一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置制造方法及圖紙

本實(shí)用新型專利技術(shù)涉及接線頭技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置；其結(jié)構(gòu)包括有固定于設(shè)備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設(shè)有接觸線材的接線頭探針，其特征在于：所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致；本實(shí)用新型專利技術(shù)提供一種避免線材與線材接線頭由于相互摩擦而產(chǎn)生的磨損半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭。（*該技術(shù)在2022年保護(hù)過期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置
本技術(shù)涉及半導(dǎo)體元器件測試
，特別涉及一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置。
技術(shù)介紹
現(xiàn)有技術(shù)中，半導(dǎo)體測試機(jī)外殼與線材連接的線材接線頭僅設(shè)有一接線頭外殼， 線材由于重力的作用會(huì)產(chǎn)生向下的作用力，但由于接線頭外殼不與重力方向相同，在線材連接到接線頭外殼上時(shí)，線材表面會(huì)與接線頭外殼形成一定的角度，從而造成擠壓。在生產(chǎn)測試使用過程中，測試機(jī)經(jīng)常需要拖擺在不同的地方，在這過程中測試機(jī)主體上的測試線材接線頭與線材容易出現(xiàn)損傷，從而造成整體設(shè)備的不穩(wěn)定。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)的目的在于避免上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種避免線材與線材接線頭由于相互摩擦而產(chǎn)生的磨損的線材接線頭。本技術(shù)的目的通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)提供了一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置，包括有固定于設(shè)備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設(shè)有接觸線材的接線頭探針，所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致。其中，所述接線頭母外殼套接于所述接線頭公外殼。其中，所述接線頭公外殼套接于所述接線頭母外殼。其中，所述接線頭探針設(shè)于所述接線頭公外殼中間。其中，所述接線頭探針包括有接線頭公探針和接線頭母探針，所述接線頭公探針的一端固定于所述設(shè)備外殼，所述接線頭公探針的另一端與所述接線頭母探針的一端連接，所述接線頭母探針的另一端與線材連接。本技術(shù)的有益效果提供了一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置，包括有固定于設(shè)備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設(shè)有接觸線材的接線頭探針，所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致。線材連接至線材接線頭的彎折部，由于彎折部與重力方向一致，線材表面與彎折部平行，從而避免線材與線材接線頭由于相互摩擦而產(chǎn)生的磨損。附圖說明利用附圖對本技術(shù)作進(jìn)一步說明，但附圖中的實(shí)施例不構(gòu)成對本技術(shù)的任何限制，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。圖I為本技術(shù)的一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置的實(shí)施例I的結(jié)構(gòu)示意圖2為本技術(shù)的一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置的實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖標(biāo)記I-設(shè)備外殼、2-接線頭公外殼、31-連接部、32-彎折部、41-接線頭公探針、42-接線頭母探針、5-線材。具體實(shí)施方式結(jié)合以下實(shí)施例對本技術(shù)作進(jìn)一步描述。實(shí)施例I本技術(shù)的一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置的具體實(shí)施方式之一，如圖I 所示，包括有固定于設(shè)備外殼I的接線頭公外殼2和與所述接線頭公外殼2連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼2之間設(shè)有接觸線材5的接線頭探針，所述接線頭母外殼包括連接部31和彎折部32，所述彎折部32與重力方向一致。線材5連接至線材5接線頭，即線材5連接至所述彎折部32，由于彎折部32與重力方向一致，線材5表面與彎折部32平行，從而避免線材5與線材5接線頭由于相互摩擦而產(chǎn)生的磨損。在本實(shí)施例中，所述接線頭母外殼套接于所述接線頭公外殼2。其中，所述接線頭探針設(shè)于所述接線頭公外殼2中間。所述接線頭探針用于與線材5接觸連接，并通過次連接設(shè)備進(jìn)行工作。所述接線頭探針包括有接線頭公探針41和接線頭母探針42，所述接線頭公探針 41的一端固定于所述設(shè)備外殼1，所述接線頭公探針41的另一端與所述接線頭母探針42 的一端連接，所述接線頭母探針42的另一端與線材5連接。所述接線頭探針接觸部分為易損件，所述接線頭探針分為兩部分便于接線頭探針的更換和維護(hù)。實(shí)施例2本技術(shù)的一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置的具體實(shí)施方式之二，本實(shí)施例的主要技術(shù)方案與實(shí)施例I相同，在本實(shí)施例中未解釋的特征，采用實(shí)施例I中的解釋， 在此不再進(jìn)行贅述。本實(shí)施例與實(shí)施例I的區(qū)別在于所述接線頭公外殼2套接于所述接線頭母外殼。最后應(yīng)當(dāng)說明的是，以上實(shí)施例僅用以說明本技術(shù)的技術(shù)方案，而非對本技術(shù)保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對本技術(shù)作了詳細(xì)地說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本技術(shù)的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本技術(shù)技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置，包括有固定于設(shè)備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設(shè)有接觸線材的接線頭探針，其特征在于：所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置，包括有固定于設(shè)備外殼的接線頭公外殼和與所述接線頭公外殼連接的接線頭母外殼，所述接線頭公外殼之間設(shè)有接觸線材的接線頭探針，其特征在于所述接線頭母外殼包括連接部和彎折部，所述彎折部與重力方向一致。2.根據(jù)權(quán)利要求I所述一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置，其特征在于所述接線頭母外殼套接于所述接線頭公外殼。3.根據(jù)權(quán)利要求I所述一種半導(dǎo)體測試機(jī)的線材接線頭裝置，其特征在于...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：李健，羅徑華，何錦文，
申請(專利權(quán))人：杰群電子科技東莞有限公司，
類型：實(shí)用新型
國別省市：