一種可控的回波損耗測試輔助裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開了一種可控的回波損耗測試輔助裝置，包含光纖壓塊、光纖打折運動柱、內部光纖復位柱、光纖復位擋塊；其中，光纖壓塊分別設置在該輔助裝置的光纖的接入口和輸出口處；光纖打折運動柱設置為上下錯開排列，內部光纖復位柱同時配合該光纖打折運動柱的運動方向進行移動，本實用新型專利技術解決了現有產品對手工操作依賴程度高，測試結果差異性大的問題。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

一種可控的回波損耗測試輔助裝置
本技術涉及光纖通信領域中的回波損耗測試裝置，特別涉及一種可控的包含光纖自動打折模塊的回波損耗測試輔助裝置。
技術介紹
光在光器件或模組中傳輸時，會有部分光被反射回光路中。光器件或模組中的這種光反射(也稱為回波)主要由菲涅耳反射(因為折射率變化而產生)、向后瑞利散射(因為雜質微粒而產生)以及光傳播的方向性等因素產生的。回波損耗(Return Loss)計算方法如公式(I)所示RL = -IOlg(PyPi)(I)其中RL表示回波損耗，單位為dB ；P0表示反射光功率A表示入射光功率。其中，在現有的傳輸系統中，光被反射回發光器件或模組的光路中，在發射光路中帶入噪音、線寬、頻率方面的干擾，最終造成發射光的不穩定，進而產生系統誤碼。回波損耗較大時，會嚴重影響傳輸系統的傳輸性能。為此，光器件或模組的制程中，必須監測回波損耗參數。當前對光纖的回波損耗參數進行測試的方法主要有以下三種。如圖IA所示，待測產品P的一端光纖與測試系統100的光纖進行熔接，另一端進行手工繞圈打折10。或者如圖IB所示，待測產品P的一端光纖與測試系統100的光纖進行熔接，另一端插入到折射率匹配液中20。或者如圖IC所示，待測產品P的一端光纖與測試系統100的光纖進行熔接， 另一端接回損短路器中30。以上現有的三種方案的不足之處是手工化程度高，不同的人測試結果差異性大，大批量生產過程對工人的責任心要求也相對較高。
技術實現思路
為了解決現有技術中存在的問題，本技術提供一種可控的回波損耗測試輔助裝置。本技術提供一種可控的回波損耗測試輔助裝置，包含一光纖壓塊、一光纖打折運動柱、一內部光纖復位柱、一光纖復位擋塊；其特征在于該光纖壓塊分別設置在該輔助裝置的光纖的接入口和輸出口處；且，該光纖打折運動柱設置為上下錯開排列，由植入該輔助裝置的程序控制運動；該內部光纖復位柱同時配合該光纖打折運動柱的運動方向進行移動，從而輔助該光纖在該輔助裝置的內部進行移動。其中，優選實施方式為該光纖復位擋塊、該內部光纖復位柱與該光纖打折運動柱是聯動的。與現有技術相比，本技術的優點和積極效果是第一，將傳統的回波損失測試中的手動打折光纖的工序升級為程序控制的打折模式；第二，此輔助測試裝置提高回損測試重復性，因此，相對傳統測試方法來說更簡潔、更規范；第三，此輔助測試裝置與產品的測試軟件整合，優化產品的測試系統，提高產品的測試效率；最后，此回損測試輔助裝置，由于其內部植入了程序，它可以與產品的已有測試軟件進行整合，這樣可以同時實現IL、RL等參數的同步測試，進而實現測試的全面自動化。附圖說明圖Ia-圖Ic是現有的回波損耗參數的測試裝置的示意圖。圖2是本技術的可控的回波損耗測試輔助裝置的示意圖。圖3是光纖打折啟動后光纖42的打折狀態的示意圖。圖4是本技術的測試輔助裝置應用于測試系統中的示意圖。具體實施方式以下結合附圖和具體實施方式對本技術做更進一步詳細說明。如圖2所示為本技術的可控的回波損耗測試輔助裝置。本技術的可控的回波損耗測試輔助裝置40包括以下結構光纖壓塊43、光纖打折運動柱44、內部光纖復位柱45、光纖復位擋塊47。