本實(shí)用新型專利技術(shù)公開(kāi)了一種采用折疊光路的激光粒度儀，包括一用于發(fā)射激光的激光管，激光管的后端依激光光路前進(jìn)的方向依次設(shè)置有聚焦透鏡、針孔裝置、傅里葉透鏡、測(cè)量窗口以及光電探測(cè)器陣列，激光管和聚焦透鏡之間的激光光路上設(shè)置有用于改變激光光路方向的光學(xué)組件。本實(shí)用新型專利技術(shù)粒度儀的整體體積減小，降低了對(duì)儀器結(jié)構(gòu)件的精度要求，儀器的整體結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)定可靠，測(cè)量更加準(zhǔn)確；光學(xué)組件設(shè)置在針孔裝置前端，光學(xué)組件上灰塵或表面變形所產(chǎn)生的對(duì)光束的不良影響都會(huì)被后面針孔裝置修復(fù)，光束質(zhì)量等特性會(huì)變好，因此儀器背景保持良好，對(duì)測(cè)量基本無(wú)影響。（*該技術(shù)在2022年保護(hù)過(guò)期，可自由使用*）
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及粒度測(cè)量技術(shù)，具體涉及一種采用折疊光路的激光粒度儀。
技術(shù)介紹
激光粒度儀是根據(jù)光的散射原理測(cè)量粉顆粒大小的一種設(shè)備，其能夠用于測(cè)量各種固體粉末、乳液顆粒、霧滴的粒度分布。如圖I所示，激光粒度儀一般包括激光管、聚焦透鏡、針孔裝置、傅里葉透鏡、測(cè)量窗口、光電探測(cè)器陣列等，其中聚焦透鏡用于聚集光束，針孔裝置是用于過(guò)濾激光束空間高頻分量的空間濾波器，傅里葉透鏡使光束聚集后通過(guò)測(cè)量窗口，光電探測(cè)器陣列則用于檢測(cè)穿過(guò)測(cè)量窗口后的光射信號(hào)并將此信號(hào)送到分析系統(tǒng)中進(jìn)行分析，得到樣品的粒度分布·結(jié)果。從圖中可以看出，整個(gè)測(cè)量光路整體較長(zhǎng)，基于這種光路結(jié)構(gòu)所涉及的儀器體積較長(zhǎng)較大。這種細(xì)長(zhǎng)的儀器對(duì)結(jié)構(gòu)件的制作和裝配要求很高，一旦不能滿足精度要求，整個(gè)光路便會(huì)產(chǎn)生彎曲，造成光路調(diào)節(jié)精度降低，進(jìn)而造成測(cè)量背景升高，對(duì)測(cè)量造成影響。為了克服上述缺陷，使得粒度儀的結(jié)構(gòu)更加緊湊，目前部分粒度儀采用了如圖2或圖3所示的折疊光路結(jié)構(gòu)。這種折疊光路整體長(zhǎng)度縮短很多，減小了儀器的體積，另外還可以降低了對(duì)儀器結(jié)構(gòu)件的精度要求，儀器的整體結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)定可靠，對(duì)測(cè)量有好處。但圖2和圖3中的折疊光路都存在一個(gè)較大的缺陷，由于它們所設(shè)置的光學(xué)組件都設(shè)置在針孔裝置的末端，一旦光學(xué)組件的表面出現(xiàn)灰塵等顆?；蛘弑砻娉霈F(xiàn)變形，那么通過(guò)針孔裝置進(jìn)行濾波后的光束會(huì)重新出現(xiàn)瑕疵，造成背景升高，對(duì)測(cè)量造成影響。綜上所述，目前激光粒度儀所采用的光路都存在可以改進(jìn)之處。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
針對(duì)上述問(wèn)題，本技術(shù)提供一種儀器體積較小、整體結(jié)構(gòu)可靠的采用折疊光路的激光粒度儀，其采用的折疊光路不會(huì)對(duì)光束造成影響，確保測(cè)量準(zhǔn)確可靠。本技術(shù)為解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是一種采用折疊光路的激光粒度儀，包括一用于發(fā)射激光的激光管，激光管的后端依激光光路前進(jìn)的方向依次設(shè)置有聚焦透鏡、針孔裝置、傅里葉透鏡、測(cè)量窗口以及光電探測(cè)器陣列，激光管和聚焦透鏡之間的激光光路上設(shè)置有用于改變激光光路方向的光學(xué)組件。其中，所述光學(xué)組件包括一對(duì)等腰直角三棱鏡，等腰直角三棱鏡的斜面相對(duì)垂直設(shè)置。本技術(shù)的有益效果是本技術(shù)所設(shè)置的光學(xué)組件能夠改變粒度儀的激光光路方向，使得激光光路能夠不按單一直線傳播，光路的長(zhǎng)度縮短，粒度儀的整體體積減小，降低了對(duì)儀器結(jié)構(gòu)件的精度要求，儀器的整體結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)定可靠，測(cè)量更加準(zhǔn)確；光學(xué)組件設(shè)置在針孔裝置前端，光學(xué)組件上灰塵或表面變形所產(chǎn)生的對(duì)光束的不良影響都會(huì)被后面針孔裝置修復(fù)，光束質(zhì)量等特性會(huì)變好，因此儀器背景保持良好，對(duì)測(cè)量基本無(wú)影響。