磁場作用下的電導電流測試裝置，涉及一種電導電流測試裝置。它是為了適應對待測復合材料在不同磁場作用下的電導測試的需求。磁場作用下的電導電流測試裝置，它包括圓柱電極、圓電極、一號可調直流電源和高阻計，圓柱電極設置在待測復合材料的上表面，圓電極設置在待測復合材料的下表面，圓柱電極和圓電極分別接入可調直流電源，高阻計用于測量通過圓柱電極和圓電極的電流；它還包括一號片狀電極、二號片狀電極和二號可調直流電源，一號片狀電極和二號片狀電極相互平行設置，一號片狀電極和二號片狀電極之間的區(qū)域為待測復合材料的放置區(qū)域，一號片狀電極和二號片狀電極接入二號可調直流電源。本實用新型專利技術適用于不同磁場作用下的電導電流測試。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及一種電導電流測試裝置。
技術介紹
目前的電導電流測試裝置如圖I所示，其是在待測復合材料的上面和下面分別設置一個圓柱電極I和一個圓電極2，然后在將兩個電極接入可調直流電源，然后采集通過兩個電極上的電流值，從而得到電導電流值。但是這種方式下，由于無法改變通入待測復合材料的電流，因此也無法測試在不同磁場作用下的電導電流。
技術實現思路
本技術是為了適應對待測復合材料在不同磁場作用下的電導電流測試的需·求，從而提出一種磁場作用下的電導電流測試裝置。磁場作用下的電導電流測試裝置，它包括圓柱電極、圓電極、一號可調直流電源和高阻計，所述圓柱電極設置在待測復合材料的上表面，圓電極設置在待測復合材料的下表面，所述圓柱電極和圓電極分別接入可調直流電源，高阻計用于測量通過圓柱電極和圓電極的電流；它還包括一號片狀電極、二號片狀電極和二號可調直流電源，所述一號片狀電極和二號片狀電極相互平行設置，所述一號片狀電極和二號片狀電極之間的區(qū)域為待測復合材料的放置區(qū)域，一號片狀電極和二號片狀電極接入二號可調直流電源。有益效果本技術采用可調電流源將電流通入一號片狀電極和二號片狀電極，使一號片狀電極和二號片狀電極之間形成磁場，通過調節(jié)通入一號片狀電極和二號片狀電極的電流強度，從而改變磁場強度，然后采集通過兩個電極上的電流值，從而得到電導電流值，實現對待測復合材料在不同磁場作用下的電導電流測試。本技術能夠充分適應對待測復合材料在不同磁場作用下的電導電流測試的需求。附圖說明圖I是本技術的結構示意圖。具體實施方式具體實施方式一、結合圖I說明本具體實施方式，磁場作用下的電導電流測試裝置，它包括圓柱電極I、圓電極2、一號可調直流電源3和高阻計4，所述圓柱電極I設置在待測復合材料10的上表面，圓電極2設置在待測復合材料10的下表面，所述圓柱電極I和圓電極2分別接入可調直流電源3，高阻計4用于測量通過圓柱電極I和圓電極2的電流；它還包括一號片狀電極6、二號片狀電極7和二號可調直流電源8,所述一號片狀電極6和二號片狀電極7相互平行設置，所述一號片狀電極6和二號片狀電極7之間的區(qū)域為待測復合材料10的放置區(qū)域，一號片狀電極6和二號片狀電極7接入二號可調直流電源8。工作原理本技術采用可調電流源將電流通入一號片狀電極和二號片狀電極，使一號片狀電極和二號片狀電極之間形成磁場，通過調節(jié)通入一號片狀電極和二號片狀電極的電流強度，從而改變磁場強度，然后采集通過兩個電極上的電流值，從而得到電導電流值，實現對待測復合材料在不同磁場作用下的電導電流測試。本技術能夠充分適應對待測復合材料在不同磁場作用下的電導測試的需求。具體實施方式二、本具體實施方式與具體實施方式一所述的磁場作用下的電導電流測試裝置的區(qū)別在于，它還包括一側開口的箱體9，一號片狀電極6和二號片狀電極7分別固定在一側開口的箱體9的上表面和下表面，所述一側開口的箱體9的中間設置有待測復合材料放置平臺。權利要求1.磁場作用下的電導電流測試裝置，它包括圓柱電極(I)、圓電極(2)、一號可調直流電源(3)和高阻計(4)，所述圓柱電極(I)設置在待測復合材料(10)的上表面，圓電極(2)設置在待測復合材料(10)的下表面，所述圓柱電極(I)和圓電極(2)分別接入可調直流電源(3)，高阻計(4)用于測量通過圓柱電極(I)和圓電極(2)的電流；其特征是它還包括一號片狀電極(6)、二號片狀電極(7)和二號可調直流電源(8)，所述一號片狀電極(6)和二號片狀電極(7)相互平行設置，所述一號片狀 電極(6)和二號片狀電極(7)之間的區(qū)域為待測復合材料(10)的放置區(qū)域，一號片狀電極(6)和二號片狀電極(7)接入二號可調直流電源⑶。2.根據權利要求I所述的磁場作用下的電導電流測試裝置，其特征在于它還包括一側開口的箱體(9), 一號片狀電極(6)和二號片狀電極(7)分別固定在一側開口的箱體(9)的上表面和下表面，所述一側開口的箱體(9)的中間設置有待測復合材料放置平臺。專利摘要磁場作用下的電導電流測試裝置，涉及一種電導電流測試裝置。它是為了適應對待測復合材料在不同磁場作用下的電導測試的需求。磁場作用下的電導電流測試裝置，它包括圓柱電極、圓電極、一號可調直流電源和高阻計，圓柱電極設置在待測復合材料的上表面，圓電極設置在待測復合材料的下表面，圓柱電極和圓電極分別接入可調直流電源，高阻計用于測量通過圓柱電極和圓電極的電流；它還包括一號片狀電極、二號片狀電極和二號可調直流電源，一號片狀電極和二號片狀電極相互平行設置，一號片狀電極和二號片狀電極之間的區(qū)域為待測復合材料的放置區(qū)域，一號片狀電極和二號片狀電極接入二號可調直流電源。本技術適用于不同磁場作用下的電導電流測試。文檔編號G01R19/00GK202757988SQ20122047998公開日2013年2月27日 申請日期2012年9月19日 優(yōu)先權日2012年9月19日專利技術者宋偉, 張冬, 王暄, 韓柏, 蔣強, 雷清泉 申請人:哈爾濱理工大學本文檔來自技高網...
【技術保護點】
磁場作用下的電導電流測試裝置，它包括圓柱電極(1)、圓電極(2)、一號可調直流電源(3)和高阻計(4)，所述圓柱電極(1)設置在待測復合材料(10)的上表面，圓電極(2)設置在待測復合材料(10)的下表面，所述圓柱電極(1)和圓電極(2)分別接入可調直流電源(3)，高阻計(4)用于測量通過圓柱電極(1)和圓電極(2)的電流；其特征是：它還包括一號片狀電極(6)、二號片狀電極(7)和二號可調直流電源(8)，所述一號片狀電極(6)和二號片狀電極(7)相互平行設置，所述一號片狀電極(6)和二號片狀電極(7)之間的區(qū)域為待測復合材料(10)的放置區(qū)域，一號片狀電極(6)和二號片狀電極(7)接入二號可調直流電源(8)。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：宋偉，張冬，王暄，韓柏，蔣強，雷清泉，
申請(專利權)人：哈爾濱理工大學，
類型：實用新型
國別省市：
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