零信號時間、d為固定電路補償參數、UsS檢測到的實時電壓、U#為固定標準電壓，則有T=t+d* (2;檢/^標)。用于過零檢測電路自動進行電壓校正的方法的裝置，包括電壓檢測電路、過零檢測電路和微處理器，所述電壓檢測電路和過零檢測電路分別與微處理器連接。具體的，所述微處理器為單片機。本專利技術的有益效果為，能夠實時對過零信號進行智能校正，達到對電壓過零信號動態補償校正，從而有效的提高過零控制信號的精確度。附圖說明圖I為本專利技術所述的過零檢測電路自動進行電壓校正的裝置的邏輯框圖。具體實施方式下面結合附圖詳細描述本專利技術的技術方案本專利技術所述的過零檢測電路自動進行電壓校正的方法，主要步驟為首先在進行電壓過零檢測的同時進行電壓檢測，本步驟在傳統的過零檢測電路中增加一路電壓檢測電路，用于檢測當前的電壓值；然后根據檢測到的電壓值通過和額定電壓比較得出電壓過零點的偏移值，實現該步驟可通過為處理器實現，如通過MCU通過檢測到的電壓值計算出外部電壓的有效值，然后和額定電壓進行比較計算出電壓過零點的偏移；最后利用偏移值對檢測到的過零點進行實時動態補償校正。本專利技術總的技術方案，主要為在進行過零檢測的同時實時檢測當前的外部電壓，然后根據通過此時有效的外部電壓和額定電壓的比較，從而得出電壓過零點的偏移值，實現對過零檢測電路的實時動態補償。一種具體的對檢測到的過零點進行實時動態補償校正的具體方法為假設T為過零信號經過校正后的輸出時間、t為檢測到的過零信號時間、d為固定電路補償參數、UsS檢測到的實時電壓、U#為固定標準電壓，則有T=t+d* (2;檢/^標)。用于過零檢測電路自動進行電壓校正的方法的裝置，包括電壓檢測電路、過零檢測電路和微處理器，所述電壓檢測電路和過零檢測電路分別與微處理器連接。具體的，所述微處理器為單片機。單片機作為常用的微處理器，其應用技術十分成熟，能夠滿足本專利技術所示方案的需求。如圖1所示，為一種具體的過零檢測電路自動進行電壓校正的裝置的邏輯框圖，其中，電壓檢測電路和過零檢測電路均分別連接到MCU的引腳，并通過整流橋電路和外部電源連接。該電路的工作原理為每當MCU上電后，MCU對輸入的電壓值進行檢測，計算出外部電壓的有效值，和額定電壓進行比較，其中額定電壓值存儲在MCU的存儲單元中，然后MCU計算出電壓過零點的偏移，對過零檢測電路的過零點進行實時動態補償校正，得到準確的過零信號，最后輸出經過智能校正的過零控制信號。權利要求1.過零檢測電路自動進行電壓校正的方法，其特征在于，包括以下步驟 a.在進行電壓過零檢測的同時進行電壓檢測； b.根據檢測到的電壓值通過和額定電壓比較得出電壓過零點的偏移值； c.利用偏移值對檢測到的過零點進行實時動態補償校正。2.根據權利要求I所述的過零檢測電路自動進行電壓校正的方法，其特征在于，對檢測到的過零點進行實時動態補償校正的具體方法為 假設T為過零信號經過校正后的輸出時間、t為檢測到的過零信號時間、d為固定電路補償參數、UsS檢測到的實時電壓、U#為固定標準電壓，則有 T=t+d* (2;檢/^標)。3.根據權利要求I所述的用于過零檢測電路自動進行電壓校正的方法的裝置，其特征在于，包括電壓檢測電路、過零檢測電路和微處理器，所述電壓檢測電路和過零檢測電路分別與微處理器連接。4.根據權利要求3所述的用于過零檢測電路自動進行電壓校正的方法的裝置，其特征在于，所述微處理器為單片機。全文摘要本專利技術涉及電子電路及自動化控制技術，具體的講是涉及一種過零檢測電路自動進行電壓校正的方法及裝置。本專利技術的方法的主要步驟為在進行電壓過零檢測的同時進行電壓檢測，根據檢測到的電壓值通過和額定電壓比較得出電壓過零點的偏移值，利用偏移值對檢測到的過零點進行實時動態補償校正。本專利技術的裝置，主要包括電壓檢測電路、過零檢測電路和微處理器，所述電壓檢測電路和過零檢測電路分別與微處理器連接。本專利技術的有益效果為，能夠實時對過零信號進行智能校正，達到對電壓過零信號動態補償校正，從而有效的提高過零控制信號的精確度。本專利技術尤其適用于過零檢測電路。文檔編號G01R19/175GK102890183SQ20121040734公開日2013年1月23日 申請日期2012年10月23日 優先權日2012年10月23日專利技術者楚耀國 申請人:四川長虹空調有限公司本文檔來自技高網...
【技術保護點】
過零檢測電路自動進行電壓校正的方法，其特征在于，包括以下步驟：a.在進行電壓過零檢測的同時進行電壓檢測；b.根據檢測到的電壓值通過和額定電壓比較得出電壓過零點的偏移值；c.利用偏移值對檢測到的過零點進行實時動態補償校正。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：楚耀國，
申請(專利權)人：四川長虹空調有限公司，
類型：發明
國別省市：
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