其中，光纖壓塊43設置在光纖42的接入口(Input)和輸出口(Output)處，用以防止處于該輔助裝置40外面的待測產品P的光纖滑動。光纖打折運動柱44設置為上下錯開排列，由控制電路中植入的程序控制其按圖示的箭頭向A或B方向上下相對運動，實現繞在裝置40內部的光纖42的自動打折彎曲；其中，上述的光纖打折運動柱44可設置為一排固定、一排活動或兩排同時活動的錯開陣列形式。內部光纖復位柱45在光纖42進行打折彎曲時，配合光纖打折運動柱44的上下運動而沿著圖2所示的箭頭C、D的方向左右運動， 完成光纖42在輔助裝置40內部的移動。因此，光纖復位擋塊47、內部光纖復位柱45與光纖打折運動柱44的運動是聯動的，其主要作用是光纖打折運動柱44復位時對光纖42進行從彎曲狀態復位成自然拉直狀態的動作。請同時參考圖3。圖3為光纖打折啟動后光纖42的打折狀態，其中，光纖42沿著光纖打折運動柱44的運動軌跡進行自動打折。其中，輔助裝置40內的光纖42打折程度是由光纖打折運動柱44的直徑和控制電路所控制的光纖打折運功柱44的移動距離所決定。本技術的測試輔助裝置40應用于測試系統中如圖4所示。本技術的測試系統300由現有的測試系統100及功率測試儀表200組成。其中，待測產品P的一端光纖熔接在現有測試系統100光纖之后，另兩端光纖分別與輔助裝置40的兩個輸入端(Input)光纖熔接，現有的測試系統100中含有功率測試儀表，測試待測產品P的入射光功率Pi及反射光功率P。。上述兩個輔助裝置40中的輸出端(Output)光纖分別接入上述測試系統300的功率測試儀表200上，從而測出待測產品P的反射光功率P。。其中，插入損耗IL (Insertion Loss)的計算如公式(2)所示IL = -IOlg(P1AV)(2)其中IL表示插入損耗，單位為dB J1表示入射光功率P/經過待測器件P衰減后的出射光功率；Pi’表示入射光功率，即功率儀表200所測的功率值，近似等于測試系統100 的功率儀表上所測的數值。因此，通過公式(I)、(2)可以將待測產品P的IL、RL等參數一次性監控和測試出來。本技術的輔助測試具有以下優點第一，將傳統的回波損失測試中的手動打折光纖的工序升級為程序控制的打折模式；第二，此輔助測試裝置提高回損測試重復性，因此，相對傳統測試方法來說更簡潔、更規范；第三，此輔助測試裝置與產品的測試軟件整合， 優化產品的測試系統，提高產品的測試效率；最后，此回損測試輔助裝置，由于其內部植入了程序，它可以與產品的現有測試軟件進行整合，這樣可以同時實現IL、RL等參數的同步測試，進而實現測試的全面自動化。以上所述，僅為本技術最佳實施例而已，并非用于限制本技術的范圍，凡依本技術申請專利范圍所作的等效變化或修飾，皆為本技術所涵蓋。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種可控的回波損耗測試輔助裝置，包含一光纖壓塊、一光纖打折運動柱、一內部光纖復位柱、一光纖復位擋塊；其特征在于：該光纖壓塊分別設置在該輔助裝置的光纖的接入口和輸出口處；且，該光纖打折運動柱設置為上下錯開排列，由植入該輔助裝置的程序控制運動；該內部光纖復位柱同時配合該光纖打折運動柱的運動方向進行移動，從而輔助該光纖在該輔助裝置的內部進行移動。

【技術特征摘要】
1.一種可控的回波損耗測試輔助裝置，包含一光纖壓塊、一光纖打折運動柱、一內部光纖復位柱、一光纖復位擋塊；其特征在于該光纖壓塊分別設置在該輔助裝置的光纖的接入口和輸出口處；且，該光纖打折運動柱設置為上下錯開排列，由植入該輔助裝置的程序控制運動；該內部光纖復位柱同時配合該光纖打折運動柱的運動方向進行移動，從而輔助該光纖在該輔助裝置的內部進行...

【專利技術屬性】
技術研發人員：周強，葉長茂，
申請(專利權)人：昂納信息技術深圳有限公司，
類型：實用新型
國別省市：