功率測試電路制造技術

一種功率測試電路，用于測試中央處理器和內存儲器的功率，該功率測試電路包括一第一開關單元、一第二開關單元、一顯示單元和一處理模塊，該處理模塊與該中央處理器、該內存儲器、該顯示單元以及該第一和第二開關單元連。上述功率測試電路通過該處理模塊自動測試該中央處理的功率或該內存儲器的功率，效率高且誤差小。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種功率測試電路，特別涉及一種中央處理器和內存儲器的功率測試電路。
技術介紹
主板系統測試包括中央處理器功率測試以及內存儲器功率測試，現有技術一般通過萬用表手動測試數據，再通過相關公式計算出中央處理器和內存儲器的功率，該種方法誤差大且效率低。
技術實現思路
鑒于以上內容，有必要提供一種可自動測試該中央處理器功率及內存儲器功率的 功率測試電路。一種功率測試電路，應用于測試一中央處理器和一內存儲器的功率，該功率測試電路包括 一第一開關單元包括第一端和接地的第二端，當該第一開關單元的第一端與該第二端相連時，該功率測試電路測試該中央處理器的功率，當該第一開關單元的第一端與該第二端斷開時，該功率測試電路測試該內存儲器的功率； 一顯示單元，用于顯示該功率測試電路的待顯示數據；以及 一處理模塊，與該中央處理器、該內存儲器、該顯示單元以及該第一開關單元的第一端相連，該處理模塊用于即時獲取該中央處理器和該內存儲器的電壓和電流，并將所獲取的該中央處理器的電壓和電流處理后輸出一第一功率顯示信號至該顯示單元以顯示該中央處理器的功率，或將所獲取的該內存儲器的電壓和電流處理后輸出一第二功率顯示信號至該顯示單元以顯示該內存儲器的功率。上述功率測試電路通過該處理模塊自動測試該中央處理器的功率或該內存儲器的功率，效率高且誤差小。附圖說明圖I為本專利技術功率測試電路的較佳實施方式的電路圖。主要元件符號說明權利要求1.一種功率測試電路，應用于測試一中央處理器和一內存儲器的功率，該功率測試電路包括 一第一開關單元包括第一端和接地的第二端，當該第一開關單元的第一端與該第二端相連時，該功率測試電路測試該中央處理器的功率，當該第一開關單元的第一端與該第二端斷開時，該功率測試電路測試該內存儲器的功率； 一顯示單元，用于顯示該功率測試電路的待顯示數據；以及 一處理模塊，與該中央處理器、該內存儲器、該顯示單元以及該第一開關單元的第一端相連，該處理模塊用于即時獲取該中央處理器和該內存儲器的電壓和電流，并根據所獲取的該中央處理器的電壓和電流計算出該中央處理器的功率并通過該顯示單元顯示，或根據所獲取的該內存儲器的電壓和電流計算出該內存儲器的功率并通過顯示單元顯示。2.如權利要求I所述的功率測試電路，其特征在于該功率測試電路還包括一包括第一端和第二端的第二開關單元，該第二開關單元的第一端連接該處理模塊，該第二開關單元的第二端接地，當該第二開關單元的第一端與該第二端相連時，該功率測試電路工作，當該第二開關單元的第一端與該第二端斷開時，該功率測試電路不工作。3.如權利要求2所述的功率測試電路，其特征在于該第二開關單元為一滑動開關，該第二開關單元的第一和第二端對應滑動開關的不動端和動端。4.如權利要求I所述的功率測試電路，其特征在于該第一開關單元為一滑動開關，該第一開關單元的第一和第二端對應滑動開關的不動端和動端。5.如權利要求I所述的功率測試電路，其特征在于該處理模塊包括一單片機、一濾波電路、一振蕩電路和一包括不動端和動端的開關；該單片機的第一引腳通過該濾波電路連接一直流電源，該單片機的第二至第八引腳與該顯示單元相連，該單片機的第九和第十引腳連接該振蕩電路，該單片機的第i^一引腳與該直流電源相連，該單片機的第十二和第十三引腳通過系統管理總線連接該中央處理器，該單片機的第十四和第十五引腳通過系統管理總線連接該內存儲器，該單片機的第十六引腳連接該開關的動端，該開關的不動端接地，該單片機的第十七和第十八引腳均接地，該單片機的第十九和第二十引腳分別連接該第一開關單元和該第二開關單元的不動端。6.如權利要求5所述的功率測試電路，其特征在于該濾波電路包括第一電容、第二電容和一電阻，該第一電容的一端連接該直流電源，另一端接地，該直流電源還依次通過該電阻和該第二電容接地，該單片機的第一引腳與該第二電容和電阻之間的節點相連。7.如權利要求5所述的功率測試電路，其特征在于該振蕩電路包括一晶體振蕩器、第三電容和第四電容，該單片機的第九和第十引腳分別連接該晶體振蕩器的兩端，該晶體振蕩器的兩端還分別通過該第三和第四電容接地。8.如權利要求5所述的功率測試電路，其特征在于該單片機存儲一處理程序，該處理程序用于讀取該中央處理器的電壓和電流以及該內存儲器的電壓和電流，并分別通過公式P1=(V1-R2*I1)*I1+V1*I1和公式P2=V2*I2算出該中央處理器的功率Pl和該內存儲器的功率P2，其中R2為該中央處理的電源負載電阻的阻值，Vl和Il分別為該中央處理器的電壓值和電流值，V2和Il分別為該內存儲器的電壓值和電流值。9.如權利要求8所述的功率測試電路，其特征在于當該開關的動端與該不動端相連時，該電源負載電阻的阻值R2為第一電阻值。10.如權利要求8所述的功率測試電路，其特征在于當該開關的動端與該不動端斷開時，該電源負載電阻的阻值R2為第二電阻值。全文摘要一種功率測試電路，用于測試中央處理器和內存儲器的功率，該功率測試電路包括一第一開關單元、一第二開關單元、一顯示單元和一處理模塊，該處理模塊與該中央處理器、該內存儲器、該顯示單元以及該第一和第二開關單元連。上述功率測試電路通過該處理模塊自動測試該中央處理的功率或該內存儲器的功率，效率高且誤差小。文檔編號G01R21/06GK102890186SQ201110203619公開日2013年1月23日 申請日期2011年7月20日 優先權日2011年7月20日專利技術者付迎賓, 葛婷, 潘亞軍 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種功率測試電路，應用于測試一中央處理器和一內存儲器的功率，該功率測試電路包括：一第一開關單元包括第一端和接地的第二端，當該第一開關單元的第一端與該第二端相連時，該功率測試電路測試該中央處理器的功率，當該第一開關單元的第一端與該第二端斷開時，該功率測試電路測試該內存儲器的功率；一顯示單元，用于顯示該功率測試電路的待顯示數據；以及一處理模塊，與該中央處理器、該內存儲器、該顯示單元以及該第一開關單元的第一端相連，該處理模塊用于即時獲取該中央處理器和該內存儲器的電壓和電流，并根據所獲取的該中央處理器的電壓和電流計算出該中央處理器的功率并通過該顯示單元顯示，或根據所獲取的該內存儲器的電壓和電流計算出該內存儲器的功率并通過顯示單元顯示。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：付迎賓，葛婷，潘亞軍，
申請(專利權)人：鴻富錦精密工業深圳有限公司，鴻海精密工業股份有限公司，
類型：發明
國別省市：