一種測試裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術涉及一種測試裝置，用于與計算機主板上的MINI-PCIE插槽電性連接，所述測試裝置包括：載板、兩個SMA連接頭、USB接口；所述載板上設置有金手指，所述載板通過所述金手指插入所述MINI-PCIE插槽；所述兩個SMA連接頭配置在所述載板上，與所述金手指電性連接；所述USB接口配置在所述載板上，與所述金手指連接。使用本實用新型專利技術可以通過金手指接口定義將MINI-PCIE插槽上的PCIE、SATA、USB信號引到本測試裝置進行信號測試，因此實現快速有效的進行測試，提高測試信號質量；本測試裝置設計合理，使用方便，嚴格遵循PCIE、SATA、USB相關協議規范要求，從而對設計提供有效的評估驗證測試。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種測試裝置，更具體地說，涉及一種可測試PCIE、SATA, USB信號的測試裝置。
技術介紹
隨著計算機及通訊設備對性能要求的日益提高，為了解決個人計算機中的各項設備對于頻寬的要求，新世代周邊連接接口總線(PCIE)誕生了，這種技術最初是為了實現高速傳送數據所設設計的。PCIE接口中的一種MINI-PCIE接口也越來越廣泛被應用，其中MINI-PCIE接口可用來傳遞PCIE、SATA、USB信號，但是對于MINI-PCIE接口的測試，現有的測試技術無法直接在MINI-PCIE接口上進行信號測試，無法使用同一個測試卡對這三種信號進行測試，影響測試效率，且容易導致測試結果誤判。·
技術實現思路
本技術要解決的技術問題在于，針對現有技術的無法直接MINI-PCIE接口上PCIE、SATA, USB信號進行測試對缺陷，提供一種可測試PCIE、SATA, USB信號的測試裝置。本技術解決其技術問題所采用的技術方案是構造一種測試裝置，用于與計算機主板上的MINI-PCIE插槽電性連接，所述測試裝置包括載板、兩個SMA連接頭、USB接口 ；所述載板上設置有金手指，所述載板通過所述金手指插入所述MINI-PCIE插槽；所述兩個SMA連接頭配置在所述載板上，與所述金手指電性連接；所述USB接口配置在所述載板上，與所述金手指連接。在本技術所述的測試裝置中，所述兩個SMA連接頭連接至所述金手指的引腳PCIE_TXP、PCIE_TXN 或者 SATA_TXP、SATA_TXN。在本技術所述的測試裝置中，所述USB接口連接至所述金手指的引腳USB_D+、USB_D-。在本技術所述的測試裝置中，所述兩個SMA連接頭通過兩條SMA同軸電纜連接至示波器。在本技術所述的測試裝置中，所述SMA同軸電纜具有50歐姆的阻抗。在本技術所述的測試裝置中，所述SMA連接頭具有50歐姆的阻抗。在本技術所述的測試裝置中，所述SMA連接頭與所述金手指之間的連線具有85歐姆的阻抗。在本技術所述的測試裝置中，所述USB接口通過USB治具連接至示波器。在本技術所述的測試裝置中，所述USB接口與金手指之間的連線具有90歐姆的阻抗。在本技術所述的測試裝置中，所述USB接口與所述USB治具之間的連接具有90歐姆的阻抗。實施本技術的測試裝置，具有以下有益效果該測試裝置通過SMA連接頭及USB接口分別與金手指連接，再通過金手指與計算機主板上的MINI-PCIE插槽電性連接，通過金手指接口定義將MINI-PCIE插槽上的PCIE、SATA、USB信號引到本測試裝置進行信號測試，因此實現快速有效的進行測試，提高測試信號質量。本測試裝置設計合理，使用方便，嚴格遵循PCIE、SATA、USB相關協議規范要求，從而對設計提供有效的評估驗證測試。附圖說明下面將結合附圖及實施例對本技術作進一步說明，附圖中圖I是本技術的測試裝置的結構示意圖；圖2是本技術的測試裝置的正面示意圖；圖3是本技術的測試裝置的背面示意圖。 具體實施方式為了使本技術的目的更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本技術進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本技術，并不用于限定本技術。如圖I所示，是本技術的測試裝置的結構示意圖。測試裝置100與計算機主板上的MINI-PCIE插槽(圖中未畫出)電性連接，測試裝置100包括載板I、兩個SMA連接頭2、USB接口 3 ;載板I上設置有金手指4，載板I通過金手指4插入計算機主板上的MINI-PCIE插槽；兩個SMA連接頭2配置在載板I上，與金手指4電性連接；USB接口 3配置在載板I上，與金手指4連接。