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    一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法及系統技術方案

    技術編號:8367912 閱讀:185 留言:0更新日期:2013-02-28 07:33
    本發明專利技術公開一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法及系統,方法包括:依據獲取的分布式天線每個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值,得到協同天線集合及其中每個分布式天線的初步時間同步點,取協同天線集合中任意一個分布式天線為當前分布式天線與其余分布式天線配對得到多組天線對,當多組天線對中不存在異常天線,則得到標記成功的天線對及每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點,反之,存在異常天線,當有與異常天線配對的標記成功天線,依據標記成功的天線得到異常天線的最終時間同步點,反之,異常天線的初步時間同步點為最終時間同步點,此方法應用于系統中,可提高獲取最終粗時間同步點的精度并降低粗時間同步的虛警概率。

    【技術實現步驟摘要】
    一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法及系統
    本專利技術涉及通信領域,特別是一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法及系統。
    技術介紹
    在通信領域中,時間同步常分為兩個步驟:粗時間同步和精時間同步。通常情況下,粗時間同步應當在通信系統的其他處理(如同步跟蹤、信道估計和數據檢測等)之前進行,是通信系統的首要任務。因而,粗時間同步性能直接影響整個通信系統的性能,如何提高粗時間同步精度,避免數據損失,是通信領域中一直以來的重要問題。按照傳統的處理方法,在進行粗時間同步時,常利用已知的訓練序列與接收信號進行相關運算,并按一定的準則找到發射信號到達接收天線的傳播時延。假設訓練序列m(k),接收天線接收到的發射機發射的信號為r(k),訓練序列m(k)所在的無線幀的幀格式如圖1所述,訓練序列處于時隙(TS:Timeslot)中的某一個位置(可以是時隙的開始,時隙的結尾,也可以在時隙中的其他位置),不失一般性,訓練序列m(k)對接收天線而言是已知的。傳統的方法常利用已知的訓練序列m(k)與接收信號r(k)進行相關運算,即其中K可選為訓練序列的長度,從而,可取檢驗量為|Corr(d)|2,即逐個搜索檢驗量|Corr(d)|2,當搜索到檢驗量|Corr(d)|2大于給定的門限Th時,|Corr(d)|2對應的時間點d即為粗時間同步點。對無線通信系統傳統的處理方法中,干擾和噪聲不可避免的存在,由于沒有其他外在的輔助檢驗,噪聲和干擾引起的錯誤的粗時間同步點難以被糾正,從而導致傳統的粗時間同步方法的同步精度相對較低,并且出現虛警(沒有發射信號的情況下,誤認為有發射信號的現象)的概率會很高。
    技術實現思路
    本專利技術所解決的問題是:提供一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法及系統,以解決現有技術中對分布式天線粗時間同步方法的同步精度相對較低,出現虛警現象的概率相對較高的問題。本專利技術提供一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法,包括:獲取分布式天線中每個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值;依據所述采樣點對應的粗時間同步檢驗量值得到協同天線集合以及所述協同天線集合中每個分布式天線的初步時間同步點;取所述協同天線集合中的任意一個分布式天線為當前分布式天線,將當前分布式天線與所述協同天線集合中的其余天線配對,得到多組天線對;判斷所述多組天線對中是否存在異常分布式天線;如果否,則得到標記成功的天線對,并且所述標記成功的天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;如果是,則存在異常分布式天線,判斷是否有與所述異常分布式天線配對的標記成功天線,如果有,將所述異常分布式天線依據所述標記成功的天線得到所述異常分布式天線的最終時間同步點,如果沒有,所述異常分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點。