一種軸承的狀態檢測電路制造技術

本發明專利技術公開了一種軸承的狀態檢測電路，包括第一放大電路、第二放大電路，微處理器，其中，微處理器分別與第一放大電路、第二放大電路相連接。本發明專利技術用于軸承狀態檢測，具有高精度、強抗干擾能力等優點。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術公開了一種軸承的狀態檢測電路，具體為一種傳感器結合電子技術的軸承的狀態檢測電路。
技術介紹
軸承狀態檢測與故障診斷技術是一種了解和掌握軸承在使用過程中的狀態，確定其整體或局部正常或異常，并且能夠預報故障發展趨勢的技術。在工業應用系統中，滾動軸承是其中的重要部件，而滾動軸承引發的故障是引起及其設備失效的重要原因，特別是在告訴重載條件下的滾動軸承，由于工作面接觸應力的長期反復作用，極易引起疲勞，裂紋，剝蝕，壓痕等故障，從而引發軸承產生斷裂，膠著，燒損等現象。而這些故障會使軸承的旋轉精度降低，產生震動，噪聲，增加軸承的旋轉阻力。最終將使軸承受到阻滯和卡死。造成工 業機械系統的失效。因而對軸承狀態的檢測是十分重要的。因此，一種軸承的狀態檢測電路是必不可少的。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種軸承的狀態檢測電路，用于旋轉機械相關壓力的測量和校正。實現上述目的的技術方案是一種軸承的狀態檢測電路，包括放大濾波電路100、放大電路200，微處理器U3，模數轉換器10及指示裝置300。上述放大電路100包括第一運算放大器U1、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4，其中，所述傳感器輸出電量信號Vin與所述第一運算放大器Ul正向輸入端串聯電阻R5，所述第一運算放大器Ul正向輸入端與參考電源1/2大小電平之間串聯所述電阻R2，所述第一運算放大器Ul反相輸入端與地線參考電平之間串聯所述電阻R3，與所述第一運算放大器輸出OUTl之間串聯所述電阻R4。。上述放大電路200包括運算放大器U2、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8，其中，其中，所述傳感器輸出電量信號Vin與所述第二運算放大器U2反向輸入端串聯所述電阻R7，所述第二運算放大器U2反向輸入端與所述第二運算放大器輸出0UT2之間串聯所述電阻R8，所述第二運算放大器U2正相輸入端與地線參考電源1/2大小電平之間串聯所述電阻R5，所述第二運算放大器U2正向輸入端與參考地線電平之間串聯所述電阻R6。上述U3微處理器帶有至少2個A/D轉換模塊。上述第一運算放大器Ul的輸出端OUTl連接到所述微處理器U3的A/D轉換模塊，所述第二運算放大器U2的輸出端0UT2連接到所述微處理器U3的A/D轉換模塊。本專利技術的有益效果是本專利技術用于軸承狀態檢測，具有高精度、強抗干擾能力等優點。附圖說明圖I是本專利技術的結構示意圖。具體實施例方式下面結合附圖說明本專利技術的優選實施策略。請參考圖1，圖中給出了一種軸承的狀態檢測電路較佳實施方式。本電路包括放大濾波電路100、放大電路200，微處理器U3，模數轉換器10及指示裝置300。放大電路100包括運算放大器U1、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4。傳感器輸出電量信號Vin與運算放大器Ul正向輸入端串聯電阻R5，運算放大器Ul正向輸入端與參考電源1/2大小電平之間串聯電阻R2，運算放大器Ul反相輸入端與地線參考電平之間串聯電阻R3，與放大器輸出OUTl之間串聯電阻R4。 放大電路200包括運算放大器U2、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8。傳感器輸出電量信號Vin與運算放大器U2反向輸入端串聯電阻R7，運算放大器U2反向輸入端與運算放大器輸出0UT2之間串聯電阻R8，運算放大器U2正相輸入端與地線參考電源1/2大小電平之間串聯電阻R5，運算放大器U2正向輸入端與參考地線電平之間串聯所述電阻R6。運算放大器Ul的輸出端OUTl連接到所述微處理器U3的A/D轉換模塊所述運算放大器U2的輸出端0UT2連接到所述微處理器U3的A/D轉換模塊。本例實施中，U3采用MSP430低功耗處理器。Rl=R3=R5=R7=100k, R2=R4=R6=R8=100k,放大電路100的傳遞函數為公式I表達如下0UTl=VCC/2+Vin;公式 I放大電路200的傳遞函數為公式2表達如下0UT2=VCC/2-Vin;公式 2在MSP430進行A/D處理后將公式I和公式2相加得到公式3表達如下0UTl+0UT2=2Vin ;公式 3本專利技術的原理是利用差分放大的原理，可以提高一倍的信號增益，消除誤差，使軸承狀態檢測具有聞精度、強抗干擾能力的特點。以上結合附圖實施例對本專利技術進行了詳細說明，本領域中普通技術人員可根據上述說明對本專利技術做出種種變化例。因而，實施例中的某些細節不應構成對本專利技術的限定，本專利技術將以所附權利要求書界定的范圍作為本專利技術的保護范圍。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種軸承的狀態檢測電路，其特征在于，包括第一放大電路、第二放大電路，微處理器及顯示單元，其中，所述微處理器分別與所述第一放大電路、所述第二放大電路及所述顯示單元相連接。

【技術特征摘要】
1.一種軸承的狀態檢測電路，其特征在于，包括第一放大電路、第二放大電路，微處理器及顯示單元，其中，所述微處理器分別與所述第一放大電路、所述第二放大電路及所述顯示單元相連接。2.根據權利要求I所述的軸承的狀態檢測電路，其特征在于，所述第一放大電路包括第一運算放大器Ul、電阻Rl、電阻R2、電阻R3、電阻R4，其中，所述傳感器輸出電量信號Vin與所述第一運算放大器Ul正向輸入端串聯所述電阻R5，所述第一運算放大器Ul正向輸入端與參考電源1/2大小電平之間串聯所述電阻R2，所述第一運算放大器Ul反相輸入端與地線參考電平之間串聯所述電阻R3，與所述第一運算放大器輸出OUTl之間串聯所述電阻R4。3.根據權利要求I所述的軸承的狀態檢測電路，其特征在于，所述第二放大電路包括運算放大器U2、電阻R5、電阻R6、電阻R7、電阻R8，其中，所述傳感器輸出...

【專利技術屬性】
技術研發人員：于星光，
申請(專利權)人：昆山北極光電子科技有限公司，
類型：發明
國別省市：