測試設備自動校準儀及校準系統技術方案

本實用新型專利技術提供一種測試設備自動校準儀及校準系統，自動標準儀包括控制器以及與控制器相連的選通模塊；控制器用于根據預定設置信息發送選通命令，并控制外部的待校準測試設備相對外部相應的標準測試設備的自動校準；選通模塊用于根據選通命令，自動選通控制器與相應的標準測試設備和待校準測試設備之間特定測試通道的電連接，解決了現有技術中需要手動插拔線纜導致的操作復雜和誤差大等問題。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術涉及一種儀器校準技術，尤其涉及一種測試設備自動校準儀及校準系統。
技術介紹
隨著社會經濟的發展，測試設備在科研、軍工、電力及制造等行業中得到廣泛應用。在所有的測試設備中，信號發生器和示波器是使用最為廣泛的兩種測試設備，由于測試設備本身就是一個復雜的電子系統，其受時間、溫度環境等多個因素的影響，測試精度會有所改變，因此為了保證產品性能，必須對測試設備進行定期的校準，按照國家計量檢定規程的規定，信號發生器需要校準的指標包括頻率準確度、電平準確度等三十多個，示波器需要校準的指標多達十多項。 圖I為現有技術中信號發生器校準系統的連接示意圖，標準信號發生器包括頻譜 分析儀2、測量接收機3、微波頻率計4和音頻分析儀5，以校準諧波指標為例，待校準信號發生器I通過信號電纜與頻譜分析儀2相連，手動設置信號發生器I的輸出電平、載波頻率以及頻譜分析儀2的參考電平、中心頻率和帶寬等，校準過程中還需手動更改待校準信號發生器I的載波頻率和頻譜分析儀的中心頻率，以測試所有要求的諧波峰值，如果需要校準其他指標，則需要重新設置相關參數，還需手動插拔信號電纜將待校準信號發生器I與其他校準設備相連。圖2為現有技術中示波器校準系統的連接示意圖，待校準示波器7與標準示波器6相連，之后手動恢復待校準示波器7的出廠設置，并手動設置待校準示波器7的采樣模式、測量模式、垂直偏轉系數、翻轉設置和帶寬等，根據不同的設置在待校準示波器7上讀出不同的測量值，并記錄下來，由于待校準示波器7具有很多通道，每個通道還針對不同的測試參數，因此當一個通道的所有校準完成后，需要手動的跟換連線將標準示波器6的輸出連接到待校準示波器7的另一個通道。通過以上描述可以看出，現有技術中的測試設備的校準存在以下缺點第一，操作復雜需要手動連接線纜和設置參數；第二，誤差大頻繁的插拔接插件對測試信號有較大影響，人工記錄數據會引入誤差。
技術實現思路
本技術提供一種測試設備自動校準儀及校準系統，用于解決現有技術對于信號發生器和示波器校準誤差大、操作復雜的問題。一種測試設備自動校準儀，包括控制器以及與控制器相連的選通模塊；控制器用于發送選通命令，并控制外部的待校準測試設備相對外部相應的標準測試設備進行校準；選通模塊用于根據選通命令，自動選通控制器與相應的標準測試設備和待校準測試設備之間特定測試通道的電連接。一種測試設備自動校準系統，包括上述的測試設備自動校準儀，還包括待校準測試設備和相應的標準測試設備，待校準測試設備和相應的標準測試設備均與選通模塊相連。本技術提供的一種測試設備自動校準儀及校準系統，控制器通過選通模塊控制外部的待校準測試設備相對外部的相應標準測試設備的自動校準；解決了現有技術中需要手動插拔線纜導致的操作復雜和誤差大等問題。附圖說明圖I為現有技術中信號發生器校準系統的連接示意圖。圖2為現有技術中示波器校準系統的連接示意圖。圖3為本技術提供的測試設備自動校準儀一種實施例的結構示意圖。圖4為本技術提供的測試設備自動校準系統第一種實施例的結構示意圖。圖5為本技術提供的測試設備自動校準系統第二種實施例的結構示意圖。圖6為本技術提供的測試設備自動校準系統第三種實施例的結構示意圖。圖7為本技術提供的測試設備自動校準系統第四種實施例的結構示意圖。圖8為本技術提供的測試設備自動校準系統第五種實施例的結構示意圖。圖9為本技術提供的測試設備自動校準方法的流程圖。具體實施方式下面參照附圖來說明本技術的實施例。在本技術的一個附圖或一種實施方式中描述的元素和特征可以與一個或者更多個其他附圖或實施方式中示出的元素和特征相結合。