優選地,所述判斷與所述多組天線對中是否存在異常天線的過程包括:將所述多組天線對逐組進行校驗,判斷所述天線對中兩個天線的初步同步時間點的差值是否在第二預設閾值范圍內,如果是,則校驗成功,如果否,則校驗失敗,若所述天線對全部沒有校驗成功,則所述當前分布式天線為異常天線;取所述天線對中除異常天線外的第一分布式天線,將所述第一分布式天線與所述協同天線集合中的除異常天線外的天線進行配對,得到與所述第一分布式天線配對的天線對;若所述與第一分布式天線配對的天線對全部校驗成功,則得到標記成功的天線對,并且所述標記成功的天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;若所述與所述第一分布式天線配對的天線對全部沒有校驗成功,則所述第一分布式天線為異常分布式天線,依次循環,得到所述協同天線集合中的所有天線的校驗狀態,其中,所述校驗狀態為標記成功或異常。優選地,還包括:若所述天線對中有部分天線對校驗成功,則得到標記成功的天線對,并且所述標記成功的天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;取所述天線對中除標記成功的天線外的第二分布式天線,將所述第二分布式天線與所述協同天線集合中除第一分布式天線、第二分布式天線以及異常天線外的天線進行配對,得到與所述第二分布式天線配對的天線對;若所述與第二分布式天線配對的天線對全部校驗成功,得到標記成功的天線對,并且所述標記成功的天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;若所述與第二分布式天線配對的天線對全部沒有校驗成功,則所述第二分布式天線為異常分布式天線;若所述與第二分布式天線配對的天線對中有部分天線對校驗成功,得到標記成功的天線對,并且所述標記成功的天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點,并返回執行取所述天線對中除標記成功的天線外的第二分布式天線,將所述第二分布式天線進行配對,得到與所述第二分布式天線配對的天線對,這一步驟,依次循環,得到所述天線對中的所有天線的校驗狀態,其中,所述校驗狀態為標記成功或異常。優選地,所述獲取分布式天線中每個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值的過程包括:將所述分布式天線接收的訓練序列和預設的訓練序列進行相關運算處理,得到與所述分布式天線對應的相關函數,并對所述相關函數取模方處理,得到所述每個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值。優選地,所述依據采樣點對應的粗時間同步檢驗量值得到協同天線集合以及所述協同天線集合中每個分布式天線的初步時間同步點的過程包括:當所述采樣點中至少一個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值符合第一預設條件時,將所述粗時間同步檢驗量值對應的分布式天線加入協同天線集合,所述粗時間同步檢驗量值對應的分布式天線的采樣點為所述分布式天線的初步時間同步點。優選地,所述采樣點中任意一個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值符合第一預設條件的過程包括:判斷所述采樣點中是否存在至少一個采樣點,其對應的粗時間同步檢驗量值大于等于第一預設閾值,如果是,則符合第一預設條件,如果否,則不符合第一預設條件。優選地,還包括:當所述采樣點對應的粗時間同步檢驗量值全部不符合第一預設條件時,將所述粗時間同步檢驗量值對應的分布式天線加入漏檢天線集合。優選地,所述將所述多組天線對逐組進行校驗,若所述天線對全部沒有校驗成功,則所述當前分布式天線為異常天線的過程包括:按照第二預設條件將所述多組天線對進行排序,其中,所述第二預設條件為天線對間的時延差先驗信息從小到大進行排序;取出符合第二預設條件的天線對,當所述天線對中兩個天線的初步同步時間點的差值不在第二預設閾值范圍內時,則所述天線對校驗失敗;如果所述多組天線對中的每個天線對中的兩個天線的初步同步時間點的差值都不在所述第二預設閾值范圍內時,則所述當前分布式天線為異常天線,其中,所述第三預設條件為時延差先驗信息最小的天線對,所述第二預設閾值為所述天線對中兩個天線的時延差先驗信息。優選地,所述將異常天線依據所述標記成功的天線得到所述異常分布式天線的最終時間同步點的過程包括:將所述異常天線與所述協同天線集合中的標記成功的天線配對,得到多組天線對,并按照第二預設條件排序;所述按照第二預設條件排序包括:將所述多組天線對按照天線對間的時延差先驗信息從小到大進行排序;按預設順序取出標記成功的天線;所述預設順序為所述標記成功天線與所述異常天線按時延差先驗信息從小到大的順序;判斷所述標記成功天線的最終時間同步點是否大于所述異常天線的初步時本文檔來自技高網
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    一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法及系統