進一步的，兩個SMA連接頭2連接至金手指4的引腳PCIE_TXP、PCIE_TXN或者SATA_TXP、SATA_TXN。進一步的，USB接口 3連接至金手指4的引腳USB_D+、USB_D_。進一步的，兩個SMA連接頭2通過兩條SMA同軸電纜5連接至示波器7的接口 CHl和CH2 ；SMA同軸電纜5具有50歐姆的阻抗；SMA連接頭2具有50歐姆的阻抗；SMA連接頭2與所述金手指4之間的連線具有85歐姆的阻抗。進一步的，USB接口 3通過USB治具6連接至示波器7的接口 CH3 ；USB接口 3與金手指4之間的連線具有90歐姆的阻抗；USB接口 3與USB治具6之間的連接具有90歐姆的阻抗。在具體工作中，測試裝置100的載板I插入計算機主板上的MINI-PCIE插槽，通過金手指4的引腳PCIE_TXP、PCIE_TXN或者SATA_TXP、SATA_TXN與SMA連接頭2連接，接收PCIE或者SATA信號，再通過SMA電纜5將信號傳遞到示波器7上顯示；通過金手指4的引腳USB_D+、USB_D-與USB接口 3連接，接收計算機上的USB信號，再通過USB治具6及測試探頭8將USB信號傳送到示波器7上顯示；對PCIE、SATA、USB信號進行測試。使用該測試裝置100可以實現快速有效的測試，提高測試信號質量。本測試裝置設計合理，使用方便，嚴格遵循PCIE、SATA、USB相關協議規范要求，從而對設計提供有效的評估驗證測試。該測試裝置100的金手指4接口信號定義如表I (NC為空接或擴展信號)。表I權利要求1.一種測試裝置，用于與計算機主板上的MINI-PCIE插槽電性連接，其特征在于，所述測試裝置(100)包括載板(I )、兩個SMA連接頭(2)、USB接口(3);所述載板(I)上設置有金手指(4)，所述載板(I)通過所述金手指(4)插入所述MINI-PCIE插槽；所述兩個SMA連接頭(2 )配置在所述載板(I)上，與所述金手指(4)電性連接；所述USB接口( 3 )配置在所述載板(I)上，與所述金手指(4 )連接。2.根據權利要求I所述的測試裝置，其特征在于，所述兩個SMA連接頭(2)連接至所述金手指(4)的引腳 PCIE_TXP、PCIE_TXN 或者 SATA_TXP、SATA_TXN。3.根據權利要求I所述的測試裝置，其特征在于，所述USB接口(3)連接至所述金手指(4 )的引腳 USB_D+、USB_D-。4.根據權利要求I所述的測試裝置，其特征在于，所述兩個SMA連接頭(2)通過兩條SMA同軸電纜(5)連接至示波器(7)。5.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述SMA同軸電纜(5)具有50歐姆的阻抗。6.根據權利要求5所述的測試裝置，其特征在于，所述SMA連接頭(2)具有50歐姆的阻抗。7.根據權利要求6所述的測試裝置，其特征在于，所述SMA連接頭(2)與所述金手指(4)之間的連線具有85歐姆的阻抗。8.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，所述USB接口(3)通過USB治具(6)連接至示波器(7)。9.根據權利要求8所述的測試裝置，其特征在于，所述USB接口(3)與金手指(4)之間的連線具有90歐姆的阻抗。10.根據權利要求9所述的測試裝置，其特征在于，所述USB接口(3)與所述USB治具(6)之間的連接具有90歐姆的阻抗。專利摘要本技術涉及一種測試裝置，用于與計算機主板上的MINI-PCIE插槽電性連接，本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種測試裝置，用于與計算機主板上的MINI？PCIE插槽電性連接，其特征在于，所述測試裝置（100）包括：載板（1）、兩個SMA連接頭（2）、USB接口（3）；所述載板（1）上設置有金手指（4），所述載板（1）通過所述金手指（4）插入所述MINI？PCIE插槽；所述兩個SMA連接頭（2）配置在所述載板（1）上，與所述金手指（4）電性連接；所述USB接口（3）配置在所述載板（1）上，與所述金手指（4）連接。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：阮仕濤，
申請(專利權)人：深圳市祈飛科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：