應當注意，為了清楚目的，附圖和說明中省略了與本技術無關的、本領域普通技術人員已知的部件和處理的表示和描述。如圖3所示，本技術提供的一種測試設備自動校準儀的一種實施例，包括控制器11以及與控制器11相連的選通模塊12。控制器11用于根據預定設置信息發送選通命令，并控制外部的待校準測試設備相對外部的相應的標準測試設備進行校準。選通模塊12用于根據選通命令，自動選通控制器11與相應的標準測試設備和待校準測試設備之間特定測試通道的電連接。在實際應用過程中，可根據實際需要在控制器重進行預定設置信息，預定設置信息可包括但不限于以下信息選擇的待校準測試設備(即操作者期望校準的待校準測試設備)、待校準項目等。進行校準測試時，控制器根據預定設置生成選通命令，并將選通命令發送給選通模塊，選通模塊根據選通命令執行相應的選通操作。選通命令可包括但不限于標準測試設備ID及其通信通道ID、待校準測試設備ID及其通信通道ID等。選通模塊接收該選通命令，確定與標準測試設備ID及其通信通道ID對應的標準測試設備的通信通道，以及確定與待校準測試設備ID及其通信通道ID對應的待校準測試設備的通信通道，之后，建立控制器與確定的標準測試設備的通信通道和待校準測試設備的通信通道之間的電連接。在建立電連接之后，控制器控制待校準測試設備相對相應的標準測試設備進行自動校準。控制器對選通模塊的控制操作以及測試設備的自動校準控制，可基于硬件實現，或者，可基于軟件實現，例如基于LABVIEW語言進行編程等，本技術對此并不限制。本實施例提供的測試設備自動校準儀，控制器通過選通模塊控制外部的待校準測試設備相對外部的相應標準測試設備的自動校準，整個測試過程操作簡單，無需操作人員手動插拔線纜等操作，由此解決了現有技術中需要手動插拔線纜導致的操作復雜和誤差大等問題。在上述技術方案的基礎上，為了提高測試設備自動校準儀建立控制器與外部待校準測試設備和相應標準測試設備選通連接的方便性，可選地，選通模塊12為通用PXI (面向儀器系統的PCI擴展)模塊化儀器平臺。通用PXI模塊化儀器平臺包括至少一個PXI功能模塊板卡，每個PXI功能模塊 板卡用于選通連接一類相應標準測試設備和待校準測試設備與控制器的電連接。在通用PXI模塊化儀器平臺包括多個PXI功能模塊板卡的情形下，不同PXI功能模塊板卡用于選通相同類或不同類相應標準測試設備和待校準測試設備與控制器的電連接，以便于實現同類或不同類待校準測試設備的并行校準。例如通用PXI模塊化儀器平臺包括3個PXI功能模塊板卡，第一 PXI功能模塊板卡用于選通標準信號發生器和待校準信號發生器與控制器的電連接，第二 PXI功能模塊板卡用于選通標準示波器和待校準示波器與控制器的電連接，第三PXI功能模塊板卡用于選通標準信號發生器和待校準信號發生器與控制器的電連接，等等。控制器11通過MXI(多系統擴展接口)總線與選通模塊12相連，PXI功能模塊板卡包括多個GPIB接口(通用總線接口)，控制器11通過MXI總線與PXI功能模塊板卡的GPIB接口相連。控制器11為工控機或為與通用PXI模塊化儀器適配的PXI控制板卡，工控機設有USB接口，通過USB-GPIB (總線轉換器)轉換可以實現工控機的USB接口對GPIB接口的訪問和通信。圖4為本技術提供的一種測試設備自動校準系統的一種實施例的結構示意圖，自動校準系統包括自動校準儀以及待校準測試設備23和相應的標準測試設備24，測試設備自動校準儀包括控制器21以及選通模塊22。待校準測試設備23為至少一臺本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種測試設備自動校準儀，其特征在于，所述測試設備自動校準儀包括：?控制器以及與所述控制器相連的選通模塊；?所述控制器用于發送選通命令，并控制外部的待校準測試設備相對外部相應的標準測試設備進行校準；?所述選通模塊用于根據所述選通命令，自動選通所述控制器與所述相應的標準測試設備和所述待校準測試設備之間特定測試通道的電連接。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：陳強，葉川，唐亮，
申請(專利權)人：北京泛華恒興科技有限公司，
類型：實用新型
國別省市：