    【技術保護點】
    一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法,其特征在于,所述方法包括:獲取分布式天線中每個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值;依據所述采樣點對應的粗時間同步檢驗量值得到協同天線集合以及所述協同天線集合中每個分布式天線的初步時間同步點;取所述協同天線集合中的任意一個分布式天線為當前分布式天線,將當前分布式天線與所述協同天線集合中的其余天線配對,得到多組天線對;判斷所述多組天線對中是否存在異常分布式天線;如果否,則得到標記成功的天線對,并且所述標記成功的天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;如果是,則存在異常分布式天線,判斷是否有與所述異常分布式天線配對的標記成功天線,如果有,將所述異常分布式天線依據所述標記成功的天線得到所述異常分布式天線的最終時間同步點,如果沒有,所述異常分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點。

    【技術特征摘要】
    1.一種基于協同校驗的分布式天線粗時間同步方法,其特征在于,所述方法包括:獲取分布式天線中每個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值;具體地,將所述分布式天線接收的訓練序列和預設的訓練序列進行相關運算處理,得到與所述分布式天線對應的相關函數,并對所述相關函數取模方處理,得到所述每個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值;依據所述采樣點對應的粗時間同步檢驗量值得到協同分布式天線集合以及所述協同分布式天線集合中每個分布式天線的初步時間同步點;具體地,當所述采樣點中至少一個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值符合第一預設條件時,將所述粗時間同步檢驗量值對應的分布式天線加入協同分布式天線集合,所述粗時間同步檢驗量值對應的分布式天線的采樣點為所述分布式天線的初步時間同步點;其中,確定采樣點中至少一個采樣點對應的粗時間同步檢驗量值符合第一預設條件的過程包括:判斷所述采樣點中是否存在至少一個采樣點,其對應的粗時間同步檢驗量值大于等于第一預設閾值,如果是,則符合第一預設條件,如果否,則不符合第一預設條件;取所述協同分布式天線集合中的任意一個分布式天線為當前分布式天線,將當前分布式天線與所述協同分布式天線集合中的其余分布式天線配對,得到多組分布式天線對;判斷所述多組分布式天線對中是否存在異常分布式天線;如果否,則得到標記成功的分布式天線對,并且所述標記成功的分布式天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;如果是,則存在異常分布式天線,判斷是否有與所述異常分布式天線配對的標記成功的分布式天線,如果有,將所述異常分布式天線依據所述標記成功的分布式天線得到所述異常分布式天線的最終時間同步點,如果沒有,所述異常分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;其中,所述判斷所述多組分布式天線對中是否存在異常分布式天線的過程包括:將所述多組分布式天線對逐組進行校驗,判斷所述分布式天線對中兩個分布式天線的初步同步時間點的差值是否在第二預設閾值范圍內,如果是,則校驗成功,如果否,則校驗失敗,若所述分布式天線對全部沒有校驗成功,則所述當前分布式天線為異常分布式天線;取所述分布式天線對中除異常分布式天線外的第一分布式天線,將所述第一分布式天線與所述協同分布式天線集合中的除異常分布式天線外的分布式天線進行配對,得到與所述第一分布式天線配對的分布式天線對;若所述與第一分布式天線配對的分布式天線對全部校驗成功,則得到標記成功的分布式天線對,并且所述標記成功的分布式天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;若所述與所述第一分布式天線配對的分布式天線對全部沒有校驗成功,則所述第一分布式天線為異常分布式天線,依次循環,得到所述協同分布式天線集合中的所有分布式天線的校驗狀態,其中,所述校驗狀態為標記成功或異常;若所述分布式天線對中有部分分布式天線對校驗成功,則得到標記成功的分布式天線對,并且所述標記成功的分布式天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;取所述分布式天線對中除標記成功的分布式天線外的第二分布式天線,將所述第二分布式天線與所述協同分布式天線集合中除第一分布式天線、第二分布式天線以及異常分布式天線外的分布式天線進行配對,得到與所述第二分布式天線配對的分布式天線對;若所述與第二分布式天線配對的分布式天線對全部校驗成功,得到標記成功的分布式天線對,并且所述標記成功的分布式天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點;若所述與第二分布式天線配對的分布式天線對全部沒有校驗成功,則所述第二分布式天線為異常分布式天線;若所述與第二分布式天線配對的分布式天線對中有部分分布式天線對校驗成功,得到標記成功的分布式天線對,并且所述標記成功的分布式天線對中的每個分布式天線的初步時間同步點為最終時間同步點,并返回執行取所述分布式天線對中除標記成功的分布式天線外的第二分布式天線,將所述第二分布式天線進行配對,得到與所述第二分布式天線配對的分布式天線對,這一步驟,依次循環,得到所述分布式天線對中的所有分布式天線的校驗狀態,其中,所述校驗狀態為標記成功或異常;其中,將所述多組分布式天線對逐組進行校驗,若所述分布式天線對全部沒有校驗成功,則所述當前分布式天線為異常分布式天線的過程包括:按照第二預設條件將所述多組分布式天線對進行排序,其中,所述第二預設條件為分布式天線對間的時延差先驗信息從小到大進行排序;取出符合第三預設條件的分布式天線對,當所述分布式天線對中兩個分布式天線的初步同步時間點的差值不在第二預設閾值范圍內時,則所述分布式天線對校驗失敗;如果所述多組分布式天線對中的每個分布式天線對中的兩個分布式天線的初步同步時間點的差值都不在所述第二預設閾值范圍內時,則所述當前分布式天線為異常分布式天線,其中,所述第三預設條件為時延差先驗信息最小的分布式天線對,所述第二預設閾值為所述分布式天線對中兩個分布式天線的時延差先驗信息;其中,所述將異常分布式天線依據所述標記成功的分布式天線得到所述異常分布式天線的最終時間同步點的過程包括:將所述異常分布式天線與所述協同分布式天線集合中的標記成功的分布式天線配對,得到多組分布式天線對,并按照第二預設條件排序;所述按照第二預設條件排序包括:將所述多組分布式天線對按照分布式天線對間的時延差先驗信息從小到大進行排序;按預設順序取出標記成功的分布式天線;所述預設順序為所述標記成功的分布式天線與所述異常分布式天線按時延差先驗信息從小到大的順序;判斷所述標記成功的分布式天線的最終時間同步點是否大于所述異常分布式天線的初步時間同步點,如果否,當所述標記成功的分布式天線和所述異常分布式天線的時延差先驗信息符合預設范圍時,以標記成功的分布式天線的最終時間同步點為起點,逐個獲取所述異常分布式天線符合第一預設條件的粗時間同步檢驗量值,所述粗時間同步檢驗量值對應的時間同步點為所述異常分布式天線的最終時間同步點;如果是,則不對標記校驗成功的分布式天線對進行校驗;其中,所述預設范圍為時延差先驗信息要求;所述第一預設條件是指粗時間同步檢驗量值大于等于第一預設閾值。2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,還包括:當所述采樣點對應的粗時間同步檢驗量值全部不符合第一預設條件時,將所述粗時間同步檢驗量...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:卿朝進夏凌董秀成黃小莉
    申請(專利權)人:西華大學
    類型:發明
    國別省市:

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