以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式進(jìn)行進(jìn)一步的說(shuō)明圖I為傳統(tǒng)采用直線光路的激光粒度儀的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為傳統(tǒng)采用一種折疊光路的激光粒度儀的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為傳統(tǒng)采用另一種折疊光路的激光粒度儀的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為本技術(shù)的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實(shí)施方式參照?qǐng)D4，本技術(shù)的采用折疊光路的激光粒度儀，包括一用于發(fā)射激光的激光管1，激光管I的后端依激光光路前進(jìn)的方向依次設(shè)置有聚焦透鏡2、針孔裝置3、傅里葉透鏡4、測(cè)量窗口 5以及光電探測(cè)器陣列6，激光管I和聚焦透鏡2之間的激光光路上設(shè)置有用于改變激光光路方向的光學(xué)組件7。此光學(xué)組件7用于使得激光光路方向發(fā)生改變，降低光路所占的空間長(zhǎng)度，例如光學(xué)組件可以將激光光路的角度變?yōu)?0度直角。當(dāng)然，優(yōu)選的是，光學(xué)組件7包括一對(duì)等腰直角三棱鏡71，等腰直角三棱鏡71的斜面相對(duì)垂直設(shè)置，激光管發(fā)出的光射到其中一個(gè)三棱鏡上斜面所成的角度為45度。這種光學(xué)組件結(jié)構(gòu)能夠使得光路的角度180度改變，儀器的體積減小效果最優(yōu)。本技術(shù)的實(shí)施方式并不受上述實(shí)施例的限制，只要其以基本相同的手段達(dá)到本技術(shù)的技術(shù)效果，都應(yīng)屬于本技術(shù)的保護(hù)范圍。權(quán)利要求1.一種采用折疊光路的激光粒度儀，包括一用于發(fā)射激光的激光管(1)，激光管(I)的后端依激光光路前進(jìn)的方向依次設(shè)置有聚焦透鏡(2)、針孔裝置(3)、傅里葉透鏡(4)、測(cè)量窗口(5)以及光電探測(cè)器陣列(6)，其特征在于激光管(I)和聚焦透鏡(2)之間的激光光路上設(shè)置有用于改變激光光路方向的光學(xué)組件(J)。2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種采用折疊光路的激光粒度儀，其特征在于所述光學(xué)組件(7)包括一對(duì)等腰直角三棱鏡(71)，等腰直角三棱鏡(71)的斜面相對(duì)垂直設(shè)置。專利摘要本技術(shù)公開(kāi)了一種采用折疊光路的激光粒度儀，包括一用于發(fā)射激光的激光管，激光管的后端依激光光路前進(jìn)的方向依次設(shè)置有聚焦透鏡、針孔裝置、傅里葉透鏡、測(cè)量窗口以及光電探測(cè)器陣列，激光管和聚焦透鏡之間的激光光路上設(shè)置有用于改變激光光路方向的光學(xué)組件。本技術(shù)粒度儀的整體體積減小，降低了對(duì)儀器結(jié)構(gòu)件的精度要求，儀器的整體結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)定可靠，測(cè)量更加準(zhǔn)確；光學(xué)組件設(shè)置在針孔裝置前端，光學(xué)組件上灰塵或表面變形所產(chǎn)生的對(duì)光束的不良影響都會(huì)被后面針孔裝置修復(fù)，光束質(zhì)量等特性會(huì)變好，因此儀器背景保持良好，對(duì)測(cè)量基本無(wú)影響。文檔編號(hào)G01N15/14GK202793991SQ20122040889公開(kāi)日2013年3月13日 申請(qǐng)日期2012年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月17日專利技術(shù)者陳進(jìn), 蔡斌, 張福根 申請(qǐng)人:珠海歐美克儀器有限公司本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種采用折疊光路的激光粒度儀，包括一用于發(fā)射激光的激光管（1），激光管（1）的后端依激光光路前進(jìn)的方向依次設(shè)置有聚焦透鏡（2）、針孔裝置（3）、傅里葉透鏡（4）、測(cè)量窗口（5）以及光電探測(cè)器陣列（6），其特征在于激光管（1）和聚焦透鏡（2）之間的激光光路上設(shè)置有用于改變激光光路方向的光學(xué)組件（7）。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：陳進(jìn)，蔡斌，張福根，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：珠海歐美克儀器有限公司，
類型：實(shí)用新型
國(guó)別省市：
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